专利名称：具有自动阈值设定的不连续水平测量装置的制作方法
技术领域：
本发明通常涉及点水平(point level)监测的领域。更具体地说，本发明涉及在无需使用者选择当前是否覆盖或露出探针的情况下，为诸如电容点水平装置等点水平装置自动设定阈值。
背景技术：
测量容器中物质的水平的一种方法是通过使用安装于容器上的电容探针而执行的。电容探针可用于测量点水平，即，物质水平是在某一点之上还是之下。为了作出这样的测定，电子仪器可测量探针电容。由于电容从探针到参考点之间变化取决于探针是否被覆盖，因此电子仪器可将测得的电容与阈值相比较以确定探针是否被覆盖。
在传统点水平探针装置中，通常通过用物质覆盖探针以使得所述装置可获得被覆盖时的探针的电容值而校准探针。然后，露出探针以使得所述装置可获得露出时的探针的电容值。所述装置设定这两个数值之间的阈值。例如，使用者可装填容器并校准覆盖状态的水平装置。然后使用者可清空容器并校准露出状态的水平装置，并且所述装置将覆盖数值和露出数值之间的数值确定为阈值。由于这种技术可能涉及加入和去除大量物质，因此可能是不被接受的。
这种技术的另一个缺陷是，在这两个校准程序之间可能存在较大的时滞。因此，为了校准两个状态可能花费无法接受的长时间。例如，可能首先为覆盖状态校准所述装置。然而，所述装置可能在数月之间都不会处于露出状态，例如，在工厂的下一次维修停工时。即使最初校准了装置的两种状态，但是随着时间的推移，由于探针电容中的变化，例如，由于物质残留、覆盖效应等等，所述装置可能不会理想地执行工作。另外，如果物质的介电性能改变了，所述装置可能需要重新校准。
在校准两种状态是不实际的情况下，通常首先校准一个状态(例如，露出状态)下的水平装置，并且通过将固定的参考值(例如，储存的预定参考值)加上校准值而形成阈值电容。新近的装置可执行阈值的连续调整，从而克服传统点水平装置的一些问题。然而，所述校准通常需要使用者选择探针被覆盖还是露出。如果使用者作出了错误的选择，这可导致出现误差。
在考虑前述问题的基础上，需要这样一种自动调整点水平装置阈值的系统和方法，而无需使用者选择探针是被覆盖还是露出来。
发明概述本发明涉及在无需使用者选择探针是被覆盖还是露出来的情况下，自动调整点水平装置阈值的系统和方法。
在一个实施例中，提供一种用于为点水平装置自动地设定阈值的方法，所述方法包括以下步骤从点水平元件中测量第一值；从点水平元件中测量第二值；根据第二测得值是否相对于第一测得值已增加或已减少，而确定点水平元件是被覆盖还是露出；以及根据第一和第二测得值中的至少一个确定阈值。该方法可根据第二测得值相对于第一测得值是否已增加或已减少预定量，而确定点水平元件是被覆盖还是露出。
在另一个实施例中，提供一种点水平装置，所述点水平装置包括处理器，所述处理器从点水平元件中测量第一值，从点水平元件中测量第二值，根据第二测得值是否相对于第一测得值已增加或已减少而确定点水平元件是被覆盖还是露出，并且根据第一和第二测得值中的至少一个来确定阈值。
在下文中将更全面地阐述本发明的上述特征以及其他特征。
附图的简要说明在以下的详细描述中，通过参照本发明的附图进一步详细地描述了本发明，这些附图非限定性地示出本发明的实施例，在所有附图中，相同的附图标记表示相同的零件，其中

图1是本发明一个实施例所涉及的示范性容器的视图，所述容器具有示意性的电容点水平探针和电子部件；图2是本发明一个实施例所涉及的用于为电容点水平装置自动设定阈值的示意性线路示意图；图3是本发明一个实施例所涉及的时间相对于计数的图表，示出了电容测量线路的操作；图4a和4b是本发明一个实施例所涉及的图2中示意性线路的示意图；以及图5a到图5d是流程图，示出本发明一个实施例所涉及的用于在无需使用者选择探针被覆盖或露出的情况下为电容点水平装置调整阈值的示意性方法。
