专利名称：40路薄膜电容耐久性试验装置的制作方法
技术领域：
40路薄膜电容耐久性试验装置
技术领域：
本实用新型涉及薄膜电容产品的测试，尤其涉及40路薄膜电容耐久性试验装置。背景技术：
现有的薄膜电容的测试装置，对薄膜电容进行耐压测试时，大多每次只能测试1 个薄膜电容，无论测试速度有多快，每次也只能检测1个薄膜电容，远不能满足实验需要， 制约着薄膜电容大规模生产发展；若想同时检测更多的薄膜电容，就需要备用多台测试装 置同时工作，这样就需增加设备的投入量，加大生产成本；为节约设备购置成本，提高薄膜 电容的测试效率，迫切需要一种能够根据需要对多种不同容量、多个薄膜电容同时进行检 测的试验装置。

实用新型内容本实用新型提供一种控制方便，可靠性和稳定性高，能够根据同时测试薄膜电容 的个数多少选择对应容量的电抗器档位，最多可以同时对40个薄膜电容进行检测的40路 薄膜电容耐久性试验装置。为实现上述目的，本实用新型采用的技术方案为一种40路薄膜电容耐久性试验装置，由外壳、控制面板、自耦调压器、升压调压 器、多组容量可选择或组合的电抗器、电气控制系统、及对应设置的测试夹具和高温测试烘 箱构成；所述升压调压器通过控制面板上的按钮控制调速电机M来自动调压；所述高温测 试烘箱采用单独一个烘箱，对批量统一测试的所有薄膜电容集中烘烤，所述烘箱内的温度 由电气控制系统中的温控器PT控制；所述电气控制系统由启动及升压器调速控制电路、10 路电抗器控制电路、20路薄膜电容电流测试电路、温控电路和计时电路组成，所述20路薄 膜电容电流测试电路的每路由电流互感器TA、小型断路器QF、双路选择开关和测试薄膜电 容C组成，20路并联后连接在经升压调压器调压后的输出电源总线上；所述双路选择开关 的每路设有测试端，分别连接测试夹具的插板测试端，每路插板测试端固定有测试薄膜电 容C，且控制两路测试薄膜电容C通断的双路选择开关电路的两端并联有电容指示灯HL’ ； 所述电流互感器TA的低压输出侧接入所述小型断路器QF的输出脚上；根据同时测试薄膜 电容C的个数，在10路电抗器控制电路上选择对应容量的电抗器L档位，输出信号经驱动 芯片处理后分别输出给20路小型断路器QF的输入端，20路小型断路器QF输出后每路分别 通过双路选择开关分为2组对薄膜电容C进行控制，实现控制面板一个电流表最多可分别 监控40个薄膜电容电流。如上所述的40路薄膜电容耐久性试验装置，其中，所述启动及升压器调速控制电 路由总电源、断路器QF22、按钮开关SB1、按钮开关SB2、按钮开关SB3、按钮开关SB4、交流接 触器KM21、限位开关SQl、限位开关SQ2组成，其中，按钮开关SBl、按钮开关SB2与交流接 触器KM21的电磁线圈串联，交流接触器KM21的主触头与按钮开关SBl并联；按钮开关SB3 与控制调速电机M正转的限位开关SQl串联，按钮开关SB4与控制调速电机M反转的限位开关SQ2串联；按钮开关SB4与限位开关SQ2串联后，与串联的按钮开关SB3、限位开关SQl 并联后与调速电机M连连接，控制调速电机M的正反转；所述串联的按钮开关SB1、按钮开 关SB2、交流接触器KM21的电磁线圈与控制调速电机M的正反转的电路并联后，通过断路器 QF22控制与总电源的通断。如上所述的40路薄膜电容耐久性试验装置，其中，所述10路电抗器控制电路的每 路由按钮S、电抗器工作指示灯HL、交流接触器KM、多组不同容量电抗器L组成，每路由电抗 器工作指示灯HL与交流接触器KM的电磁线圈并联后与按钮S串联，10路并联后通过断路 器QF23控制与总电源的通断；所述多组不同容量电抗器分别与10路交流接触器KM的主、 副触头串联连接，并与所述升压调压器调压后的输出电源连接。如上所述的40路薄膜电容耐久性试验装置，其中，所述多组不同容量电抗器L由 2 组 600μΗ、1 组 400μΗ、1 组 200μΗ、2 组 100μΗ、1 组 80 μ Η、2 组 50 μ H、1 组 30 μ H 的电
