专利名称：一种简易通用型全波过零检测电路的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种过零检测电路，尤其涉及一种简易通用型全波过零检测电路。
背景技术：
过零检测电路用于检测交流电的过零点，在很多电路中都用应用，现有技术中，实 现交流电与直流电隔离的过零检测电路存在以下问题现有开关电源电路的过零检测电路 在每个正弦周期只产生一个过零脉冲，其不能满足每个正弦周期需要两个过零脉冲的应用 需求。同时许多现有过零检测电路结构过于复杂，故障率和生产成本高。由上述描述可知，现有的过零检测电路装置产品，使用不方便、电路复杂、生产成 本高，不能满足每个正弦周期需要两个过零脉冲的应用需求。

实用新型内容本实用新型的目的是提供一种简易通用型全波过零检测电路，有效解决现有过零 检测电路装置产品，使用不方便、电路复杂、生产成本高，不能满足每个正弦周期需要两个 过零脉冲的应用需求等技术缺陷。为实现上述目的，本实用新型提供了一种开关电源电路的过零检测电路，包括一种开简易通用型全波过零检测电路，其特征在于，包括两个相同的光耦合器 A、B ；所述光耦合器A的输入侧第一极与交流电源L端连接，输入侧第二极与交流电源 N端连接，输出侧第一极与单片机端口连接，输出侧第二极接地；所述光耦合器B的输入侧第二极与交流电源L端连接，输出侧第一极与交流电源 N端连接，输出侧第一极与单片机端口连接，输出侧第二极接地。其中，所述光耦合器A、B的输出侧第一极还与整形电路连接。所述光耦合器A的输入侧第一极和所述光耦合器B的输入侧第二极与所述交流电 源L端之间接有电阻。所述整形电路包括一端连接所述光耦合器A、B的输出侧第一级，一端连接单片机 端口的电阻；一端连接所述输出侧第一级，一端连接5V直流电源的电阻；以及一端连接单 片机端口，一端接地的电容。
图1为本实用新型一种简易通用型全波过零检测电路原理图；具体实施方式
图1为本实用新型一种简易通用型全波过零检测电路实施例的电路原理图。如图 1所示，一种简易通用型全波过零检测电路包括。两个相同的光耦合器A、B ；[0016]其中，光耦合器A的输入侧第一极Al与交流电源L端连接，输入侧第二极A2与交 流电源N端连接，输出侧第一极A3与单片机端口 P连接，输出侧第二极A4接地；光耦合器B的输入侧第二极B2与交流电源L端连接，输出侧第一极Bl与交流电 源N端连接，输出侧第一极B3与单片机端口 P连接，输出侧第二极B4接地。同时，光耦合器A、B的输出侧第一极A3和B3还与整形电路连接，光耦合器A的输 入侧第一极Al和光耦合器B的输入侧第二极B2与交流电源L端之间接有电阻R1。整形电路包括连接在所述光耦合器A、B的输出侧第一极A3和B3与单片机端口 P 之间的电阻，一端连接5V直流电源，另一端连接光耦合器A、B的输出侧第一极A3和B3的 电阻R2，一端与单片机端口 P连接，一端与光耦合器A、B的输出侧第一极A3和B3连接的 电阻R3，以及一端与单片机端口 P连接，一端接地的电容Cl。最后应说明的是以上实施例仅用以说明本实用新型的技术方案而非对其进行限 制，尽管参照较佳实施例对本实用新型进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理 解其依然可以对本实用新型的技术方案进行修改或者等同替换，而这些修改或者等同替 换亦不能使修改后的技术方案脱离本实用新型技术方案的精神和范围。
权利要求一种简易通用型全波过零检测电路，其特征在于，包括两个相同的光耦合器A、B；所述光耦合器A的输入侧第一极与交流电源L端连接，输入侧第二极与交流电源N端连接，输出侧第一极与单片机端口连接，输出侧第二极接地；所述光耦合器B的输入侧第二极与交流电源L端连接，输出侧第一极与交流电源N端连接，输出侧第一极与单片机端口连接，输出侧第二极接地。
2.根据权利要求1所述的简易通用型全波过零检测电路，其特征在于，所述光耦合器 A、B的输出侧第一极还与整形电路连接。
3.根据权利要求1所述的简易通用型全波过零检测电路，其特征在于，所述光耦合器A 的输入侧第一极、光耦合器B的输入侧第二极与所述交流电源L端之间接有电阻。
4.根据权利要求2所述的简易通用型全波过零检测电路，其特征在于，所述整形电路 包括一端连接所述光耦合器A、B的输出侧第一级，一端连接单片机端口的电阻；一端连接 所述输出侧第一级，一端连接5V直流电源的电阻；以及一端连接单片机端口，一端接地的 电容。
专利摘要本实用新型公开了一种简易通用型全波过零检测电路，包括两个相同的光耦合器A、B；光耦合器A的输入侧第一极与交流电源L端连接，输入侧第二极与交流电源N端连接，输出侧第一极与单片机端口连接，输出侧第二极接地；光耦合器B的输入侧第二极与交流电源L端连接，输出侧第一极与交流电源N端连接，输出侧第一极与单片机端口连接，输出侧第二极接地，光耦合器A的输入侧第一极和光耦合器B的输入侧第二极与交流电源L端之间接有电阻。光耦合器A、B的输出侧第一极还与整形电路连接。本实用新型能够解决现有过零检测电路装置产品，使用不方便、电路复杂、生产成本高，不能满足每个正弦周期产生两个过零脉冲的应用需求等技术缺陷。
文档编号G01R15/22GK201757764SQ20092025270
公开日2011年3月9日 申请日期2009年11月5日 优先权日2009年11月5日
发明者洪利, 蔡丽萍, 陈仲钱 申请人:中国石油大学(华东);临安市仲越电子有限公司