示意性实施例的详细描述本发明涉及在无需使用者选择探针被覆盖或露出的情况下为点水平装置自动调整阈值。所述点水平装置例如可为电容点水平装置。
如图1中所示的，容器12中容纳有可为水、油、固体物料等等的物质13。靠近于容器12的顶部安装探针10，并且所述探针10用于监控和指示容器12中物质13的高水平。靠近于容器12的底部安装探针11，并且所述探针11用于监控和指示容器12中物质13的低水平。电容探针10、11被用于测量电容(例如，从探针10、11到容器壁)并且所测得的电容被用于确定探针是被覆盖还是露出。特别地，电子部件16、17测量电容并将所测得的电容与一个阈值相比较。以这种方式，探针10可被用于高水平故障保险(HLFS)指示，而探针11可被用于低水平故障保险(LLFS)指示。特别是，水平LH是探针10开始被实际覆盖(并且达到了其阈值电容)处的水平。这可使得电子部件16中的开关改变状态14(即，指示HLFS状态)。水平LL是探针11开始被实际露出处的水平。这可使得电子部件17中的开关改变状态15(即，指示LLFS状态)。
图2、4a和4b是用于测量探针电容、设定阈值电容以及调整阈值电容的示意性线路的示意图。图4a和4b以具有由图4a中电压电源VGAIN所表示的R2R梯31和转换器32的更惯用的电桥表示法示出了线路的电桥部分52。前述中线路中的所有点都参考屏蔽43。
更详细地说，在向线路提供电力时，电桥52(由感应器30、R2R梯31、零点电容器CO、跨距电容器CS(span capacitor)、以及探针电容CP构成)开始失去了平衡。为了测量探针电容，在为线路供电之后，处理器40开始平衡过程，在所述平衡过程中比较器39通过放大器38从电容器CS中接收信号。最初，在平衡过程期间，比较器39的输出状态是高的。比较器39的输出状态被传递给处理器40，所述处理器40继续驱动R2R网络31(阻抗梯形网络)，增加增益，因此通过电容CO增加转换器32的零位电流IO。该程序持续进行，直到IO＝IP，此时电桥52已达到了平衡并且比较器39的输出趋于变低。低输出给予处理器40这样的信号，即，已实现了平衡并且处理器40停止增加增益。
处理器40确定达到平衡状态的增加的数目(计数)(图3)。所述计数与探针电容CP成比例，因此处理器40可将计数的数目转换为一个数值，例如，电容数值。处理器40继续确定计数的数目并将所述计数转换为电容数值。处理器40可以这种方式测量探针10、11的电容数值。
在一个实施例中，处理器40、R2R阻抗梯形网络31、开关42、以及转换器32组合起来以形成12比特偏移电压增益倍增器。为了使得增益函数(见图3)增加期间的滞后效应最小化，处理器40通过触发(平衡)水平设定正和负斜坡并且计算两个测得的电容的平均值。双重斜坡积分可使得由于滞后现象所导致的误差最小化并且增加潜在计数结果。
处理器40与按钮50相联系。一个按钮是使用者可按压以开始校准的校准按钮。另一个按钮是证实按钮。所述证实按钮可用于使得处理器确定所测得的电容值不会低于暴露在空气中的探针的代表值(即，完全由物质露出)。所述证实按钮还可和校准按钮一起被按压以使得使用者可选择(或指示)探针被覆盖。在这种选择下，可更快地进行校准，然而，使用者无需进行这种选择以使校准成功。
处理器40还与电子可擦可编程序只读存贮器(EEPROM)51相联系。EEPROM 51提供非挥发性(non-volatile)的记忆储存并且还可为任何其他类型的非挥发性存储器。
图5a到图5d示出了在无需使用者选择探针是被覆盖还是露出的情况下，根据测得的电容值确定阈值电容值的方法。电容值可为绝对电容值、相对电容值、多个计数、电压值等等。