抗器组成。如上所述的40路薄膜电容耐久性试验装置，其中，所述温控电路和计时电路并 联，所述温控电路的温控器与计时电路上计时器KT的电磁线圈并联；其中，计时器KT的常 闭开关、温控器PT的长闭开关与设置的电流表切换开关SAl和交流接触器ΚΜ22的电磁线 圈串联，并与并联的温控器和计时器KT的电磁线圈再次并联，也通过断路器QF23控制与总 电源的通断；所述交流接触器ΚΜ22的副触头与升压调压器调压后的输出端电源连接。如上所述的40路薄膜电容耐久性试验装置，其中，所述电流表切换开关SAl控制 20路薄膜电容电流测试电路上的每路电流互感器ΤΑ。本实用新型的优点根据同时测试薄膜电容的个数，在10路电抗器控制电路上选 择对应容量的电抗器档位，输出信号经驱动芯片处理后分别输出给20路小型断路器QF的 输入端，20路小型断路器QF每路分别通过双路选择开关分为2组对薄膜电容进行控制，实 现控制面板上的一个电流表最多可分别监控40个薄膜电容的电流，大大减少设备的投入 量，减少了检测投入成本，节省了安装空间。

图1为本实用新型的电气原理图。
具体实施方式
一种40路薄膜电容耐久性试验装置，如图1所示，由外壳、控制面板、自耦调压 器、升压调压器、多组容量可选择或组合的电抗器(Li. ..Li... L17)、电气控制系统、及 对应设置的测试夹具和高温测试烘箱构成；所述升压调压器通过控制面板上的按钮控制 调速电机M来自动调压；所述高温测试烘箱采用单独一个烘箱，对批量统一测试的所有 薄膜电容集中烘烤，所述烘箱内的温度由电气控制系统中的温控器PT控制；所述电气 控制系统由启动及升压器调速控制电路、10路电抗器控制电路、20路薄膜电容电流测试 电路、温控电路和计时电路组成，所述20路薄膜电容电流测试电路的每路由电流互感器 (TA1. · · TAi. · · ΤΑ20)、小型断路器(QF1. · · QFi. · · QF20)、双路选择开关(图中未示)和两 个经双路选择开关控制通断的测试薄膜电容(Cl. . . Ci. . . C20)组成，每路由电流互感器、 小型断路器、双路选择开关和测试薄膜电容串联组成，20路并联后连接在经升压调压器调压后的输出电源总线上；所述双路选择开关的每路设有测试端，分别连接测试夹具的插板 测试端，每组插板测试端固定有测试薄膜电容，且控制两路测试薄膜电容通断的双路选择 开关电路的两端分别并联有电容指示灯(HL1、HL2. . . Hli' . . . HL20)；所述电流互感器的低 压输出侧接入所述小型断路器的输出脚上；根据同时测试薄膜电容的个数，在10路电抗器 控制电路上选择对应容量的电抗器档位，输出信号经驱动芯片处理后分别输出给20路小 型断路器的输入端，20路小型断路器输出后每路分别通过双路选择开关分为2组对薄膜电 容(Cl. . . Ci. . . C20)进行控制，实现控制面板一个电流表最多可分别监控40个薄膜电容 (Cl. · · Ci. · · C20)电流。