专利名称：一种用于精密高度测量的数显高度尺的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种测量仪器，具体为一种用于精密高度测量的数显高度尺。
背景技术：
现有的电子数显高度卡尺，一般每300毫米测量极限误差为士 0.03毫米。但随着 汽车制造业、航空航天制造业、模具制造等行业的发展，企业对工件高度尺寸的测量精度要 求越来越高，而生产现场普遍使用的电子数显高度卡尺难以满足测量精度进一步提高的要 求。为此，开始使用价格昂贵的高度仪(高度仪价格为电子数显高度卡尺价格的50-100倍 左右)，为此增加了生产成本。
发明内容针对上述情况，本实用新型提供一种可快速测量，经济实用的用于精密高度测量 的电子数显高度卡尺，每300毫米测量极限误差为士0. 005毫米，而成本增加只有电子数显 高度卡尺的一倍。本实用新型所采用的技术方案是一种用于精密高度测量的数显高度尺主要由划 线爪、微动框夹持架组件、数显千分表、尺框、尺身和数显组件构成。划线爪与划线爪夹持 框下内框滑动连接，尺框与尺身滑动连接，弹簧置入尺框左内侧，尺身的下端插入底座的左 端开槽中，六角圆柱头螺钉与底座螺纹连接，开槽平端紧定螺钉与尺框左下侧螺纹连接，尺 框锁紧螺钉与尺框左中侧螺纹连接，数显组件用螺钉与尺框正面连接，限位螺钉与尺框左 上侧螺纹连接，轴套与尺框左上端面过盈配合连接，微动框夹持架组件与尺身滑动连接，微 动框夹持架组件中的螺杆与轴套滑动连接并插入弹簧中，栅条与尺身的栅槽粘接，尺身端 盖与尺身的上端过盈配合连接，数显千分表与微动框夹持架组件中的夹持杆滑动连接，螺 杆的上端穿过微动框左侧的通孔与螺母螺纹连接，夹持杆锁紧螺钉与微动框上侧面螺纹连 接，夹持杆的右段插入微动框后侧的方通孔滑动连接，千分表锁紧螺钉与微动框左侧面螺 纹连接。采用上述方案后，使一种用于精密高度测量的数显高度尺具有结构紧凑，快速测 量，精确度高，经济实用等优点。可广泛用于机械加工和修理中的精密高度测量，其测量精 度可达到0. 001毫米。

图1为一种用于精密高度测量的数显高度尺结构示意图。图2为微动框夹持架组件结构示意图。图3为微动框夹持架组件的俯视图。图4为一种用于精密高度测量的数显高度尺案例示意图。图中1.划线爪 2.划线爪锁紧螺钉 3.划线爪夹持框 4.尺框 5.弹簧 6.内六角圆柱头螺钉 7.底座 8.开槽平端紧定螺钉 9.尺框锁紧螺钉 10.数显组件11.限位螺钉12.轴套13.微动框夹持架组件14.尺身15.栅条16.尺身端盖 17.数显千分表18.螺杆锁紧螺钉19.螺杆20.微动框21.螺母22.夹持杆锁紧 螺钉23.夹持杆24.千分表锁紧螺钉
具体实施方式
从图1中可看出，划线爪1与划线爪夹持框3下内框滑动连接，划线爪1可用划线 爪锁紧螺钉2与尺框4左下方伸出段锁紧，尺框4与尺身14滑动连接，弹簧5置入尺框左 内侧，尺身14的下端插入底座7的左端开槽中，六角圆柱头螺钉6穿过尺身14下端的通孔 与底座7螺纹连接，开槽平端紧定螺钉8与尺框4左下侧螺纹连接，尺框锁紧螺钉9与尺框 4左中侧螺纹连接，数显组件10用螺钉与尺框4正面连接，限位螺钉11与尺框4左上侧螺 纹连接，轴套12与尺框4左上端面过盈配合连接，微动框夹持架组件13与尺身14滑动连 接，微动框夹持架组件13中的螺杆19与轴套14滑动连接并插入弹簧5中，螺杆19可用螺 杆锁紧螺钉18锁紧，栅条15与尺身14的栅槽粘接，尺身端盖16与尺身14的上端过盈配 合连接，数显千分表17与微动框夹持架组件13中的夹持杆23滑动连接，可用千分表锁紧 螺钉22锁紧。从图2、图3中可知，螺杆19的上端穿过微动框20左侧的通孔与螺母21螺纹连 接，夹持杆锁紧螺钉22与微动框20上侧面螺纹连接，夹持杆23的右段插入微动框20后侧 的方通孔滑动连接，可用夹持杆锁紧螺钉22锁紧，千分表锁紧螺钉24与微动框20左侧面 螺纹连接。图4的案例中，其基本结构与图1是相同的，只是把夹持杆锁紧螺钉22松开后，夹 持杆23往右移动了约10毫米，把数显千分表17的测量头的测量点改变了，测量点在划线 爪1的上端面，而图1数显千分表17的测量头的测量点在划线爪1的下一台阶端面上。目 的是为了向用户提供更多测量上的方便。
权利要求一种用于精密高度测量的数显高度尺主要由划线爪、微动框夹持架组件、数显千分表、尺框、尺身和数显组件构成，划线爪与划线爪夹持框下内框滑动连接，尺框与尺身滑动连接，数显组件用螺钉与尺框正面连接，栅条与尺身的栅槽粘接，其特征是弹簧置入尺框左内侧，轴套与尺框左上端面过盈配合连接，微动框夹持架组件与尺身滑动连接，微动框夹持架组件中的螺杆与轴套滑动连接并插入弹簧中。
2.根据权利要求1所述的一种用于精密高度测量的数显高度尺，它的特征是数显千 分表与微动框夹持架组件中的夹持杆滑动连接，螺杆的上端穿过微动框左侧的通孔与螺母 螺纹连接，夹持杆的右段插入微动框后侧的方通孔滑动连接。
3.根据权利要求1所述的一种用于精密高度测量的数显高度尺，它的特征是改变数 显于分表测量头的测量点，把夹持杆锁紧螺钉松开后，夹持杆往右移动10毫米即可。
专利摘要一种属于测量仪器的用于精密高度测量的数显高度尺主要由划线爪、微动框夹持架组件、数显千分表、尺框、尺身和数显组件构成，划线爪与划线爪夹持框下内框滑动连接，尺框与尺身滑动连接，数显组件用螺钉与尺框正面连接，栅条与尺身的栅槽粘接，弹簧置入尺框左内侧，轴套与尺框左上端面过盈配合连接，微动框夹持架组件与尺身滑动连接，微动框夹持架组件中的螺杆与轴套滑动连接并插入弹簧中，数显千分表与微动框夹持架组件中的夹持杆滑动连接，夹持杆的右段插入微动框后侧的方通孔滑动连接。一种用于精密高度测量的数显高度尺具有结构紧凑，快速测量，精确度高，经济实用等优点。可广泛用于机械加工和修理中的精密高度测量。
文档编号G01B5/02GK201697594SQ20102024725
公开日2011年1月5日 申请日期2010年7月3日 优先权日2010年7月3日
发明者吴峰山 申请人:桂林安一量具有限公司