如图5a中所示的，在步骤100，处理器40对变量进行初始化。如图中所示的，处理器40可通过测量电容值并将露出电容值设定为测得值而初始化露出电容值。或者，处理器可将露出电容值初始化为可被储存的预定值(例如，10pF)。所述预定值可从非挥发性数据存储器，诸如EEPROM 51中读出。而且，露出电容值可在其数值出现变化时而被储存于EEPROM 51或者可在不同时刻被储存于EEPROM 51，例如，当露出电容值增加时。还可对其他变量进行初始化，诸如，覆盖电容值、阈值电容值、现行状态等等。
在步骤101，处理器40开始连续地测量电容值并根据测得的电容值调整阈值电容值。在步骤102，处理器40测量电容值，正如结合图2-4所描述的。
如在步骤103处所示的，如果选择了校准(例如，使用者按压校准按钮)，所述方法继续进行到步骤105，在所述步骤105确定证实按钮是否被按压(即，操作者是否通过按压校准按钮和证实按钮两者而指示出覆盖了探针)。
如果已选择了证实按钮和校准按钮两者，处理器40将现行状态设定为如步骤106中所示的“探针覆盖”。此外在步骤106，处理器40将覆盖的电容值设定为测得的电容值，将露出电容值设定为测得的电容值减去预定电容值(例如，2pF)的差，以及将阈值电容值设定为测得的电容值减去预定电容值(例如，2pF)的差。预定电容值通常是从实际的现场试验根据经验得出的。然后所述方法返回到步骤101以测量另一个电容值。处理器40可进一步将储存在非挥发性的存储器中的露出电容值设定为露出电容值。
然而，如果使用者未指示出探针被覆盖，处理器40将现行状态设定为如步骤108中所示的“等待改变”。此外在步骤108，处理器40将露出电容值设定为测得的电容值以及将阈值电容值设定为测得的电容值。处理器40还可将空气值设定为测得的电容值。处理器40可进一步将储存在非挥发性的存储器中的露出电容值设定为露出电容值。
然后所述方法返回到步骤101以测量另一个电容值。如可理解的，使用者无需选择探针是被覆盖或是露出；相反地，处理器40等候电容值方面的改变以确定探针是被覆盖或是露出。即使处理器40作出了错误的确定，通过在覆盖和露出状态(即，容器水平升高或降低)之间的进一步循环，如以下更详细地描述的，处理器40也可纠正探针是被覆盖或是露出的确定。
当在步骤102测量了另一个电容值之后，所述方法再次确定在步骤103是否已选择了一个校准。假定出于示意性的目的，使用者已放开了校准按钮并且没有指示出探针被覆盖(即，没有按压证实按钮和校准按钮)，所述方法继续进行到步骤104。
在步骤104，由于现行状态为“等待改变”，因此该方法等待测得电容值中的改变以确定该状态被覆盖还是露出并且继续进行到步骤120(图5b)。
在步骤120，处理器40确定测得电容值是否已改变了预定量(例如，2pF)。如果测得电容值未改变预定量，处理器40继续返回到步骤101并测量电容值。一旦接收了已改变了预定量的测得电容值，该方法就继续进行到步骤122。
在步骤122，如果测得电容值已增加，那么现行状态被设定为“探针覆盖”，覆盖的电容值被设定为测得电容值，以及阈值电容值被设定为露出电容值与覆盖的电容值的中点值。或者，可将阈值电容值设定为露出电容值与覆盖的电容值的某个其他函数，例如平方根函数等等。
如果测得电容值没有增加，而是减少了，如步骤126所示的，那么该方法继续进行到步骤128。在步骤128，处理器40将现行状态设定为“探针露出”，将覆盖的电容值设定为露出电容值，将露出电容值设定为测得电容值，以及将阈值电容值设定为露出电容值加上预定电容值(例如，2pF)的和。处理器40还可进一步将储存在非挥发性存储器中的露出电容值设定为露出电容值。然后该方法返回到步骤101并且然后在步骤102获得另一个测得电容值。
