专利名称：高电压互感器介质损耗测试装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种对500kV电压等级互感器进行高电压介质损耗现场自动测
量的装置。。
背景技术：
对互感器介质损耗的测量是判断电力设备绝缘受潮、老化等整体劣化状况的重要 手段。目前行业内普遍开展的对互感器10kv以下的介损测试，由于试验电压远远没有达到 额定的工作电压，因而不能有效反映该设备的绝缘状况。现有设备及测试技术由于存在高 压测试加压困难，无法完成500kV高电压互感器介质损耗测试，同时由于采用工频手动升 压，受到了现场工频干扰，造成测试数据的不准确，影响到了对高电压互感器介质损耗的准 确判断。
发明内容本实用新型提供的高电压互感器介质损耗测试装置解决了现有技术存在的高压 测试加压困难，无法完成500kV高电压互感器介质损耗测试的技术问题。本实用新型是通过以下方案解决以上问题的高电压互感器介质损耗测试装置，包括变频电路、控制电路、升压变压器、串谐电 感器L和西林电桥，所述的变频电路的两输出端与升压变压器的两输入端电连接在一起， 升压变压器的一个输出端与串谐电感器L的一端电连接在一起，升压变压器的另一个输出 端接地，串谐电感器L的另一端分别与标准电容器的一端和被测试的高电压互感器的一端 电连接在一起，标准电容器的另一端A与并联的无感固定电阻R4和可调电容器C4的一端电 连接，并联的无感固定电阻R4和可调电容器(；的另一端接地，被测试的高电压互感器的另 一端B与无感可调电阻R3的一端电连接在一起，无感可调电阻R3的另一端接地，在标准电 容器的另一端A与被测试的高电压互感器的另一端B之间连有交流检流计P，标准电容器、 被测试的高电压互感器、并联的无感固定电阻R4和可调电容器C4和无感可调电阻R3做为 四条支路组成所述的西林电桥；所述的控制电路包括CPU主控单元、采样电路、显示电路和 A/D转换电路；所述的变频电路由整流电路、逆变器和滤波电路依次串联组成；CPU主控单 元通过接口电路分别与逆变器和升压变压器电连接在一起；串谐电感器L与被测试的高电 压互感器的串联谐振频率为45Hz 55Hz，升压变压器为0 550kV的升压变压器。本实用新型采用灵活可设的异频测量提高了测量精度，实现了高电压介损试验全 过程自动化、智能化测试，采用了独特的分体测量技术，确保了测试人员的安全。

图1是本实用新型的电路结构框图
具体实施方式高电压互感器介质损耗测试装置，包括变频电路1、控制电路2、升压变压器3、串 谐电感器L4和西林电桥5，所述的变频电路1的两输出端与升压变压器3的两输入端电连 接在一起，升压变压器3的一个输出端与串谐电感器L4的一端电连接在一起，升压变压器 3的另一个输出端接地，串谐电感器L4的另一端分别与标准电容器7的一端和被测试的高 电压互感器8的一端电连接在一起，标准电容器7的另一端A与并联的无感固定电阻R4和 可调电容器C4的一端电连接，并联的无感固定电阻R4和可调电容器C4的另一端接地，被测 试的高电压互感器8的另一端B与无感可调电阻R3的一端电连接在一起，无感可调电阻R3 的另一端接地，在标准电容器7的另一端A与被测试的高电压互感器8的另一端B之间连 有交流检流计P6，标准电容器7、被测试的高电压互感器8、并联的无感固定电阻R4和可调 电容器C4和无感可调电阻R3做为四条支路组成所述的西林电桥5 ；所述的控制电路2包括 CPU主控单元、采样电路、显示电路和A/D转换电路；所述的变频电路1由整流电路、逆变器 和滤波电路依次串联组成；CPU主控单元通过接口电路分别与逆变器和升压变压器3电连 接在一起；串谐电感器L4与被测试的高电压互感器8的串联谐振频率为45Hz 55Hz，升 压变压器3为0 550kV的升压变压器。
权利要求一种高电压互感器介质损耗测试装置，包括变频电路(1)、控制电路(2)、升压变压器(3)、串谐电感器L(4)和西林电桥(5)，其特征在于所述的变频电路(1)的两输出端与升压变压器(3)的两输入端电连接在一起，升压变压器(3)的一个输出端与串谐电感器L(4)的一端电连接在一起，升压变压器(3)的另一个输出端接地，串谐电感器L(4)的另一端分别与标准电容器(7)的一端和被测试的高电压互感器(8)的一端电连接在一起，标准电容器(7)的另一端A与并联的无感固定电阻R4和可调电容器C4的一端电连接，并联的无感固定电阻R4和可调电容器C4的另一端接地，被测试的高电压互感器(8)的另一端B与无感可调电阻R3的一端电连接在一起，无感可调电阻R3的另一端接地，在标准电容器(7)的另一端A与被测试的高电压互感器(8)的另一端B之间连有交流检流计P(6)，标准电容器(7)、被测试的高电压互感器(8)、并联的无感固定电阻R4和可调电容器C4和无感可调电阻R3做为四条支路组成所述的西林电桥(5)；所述的控制电路(2)包括CPU主控单元、采样电路、显示电路和A/D转换电路；所述的变频电路(1)由整流电路、逆变器和滤波电路依次串联组成；CPU主控单元通过接口电路分别与逆变器和升压变压器(3)电连接在一起；串谐电感器L(4)与被测试的高电压互感器(8)的串联谐振频率为45Hz～55Hz，升压变压器(3)为0～550kV的升压变压器。
专利摘要本实用新型公开了一种高电压互感器介质损耗测试装置，解决了现有技术存在的高压测试加压困难，无法完成500kV高电压互感器介质损耗测试的问题。包括变频电路(1)、控制电路(2)、升压变压器(3)、串谐电感器L(4)和西林电桥(5)，所述的变频电路(1)的两输出端与升压变压器(3)的两输入端电连接在一起，升压变压器(3)的一个输出端与串谐电感器L(4)的一端电连接在一起，升压变压器(3)的另一个输出端接地，串谐电感器L(4)的另一端分别与由标准电容器(7)、被测试的高电压互感器(8)、并联的无感固定电阻R4和可调电容器C4和无感可调电阻R3组成的西林电桥(5)连接，实现了高电压互感器介损的测试。
文档编号G01R27/26GK201583600SQ200920292780
公开日2010年9月15日 申请日期2009年12月9日 优先权日2009年12月9日
发明者孙凤俊, 杨杰, 武国亮, 王天正 申请人:山西省电力公司电力科学研究院