专利名称：一种引线框架片材热膨胀系数测量器的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及测量技术领域，特别是涉及一种引线框架片材热膨胀系数测量器。
背景技术：
物体的体积或长度随温度的升高而增大的现象称为热膨胀。热膨胀系数是材料 的主要物理性质之一，它是进行材料选择和结构设计的一个非常关键的数据。对于 具有一定厚度的材料，目前有多种测量热膨胀系数的方法，其中常用的立式膨胀仪 是将试样安放在一端封闭的石英管底部，使其保持良好的接触，试样的另一端通过 一个石英顶杆将膨胀引起的位移传递到千分表上，即可读出不同温度下的膨胀量。 试样的直径范围为3至10 mm，长度范围为25至150mm。
电子元器件封装所用的引线框架，其片状材料的热膨胀系数对各种不同材料构 成的电子元器件的工作可靠性，以及封装电子元器件时所必须使用的成型模具的设 计和制造均具有重要的意义。电子元器件封装所用的引线框架片状材料的厚度范围 为0.07至1.2 mm，无法制成现有的热膨胀系数测量仪所用的圆棒试样。
发明内容
本实用新型所要解决的技术问题就是为了克服上述现有技术存在的缺陷而提 供一种引线框架片材热膨胀系数测量器。
本实用新型的目的可以通过以下技术方案来实现 一种引线框架片材热膨胀系 数测量器，其特征在于，包括光学长度测量仪、放置于光学长度测量仪测量台上的 隔热板以及可移出的放置在隔热板上的测量容器，所述的测量容器包括容器本体、 载物台、测温仪以及加热器，所述的容器本体设于隔热板上，该容器本体内设有传 热介质，所述的载物台浸泡于传热介质中并与容器本体的底面固定，所述的测温仪 的测温头以及加热器的加热头均设于传热介质中。所述的光学长度测量仪的测量重复精度高于±0.002 mm。 所述的光学长度测量仪包括EV4030影像测量仪。
所述的隔热板上下平面的平行度S0.025mm/100mm，其平面尺寸大于测量容器 的底面尺寸。
所述的容器本体为底面平整，具有一端开口的直壁无泄漏容器。 所述的载物台上下平面的平行度S0.025mm/100mm，其平面尺寸小于测量容器 的底面尺寸且大于片材样品的平面尺寸。
所述的传热介质为透明导热液体，该液体具有阻燃性。 所述的透明导热液体包括百富隆350导热油。 与现有技术相比，本实用新型具有以下优点
1、 本实用新型采用现有的光学测量仪、测温仪、传热介质、加热器，因而不 必进行昂贵的投资；
2、 能够直接测量片状材料的热膨胀系数，不需要制作热膨胀系数测量仪所用 的圆棒状试样。
3、 直接测量片状材料平面方向的热膨胀系数，比由块状材料测得的热膨胀系 数更适合工程实际应用状况。


图1为本实用新型的测量装置的结构示意图； 图2为本实用新型的片材样品的示意图。
具体实施方式
以下结合附图对本实用新型作进一步说明。
如图l、 2所示， 一种引线框架片材热膨胀系数测量器，包括光学长度测量仪 1、放置于光学长度测量仪1测量台上的隔热板3以及可移出的放置在隔热板3上 的测量容器7，所述的测量容器7包括容器本体、载物台4、测温仪2以及加热器 8，所述的容器本体设于隔热板3上，该容器本体内设有传热介质6，所述的载物 台4浸泡于传热介质6中并与容器本体的底面固定，所述的测温仪2的测温头以及 加热器8的加热头均设于传热介质6中。
所述的光学长度测量仪l的测量重复精度高于士0.002mm;所述的光学长度测量仪1包括EV4030影像测量仪；所述的隔热板3上下平面的平行度 S0.025mm/100mm，其平面尺寸大于测量容器的底面尺寸；所述的容器本体为底面 平整，具有一端开口的直壁无泄漏容器；所述的载物台4上下平面的平行度 S0.025mm/100mm，其平面尺寸小于测量容器的底面尺寸且大于片材样品的平面尺 寸；所述的传热介质6为透明导热液体，该液体具有阻燃性，其沸点大于加热温度 T2;所述的透明导热液体包括百富隆350导热油。 本实用新型的测量过程如下
