专利名称：按键的电子规格测试系统的制作方法
技术领域：
本发明是关于一种按键的电子规格测试系统，尤指一种模拟自动按键功能的按键的电子规格测试系统。
背景技术：
在一般测试电子装置的按键时，通常可通过人为方式来验证该电子装置按键的好坏，在此机制下，人为按键完成时间通常是以数秒的时间始得完成；对于待测的电子装置应以毫秒及微秒的等级测试，人力将显得无能为力。
由上述可知，公知的测试电子装置按键时，由于人力的极限并无法达成如此高速按键的动作，且待测物亦将因时间的久暂需求不同而将有不同的测试规格。因此，如何以毫秒甚至微秒的即短按键时间测试待测物，并且可依待测物需求时间久暂而设计出连续的按键波形产生系统，遂成为一亟待解决的课题。

发明内容
本发明的主要目的在于提供一种按键的电子规格测试系统，能于待测电子产品的按键接脚位产生连续的模拟按键波形以测试该电子产品，以符合电子产品的按键电子规格测试要求，同时省去人为按键的耗费。
为实现上述目的，本发明提供的按键的电子规格测试系统，包括一待测电子产品，具有至少一按键，该按键对应有一按键脚位；一微控制装置，具有一测试脚位以连接至该待测电子产品的按键脚位，该微控制装置在该测试脚位产生连续的模拟按键波形以测试该电子产品，其中，模拟按键波形是在一取样时间中，提供一持续第一时间的第一位准、及持续第二时间的第二位准，当中，第二时问为取样时间减去该第一时间。
其中该微控制装置所产生的该第一位准为高电位，其表示按键松开，该第二位准为低电位，其表示按键按下。
其中该微控制装置是以一第一计数模组来计算该第一时间是否到达，并以一第二计数模组来计算该取样时间是否到达，以当该第一计数模组计数完成时，将模拟按键波形的位准由第一位准改变为第二位准，而当该第二计数模组计数完成时，将模拟按键波形的位准由第二位准改变为第一位准。
其中第二计数模组是每一毫秒计数一次，并当计数四次后，改变模拟按键波形的位准。
其中第一计数模组是每128微秒计数一次，并当计数四次后，改变模拟按键波形的位准。


图1是本发明的按键的电子规格测试系统的一较佳实施例。
图2显示依据本发明的模拟按键波形。
图3(A)、(B)及(C)分别显示依据本发明的微控制装置的主程序、第一计数模组的计数程序及第二计数模组的计数程序的流程。
具体实施例方式
为能更了解本发明的技术内容，特举一较佳实施例说明如下图1显示本发明的按键的电子规格测试系统的一较佳实施例，其包括一微控制装置11及一待测电子产品12，微控制装置11具有一测试脚位111，待测电子产品12具有至少一按键121，而每一按键121对应有一按键脚位122。
前述微控制装置11的测试脚位111连接至该待测电子产品12的按键接脚122，且该微控制装置11是以第一计数模组115及第二计数模组116的时间计数而在该测试脚位产生连续的模拟按键波形13，以测试该电子产品12的对应按键121。
为符合电子产品的按键电子规格测试要求，如图2所示，前述模拟按键波形13是在一取样时间S中，提供一持续时间T以表示按键松开的高位准、及持续时间S-T以表示按键按下的低位准。此外，亦可以低位准表示按键按下、高位准表示按键松开。一般而言，电子装置是以毫秒(ms)及微秒(us)的等级测试，例如取样时间S＝A×1ms、表示按键松开的持续时间T＝B×128us，其中A及B为正整数，其可依电子规格而调整。
为产生前述的模拟按键波形13，图3的(A)、(B)及(C)分别显示前述微控制装置11的主程序、第一计数模组115的计数程序及第二计数模组116的计数程序，在此微控制装置11中，第一计数模组115的计数程序及第二计数模组116的计数程序为计时中断程序，其在计算一特定时间后中断主程序并被触发而自动执行，其中，第一计数模组115的计数程序是每128us被触发而自动执行一次，第二计数模组116的计数程序是每1ms被触发而自动执行一次。
