专利名称：用于测量应变片的仪表的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种测量仪表，特别涉及一种用于测量应变片的仪表。
背景技术：
应变片是一种将被测件上的应变变化转换成为一种电信号的敏感器件。它是压阻 式应变传感器的主要组成部分之一。应变片应用最多的是金属电阻应变片和半导体应变片 两种。金属电阻应变片又有丝状应变片和金属箔状应 变片两种。通常是将应变片通过特殊 的粘和剂紧密的粘合在产生力学应变基体上，当基体受力发生应力变化时，电阻应变片也 一起产生形变，使应变片的阻值发生改变，从而使加在电阻上的电压发生变化。这种应变片 在受力时产生的阻值变化通常较小，一般这种应变片都组成应变电桥，并通过后续的仪表 放大器进行放大，再传输给处理电路(通常是A/D转换和CPU)显示或执行机构。应变片的阻值会随环境变化而变化，因此，需要对其组织进行测量。现有技术中， 用于测量应变片的电阻表，一般采用积分式结构，其精度及抗干扰能力较好，但是缺点是反 应速度教慢，在抛片过程中会造成一定的滞后，由于此类仪表大多不是泛用仪表，所以其为 了兼顾到不同量程的测量，在精度和速度方面，均有牺牲，同时测量应变片的电阻表又需要 有良好的长期稳定性和较好的温差表现，若同时满足以上要求则该仪表的售价一般非常的
曰虫 P卩贝。因此，如何提供一种反应速度快、测量精度高、同时又相对成本较低的测量应变片 的仪表，已成为本领域技术人员需要解决的问题。

实用新型内容本实用新型的所要解决的技术方案是提供一种用于测量应变片的仪表，以解决现 有技术的不足。为解决上述技术方案，本实用新型提供一种用于测量应变片的仪表，包括外罩；测量探头、用于获得待测应变片阻值的模拟信号；模数转换器、连接所述测试探头且设置在所述外罩内，用于将所述测量探头获得 的模拟数据转化为数字信号；交流激励电路、设置在所述外罩内，用于由所述待测应变片获得激励信号；自校验电阻、设置在所述外罩内，用于提供标准电阻值；MCU控制单元、设置在所述外罩内，且连接所述模数转换器、所述交流激励电路、 及所述自校验电阻，用于根据所述模数转换器提供的数字信号，结合所述交流激励电路提 供的激励信号及所述自校验电阻提供的标准电阻值，在小于IOOms的时间内，得到精度为 0.01 Ω的所述待测应变片的阻值。较佳的，所述用于测量应变片的仪表还包括用于显示阻值的显示单元。较佳的，所述显示单元为LED显示器或仪表盘。[0015]较佳的，所述用于测量应变片的仪表还包括用于设定所述MCU控制单元的设定键盘。较佳的，所述模数转换器为AD719X、CS553X、或LT24XX。本实用新型的有益效果在于大大提高了反应速度和准确性，且成本较低。

图1为用于测量应变片的仪表的结构示意图。图2为用于测量应变片的仪表的工作原理示意图。
具体实施方式
以下结合附图详细说明本实用新型的优选实施例。请参阅图1及图2，一种用于测量应变片的仪表，包括外罩；测量探头、用于获得待测应变片阻值的模拟信号；模数转换器、连接所述测试探头且设置在所述外罩内，用于将所述测量探头获得 的模拟数据转化为数字信号；交流激励电路、设置在所述外罩内，用于由所述待测应变片获得激励信号；自校验电阻、设置在所述外罩内，用于提供标准电阻值；MCU控制单元、设置在所述外罩内，且连接所述模数转换器、所述交流激励电路、 及所述自校验电阻，用于根据所述模数转换器提供的数字信号，结合所述交流激励电路提 供的激励信号及所述自校验电阻提供的标准电阻值，在小于IOOms的时间内，得到精度为 0.01 Ω的所述待测应变片的阻值。进一步的，所述用于测量应变片的仪表还包括用于显示阻值的显示单元。进一步的，所述显示单元为LED显示器或仪表盘。进一步的，所述用于测量应变片的仪表还包括用于设定所述MCU控制单元的设定 键盘。进一步的，所述模数转换器为AD719X、CS553X、或LT24XX。本实用新型采用了诸如AD719X、CS553X、或LT24XX等高速模数转换器，将模拟信 号迅速转换为数字信号，进行数字处理，避免了积分式结构带来的反应速度慢的问题；同 时，增加了交流激励电路及自校验电阻，前者能够通过待测应变片得到激励信号，输入MCU 控制单元，以便MCU控制单元通过计算消除所述数字信号的干扰，后者向MCU控制单元提供 了稳定的电阻参考值，使得仪表能够保持稳定的输出。本实用新型提供的用于测量应变片的仪表，其量程为3300 Ω，精度为0. 01 Ω，反 应速度小于100ms，长期稳定性lOppm/lOOOhour，不仅满足了应变片的测量要求，并且大大 提高了反应速度和准确性，且成本较低。以上实施例仅用以说明而非限制本实用新型的技术方案。不脱离本实用新型精神 和范围的任何修改或局部替换，均应涵盖在本实用新型的权利要求范围当中。
权利要求一种用于测量应变片的仪表，其特征在于，包括外罩；测量探头、用于获得待测应变片阻值的模拟信号；模数转换器、连接所述测试探头且设置在所述外罩内，用于将所述测量探头获得的模拟数据转化为数字信号；交流激励电路、设置在所述外罩内，用于由所述待测应变片获得激励信号；自校验电阻、设置在所述外罩内，用于提供标准电阻值；MCU控制单元、设置在所述外罩内，且连接所述模数转换器、所述交流激励电路、及所述自校验电阻，用于根据所述模数转换器提供的数字信号，结合所述交流激励电路提供的激励信号及所述自校验电阻提供的标准电阻值，在小于100ms的时间内，得到精度为0.01Ω的所述待测应变片的阻值。
2.如权利要求1所述的用于测量应变片的仪表，其特征在于还包括用于显示阻值的 显示单元。
3.如权利要求2所述的用于测量应变片的仪表，其特征在于所述显示单元为LED显 示器或仪表盘。
4.如权利要求1所述的用于测量应变片的仪表，其特征在于还包括用于设定所述MCU 控制单元的设定键盘。
5.如权利要求1所述的用于测量应变片的仪表，其特征在于所述模数转换器为 AD719X、CS553X、或 LT24XX。
专利摘要本实用新型揭示了一种用于测量应变片的仪表，包括外罩；测量探头、用于获得待测应变片阻值的模拟信号；模数转换器、连接所述测试探头且设置在所述外罩内，用于将所述测量探头获得的模拟数据转化为数字信号；交流激励电路、设置在所述外罩内，用于由所述待测应变片获得激励信号；自校验电阻、设置在所述外罩内，用于提供标准电阻值；MCU控制单元、设置在所述外罩内，且连接所述模数转换器、所述交流激励电路、及所述自校验电阻，用于根据所述模数转换器提供的数字信号，结合所述交流激励电路提供的激励信号及所述自校验电阻提供的标准电阻值，得到所述待测应变片的阻值。本实用新型的有益效果在于大大提高了反应速度和准确性，且成本较低。
文档编号G01R27/02GK201600121SQ200920286430
公开日2010年10月6日 申请日期2009年12月25日 优先权日2009年12月25日
发明者孙宇峰 申请人:上海高衡电子有限公司