在这一点上，处理器40已确定了探针的一个状态(即，探针是被覆盖或是露出)。该确定结果是基于测得电容值中的变化而作出的。由于种种原因，该确定结果可能是错误的(即，所述确定结果可能与探针的物理状态不匹配)；然而，如以下详细描述的，在接收了辅助测得电容值的基础上，处理器40可纠正所述确定结果。
在测量了另一个电容值之后，该方法再次确定在步骤103是否已选择了一个校准。使用者通常又已放开校准按钮并且该方法继续进行到步骤104。
在步骤104，假定出于示意性的目的，现行状态为“探针露出”，该方法继续进行到步骤130(图5c)。
在步骤130，如果测得电容值不大于阈值电容值，那么该方法继续进行到步骤150。
在步骤150，如果测得电容值小于露出电容值，那么该方法继续进行到步骤152，在步骤152中处理器40将露出电容值设定为测得电容值并且将阈值设定为测得电容值加上预定电容值(例如，2pF)的和。然后该方法返回到步骤101。
然而，如果在步骤150处，测得电容值不小于露出电容值，那么该方法继续进行到步骤154到157，在步骤154到157中处理器40可将储存在非挥发性存储器中的露出电容值设定为露出电容值。如步骤154处所示的，处理器40可多次(例如，50次)检查测得值，以便于确定测得电容值小于露出电容值，而不是只进行一次错误的测量。假如这样，并且露出电容值大于储存在非挥发性存储器中的露出电容值，那么处理器40将储存在非挥发性存储器中的露出电容值设定为露出电容值。然后该方法返回到步骤101。
在步骤130，如果测得电容值大于阈值电容值，那么在步骤132处处理器40将状态从“探针露出”改变为“探针覆盖”，覆盖的电容值被设定为测得电容值，并且阈值电容值被设定为露出电容值与覆盖的电容值的中点值。
然后该方法可继续进行到步骤134-135。在步骤134-135，如果覆盖的电容值小于储存在非挥发性存储器中的露出电容值，那么处理器40将储存在非挥发性存储器中的露出电容值设定为露出电容值。然后该方法返回到步骤101。
在返回到步骤104的基础上，假定出于示意性的目的，现行状态为“探针覆盖”，该方法继续进行到步骤160(图5d)。在步骤160，如果测得电容值大于覆盖的电容值，那么该方法继续进行到步骤162，在步骤162处，处理器40将现行状态设定为“探针覆盖”，将覆盖的电容值设定为测得电容值，并且将阈值电容值设定为露出电容值与覆盖的电容值的中点值。然后该方法返回到步骤101以获得另一个测得电容值。
在步骤160，如果测得电容值不大于覆盖的电容值，那么该方法继续进行到步骤164。在步骤164，如果测得电容值小于阈值电容值，那么该方法继续进行到步骤166，在步骤166处处理器40将现行状态设定为“探针露出”，将露出电容值设定为测得电容值，并且将阈值电容值设定为露出电容值加上预定电容值(例如，2pF)的和。然后该方法返回到步骤101以获得另一个测得电容值。此外在步骤164，如果测得电容值不小于阈值电容值，那么该方法返回到步骤101以获得另一个测得电容值。
在返回到步骤101之前，处理器40可相对于空气值校验测得电容值。如果测得电容值小于空气值减去预定电容值(例如，2pF)的差，处理器40指示出(例如，通过发光二极管、用于警报的开关闭合，以及其他方式)所述校验不成功。所述校验可用于指示有缺陷的传感器、断线等等。
处理器40在设定覆盖的电容值和露出电容值之前还可执行范围检查。例如，在将覆盖的电容值和露出电容值设定为新值之前，处理器40可将该新值与最小值和最大值相比较。如果该新值不在最小值和最大值的范围内，那么处理器40就不将覆盖的电容值或露出电容值设定为新值。
