专利名称：双光束紫外检测仪的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种测量装置，特别是一种用于柱层析检测系统的仪器，尤其是一种利用了光电转换技术和电子技术的双光束紫外检测仪。
本实用新型所要解决的技术问题是由于现有技术中的紫外线检测仪采用单色光测量，会因为温度变化、湿度变化、电源电压变化和滤光片变化等各种原因，使测量光的强度发生变化，从而使测量结果发生变化。本实用新型为解决已有技术中的上述技术问题所提出的技术方案是提供一种稳定性好，漂移小，噪声低、灵敏度高、重复性好的在线测量的双光束紫外检测仪，所述的双光束紫外检测仪，由紫外光源、干涉滤光片、样品池和光电转换装置组成，其中，所述的紫外光源可以采用已有技术中的汞灯，所述的光电转换装置包括一个样品光电转换器件和一个参比光电转换器件，所述的样品光电转换器件和参比光电转换器件可以采用已有技术中的硅光电池，所述的紫外光源、干涉滤光片、样品池和光电转换器件均固定设置在一个已有技术中的仪器壳体中，所述的干涉滤光片通过支架设置在紫外光源的前面，所述的样品池设置在所述的干涉滤光片和所述的样品光电转换器件之间，在所述的干涉滤光片、样品池和样品光电转换器件之间，设置有所述的紫外光源发出的紫外光通道，紫外光源发出的光线可以经过干涉滤光片和样品池到达样品光电转换器件，并且，在所述的干涉滤光片和所述的参比光电转换器件之间，也设置有所述的紫外光通道的光路装置，具体的，在所述的干涉滤光片和所述的参比光电转换器件之间的光的通道为一个直线通道的光路装置，紫外光源发出的光线经过所述的干涉滤光片后直接到达所述的参比光电转换器件；进一步的，在所述的干涉滤光片的前面，也可以设置一个倾斜的已有技术中的半透半反玻璃片，所述的参比光电转换器件设置在所述的半透半反玻璃片的反射光路中；紫外光源发出的光经干涉滤光片后成单色光，一部分沿直线透过所述的倾斜的半透半反玻璃片形成一路光，经过所述的样品池到达所述的样品光电转换器件，另一部分则由所述的倾斜的半透半反玻璃片反射又形成一路光，经过所述的倾斜的半透半反玻璃片，到达所述的参比光电转换器件。本实用新型的工作过程是紫外光源发出的光经干涉滤光片后成单色光，然后分成双光束，两路光束一路通过参比光电转换器件，转换成电信号，经放大器放大后送对数放大器，另一路通过样品池与样品作用，部分光被样品吸收，部分透过样品，照射到样品光电转换器件上转换成电信号，经放大器放大后送对数放大器，两路信号转换成与浓度成正比的电信号，经数字表显示或输出至记录仪，色谱工作站画出曲线图进行后期处理。进一步地，所述的样品池可以采用已有技术中的10毫米光程微量样品池，所述的放大器采用自稳零低漂移低噪声放大器。
本实用新型和已有技术相对照，因为采用了双光束测量原理，所以有效地克服了由于温度变化、湿度变化、电源电压变化、滤光片变化等各种原因引起的测量结果的误差；本实用新型和已有技术相对照，因为所采用的电路使用了自稳零低漂移低噪声放大器，所以有效地克服了仪器的漂移，提高信噪比；本实用新型和已有技术相对照，因为采用了10毫米光程微量样品池，所以提高了测量的灵敏度，能直接显示样品的OD值。
图2是本实用新型双光束紫外检测仪的另一个实施例的示意图。
以下结合附图
对本实用新型作进一步的说明
权利要求1，双光束紫外检测仪，其特征在于所述的双光束紫外检测仪由紫外光源、干涉滤光片、样品池和光电转换装置组成，所述的光电转换装置包括一个样品光电转换器件和一个参比光电转换器件，所述的紫外光源、干涉滤光片、样品池和光电转换器件均固定设置在一个仪器壳体中，所述的干涉滤光片通过支架设置在紫外光源的前面，所述的样品池设置在所述的干涉滤光片和所述的样品光电转换器件之间，在所述的干涉滤光片、样品池和样品光电转换器件之间，设置有所述的紫外光源发出的紫外光的通道，并且，在所述的干涉滤光片和所述的参比光电转换器件之间，也设置有所述紫外光的通道。
2，如权利要求1所述的双光束紫外检测仪，其特征在于在所述的干涉滤光片的前面，设置有两个光通道的光路装置，其中一个通道中设有所述的样品池，所述的样品光电转换器件及参比光电转换器件设置在前述的两个光通道的光路装置后。
3，如权利要求1所述的双光束紫外检测仪，其特征在于在所述的干涉滤光片的前面，设置有一个半透半反玻璃片，所述的参比光电转换器件设置在所述的半透半反玻璃片的反射光路中。
4，如权利要求1所述的一种新型双光束紫外检测仪，其特征在于所述的样品池采用10毫米光程微量样品池。
专利摘要一种双光束紫外检测仪，由紫外光源、干涉滤光片、样品池和光电转换装置组成，光电转换装置包括一个样品光电转换器件和一个参比光电转换器件。紫外光源、干涉滤光片、样品池和光电转换器件均固定设置在一个仪器壳体中，干涉滤光片通过支架设置在紫外光源的前面，样品池设置在干涉滤光片和样品光电转换器件之间；在干涉滤光片和参比光电转换器件之间，设置有光的通道，本实用新型采用了双光束测量原理，所以有效地克服了由于温度变化、湿度变化、电源电压变化、滤光片变化等各种原因引起的测量结果的误差。
文档编号G01N21/33GK2553374SQ0226552
公开日2003年5月28日 申请日期2002年7月16日 优先权日2002年7月16日
发明者许先导 申请人:许先导, 王招娣