专利名称：一种平板金属框架定位孔磨损测试装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种平板金属框架定位孔的磨损状况的测试装置，属孔径测试技术领域。
背景技术：
在使用薄片型金属框架加工多联式产品时，一般将金属框架由定位孔固定在产品的加工设备上，以薄片型金属框架为定位模板，反复加工生产后续产品。如印刷电路扳生产过程中，PCB板先要准确定位、打元器件安装孔，然后再通过贴片机，移动贴装头把表面贴装元器件准确地放置到PCB焊盘上。要做到PCB板准确定位的方法之一是，先将金属框架通过定位孔固定在产品的加工设备上，PCB板再置于金属框架的中心孔内，在打孔、贴装元器件操作完成后取出PCB板，再放入新的PCB板，重复上述步骤。金属框架经长期反复使用后，定位孔可能因磨损而造成金属框架定位的微小偏移，导致金属框架无法精确定位，影响后续产品的质量。为了保证金属框架的定位精度，通常需要经常用百分卡、千分卡或游标卡尺，检测金属框架上的定位孔是不是有磨损，但检测效率很低，不能满足大批量工业自动化生产的需要。建立一种快速、有效的检测金属框架上的定位孔的是否磨损的装置和测量方法，对于提高产品合格率和生产效率，有着非常积极的意义。
发明内容本实用新型的目的在于，提供一种结构简单、操作方便的平板金属框架定位孔磨损测试装置，以便快速、有效地检测出框架上的定位孔是否磨损。为达到上述目的，采用的技术方案是一种平板金属框架定位孔磨损测试装置，包括测试平台和金属框架，其特征在于所述金属框架置于所述测试平台之上，重叠相接；定位圆柱的一端与电极环的内侧面紧密贴合，置于所述金属框架的定位孔内，另一端与所述测试平台固定连接；所述电极环的外径与所述定位孔的内径匹配吻合；所述定位圆柱数量二个以上，依次排列，排序首、尾二个定位圆柱的电极环分别与指示灯电连接；置于所述测试平台一侧的与气动装置相连的推杆，高度与所述金属框架高度平齐一致。所述定位圆柱置于所述定位孔内的一端，周边置有多个镶嵌有金属电极销的嵌槽，均布。所述定位圆柱和所述测试平台由绝缘材料制作。本实用新型的积极效果在于结构简单、使用方便，与气动装置相连的推杆从一个方向轻轻推动金属框架，框架接触到定位圆柱一端的电极环后，由于框架的导电，依次排列的定位圆柱形成串联回路，指示灯亮绿灯，显示定位孔无磨损，合格；如任何一个定位孔如因磨损而变大，则框架定位孔内壁接触不到定位圆柱的电极环，因而串联回路不能形成，指示灯不亮显示定位孔已经磨损不合格。
以下以附图说明和具体实施方式
对本实用新型作进一步说明。图1为本实用新型结构示意图；图2为图1的A-A剖面结构示意图；图3为所述定位圆柱剖面结构示意图(放大)；图4为图3 B向的结构示意图(电极环)；图5为图3 B向的另一结构示意图(嵌槽内镶嵌电极销)；图6为指示灯连接电路示意图。图中，1 一测试平台；2 —定位圆柱；3 —金属框架；4 一定位孔；5 —电极环；6 —推杆；7 —气动装置；8 —指示灯；9 一电极销。
具体实施方式
图1为本实用新型结构示意图，图中定位圆柱2以4个为例，分别标记为2-1、2_2、 2-3、2-4。图2为图1的A-A剖面结构示意图，由图1和图2可见，一种平板金属框架定位孔磨损测试装置，包括测试平台1、金属框架3，其特征在于所述金属框架3置于所述测试平台1之上，重叠相接；定位圆柱2的一端与电极环5的内侧面紧密贴合，置于所述金属框架3上的定位孔4内，另一端与所述测试平台1固定连接，所述电极环5的外径与所述定位孔4的内径匹配吻合；置于所述测试平台1 一侧的与气动装置7相连的推杆6，高度与所述金属框架3高度平齐一致。图3 图5示出了定位圆柱的结构，图3、图4可见，所述定位圆柱2置于所述定位孔4内的一端，与电极环5的内侧面紧密贴合；图3、图5可见所述定位圆柱2置于所述定位孔4内的一端，另一结构形式是周边置有多个镶嵌有金属电极销9的嵌槽，均布。图6为指示灯连接电路示意图。图示所述定位圆柱2数量为4个，定位圆柱2-1、 2-2、2-3、2-4依次排列，排序首、尾二个定位圆柱2-1和定位圆柱2_4的电极环(或电极销 9)分别与指示灯8电连接。所述定位圆柱2和所述测试平台1由绝缘材料制作。使用时，与气动装置7相连的推杆6从一个方向轻轻推动金属框架3，定位孔4完整无损时，框架定位孔4与定位圆柱2的电极环5 (或电极销9)相接触，由于框架的导电， 依次排列的定位圆柱2 (2-1、2-2、2-3、2-4)形成串联回路，指示灯8亮灯；如任何一个定位孔4因磨损变大，金属框架3定位孔4内壁接触不到定位圆柱2的外表面电极环5 (或电极销9)，因而串联回路不能形成，灯不亮，表示定位孔4已磨损不合格。本实用新型结构简单、 使用方便易行。
权利要求1.一种平板金属框架定位孔磨损测试装置，包括测试平台、金属框架，其特征在于所述金属框架置于所述测试平台之上，重叠相接；定位圆柱的一端与电极环的内侧面紧密贴合，置于所述金属框架的定位孔内，另一端与所述测试平台固定连接；所述电极环的外径与所述定位孔的内径匹配吻合；所述定位圆柱数量二个以上，依次排列，排序首、尾二个定位圆柱的电极环分别与指示灯电连接；置于所述测试平台一侧的与气动装置相连的推杆，高度与所述金属框架高度平齐一致。
2.根据权利要求1所述一种平板金属框架定位孔磨损测试装置，其特征在于所述定位圆柱置于所述定位孔内的一端，周边置有多个镶嵌有金属电极销的嵌槽，均布。
3.根据权利要求1所述一种平板金属框架定位孔磨损测试装置，其特征在于所述定位圆柱和所述测试平台由绝缘材料制作。
专利摘要一种平板金属框架定位孔磨损测试装置，属孔径测试技术领域，其特征在于金属框架置于测试平台上，重叠相接；定位圆柱的一端与电极环的内侧面紧密贴合，置于金属框架的定位孔内，另一端与测试平台固定连接，电极环的外径与定位孔的内径匹配吻合；定位圆柱数量二个以上，依次排列，排序首、尾二个定位圆柱的电极环分别与指示灯电连接；置于测试平台一侧的与气动装置相连的推杆，高度与金属框架高度平齐一致。本实用新型的优点在于结构简单、使用方便，推杆从一个方向推动金属框架，接触到电极环后，定位圆柱形成串联回路指示灯亮，显示定位孔无磨损，合格；如任何一个定位孔如因磨损而变大，则串联回路断开，指示灯不亮。
文档编号G01B7/13GK202092595SQ20112020041
公开日2011年12月28日 申请日期2011年6月15日 优先权日2011年6月15日
发明者上村真也, 卞方勇, 小泉泰秀, 赵志明, 陆静 申请人:上海京瓷电子有限公司