继续如图1所示，所述启动及升压器调速控制电路由总电源、断路器QF22、按钮开 关SB1、按钮开关SB2、按钮开关SB3、按钮开关SB4、交流接触器KM21、限位开关(SQ1、SQ2) 组成，其中，按钮开关SB1、按钮开关SB2与交流接触器KM21的电磁线圈串联，交流接触器 KM21的主触头与按钮开关SBl并联；按钮开关SB3与控制调速电机M正转的限位开关SQl 串联，按钮开关SB4与控制调速电机M反转的限位开关SQ2串联；按钮开关SB4与限位开关 SQ2串联后，与串联的按钮开关SB3、限位开关SQl并联后与调速电机M连接，控制调速电机 M的正反转；所述串联的按钮开关SB1、按钮开关SB2、交流接触器KM21的电磁线圈与控制 调速电机M的正反转的电路并联后，通过断路器QF22控制与总电源的通断。所述10路电抗器控制电路由按钮(S1、S2. ..Si... S10)、电抗器工作指示灯(HLU HL2. . .HLi. . .HL10)、交流接触器(KMU KM2. . . KMi. . . KM10)、多组容量可选择的电抗器 (Li. ..Li... L17)组成，每路由电抗器工作指示灯与交流接触器的电磁线圈并联后与按钮 串联，10路并联后通过断路器QF23控制与总电源的通断；所述多组容量可选择的电抗器 分别与10路交流接触器的主、副触头串联连接，并与所述升压调压器调压后的输出电源连 接。所述多组容量可选择的电抗器包括2组600 μ H、1组400 μ H、1组200 μ H、2组100 μ H、 1组80 μ H、2组50 μ H、1组30 μ H的电抗器，根据同时测试薄膜电容的个数，在10路电抗器 控制电路上选择对应容量的电抗器档位，达到同时测试多个测试薄膜电容。所述温控电路和计时电路并联，所述温控电路的温控器与计时电路上计时器KT 的电磁线圈并联；其中，计时器KT的常闭开关、温控器PT的长闭开关与设置的电流表切换 开关SAl和交流接触器ΚΜ22的电磁线圈串联，并与并联的温控器和计时器KT的电磁线圈 再次并联，也通过断路器QF23控制与总电源的通断；所述交流接触器ΚΜ22的副触头与升压 调压器调压后的输出端电源连接。所述电流表切换开关SAl控制20路薄膜电容电流测试 电路上的每路电流互感器，通过电流表切换开关SAl和双路选择开关，实现控制面板一个 电流表最多可分别监控40个薄膜电容(Cl. . . Ci. . . C20)电流；当然，也可以通过电流表切 换开关SA1，对其他支路及主回路上的电流进行监控。本实用新型还可以有其他变形；总之，根据上述实例的提示而做显而易见的变动， 以及，其它凡是不脱离本发明专利实质的改动，均应包括在权利要求所述的范围之内。
权利要求1.一种40路薄膜电容耐久性试验装置，由外壳、控制面板、自耦调压器、升压调压器、 多组容量可选择或组合的电抗器、电气控制系统、及对应设置的测试夹具和高温测试烘箱 构成；其特征在于，所述升压调压器通过控制面板上的按钮控制调速电机M来自动调压； 所述高温测试烘箱采用单独一个烘箱，对批量统一测试的所有薄膜电容集中烘烤，所 述烘箱内的温度由电气控制系统中的温控器PT控制；所述电气控制系统由启动及升压器调速控制电路、10路电抗器控制电路、20路薄膜电 容电流测试电路、温控电路和计时电路组成，所述20路薄膜电容电流测试电路的每路由电 流互感器TA、小型断路器QF、双路选择开关和测试薄膜电容C组成，20路并联后连接在经升 压调压器调压后的输出电源总线上；所述双路选择开关的每路设有测试端，分别连接测试夹具的插板测试端，每路插板测 试端固定有测试薄膜电容C，且控制两路测试薄膜电容C通断的双路选择开关电路的两端 并联有电容指示灯HL’ ；所述电流互感器TA的低压输出侧接入所述小型断路器QF的输出脚上； 根据同时测试薄膜电容C的个数，在10路电抗器控制电路上选择对应容量的电抗器L 档位，输出信号经驱动芯片处理后分别输出给20路小型断路器QF的输入端，20路小型断路 器QF输出后每路分别通过双路选择开关分为2组对薄膜电容C进行控制，实现控制面板一 个电流表最多可分别监控40个薄膜电容电流。
