专利名称：检测偶数齿外花键小径尺寸用的数显千分尺的制作方法
技术领域：
本发明创造用于测量偶数齿外花键小径尺寸的测量工具 背景技术以往对偶数齿外花键小径尺寸的测量采用万能工具显微镜等影像测量设备，经过 人工摆放找正，找到圆心后进行测量；因为每一个工件都需要上设备找正，找圆心后测量， 工作效率较低。
发明内容本发明创造的目的是提供一种能提高测量效率的检测偶数齿外花键小径尺寸用 的数显千分尺；本发明创造的目的是通过下述的技术方案实现的检测偶数齿外花键小径 尺寸用的数显千分尺，包括数显千分尺，其特征在于将测量头I的测量面制成‘一’字型，将 测量头II测量面制成圆锥顶针型，分别将测砧和测微螺杆的端部制出圆孔，将测量头I装 在数显千分尺测砧上，将测量头II装在测微螺杆上。本发明创造的优点是方便快捷，提高了测量效率。

图1是检测偶数齿外花键小径尺寸用的数显千分尺结构示意图。图中的1、测量头I 2、测量头II 3、数显千分尺含的测微螺杆4、数显千分尺含 的锁紧装置 5、数显千分尺含的微分筒 6、数显千分尺含的测砧 7、数显千分尺含的按 钮8、数显千分尺含的显示器具9、数显千分尺含的测力装置10、数显千分尺含的尺身
具体实施方式
检测偶数齿外花键小径尺寸用的数显千分尺，包括数显千分尺，其特征在于将测 量头I的测量面制成‘一’字型，将测量头II测量面制成圆锥顶针型，分别将测砧和测微螺 杆的端部制出圆孔，将测量头I装在数显千分尺测砧上，将测量头II装在测微螺杆上。测量时调整测微螺杆，使测量头I的‘一’字型测量面和测量头II接触，将数显千 分尺清零，移动测微螺杆，调整测量头I的一’字型测量面的方向使其和被测花键的一齿沟 完全接触，继续调整测微螺杆使测量头II的尖端与被测花键另一侧对称齿沟接触，此时数 显千分尺的读数即为被测花键小径值，再选取3对以上其他的对称齿测得小径值，多次测 量值的平均值即为被测花键的小径测量结果。
权利要求检测偶数齿外花键小径尺寸用的数显千分尺，包括数显千分尺，其特征在于将测量头I的测量面制成‘一’字型，将测量头II测量面制成圆锥顶针型，分别将测砧和测微螺杆的端部制出圆孔，将测量头I装在数显千分尺测砧上，将测量头II装在测微螺杆上。
专利摘要检测偶数齿外花键小径尺寸用的数显千分尺，包括数显千分尺，其特征在于将测量头I的测量面制成‘一’字型，将测量头II测量面制成圆锥顶针型，分别将测砧和测微螺杆的端部制出圆孔，将测量头I装在数显千分尺测砧上，将测量头II装在测微螺杆上。优点方便快捷，提高了测量效率。
文档编号G01B3/18GK201757628SQ20102026132
公开日2011年3月9日 申请日期2010年7月16日 优先权日2010年7月16日
发明者王晓明, 王燕, 马岚 申请人:沈阳飞机工业(集团)有限公司