专利名称：一种厚膜电子产品老化试验台的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种厚膜电子产品老化试验台，特别涉及一种用于厚膜电子产品老化试验台。
背景技术：
目前，通常在厚膜电子产品的生产加工中需要对其电性能进行老化试验，现有的老化试验台对厚膜电子产品老化存在不合理的地方，影响老化试验的一致性，从而直接影响产品的质量。现有的老化试验台一般是简化模拟厚膜电子产品的周边应用线路，制作模拟老化试验台；另外一种方法就是直接接到应用设备中实装老化。模拟老化与真实的应用线路存在差异，不能完全真实的考核厚膜电子产品，而完全实装老化要使用实际的应用设备，投入大而且效率低。因此，提供一种设计合理，结构简单，效果显著，使用方便的厚膜电子产品老化试验台，是该技术人员着手解决的问题。

实用新型内容本实用新型的目的在于克服上述不足的之处，提供一种设计合理，结构简单，效果显著，使用方便的厚膜电子产品老化试验台。为了使老化试验台接近实际应用环境，老化线路板直接采用厚膜电子产品的实际应用线路，但是去除实际应用线路的控制部分和负载， 以负载电阻替代去除的部分线路，并且设定负载电阻的阻值，使厚膜电子产品工作在满功率下，以便有缺陷的厚膜电子产品能尽快被剔除出来。为了实现上述目的实用新型所采用的技术方案如下一种厚膜电子产品老化试验台，包括线路板台面、负载电阻台面、老化线路板和数字电压表，所述负载电阻台面平行设于线路板台面的正下方且两台面之间具有间隔，所述负载电阻台面上设有可调的负载电阻；所述线路板台面上设有老化线路板，老化线路板上设有待老化产品插座，每块老化线路板均连接一可调的负载电阻和一数字电压表。由于负载电阻发热量大，所以在电路结构上老化线路板与负载电阻分离放置，防止老化线路板温度升高。为方便操作人员判断受检厚膜电子产品的工作状态，增加数字电压表用于显示输出电压，所述数字电压表设于线路板台面上。本实用新型与现有技术相比具有如下优点和有益效果(1)设计合理，老化线路板使用实际应用的线路，更能体现真实的应用环境；(2)整体结构简单，以功率电阻替代实际应用设备的复杂控制线路与负载，方便使用；(3)设置功率电阻阻值，使厚膜电子产品工作在满功率下，以便有缺陷的厚膜电子产品能尽快被剔除出来，从而有效提高检测质量和工作效率。

[0011]图1是老化线路板线路方框图；图2是本实用新型结构示意图。
具体实施方式
以下结合附图，对本实用新型提供的具体实施方式
、特征、结构详述如下如图1所示，一种用于厚膜电子产品老化试验台，包括老化线路板1、数字电压表 2、线路板台面3、负载电阻台面4和电源开关5。所述线路板台面3上安装老化线路板1和数字电压表2，方便操作，老化线路板1上设有待老化产品插座。所述负载电阻台面4上设有可调的负载电阻，负载电阻台面平行设于线路板台面的正下方且两台面之间具有间隔， 这样有利于负载电阻散热。每块老化线路板1均连接一可调的负载电阻和一数字电压表 2。所述的电源开关5是带过流保护的开关，安装于该老化试验台的前侧面，简单而又安全可靠。把待老化厚膜电子产品安装到老化线路板的插座上，合上电源开关，则老化线路板开始工作，以满功率(不同产品老化时，负载电阻设定不同的阻值)输出给负载电阻，同时数字电压表检测输出电压并显示。若厚膜电子产品有缺陷，则经过规定时间的老化，有缺陷的产品因经受不住满功率输出的严格考核则会损坏，该老化线路板将停止工作，数字电压表检测不到输出电压，显示为零。操作人员据此可将有缺陷而损坏的厚膜电子产品剔除出来。上述参照实例对该厚膜电子产品老化试验台进行详细描述，是说明性的而不是限定性的，因此在不脱离本实用新型总体构思的变化和修改，应属于本实用新型保护范围之内。
权利要求1.一种厚膜电子产品老化试验台，其特征在于，该老化试验台包括线路板台面、负载电阻台面、老化线路板和数字电压表，所述负载电阻台面平行设于线路板台面的正下方且两台面之间具有间隔，所述负载电阻台面上设有可调的负载电阻；所述线路板台面上设有老化线路板，老化线路板上设有待老化产品插座，每块老化线路板均连接一可调的负载电阻和一数字电压表。
2.根据权利要求1所述的厚膜电子产品老化试验台，其特征在于，所述数字电压表设于线路板台面上。
专利摘要本实用新型涉及一种厚膜电子产品老化试验台，包括线路板台面、负载电阻台面、老化线路板和数字电压表，所述负载电阻台面平行设于线路板台面的正下方且两台面之间具有间隔，所述负载电阻台面上设有可调的负载电阻；所述线路板台面上设有老化线路板，老化线路板上设有待老化产品插座，每块老化线路板均连接一可调的负载电阻和一数字电压表。本实用新型的优点设计合理，整体结构简单，使用方便；设置功率电阻阻值，使厚膜电子产品工作在满功率下，以便有缺陷的厚膜电子产品能尽快被剔除出来，从而有效提高检测质量和工作效率。
文档编号G01R31/00GK202166700SQ201120206420
公开日2012年3月14日 申请日期2011年6月17日 优先权日2011年6月17日
发明者夏勇年, 徐华, 高文志 申请人:珠海市华晶微电子有限公司