作为确定探针是被覆盖或是露出的示例，假定容器12中的物质最初为水，但是随着时间的推移可改变。覆盖的探针的典型测得值为90pF，而露出的探针的典型测得值为10pF。此外，假定操作者按压校准按钮，没有指示出探针被覆盖，并且假定探针最初被水实际覆盖。
在步骤100，露出电容值被初始化为示范性初始测得电容值“90”。接着，在步骤102，处理器40测量与被实际覆盖的探针相对应的示范性电容值“90”。由于证实按钮未被按压，因此在步骤108，处理器40将现行状态设定为“等待改变”，将露出电容值设定为“90”，以及将阈值电容值设定为“90”。
在这一点上，该方法返回到步骤101并测量第二示范性电容值“50”(例如，假定容器中物质的介电常数改变或其水平略微降低)。该方法继续进行到步骤120，并且由于测得电容降低了多于2pF(即，从“90”到“50”)，该方法继续进行到步骤128。在步骤128，处理器40将状态设定为“探针露出”，将覆盖的电容值设定为“90”，将露出电容值设定为“50”，以及将阈值电容值设定为“52”。在这一点上，处理器40已选择了“探针露出”状态；然而，探针被物质(至少局部地)覆盖。在接收辅助电容测量的基础上，处理器40可改变其选择以适应探针的实际物理状态，如下面测量第三示范性电容值中所示的。
例如，处理器40可在步骤101测量第三示范性电容值“92”(例如，假定物质的介电常数已改变或物质水平已略微增加)。该方法继续进行到步骤130，并且由于测得电容大于阈值电容值(即，“92”＞“52”)，该方法继续进行到步骤132。在步骤132，处理器40将状态设定为“探针覆盖”，将覆盖的电容值设定为“92”，以及将阈值电容值设定为“71”(“50”和“92”的中点值)。因此，尽管最初选择的状态与探针的物理状态不匹配，处理器40已选择了与探针的物理状态相匹配的状态。而且，使用者无需选择初始状态。
作为另一个实施例，假定操作者按压校准按钮和证实按钮，并且指示出探针被覆盖；然而，探针未被覆盖(例如，探针具有电容值“20”) 。
在步骤100，处理器40测量示范性初始电容值“20”并且设定露出电容值“20”。接着在步骤102，处理器40测量示范性电容值“20”。由于证实按钮被按压，因此在步骤106，处理器40将现行状态设定为“探针覆盖”，将露出电容值设定为“18”(测得电容值“20”减去2pF的差)，以及将阈值电容值设定为“18”(测得电容值“20”减去2pF的差)。在这一点上，装置的现行状态(探针覆盖)与探针的物理状态(探针未被覆盖)不匹配。在接收辅助电容测量的基础上，处理器40可改变其现行状态以适应探针的实际物理状态。
在这一点上，该方法返回到步骤101并测量与完全被覆盖的物理探针相对应的第二示范性电容值“90”(例如，假定水平已增加)。该方法继续进行到步骤160，并且由于测得电容值大于覆盖的电容值(即，“90”＞“20”)，然后继续进行到步骤162。在步骤162，处理器40将状态设定为“探针覆盖”，将覆盖的电容值设定为“90”，以及将阈值电容值设定为“54”(“18”和“90”的中点值)。在这一点上，处理器40已选择了“探针覆盖”状态，并且从探针未被实际覆盖时使用者所作出的探针覆盖的错误假定中恢复。
在这一点上，该方法返回到步骤101并测量与被实际露出的探针相对应的第三示范性电容值“10”(例如，假定水平已降低)。该方法继续进行到步骤160，到步骤164，并且然后由于测得电容值不大于覆盖的电容值(即，“10”并非＞“90”)以及测得电容值小于阈值电容值(即，“10”＜“54”)而继续进行到步骤166。
