专利名称：原子荧光氩氢火焰自动低温点火装置的制作方法
技术领域：
本实用新型是一种采用特制炉丝和炉管进行低温点火实现原子荧光分析中自动点燃氩氢火焰的装置。
在氢化物发生-原子荧光光谱法分析测试过程中，样品溶液与还原剂(KBH4)经混合模块后在反应管里反应，其反应产生的氢化物与导入的载气(Ar)混合后进入原子化器，在原子化器顶端由低温点火装置自动点燃氩氢火焰进行原子化，因此在氢化物发生原子化系统中，氩氢火焰自动低温点火装置是一个重要组成部件。
我国首创的氢化物发生-原子荧光光谱仪，其原子化器长期来一直沿用电炉丝加热炉体至高温点燃氩氢火焰的方式，见

图1。炉管2周围用300W电炉丝3绕上后固定，电炉丝外再套上瓷管4绝缘，在炉体1与瓷管4之间充填保温材料5，氢化物发生器中经反应后的混合气体由炉口7进入被加热至高温800℃-900℃的原子化炉后在炉口形成氩氢火焰6。这种原子化器的高温点火方式的主要缺点1、由于仪器在工作状态时，电炉丝始终处于高温和封闭状态，因此其使用寿命很短(一般10至20工作日)就被损坏，如果使用不当或装配不妥则几天就可能将电炉丝烧断，且电炉丝的更换极为不便，严重影响仪器正常使用。
2、因为原子化器的温度对测定灵敏度有很大影响，而目前氢化物发生-原子荧光光谱仪所能测定的绝大部分元素是在低温区(200℃左右)时灵敏度较高，因此采用高温点火不能达到最好的分析效果。
3、原子化器处于高温时对某些元素则产生严重的记忆效应，对样品分析极为不利。
根据氢化物发生原子荧光光谱分析技术最新研究成果，在原子化器的顶端采用低温点火装置，可自动点燃氩氢火焰，各元素在原子化器200℃-400℃的条件下可获得较好的分析效果，不仅可达到较高的分析灵敏度，还可有效地降低记忆效应。
本实用新型的目的是克服上述现有技术的缺点，提供一种在原子化器石英管口自动点火装置，其炉丝采用特制耐高温材料，两端只需加上低电压就能点燃氩氢火焰；该装置结构简单，使用寿命长，炉丝更换方便。
本实用新型的目的是通过下述技术方案而实现的。本实用新型的氩氢火焰自动低温点火装置包括炉丝、陶瓷压块、石英炉管，其特征是所述的低温点火装置位于原子化器的顶端；所述的炉丝固定在陶瓷压块上，炉丝的两端与专用开关连接，炉丝在炉管端口下方盘绕一圈；炉丝采用镍、铬合金耐高温材料，电阻为15Ω；炉丝两端由专用电源开关控制，可加26V电压。炉管顶端开两个深4mm，宽2mm的竖槽，两槽互呈180°。所述炉丝位于炉管外壁，距炉口2mm处，紧贴两个竖槽所在的位置。
本实用新型的优点是结构简单，使用寿命长，炉丝更换方便；可自动点燃氩氢火焰；保证原子化器的温度处于最有利于测定的状态，提高分析灵敏度；减小记忆效应。
以下结合附图进一步说明本实用新型的结构，其中图1是现有技术的原子化器点火装置的示意图；图2是本实用新型的氩氢火焰自动低温点火装置的示意图；图3是沿图2A-A线所剖面示意图。
现参见图2，氩氢火焰自动低温点火装置中的点火炉丝1固定于陶瓷压块2下面，炉丝1两端从压块2的两个孔穿过固定在螺钉3上，再由导线4接点火专用电源，当炉丝两端加26V电压时，炉丝变红。发生氢化物反应后产生的气体与导入的氩气从炉管下端口7进入石英炉管5，在炉管顶端加了电压的炉丝点燃氩氢火焰8，炉管上端开有两个深4mm，宽2mm的竖槽6，这样有利于氩氢火焰的快速点燃，保证了火焰的稳定性。
实验表明，利用氩氢火焰自动低温点火装置可自动点燃氩氢火焰，炉管所开的竖槽使氩氢火焰得以快速被点燃，提高氩氢火焰在测定过程中的稳定性；同时使原子化器处于低温状态，提高各元素的原子化效率和分析灵敏度，减小记忆效应；特制点火炉丝所加的低电压使其寿命大大延长。
权利要求1.一种原子荧光氩氢火焰自动低温点火装置，它包括炉丝、陶瓷压块、石英炉管，其特征是所述的炉丝固定在陶瓷压块上，炉丝的两端与专用电源开关连接，炉丝在石英炉管端口下方盘绕一圈；所述的石英炉管顶端开两个竖槽。
2.根据权利要求1所述的自动低温点火装置，其特征是炉丝采用特殊镍、铬合金耐高温材料，电阻为15Ω；炉丝两端由专用电源开关控制，可加26V电压。
3.根据权利要求1所述的自动低温点火装置，其特征是所述的炉管顶端开两个深4mm，宽2mm的竖槽，两槽互呈180°。
4.根据权利要求1所述的自动低温点火装置，其特征是所述炉丝位于炉管外壁，距炉口2mm处，紧贴两个竖槽所在的位置。
专利摘要一种原子荧光氩氢火焰自动低温点火装置,它包括炉丝、陶瓷压块、石英炉管,所述的炉丝固定在陶瓷压块上,炉丝的两端与专用电源开关连接,炉丝在炉管端口下方盘绕一圈;所述的炉管顶端开两个竖槽,该点火装置位于原子化器的顶端,本实用新型的优点是结构简单,使用寿命长,可自动快速点燃氩氢火焰,有效地提高分析灵敏度,且显著减小记忆效应。
文档编号G01N21/71GK2421643SQ00234438
公开日2001年2月28日 申请日期2000年5月10日 优先权日2000年5月10日
发明者张锦茂, 董芳 申请人:北京瑞利分析仪器公司