专利名称：一种粗氖氦混合气中氖气含量的分析方法
技术领域：
本发明涉及气相色谱分析方法，具体属于关于粗氖氦混合气中氖气含量的分析方 法。
背景技术：
氖气和氦气都是无色、无嗅、无味的惰性气体，广泛地应用于军工、科研、石化、制 冷、医疗、半导体、管道检漏、超导实验、金属制造、深海潜水、高精度焊接、光电子产品生产 等领域。粗氖氦气中除了含有氖气和氦气以外，还存在有氮气、氧气、氩气和氢气等物质。 目前，对于粗氖氦气中氖气的含量尤其体积百分比大于45%的检测分析，因为存在氖气和 氢气出现合峰、氖气和氦气出现合峰等物质干扰的问题；用现有高纯气体的测定方法，又存 在组分杂质含量太高，超过测量量程的问题，故无法满足要求的要求。

发明内容
本发明的目的在于克服目前存在的上述不足，提供一种能检测出粗氖氦气中氖气 的含量尤其体积百分比大于45%的粗氖氦气中氖气、氢气、氦气的含量的检测分析方法。实现上述目的的技术措施一种粗氖氦混合气中氖气含量的分析方法，其步骤1)制备含氢气体积百分比为等差的8L/瓶五瓶标样气，每瓶其组分及体积百分比 为氖气45%，氢气0. 3. 0%，其余为氦气；2)制备含氦气体积百分比为12%的8L标样气一瓶，其组分及体积百分比为氢气 2%，氦气12%，氮气33%，其余为氖气；3)制备8L氖气标样气一瓶，其组分及体积百分比为氖气45%，其余为氦气；4)对含氢气体积百分比为等差的五瓶标样气进行测定，步骤a、采用热导气相色谱仪测定其中的氖气的峰高值；b、根据所测定的氖气峰高值ΗΛ1，绘制校正曲线图，其纵坐标为氖气峰高值ΗΛ1， 横坐标为氢气的体积百分比；5)确定氖气标样气的校正系数ΚΛ 首先测定氖气标样气中氖气的峰高值ΗΛ2，再根据以下公式计算1(胃值，
K氖=气标样气中的氖气体积/氖气标样气中氖气的峰高值=45/H氖26)确定含氦气体积百分比为12%的标样气的校正系数Ks 测定含氦气体积百分比为12%的标样气中氢气的峰高值Hsi,，再根据以下公式计 算1^值，
权利要求
一种粗氖氦混合气中氖气含量的分析方法，其步骤1)制备含氢气体积百分比为等差的8L/瓶五瓶标样气，每瓶其组分及体积百分比为氖气45％，氢气0.1～3.0％，其余为氦气；2)制备含氦气体积百分比为12％的8L标样气一瓶，其组分及体积百分比为氢气2％，氦气12％，氮气33％，其余为氖气；3)制备8L氖气标样气一瓶，其组分及体积百分比为氖气45％，其余为氦气；4)对含氢气体积百分比为等差的五瓶标样气进行测定，步骤a、采用热导气相色谱仪测定其中的氖气的峰高值；b、根据所测定的氖气峰高值H氖1，绘制校正曲线图，其纵坐标为氖气峰高值H氖1，横坐标为氢气的体积百分比；5)确定氖气标样气的校正系数K氖首先测定氖气标样气中氖气的峰高值H氖2，再根据以下公式计算K氖值，6)确定含氦气体积百分比为12％的标样气的校正系数K氢测定含氦气体积百分比为12％的标样气中氢气的峰高值H氢1，，再根据以下公式计算K氢值，7)对粗氖氦气产品进行测定a、采用热导气相色谱仪测定粗氖氦气产品中氖气的峰高值H氖3、氢气的峰高值H氢2；b、计算氢气的体积含量，其计算公式V氢＝H氢2×K氢c、根据V氢在绘制出的校正曲线图中找出相应的氖气的峰高值H氖4；d、计算粗氖氦气产品中氖气的体积含量，其计算公式(H氖3+H氖4)×K氖即可。FDA0000025056170000011.tif,FDA0000025056170000012.tif
全文摘要
本发明涉及粗氖氦混合气中氖气含量的分析方法。其步骤制备含氢气的五瓶标样气，每瓶组分为氖气45％，氢气0.1％～3.0％，余为氦气；制备含氦气体标样气一瓶，其组分氢气2％，氦气12％，氮气33％，余为氖气；制备氖气标样气一瓶，其组分及氖气45％，余为氦气；对含氢气的五瓶标样气进行测定，步骤采用色谱仪测定氖气的峰高值、根据测定的氖气峰高值H氖1绘制校正曲线图；确定氖气标样气的校正系数K氖及含氦气体积百分比为12％的标样气的校正系数K氢对粗氖氦气产品进行测定及计算。本发明能满足用户对粗氖氦气中氖气体积百分比大于45％时各组分含量情况的要求，并可对进空分塔的粗氖氦气和加氧除氢过程进行监控。
文档编号G01N30/02GK101936965SQ20101026357
公开日2011年1月5日 申请日期2010年8月26日 优先权日2010年8月26日
发明者谢程 申请人:武汉钢铁(集团)公司