专利名称：一种反射密度值测试系统的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种对黑白印刷品反射密度值的测量系统。
背景技术：
现有的大部分反射密度计采用的光源是卤钨灯、卤素灯、2856K白炽灯、脉冲氙灯 中的一种，上述光源的缺点是温度高，散热性不好。针对这一缺点，也有一些学术文献对采 用LED冷光源作为反射密度计发光光源进行过论述，但是因LED光源所发射光有较大波动， 单纯使用容易弓I起反射密度值测量误差。
发明内容为了克服LED发光光源波动对反射密度值测量造成的误差，本实用新型提供一种 分光检测方法以消除光源波动造成的影响。本实用新型包括光学系统和光探测系统，具体结构如下该光学系统包括LED发 光光源、方解石、上部透镜、下部透镜、上部偏振滤光镜、下部偏振滤光镜。该光探测系统包 括颜色传感器、信息处理模块及显示界面。测试方法如下将被测样品(黑白印刷品)放在距方解石15-30厘米的位置上， 开启LED光源，光源所发射的光垂直入射到方解石后被分成光强相等的两束光ο光和e光， 其中e光作为参考光被颜色传感器接收转换为与光强成正比电压信号，ο光射向被测样品 后，反射的光也经颜色传感器转换为电压信号，以上两个电压信号均被计算模块接收，经信 息处理模块计算后得到反射密度值并显示到显示界面上。

附图为本实用新型的结构示意图参见附图，光学系统包括白光LED发光光源1，上部透镜2，方解石3，下部偏振滤 光镜6，下部透镜5，上部偏振滤光镜10 ；光探测系统包括下部颜色传感器7，上部颜色传 感器11，信息处理模块8，显示界面9，12为分束光束e光，13为分束光束ο光，14为分束光 束ο光的反射光束，4为被测样品(黑白印刷品)。如附图所示，发光光源1、上部透镜2、方解石3、被测样品4在同一直线上。如附图所示，光源1为白光LED发光光源，所发射的光为自然光，光强为I，经过上 部透镜2聚焦，垂直射入方解石3后被分为光强相等的ο光13和e光12，即I0 = Ie光束12经过上部偏振滤光镜10后，射入颜色传感器11，经上部颜色传感器11将 光束12的光信号转换成电压信号，电压信号Ue与光强Ie成正比，所得的电压信号传给计算 模块8。电光束I。作为入射光投射到被测样品(黑白印刷品)4上，其中一部分入射光被物 体的表面吸收，另一部分光14被反射出去，光束14光强设为Ip反射光束14经下部透镜5 聚焦后，经下部偏振滤光镜6后，射入下部颜色传感器7，经下部颜色传感器7将光信号转换成电压信号，电压信号^与光强L成正比，所得的电压信号传给信息处理模块8，最后显示 在显示界面9上。反射率的定义是入射光线与反射光线的比值，因此反射率表示式如下 反射密度的定义是反射率倒数的对数， 上式中光强Ir与电压信号Ur成正比，光强Ie与电压信号Ue成正比， 又因为光强Ie和仁都与LED光源所发射光的光强I成正比，因此Ue和Ur的值也 I成正比。光强Ie经上部颜色传感器11转换成电压信号，光强^经下部颜色传感器7转 换成与光强I成正比的电压信号，由此可以看出光强I的波动不会对反射密度值造成影响。 上述两个电压信号经信息处理模块8得到反射密度值，最后将反射密度值显示在显示界面 上。这种方法可以消除光源的波动引起的反射密度值的计算误差，从而大大提高反射 密度值的测量精度。
具体实施方式
实施例将密度值为1. 314的被测样品放置于待测位置，开启光源1与光学探测系统，光源 1发出的光垂直入射到方解石后被分为ο光和e光，其中e光作为参考光，ο光以0度射向 待测样品后成45度反射。其中e光被颜色传感器接收转换为电压信号，ο光射向被测样品， 反射的光经颜色传感器转换为电压信号，两个电压信号经计算模块计算后得到反射密度值 并显示到显示界面上，得到的反射密度值为1. 3135。
权利要求一种对印刷品的灰度进行测量的反射密度值测量系统，该测量系统包括由发光光源、方解石、若干透镜、若干滤色镜、若干偏振滤光镜组成的光学系统和由颜色传感器、信息处理模块及显示界面组成的光探测系统，发光光源、上部透镜、方解石、被测样品在同一直线上，其特征在于方解石设置于上部透镜与偏振滤光镜之间，测试样品放在距方解石15 30厘米的位置上。
专利摘要本实用新型涉及一种反射密度值测试系统，该系统包括由发光光源、方解石、若干透镜、若干滤色镜、若干偏振滤光镜组成的光学系统及由颜色传感器、信息处理模块及显示界面组成的光探测系统。采用LED光源为发光光源，利用方解石分光，能够在快速散热的同时消除光源波动产生的测量误差。
文档编号G01N21/01GK201681046SQ20092002995
公开日2010年12月22日 申请日期2009年7月17日 优先权日2009年7月17日
发明者吴福燕 申请人:富美科技有限公司