在步骤166，处理器40将状态设定为“探针露出”，将露出电容值设定为“10”，以及将阈值电容值设定为“12”。(“10”加上2pF的和)。因此，处理器40已再次选择了与探针的物理状态相匹配的状态，尽管使用者选择的状态与探针的物理状态不匹配。
因此，本发明提供了在无需使用者选择探针是被覆盖或是露出的情况下连续地调整阈值电容值的能力，从而调整以改变探针和物质的状态。而且，本发明无需专用的电容探针；相反地，本发明可采用现有的传统电容探针。由于存在大量可依照本发明转换为自动校准装置的人工校准点水平电容装置，因此这是非常有意义的。
本发明的该方法可以以储存在计算机可读媒介中的程序代码(即，计算机可执行指令)的形式来实现，所述计算机可读媒介诸如磁性存贮器媒介、电存贮器媒介或光存贮器媒介，包括但不局限于软磁盘、CD-ROM、CD-RW、DVD-ROM、DVD-RAM、磁带、闪存(flashmemory)、硬盘驱动器、或任何其他的机器可读存贮器媒介，其中，当程序代码被输入机器并由机器，诸如计算机，执行时，所述机器变为实践本发明的设备。本发明还可以以某些传输媒介上传输的程序代码的形式来实现，诸如通过光学纤维在电线或电缆上传输，在包括互联网络或内联网的网络上传输，或通过任何其他传输形式，其中，当诸如计算机的机器接收并输入以及执行所述程序代码时，所述机器变为实践本发明的设备。当在通用处理器上执行时，所述程序代码与处理器相组合以提供与独特逻辑电路相类似地操作的独特设备。
应该注意的是，主要是出于解释的目的而提供了前述实施例，而且不应将前述实施例看作是对本发明的限制。虽然已参照所示出的实施例描述了本发明，但是应该理解的是，文中所使用的术语是描述性和解释性的术语，而不是限制性的术语。此外，尽管文中已结合具体的结构、方法、物质和实施例描述了本发明，但是本发明不局限于文中所具体描述的；相反地，本发明扩展为所附权利要求的保护范围内的所有结构、方法和用法。具有本说明书技术利益的本领域普通技术人员可对其进行各种修正，并且在不脱离由所附权利要求所限定的本发明保护范围和精神的情况下可作出改变。
权利要求
1.一种为点水平装置自动地设定阈值的方法，所述方法包括以下步骤从点水平元件中测量第一值；从点水平元件中测量第二值；根据第二测得值是否已相对于第一测得值增加或减少而确定点水平元件是被覆盖还是露出；以及根据第一和第二测得值中的至少一个来确定阈值。
2.如权利要求1中所述的方法，其特征在于，测量第一值的步骤包括从电容探针中测量第一值的步骤。
3.如权利要求1中所述的方法，其特征在于，确定点水平元件是被覆盖还是露出的步骤包括确定第二测得值是否已相对于第一测得值增加或减少预定量的步骤。
4.如权利要求1中所述的方法，其特征在于，如果第二测得值相对于第一测得值已增加，那么确定阈值的步骤包括确定阈值为第一测得值与第二测得值的函数的步骤。
5.如权利要求1中所述的方法，其特征在于，如果第二测得值相对于第一测得值已增加，那么确定阈值的步骤包括确定阈值为第一测得值与第二测得值的中点值的步骤。
6.如权利要求1中所述的方法，其特征在于，如果第二测得值相对于第一测得值已降低，那么确定阈值的步骤包括确定阈值为第二测得值加上预定量之和的步骤。
7.如权利要求6中所述的方法，还包括将第二测得值储存于非挥发性存储器中的步骤。
8.如权利要求1中所述的方法，还包括将露出值初始化为初始测得值的步骤。
9.如权利要求8中所述的方法，如果第二测得值相对于第一测得值已增加，还包括以下步骤将覆盖值设定为第二测得值；确定阈值为覆盖值与露出值的函数；以及确定点水平元件状态为被覆盖。
