专利名称：一种直线中间检测机检测方法
技术领域：
本发明涉及一种石英晶体行业的参数检测机，尤其是一种直线中间检测机检测方法。
背景技术：
目前，直线微调机不能精确检测晶体电阻等参数，所以，晶体微调完成后必须检测参数，判定晶体性能。

发明内容
为了解决现有直线微调机不能精确检测晶体电阻等参数，本发明提供了一种直线中间检测机检测方法，能根据客户需求，检测不同的晶体参数，判定产品性能，达到设计的效果。本发明解决其技术问题所采用的技术方案是一种直线中间检测机检测方法，将需要检测晶体数值在电脑里设定，电机转动后，带动晶体移动，晶体接触测试头时，测试头检测晶体的参数，参数值立刻在电脑上显示，检测速度快，精度高，由于上一盘的数据一直显示，不影响工作，且生产效率高。本发明的有益效果是，采用电机传送晶体，测试头检测晶体参数，最后参数值在电脑上显示，方便快捷，精度高，能根据客户需求，检测不同的晶体参数，判定产品性能，达到设计的效果。


下面结合附图和实施例对本发明进一步说明。附图为本发明示意图。图中1.晶体，2.测试头，3.电脑，4.电机。
具体实施例方式在图中，将需要检测晶体(1)数值在电脑(3)里设定，电机(4)转动后，带动晶体 (1)移动，晶体(1)接触测试头( 时，测试头( 检测晶体(1)的参数，参数值立刻在电脑 (3)上显示，检测速度快，精度高，由于上一盘的数据一直显示，不影响工作，且生产效率高。
权利要求
1. 一种直线中间检测机检测方法，其特征是将需要检测晶体数值在电脑里设定，电机转动后，带动晶体移动，晶体接触测试头时，测试头检测晶体的参数，参数值立刻在电脑上显不。
全文摘要
本发明涉及一种石英晶体行业的参数检测机，尤其是一种直线中间检测机检测方法，将需要检测晶体数值在电脑里设定，电机转动后，带动晶体移动，晶体接触测试头时，测试头检测晶体的参数，参数值立刻在电脑上显示，解决了直线微调机不能精确检测晶体电阻等参数，能根据客户需求，检测不同的晶体参数，判定产品性能，达到设计的效果。
文档编号G01R31/00GK102565589SQ20121001175
公开日2012年7月11日 申请日期2012年1月7日 优先权日2012年1月7日
发明者吕春哲, 崔淑梅 申请人:烟台力凯电子科技有限公司