2.根据权利要求1所述的40路薄膜电容耐久性试验装置，其特征在于，所述启动及升 压器调速控制电路由总电源、断路器QF22、按钮开关SB1、按钮开关SB2、按钮开关SB3、按钮 开关SB4、交流接触器KM21、限位开关SQ1、限位开关SQ2组成，其中，按钮开关SB1、按钮开 关SB2与交流接触器KM21的电磁线圈串联，交流接触器KM21的主触头与按钮开关SBl并 联；按钮开关SB3与控制调速电机M正转的限位开关SQl串联，按钮开关SB4与控制调速电 机M反转的限位开关SQ2串联；按钮开关SB4与限位开关SQ2串联后，与串联的按钮开关 SB3、限位开关SQl并联后与调速电机M连连接，控制调速电机M的正反转；所述串联的按钮 开关SB1、按钮开关SB2、交流接触器KM21的电磁线圈与控制调速电机M的正反转的电路并 联后，通过断路器QF22控制与总电源的通断。
3.根据权利要求1或2所述的40路薄膜电容耐久性试验装置，其特征在于，所述10路 电抗器控制电路的每路由按钮S、电抗器工作指示灯HL、交流接触器KM、多组不同容量电抗 器L组成，每路由电抗器工作指示灯HL与交流接触器KM的电磁线圈并联后与按钮S串联， 10路并联后通过断路器QF23控制与总电源的通断；所述多组不同容量电抗器分别与10路 交流接触器KM的主、副触头串联连接，并与所述升压调压器调压后的输出电源连接。
4.根据权利要求3所述的40路薄膜电容耐久性试验装置，其特征在于，所述多组不同 容量电抗器L 由 2 组600μΗ、1 组400μΗ、1 组 200μΗ、2 组 100 μ H、1 组 80 μ Η、2 组 50 μ H、 1组30 μ H的电抗器组成。
5.根据权利要求3所述的40路薄膜电容耐久性试验装置，其特征在于，所述温控电路 和计时电路并联，所述温控电路的温控器与计时电路上计时器KT的电磁线圈并联；其中， 计时器KT的常闭开关、温控器PT的长闭开关与设置的电流表切换开关SAl和交流接触器 ΚΜ22的电磁线圈串联，并与并联的温控器和计时器KT的电磁线圈再次并联，也通过断路器QF23控制与总电源的通断；所述交流接触器KM22的副触头与升压调压器调压后的输出端 电源连接。
6.根据权利要求5所述的40路薄膜电容耐久性试验装置，其特征在于，所述电流表切 换开关SAl控制20路薄膜电容电流测试电路上的每路电流互感器TA。
专利摘要本实用新型涉及一种40路薄膜电容耐久性试验装置，由外壳、控制面板、自耦调压器、升压调压器、多组容量可选择的电抗器、电气控制系统、及对应设置的测试夹具和高温测试烘箱构成；所述电气控制系统由启动及升压器调速控制电路、10路电抗器控制电路、20路薄膜电容电流测试电路、温控电路和计时电路组成，根据同时测试薄膜电容的个数，在10路电抗器控制电路上选择对应容量的电抗器档位，输出信号经驱动芯片处理后分别输出给20路薄膜电容电流测试电路，其中20路薄膜电容电流测试电路的每路分别通过双路选择开关分为2组对薄膜电容进行控制，实现控制面板一个电流表最多可分别监控40个薄膜电容电流。
文档编号G01R31/14GK201917623SQ20102063463
公开日2011年8月3日 申请日期2010年11月30日 优先权日2010年11月30日
发明者廖伟强 申请人:珠海格力新元电子有限公司