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一种电连接器镀金层孔隙率测试方法

时间:2025-06-26    作者: 管理员

专利名称:一种电连接器镀金层孔隙率测试方法
技术领域
本发明涉及化工技术领域,尤其涉及一种电连接器镀金层孔隙率测试方法。
背景技术
目前如

图1所示,多数电连接器端子是铜合金1制作的,通常会在使用环境中发生 腐蚀,如氧化、硫化等。为了防止铜合金1腐蚀,保持电连接器金属接触表面的长期稳定性, 往往在电连接器端子上电镀一层贵金属-金及其合金3。另外,为了防止铜1和金3相互扩 散及铜合金1腐蚀产物扩散至镀金层3表面,在铜1和镀金层3之间电镀一层镍层2。由于金价不断上涨,为降低成本,镀金层3被逐渐减薄至1 μ m以下,使得镀金层3 表面易出现微孔。在很薄的金属镀层内,孔隙直接通过镀层的可能性很大,如果基底金属通 过这些孔隙而暴露于腐蚀性环境,就会发生孔隙腐蚀,尤其是在潮湿气氛下,镀金层表面吸 附水分,大气中的腐蚀性气体或可溶性尘土溶于水形成电解液,通过微孔使金和基底材料 之间发生原电池反应,产生的绝缘腐蚀物蔓延到接触表面,最终导致触点间电阻升高和接 触不良。因此孔隙率成为评价电连接器镀金层质量的一个重要指标。目前对镀金层表面孔隙率的检测方法主要分为四大类①气体暴露腐蚀法;②盐 雾试验;③电解显像法;④贴滤纸法。在标准GB/T17720_1999(金属覆盖层孔隙率试验评述), IS010308-2006(Metallic coatings-Review of porosity tests), ASTM B765-2003 (Standardguide for selection of porosity and gross defect tests for electrodeposits andrelated metallic coatings)对铜基底上镍/金的孔隙率检验方法 做了详细规定。①气体暴露法该方法中使用的气体主要有S02、H2S, H2S/S02、H2S03/S02、HNO3蒸气等。这些方法 对试验环境、试验装置和试验试剂有很高要求,并且所用气体均具强烈的刺激性和毒性,对 大气可造成严重污染,对试验操作者也存在安全隐患。②盐雾试验该方法主要使用一定浓度的氯化钠溶液在一定的温度下,长时间内持续喷雾。这 种方法操作简单,缺点是需要专门的仪器,耗时太长,且在试验中非测试区域腐蚀产物容易 蔓延至测试区域导致孔隙率不易准确计算。目前多数生产和使用厂商用该方法定性地评价
镀层质量。③电解显像测试方法该方法主要有丁二酮肟纸电解现象试验、环己二酮二肟纸电解现象试验。这种方 法操作简单,检验结果受操作人员影响较小。缺点是需要专门的仪器,其测试纸和显影剂需 要特别制作,并且涉及到镍镀层上金镀层的检测操作是有毒操作,因而现在基本很少有厂 家使用。④贴滤纸法
该方法主要是采用CdS滤纸贴在试样表面,根据滤纸上的斑点来计算孔隙。该方 法操作较为简单,但所使用的CdS剧毒,对实验操作人员存在安全隐患。

发明内容
本发明要解决的技术问题是提供一种简单、安全、便捷、准确且环保的电连接器镀 金层孔隙率测试方法。为了解决上述问题,本发明提供了一种电连接器镀金层孔隙率测试方法,包括以 下步骤(1)清理样品表面;(2)将所述步骤(1)中样品挂装在密闭容器中;(3)配制2_8wt %的次氯酸钠溶液及l_5wt %的酸液,并将该两种溶液混合倒入所 述密闭容器中与样品共同封闭静置30-50分钟,混合溶液液面低于样品,密闭容器内温度 为21摄氏度-25摄氏度;(4)从所述密闭容器中取出样品进行烘干;(5)观察烘干后的样品表面,根据观察到的每个腐蚀物尺寸换算成腐蚀点个数,然 后累计测试区域所有腐蚀点个数,并根据总腐蚀点个数及样品测试面积计算孔隙率孔隙率=总腐蚀点个数/样品测试面积;其中,所述孔隙率的单位是个/平方厘米。进一步,所述步骤(3)中釆用相同比例的5衬%次氯酸钠溶液与2wt%的酸液进行 混合O进一步,所述步骤(5)中,腐蚀物尺寸与腐蚀点个数换算关系如下
权利要求
1.一种电连接器镀金层孔隙率测试方法,其特征在于,包括以下步骤(1)清理样品表面;(2)将所述步骤(1)中样品挂装在密闭容器中;(3)配制2_8wt%的次氯酸钠溶液及l_5wt%的酸液,并将该两种溶液混合倒入所述密 闭容器中与样品共同封闭静置30-50分钟,混合溶液液面低于样品,密闭容器内温度为21 摄氏度-25摄氏度;(4)从所述密闭容器中取出样品进行烘干;(5)观察烘干后的样品表面,根据观察到的每个腐蚀物尺寸换算成腐蚀点个数,然后累 计测试区域所有腐蚀点个数,并根据总腐蚀点个数及样品测试面积计算孔隙率孔隙率=总腐蚀点个数/样品测试面积;其中,所述孔隙率的单位是个/平方厘米。
2.如权利要求1所述的电连接器镀金层孔隙率测试方法,其特征在于所述步骤(3) 中采用相同比例的5衬%次氯酸钠溶液与2wt%的酸液进行混合。
3.如权利要求1所述的电连接器镀金层孔隙率测试方法,其特征在于所述步骤(5) 中,腐蚀物尺寸与腐蚀点个数换算关系如下
4.如权利要求1所述的电连接器镀金层孔隙率测试方法,其特征在于所述步骤(4) 中,将该样品放入120-130摄氏度烘箱中烘烤至少十分钟进行烘干。
5.如权利要求1所述的电连接器镀金层孔隙率测试方法,其特征在于所述步骤(3) 中混合溶液液面距离样品高度为2-3厘米。
6.如权利要求1所述的电连接器镀金层孔隙率测试方法,其特征在于所述步骤(2) 中采用惰性材料制作的支架挂装样品。
7.如权利要求1所述的电连接器镀金层孔隙率测试方法,其特征在于所述步骤(3) 中混合溶液体积为所述密闭容器体积的20% -30%。
全文摘要
本发明提供了一种电连接器镀金层孔隙率测试方法,包括以下步骤(1)清理样品表面;(2)将样品挂装在密闭容器中;(3)配制次氯酸钠溶液及酸液,并混合倒入密闭容器中与样品共同封闭静置30-50分钟,混合溶液液面低于样品,密闭容器内温度为21-25摄氏度;(4)样品烘干;(5)观察样品表面,根据观察到的每个腐蚀物尺寸换算成腐蚀点个数,然后累计测试区域所有腐蚀点个数,并根据总腐蚀点个数及样品测试面积计算孔隙率。本发明采用在密闭容器中混合次氯酸钠溶液及酸液,挥发气体与样品进行化学反应,并合理控制时间、空间,从而简单、便捷且准确地获得孔隙率,本发明测试过程在密闭容器中完成,且测试介质无毒害,非常环保安全。
文档编号G01N15/08GK102116730SQ201010580698
公开日2011年7月6日 申请日期2010年12月9日 优先权日2010年12月9日
发明者刘忠祥, 宋好强 申请人:中兴通讯股份有限公司

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