(1) 在片材样品5的两端设置第一测量点标记51和第二测量点标记52，并将该 测量片样品5放置于测量容器7内的载物台上；
(2) 在室温1下，通过光学长度测量仪1测量片材样品5上第一测量点标记51 和第二测量点标记52之间的长度，得到长度数值L1;
(3) 将载有载物台4、片材样品5、传热介质6、测温仪2以及加热器8的测量 容器7平稳移出光学长度测量仪1;
(4) 加热器8工作，使测量容器7内的传热介质6升温并将热量传递给片材样 品5，使其同步升温；
(5) 当测温仪2接近设定温度时关闭加热器8，停止加热；
(6) 测温仪2的温度读数稳定后，将载有片材样品5的测量容器7平稳移至光 学长度测量仪1测量台上的隔热板3上；
(7) 测量片材样品5上第一测量点标记51和第二测量点标记52之间的长度， 得到长度数值L2，并同时记录此时测温仪2的温度读数T2;
(8) 根据以下公式计算热膨胀系数
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(r2-J;)",。
权利要求1.一种引线框架片材热膨胀系数测量器，其特征在于，包括光学长度测量仪、放置于光学长度测量仪测量台上的隔热板以及可移出的放置在隔热板上的测量容器，所述的测量容器包括容器本体、载物台、测温仪以及加热器，所述的容器本体设于隔热板上，该容器本体内设有传热介质，所述的载物台浸泡于传热介质中并与容器本体的底面固定，所述的测温仪的测温头以及加热器的加热头均设于传热介质中。
2. 根据权利要求1所述的一种引线框架片材热膨胀系数测量器，其特征在于， 所述的光学长度测量仪的测量重复精度高于±0.002 mm。
3. 根据权利要求1或2所述的一种引线框架片材热膨胀系数测量器，其特征 在于，所述的光学长度测量仪包括EV4030影像测量仪。
4. 根据权利要求3所述的一种引线框架片材热膨胀系数测量器，其特征在于， 所述的隔热板上下平面的平行度^).025mm/100mm，其平面尺寸大于测量容器的底 面尺寸。
5. 根据权利要求1或3所述的一种引线框架片材热膨胀系数测量器，其特征 在于，所述的容器本体为底面平整，具有一端开口的直壁无泄漏容器。
6. 根据权利要求5所述的一种引线框架片材热膨胀系数测量器，其特征在于， 所述的载物台上下平面的平行度^).025mm/100mm，其平面尺寸小于测量容器的底 面尺寸且大于片材样品的平面尺寸。
7. 根据权利要求1或6所述的一种引线框架片材热膨胀系数测量器，其特征 在于，所述的传热介质为透明导热液体，该液体具有阻燃性。
8. 根据权利要求7所述的一种引线框架片材热膨胀系数测量器，其特征在于， 所述的透明导热液体包括百富隆350导热油。
专利摘要本实用新型涉及一种引线框架片材热膨胀系数测量器，包括光学长度测量仪、放置于光学长度测量仪测量台上的隔热板以及可移出的放置在隔热板上的测量容器，所述的测量容器包括容器本体、载物台、测温仪以及加热器，所述的容器本体设于隔热板上，该容器本体内设有传热介质，所述的载物台浸泡于传热介质中并与容器本体的底面固定，所述的测温仪的测温头以及加热器的加热头均设于传热介质中。与现有技术相比，本实用新型直接测量片状材料平面方向的热膨胀系数，比由块状材料测得的热膨胀系数更适合工程实际应用状况。
文档编号G01N25/16GK201373859SQ20092006832
公开日2009年12月30日 申请日期2009年3月3日 优先权日2009年3月3日
发明者猛 张, 李名尧, 王元彪 申请人:上海工程技术大学;上海柏斯高微电子工程有限公司;上海柏斯高模具有限公司