专利名称：一种crt玻锥定位块高度测量仪的制作方法
技术领域：
本实用新型属于测量技术领域，特别涉及一种CRT玻锥定位块高度测量仪。
背景技术：
CRT玻锥是显像管的重要组成部件之一，在玻锥生产领域，需要对玻屏(荧光屏)与玻锥装配过程的定位基准点(定位块)进行研磨。每一枚产品上有三个定位块。为保证加工精度要求，需对每一个定位块的高度尺寸进行检测。目前国内同行的做法是用深度卡尺，测量定位块研磨面至基准面之间的高度，由于测量产品是玻璃制品，除了尺寸测量精度外还要保证测量过程中产品不能出现划伤等现象的发生，这样在测量上就增加了一定的难度，同时卡尺测量时测量点容易产生偏差，进而对于尺寸控制上产生影响。

发明内容为了克服上述现有技术的不足，本实用新型的目的在于提供一种CRT玻锥定位块高度测量仪，具有测量快捷、准确、方便的特点。 为了实现上述目的，本实用新型采用的技术方案是一种CRT玻锥定位块高度测量仪，包括有基座l，基座1上设置有百分表2，百分表2的一侧设有表头3，基座1的一侧设有对准基点5，基座1上、百分表2与表头3之间设有百分表基准调整点4。[0005] 所述的表头3与对准基点5上下处于垂直位置。 本实用新型由于只需将待测量的产品放置在平台上，定位块研磨面与平台呈垂直状态，再将此测量工具对准要测量的定位块，此时百分表上的读数即是该定位块的高度，具有测量快捷、准确、方便的特点。

图1是本实用新型的结构示意图。[0008] 图2是本实用新型的俯视图。
具体实施方式
以下结合附图对本实用新型的结构原理和工作原理作进一步详细说明。 参见图1、2，一种CRT玻锥定位块高度测量仪，包括有基座l，基座1上设置有百分
表2，基座1的一侧设有表头3，基座1上、百分表2与表头3之间设有百分表基准调整点4。
所述的表头3与对准基点5上下处于垂直位置。 本实用新型的工作原理是 测量前，先需对测量工具进行校零，即百分表2的表头3与对准基点5上下在同一垂直位置上，百分表2读数调至零位；将该测量工具放置在测量平台上，下端面与平台自然帖紧；然后将被测量产品放置在平台上，产品封接面朝下，再将此测量工具对准要测量的定位块，此时百分表2上的读数即是该定位块的高度。
权利要求一种CRT玻锥定位块高度测量仪，包括有基座(1)，其特征在于，基座(1)上设置有百分表(2)，百分表(2)的一侧设有表头(3)，基座1的一侧设有对准基点(5)，基座(1)上、百分表(2)与表头(3)之间设有百分表基准调整点(4)。
2. 根据权利要求1所述的一种CRT玻锥定位块高度测量仪，其特征在于，所述的表头(3)与对准基点(5)上下处于垂直位置。
专利摘要一种CRT玻锥定位块高度测量仪，包括有基座1，基座1上设置有百分表2，基座1的一侧设有表头3，基座1上、百分表2与表头3之间设有百分表基准调整点4，只需将待测量的产品放置在平台上，产品封接面朝下，再将此测量工具对准要测量的定位块，此时百分表上的读数即是该定位块的高度，具有测量快捷、准确、方便的特点。
文档编号G01B5/02GK201449235SQ20092003365
公开日2010年5月5日 申请日期2009年6月23日 优先权日2009年6月23日
发明者齐世文 申请人:彩虹集团电子股份有限公司