如图3所示，前述主程序是将A及B初始化为A＝4、B＝0，且测试脚位111初始设定为高位准，之后持续侦测A值是否为0，且当A＝0时，再将A设为4且将测试脚位设定为高位准。
在前述第一计数模组115的计数程序被触发而执行时，其侦测测试脚位111是否为高位准，如否则返回主程序，如是，将B值加1并侦测B值是否已达5，如否则返回主程序，如是则将B值设为0并将测试脚位111设为低位准，由于第一计数模组115的计数程序是每128us被触发而执行一次，因此可知第一计数模组115是用以计算该表示按键松开的持续时间T是否到达，亦即，在第一计数模组115的计数程序被触发而执行B＝4次后，得知持续时间T＝4×128us已到达，而将模拟按键波形13的位准由高位准转变为低位准。
在前述第二计数模组116的计数程序被触发而执行时，其侦测A值是否为0，如否，将A值减1，如是则返回主程序，由于第二计数模组116的计数程序是每1ms被触发而执行一次，因此可知第二计数模组116是用以计算该取样时间S是否到达，亦即，在第二计数模组116的计数程序被触发而执行A＝4次后，得知取样时间S＝4×1ms已到达，经返回主程序后，将模拟按键波形13的位准由低位准转变为高位准。如此，由前述主程序、第一计数模组115的计数程序及第二计数模组116的计数程序便可在该微控制装置11的测试脚位111产生符合规格的连续模拟按键波形13，而可测试电子产品12的对应按键121。
由以上说明可知，本发明按键的电子规格测试系统是由微控制装置来自动产生ms及us等级的连续模拟按键波形，而可十分准确的验证按键的电子规格，亦可做为设计人员一个有效率的按键测试工具，且能随意调整模拟按键波形而具有相当的弹性。
上述实施例仅为了方便说明而举例而已，本发明所主张的权利范围自应以申请专利范围所述为准，而非仅限于上述实施例。
权利要求
1.一种按键的电子规格测试系统，包括一待测电子产品，具有至少一按键，该按键对应有一按键脚位；一微控制装置，具有一测试脚位以连接至该待测电子产品的按键脚位，该微控制装置在该测试脚位产生连续的模拟按键波形以测试该电子产品，其中，模拟按键波形是在一取样时间中，提供一持续第一时间的第一位准、及持续第二时间的第二位准，当中，第二时间为取样时间减去该第一时间。
2.如权利要求1所述按键的电子规格测试系统，其特征在于，其中该微控制装置所产生的该第一位准为高电位，其表示按键松开，该第二位准为低电位，其表示按键按下。
3.如权利要求1所述按键的电子规格测试系统，其特征在于，其中该微控制装置是以一第一计数模组来计算该第一时间是否到达，并以一第二计数模组来计算该取样时间是否到达，以当该第一计数模组计数完成时，将模拟按键波形的位准由第一位准改变为第二位准，而当该第二计数模组计数完成时，将模拟按键波形的位准由第二位准改变为第一位准。
4.如权利要求3所述按键的电子规格测试系统，其特征在于，其中第二计数模组是每一毫秒计数一次，并当计数四次后，改变模拟按键波形的位准。
5.如权利要求1所述按键的电子规格测试系统，其特征在于，其中第一计数模组是每128微秒计数一次，并当计数四次后，改变模拟按键波形的位准。
全文摘要
本发明是有关于一种按键电子规格测试系统，其包括一待测电子产品及一微控制装置，待测电子产品具有至少一按键，该按键对应有一按键脚位；微控制装置具有一测试脚位以连接至该待测电子产品的按键脚位，该微控制装置在该测试脚位产生连续的模拟按键波形以测试该电子产品，其中，模拟按键波形是在一取样时间中，提供一持续第一时间的第一位准、及持续第二时间的第二位准，当中，第二时间为取样时间减去该第一时间。
文档编号G01R31/02GK1769917SQ20041008973
公开日2006年5月10日 申请日期2004年11月3日 优先权日2004年11月3日
发明者蓝世杰 申请人:金宝电子工业股份有限公司