10.如权利要求9中所述的方法，如果第二测得值相对于第一测得值已增加，还包括以下步骤从点水平元件中测量第三值；以及如果第三测得值小于阈值并且不大于覆盖的值，则将露出值设定为第三测得值；将阈值设定为露出值加上预定量之和；以及将点水平元件状态设定为露出。
11.如权利要求9中所述的方法，如果第二测得值相对于第一测得值已增加，还包括以下步骤从点水平元件中测量第三值；以及如果第三测得值大于覆盖的值，则将覆盖值设定为第三测得值；将阈值设定为覆盖值和露出值的中点值；以及将点水平元件状态确定为被覆盖。
12.如权利要求8中所述的方法，如果第二测得值相对于第一测得值已降低，还包括以下步骤将覆盖值设定为露出值；将露出值设定为第二测得值；将阈值设定为露出值加上预定量之和；以及将点水平元件状态确定为露出。
13.如权利要求12中所述的方法，如果第二测得值相对于第一测得值已降低，还包括以下步骤从点水平元件中测量第三值；以及如果第三测得值大于阈值，则将覆盖值设定为第三测得值；将阈值设定为覆盖值和露出值的中点值；以及将点水平元件状态确定为被覆盖。
14.如权利要求12中所述的方法，如果第二测得值相对于第一测得值已降低，还包括以下步骤从点水平元件中测量第三值；以及如果第三测得值小于露出值并且不大于阈值，则将露出值设定为第三测得值；以及将阈值设定为第三测得值加上预定量之和。
15.一种为点水平装置自动地设定阈值的方法，所述方法包括以下步骤从点水平元件中测量第一值；从点水平元件中测量第二值；在没有从用户界面收到选择的情况下，确定点水平元件是被覆盖还是露出；以及根据第一和第二测得值中的至少一个来确定阈值。
16.如权利要求15中所述的方法，其特征在于，测量第一值的步骤包括从电容探针中测量第一值的步骤。
17.如权利要求15中所述的方法，其特征在于，测量第一值的步骤包括确定多个电压增量以平衡电桥以及将多个增量转换为电容值的步骤。
18.一种点水平装置，所述装置包括处理器，所述处理器从点水平元件中测量第一值，从点水平元件中测量第二值，根据第二测得值是否已相对于第一测得值增加或减少而确定点水平元件是被覆盖还是露出，以及根据第一和第二测得值中的至少一个来确定阈值。
19.如权利要求18中的所述装置，其特征在于，所述处理器还根据第二测得值是否已相对于第一测得值增加或减少预定量，而确定点水平元件是被覆盖还是露出。
20.如权利要求18中的所述装置，还包括点水平元件。
21.如权利要求20中的所述装置，其特征在于，所述点水平元件包括电容探针。
22.一种其中储存有指令的计算机可读媒介，所述指令用于自动地设定点水平装置的阈值，当在处理器上执行指令时，所述指令使得处理器执行以下步骤从点水平元件中测量第一值；从点水平元件中测量第二值；根据第二测得值是否已相对于第一测得值增加或减少而确定点水平元件是被覆盖还是露出；以及根据第一和第二测得值中的至少一个来确定阈值。
23.如权利要求22中所述的计算机可读媒介，其特征在于，测量第一值的步骤包括从电容探针中测量第一值的步骤。
24.如权利要求22中所述的计算机可读媒介，其特征在于，确定点水平元件是被覆盖还是露出的步骤包括确定第二测得值是否已相对于第一测得值增加或减少预定量的步骤。
全文摘要
本发明提供了一种系统和方法，所述系统和方法用于在无需使用者选择点水平元件是被覆盖或是露出的情况下自动地为点水平装置设定阈值。从点水平元件中测量第一和第二值。根据第二测得值是否已相对于第一测得值增加或减少而确定点水平元件是被覆盖还是露出。根据第一和第二测得值中的至少一个来确定阈值。
文档编号G01F23/26GK1513111SQ02810940
公开日2004年7月14日 申请日期2002年5月24日 优先权日2001年5月31日
发明者凯文·G·哈弗, 凯文 G 哈弗 申请人:阿美特克公司