专利名称：器件老化筛选电路的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及电子线路，尤其涉及用于筛选老化器件的电路。
背景技术：
电子器件在使用一段时间后其中的元器件会出现不同程度的老化，老化的电器器 件性能降低，容易出现故障，有时还会引发事故。因此，对于电子设备来说，需要经常对其器 件进行检查，及时发现并且更换老化的器件，确保使用安全。

实用新型内容本实用新型旨在提出一种用于筛选老化的电子器件的器件老化筛选电路。该器件老化筛选电路包括参考电流发生器，产生一参考电流；第一运算放大器，正输入端连接参考电流，输出端连接晶体管的基极；晶体管的发射极连接待测器件，待测器件的另一端接地，晶体管的集电极连接外 接电源；第二运算放大器，正输入端通过第一电阻连接到外接电源，负输入端通过第二电 阻连接到第二运算放大器的输出端，第二运算放大器的输出端还通过第三电阻连接到第一 运算放大器的负输入端；比较模块，连接到第二运算放大器的输出和参考电流发生器，比较第二运算放大 器的输出电流和参考电流，输出筛选信号。参考电流发生器是直流电流发生器，输出直流电流作为参考电流。采用本实用新型的技术方案，将待测器件作为负载连接到该器件老化筛选电路的 晶体管发射极，就能方便地通过比较模块的输出得知器件是否老化。

图1揭示了根据本实用新型的器件老化筛选电路的电路图。
具体实施方式
参考图1所示，该器件老化筛选电路包括如下的元件参考电流发生器10、第一运 算放大器Al、晶体管Q、第二运算放大器A2、比较模块30。参考电流发生器10产生一参考电流I。在一个实施例中，该参考电流发生器10是 直流电流发生器，产生直流电流作为参考电流I。第一运算放大器Al的正输入端“ + ”端连 接参考电流I，第一运算放大器Al的输出端连接晶体管Q的基极。晶体管Q的发射极连接 待测器件20，待测器件20的另一端接地Gnd，晶体管Q的集电极连接外接电源Vcc。第二运 算放大器A2的正输入端“ + ”通过第一电阻Rl连接到外接电源Vcc，负输入端“-”通过第二 电阻R2连接到第二运算放大器A2的输出端，第二运算放大器A2的输出端还通过第三电阻
3R3连接到第一运算放大器Al的负输入端“_”。比较模块30连接到第二运算放大器A2的 输出和参考电流发生器10，比较模块30比较第二运算放大器A2的输出电流I’和参考电 流I，输出筛选信号。比较模块30比较输出电流I’和参考电流I，如果两者的电流强度的 差值大于一个预定值，则输出筛选信号表示待测器件20老化，需要更换。 采用本实用新型的技术方案，将待测器件作为负载连接到该器件老化筛选电路的 晶体管发射极，就能方便地通过比较模块的输出得知器件是否老化。
权利要求一种器件老化筛选电路，其特征在于，包括参考电流发生器，产生一参考电流；第一运算放大器，正输入端连接所述参考电流，输出端连接晶体管的基极；晶体管的发射极连接待测器件，待测器件的另一端接地，晶体管的集电极连接外接电源；第二运算放大器，正输入端通过第一电阻连接到外接电源，负输入端通过第二电阻连接到第二运算放大器的输出端，第二运算放大器的输出端还通过第三电阻连接到第一运算放大器的负输入端；比较模块，连接到第二运算放大器的输出和所述参考电流发生器，比较所述第二运算放大器的输出电流和参考电流，输出筛选信号。
2.如权利要求1所述的器件老化筛选电路，其特征在于， 所述参考电流发生器是直流电流发生器。
专利摘要本实用新型揭示了一种器件老化筛选电路，包括参考电流发生器，产生一参考电流；第一运算放大器，正输入端连接参考电流，输出端连接晶体管的基极；晶体管的发射极连接待测器件，待测器件的另一端接地，晶体管的集电极连接外接电源；第二运算放大器，正输入端通过第一电阻连接到外接电源，负输入端通过第二电阻连接到第二运算放大器的输出端，第二运算放大器的输出端还通过第三电阻连接到第一运算放大器的负输入端；比较模块，连接到第二运算放大器的输出和参考电流发生器，比较第二运算放大器的输出电流和参考电流，输出筛选信号。
文档编号G01R19/165GK201666931SQ20102027389
公开日2010年12月8日 申请日期2010年7月28日 优先权日2010年7月28日
发明者欧阳勇 申请人:上海蔓意船舶技术服务有限公司