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一种高电压介质损耗测试装置的制作方法

时间:2025-06-26    作者: 管理员


专利名称::一种高电压介质损耗测试装置的制作方法
技术领域
:本实用新型涉及电力设备检测装置,更具体地,本实用新型涉及一种适用于超高压电网的高电压介质损耗(tgS)测试装置。所述适用于超高压电网的高电压介质损耗(tgδ)测试装置采用谐振方式升压,由此,可大大降低对电源容量的要求,而且单件的重量不会太大,便于在现场试验使用。使用本实用新型的高电压介质损耗(tgδ)测试装置可有效提高试验准确性,提高电网的安全运行情况。
背景技术
:对超高压电网的电气设备来说,测量介质损失角正切是一项灵敏度很高的试验项目,它可以发现电气设备绝缘整体受潮、劣化变质以及小体积被试设备贯通和未贯通的局部缺陷,在电工制造及电气设备交接和预防性试验中都得到了广泛的应用,介损测试结果也直接影响对设备运行状况的判断。现行介质损耗tgδ试验的试验方法(1OkV下的试验)目前现场广泛开展的介损试验,是按照《电气装置安装工程电气设备交接试验标准》和《电气设备预防性试验规程》的要求,加测试电压IOKV进行的。通常进行高压介损测量时都是采用工频试验变压器升压的方式得到试验电压。此时,试验仪器将高压介损测试仪,变频电源,励磁变压器等部件设计在一个机箱内,并具有高压保护,接地检测,防容升等安全措施。一般仪器具备常规的内接方式,外接升压器和外接标准电容器等工作方式,能在不外接其它设备的情况下完成IOKV电压以下的介损试验。然而,现行试验方法存在的弊端是,(有些缺陷在低电压下不能被发现),例如,2008年,用HV9001介损测试仪对杨高站杨机2156线流变进行介质损测量,测出tgδ值为0.5,在标准范围内,认为该设备试验合格。然而,在该设备投运一月后,该流变其中一相膨胀器出现异常情况,运行值班人员对其进行紧急停电。再次用HV9001对其进行试验,发现数据超出标准范围。经对上述情况的研究,确认其原因是,试验电压与运行电压不匹配。现行常用的介损测量仪可达到的最高试验电压为10KV,而随着电气设备电压等级的不断提高,IOKV测试电压相对设备额定电压越来越低,受GARTON效应的影响越来越大,因此,IOKV测试数据的准确性也越来越低。某些进口设备,特别是500kV断路器均压电容,由于所采用的绝缘材料与国内电容器厂家采用的绝缘材料不同,GARTON效应的影响比较显著。500kV断路器均压容的额定电压都在170kV以上,有些额定电压为280kV,IOkV的介损测试电压远远低于其额定电压,测试数据与高压下的介损值差别则较大。因此这是要因。另外,由于大容量试品试验时需要的电源容量较大,如果采用传统的试验变压器升压,设备庞大,而且对电源的容量也要求较高,不适合在现场试验使用。为了避免类似情况再次发生,必须提高介质损耗tgδ试验的有效性。即,应研发一种可大大降低对电源容量的要求,而且单件的重量不会太大,便于在现场试验使用。有效提高试验准确性,提高电网的安全运行情况的高电压介质损耗(tgδ)测试装置。
实用新型内容为克服上述问题,本实用新型的目的在于,提供一种高电压介质损耗(tgS)测试装置,所述高电压介质损耗(tgS)测试装置特别适用于超高压电网,系针对大容量试品采用谐振方式升压,可大大降低对电源容量的要求,而且单件的重量不会太大,便于在现场试验使用。有效提高试验准确性,提高电网的安全运行情况。本实用新型的高电压介质损耗(tgδ)测试装置如下实现一种高电压介质损耗(tgδ)测试装置,包括高电压介质损耗(tgδ)测试仪(集高压介损电桥和变频电源为一体的一体化电桥)、与测试仪连接的励磁变压器、连接励磁变压器的高压谐振电抗器、连接高压谐振电抗器的高压标准电容器,其特征在于,所述一体化电桥形成集高压介损电桥和变频电源为一体的一体化电桥,所述一体化电桥包括谐振变频电源和测量桥体,被试品连接于高压谐振电抗器与测试仪之间,补偿电容器并联于被试品高压端,其低压端与测试仪外壳一起接地。根据本实用新型的高电压介质损耗(tgS)测试装置,其特征在于,所述高电压介质损耗(tgδ)测试仪、励磁变压器、高压谐振电抗器、高压标准电容器、补偿电容器及一体化电桥的电源装置部分,构成可程控串联谐振升压试验电源电路。根据本实用新型的高电压介质损耗(tgS)测试装置,其特征在于,在高压谐振电抗器与测试仪之间连接的补偿电容器的测试装置连接端接地。根据本实用新型的高电压介质损耗(tgS)测试装置,其特征在于,所述高电压介质损耗(tgS)测试仪设置有试验数据的存储、打印、USB输出接口。根据上述,本实用新型的整套装置可实现试验电压连续升、降压功能,自动完成被试设备电容量、tgδ、试验电压值的多点持续测量。根据本实用新型的高电压介质损耗(tgδ)测试装置,励磁变压器型号为KSLB-5,其额定输入电压(Tl60V,额定输出电压010kV,最大工作电流32Α,额定容量5kVA。