专利名称：避雷器绝缘老化测试装置及测试方法
技术领域：
本发明涉及避雷器绝缘老化测试装置及测试方法。
背景技术：
避雷器的老化将严重影响到电力设备的使用安全，现有的方式是在每个避雷器 上装有一个测试仪，需要工作人员去每台设备上查看，而且这些查看的数据都是当前情 况下避雷器的漏电流数值，需要将这些数值变化量与时间对比才能知道避雷器是否老 化。但是避雷器的漏电流数值与时间基本是成指数关系变化的，在前期漏电流可能几年 内都不会有太大的变化，而在后期极短的时间内就会出现较大的变化，单靠人工巡视记 录的方式来监测，会使得很多避雷器已经老化很久才被发现，给电力设备的正常使用造 成了极大的危险。

发明内容
本发明的目的在于提供避雷器绝缘老化测试装置及测试方法，能够有效解决现有 避雷器漏电流监测靠人工监测，费时费力而且在避雷器出现老化不能及时发现的问题。为了解决上述技术问题，本发明是通过以下技术方案实现的避雷器绝缘老化 测试装置，包括模拟量处理系统、A/D处理系统、MCU计算处理器、存储器、定时器、 无线发射器、I/O接口、串口，所述模拟量处理系统通过A/D处理系统与MCU计算处理 器相连，所述存储器、定时器、I/O接口、串口均与MCU计算处理器相连，无线发射器 与串口相连。优选的，所述存储器为FLASH存储器；存储量大，速度快，价格便宜，断电后 依然能够保留数据。优选的，还包括看门狗，所述看门狗与MCU计算处理器相连；保证程序正常运 行，防止出现死循环。避雷器绝缘老化测试方法，通过模拟量处理系统收集避雷器的漏电流传给A/D 处理系统，A/D处理系统将漏电流数值转化为数字信号传给MCU计算处理器，MCU计 算处理器将上述漏电流数字信号与时间按指数变化曲线记录，当一段时间内漏电流的变 化量超过预先通过串口输入的预定值时，MCU计算机处理器将通过无线发射器向中央电 力控制系统发出警告。与现有技术相比，本发明的优点是能完整的记录漏电量与时间的变化关系， 可以自由的设定漏电流变化速率值，当达到漏电流变化速率值后能通过无线网络向中央 电力控制系统发出预警，不在需要拍人工一个一个查看避雷器的漏电流数据，节约了人 力物力，也使得避雷器一旦老化就及时知晓，保障了其他电力设备的正常运行。


图1为本发明避雷器绝缘老化测试装置的结构框图。
具体实施方式
参阅图1为本发明避雷器绝缘老化测试装置及测试方法的实施例，避雷器绝缘 老化测试装置，包括模拟量处理系统1、A/D处理系统2、MCU计算处理器3、存储器 4、定时器5、无线发射器6、I/O接口 7、串口 8、看门狗9，所述模拟量处理系统1通过 A/D处理系统2与MCU计算处理器3相连，所述存储器4、定时器5、、I/O接口 7、串 口 8、看门狗9均与MCU计算处理器3相连，无线发射器6与串口 8相连，所述存储器 4为FLASH存储器4。避雷器绝缘老化测试方法，通过模拟量处理系统1收集避雷器的漏电流传给A/ D处理系统2，A/D处理系统2将漏电流数值转化为数字信号传给MCU计算处理器3， MCU计算处理器3将上述漏电流数字信号与时间按指数变化曲线记录，当一段时间内漏 电流的变化量超过预先通过串口 8输入的预定值时，MCU计算机处理器将通过无线发射 器6向中央电力控制系统发出警告。可以通过串口 8写入预先设定的漏电流变化速率值，在实际的漏电流变化 率到达这个设定值时，将向中央电力控制系统发出警告。可以采用motorola公司的 DSP56F807芯片将A/D处理系统2、MCU计算处理器3、存储器4、定时器5、I/O接口 7、串口 8、看门狗9集成在一起。以上所述仅为本发明的具体实施例，但本发明的技术特征并不局限于此，任何 本领域的技术人员在本发明的领域内，所作的变化或修饰皆涵盖在本发明的专利范围之中。
权利要求
1.避雷器绝缘老化测试装置，包括模拟量处理系统(1)，其特征在于还包括A/D 处理系统(2)、MCU计算处理器(3)、存储器(4)、定时器(5)、无线发射器(6)、I/O接 口(7)、串口(8)，所述模拟量处理系统(1)通过A/D处理系统(2)与MCU计算处理器 (3)相连，所述存储器(4)、定时器(5)、I/O接口(7)、串口(8)均与MCU计算处理器 (3)相连，无线发射器(6)与串口 (8)相连。
2.如权利要求1所述的避雷器绝缘老化测试装置，其特征在于所述存储器(4)为 FLASH存储器(4)。
3.如权利要求1所述的避雷器绝缘老化测试装置，其特征在于还包括看门狗(9)， 所述看门狗(9)与MCU计算处理器(3)相连。
4.避雷器绝缘老化测试方法，其特征在于通过模拟量处理系统(1)收集避雷器的 漏电流传给A/D处理系统(2)，A/D处理系统(2)将漏电流数值转化为数字信号传给 MCU计算处理器(3)，MCU计算处理器(3)将上述漏电流数字信号与时间按指数变化曲 线记录，当一段时间内漏电流的变化量超过预先通过串口(8)输入的预定值时，MCU计 算机处理器将通过无线发射器(6)向中央电力控制系统发出警告。
全文摘要
本发明公开了避雷器绝缘老化测试装置，模拟量处理系统通过A/D处理系统与MCU计算处理器相连，存储器、定时器、I/0接口、串口均与MCU计算处理器相连，无线发射器与串口相连。避雷器绝缘老化测试方法，通过模拟量处理系统收集避雷器的漏电流传给A/D处理系统，A/D处理系统将漏电流数值转化为数字信号传给MCU计算处理器，MCU计算处理器将上述漏电流数字信号与时间按指数变化曲线记录，当一段时间内漏电流的变化量超过预先通过串口输入的预定值时，MCU计算机处理器将通过无线发射器向中央电力控制系统发出警告。本发明的优点是可以自由的设定漏电流变化速率值，能通过无线网络向中央电力控制系统发出预警，节约人力物力。
文档编号G01R19/00GK102023279SQ20101057513
公开日2011年4月20日 申请日期2010年11月25日 优先权日2010年11月25日
发明者张从柱, 张芳江, 王云军, 章伟国, 黄乐强 申请人:湖州泰仑电力自动化工程有限公司, 湖州电力局