根据本实用新型的高电压介质损耗(tgS)测试装置,电抗器(4节)型号KSGL-F40/0.5,采用真空环氧整体浇注,为便携式,体积小,重量轻,其额定容量20kVA,额定电压:40kV,额定电流0.5A,电感量325H。根据本实用新型的高电压介质损耗(tgS)测试装置,标准电容器型号SYL-160/100F,损耗正切值不大于5X10_5电容稳定性强,介质损耗极小。根据本实用新型的高电压介质损耗(tgδ)测试装置,其特征在于,所述高电压介质损耗(tgδ)测试仪设置有试验数据的存储、打印、USB接口输出。由此,本实用新型装置可显示、绘制相应曲线。同时还可实现试验数据的存储、打印、USB接口输出。根据上述,本实用新型的高电压介质损耗(tgδ)测试装置由可调频、调幅的变频电源,经由励磁变压器、高压谐振电抗器与电容器谐振,产生高压电源,施加于标准电容器和被试设备上。将两者低压侧的电流信号输入高压介损测试仪,采样低压侧信号,根据电桥原理,运用计算机的数据处理能力,实现高电压下电气设备介质损耗等参数的自动化、数字化测量,并显示输出被试品的电容量和介损测量值并绘制测量曲线。图1为本实用新型的高电压介质损耗(tgδ)测试装置线路图。具体实施方式以下结合附图和具体实施方式对本实用新型的高电压介质损耗(tgδ)测试装置作进一步说明。实施例1一种高电压介质损耗(tgδ)测试装置,包括高电压介质损耗(tgδ)测试仪(集高压介损电桥和变频电源为一体的一体化电桥)、与测试仪连接的励磁变压器、连接励磁变压器的高压谐振电抗器、连接高压谐振电抗器的高压标准电容器,其特征在于,所述一体化电桥包括谐振变频电源和测量桥体,被试品连接于高压谐振电抗器与测试仪之间,补偿电容器并联于被试品高压端,其低压端与测试仪外壳一起接地。由此,本实施例的整套装置的测试仪、励磁变压器、高压谐振电抗器、高压标准电容器、补偿电容器及一体化电桥当中电源装置部分,构成可程控串联谐振升压试验电源电路。可实现试验电压连续升、降压功能,自动完成被试设备电容量、tgδ、试验电压值的多点持续测量。根据本实施例的高电压介质损耗(tgδ)测试装置,所述高电压介质损耗(tgδ)测试仪设置有试验数据的存储、打印、USB接口输出。由此,本实用新型装置可显示、绘制相应曲线。同时还可实现试验数据的存储、打印、USB接口输出。使用上述高电压介质损耗(tgδ)测试装置,提高了介质损的测量电压等级后,在各个变电站进行了现场实测。测得数据的精确度提高,试验有效性提高到100%,比预期目标还高出5个百分点,达到了满意的效果。具体实测情况见表1。表1上海地区现场实测数据<table>tableseeoriginaldocumentpage6</column></row><table>[0035]由上可见,试验有效性比例提高了10%。根据本实用新型的适用于超高压电网的高电压介质损耗(tgS)测试装置,采用谐振方式升压,由此,可大大降低对电源容量的要求,而且单件的重量不会太大,便于在现场试验使用。使用本实用新型的高电压介质损耗(tgδ)测试装置可有效提高试验准确性,提高电网的安全运行情况。权利要求一种高电压介质损耗测试装置,包括高电压介质损耗测试仪、与测试仪连接的励磁变压器、连接励磁变压器的高压谐振电抗器、连接高压谐振电抗器的高压标准电容器,其特征在于,所述测试仪形成集高压介损电桥和变频电源为一体的一体化电桥,所述一体化电桥包括谐振变频电源和测量桥体,被试品连接于高压谐振电抗器与测试仪之间,补偿电容器并联于被试品高压端,其低压端与测试仪外壳一起接地。2.如权利要求1所述的高电压介质损耗测试装置,其特征在于,在高压谐振电抗器与测试仪之间连接的补偿电容器的测试装置连接端接地。3.如权利要求1所述的高电压介质损耗测试装置,其特征在于,所述高电压介质损耗测试仪设置有试验数据的存储、打印、USB输出接口。专利摘要一种高电压介质损耗(tgδ)测试装置,包括高电压介质损耗(tgδ)测试仪(集高压介损电桥和变频电源为一体的一体化电桥)、与测试仪连接的励磁变压器、连接励磁变压器的高压谐振电抗器、连接高压谐振电抗器的高压标准电容器,其特征在于,所述一体化电桥包括谐振变频电源和测量桥体,被试品连接于高压谐振电抗器与测试仪之间,补偿电容器并联于被试品高压端,其低压端与测试仪外壳一起接地。所述装置采用谐振方式升压,由此,可大大降低对电源容量的要求,而且单件的重量不会太大,便于在现场试验使用。使用本实用新型的高电压介质损耗(tgδ)测试装置可有效提高试验准确性,提高电网的安全运行情况。文档编号G01R27/26GK201555905SQ20092020928公开日2010年8月18日申请日期2009年9月7日优先权日2009年9月7日发明者包勇强,卢静文,周鸿伟,孙庆龙,张黎琳,徐志坚,王娟申请人:上海市电力公司超高压输变电公司

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