专利名称：一种超声波探伤仪表面波及爬波校准方法
技术领域：
本发明涉及一种仪器校准方法，尤其涉及一种用于超声波探伤仪的表面波及爬波 校准方法。
背景技术：
目前在使用超声波探伤仪对工件缺陷进行表面波或爬波探伤的时候，通过探头发 射超声波进行工件探伤，其探测得到的工件缺陷距离为实际距离和校准距离之和，其中校 准距离为超声波在探头内部所走的声程a，和超声波在工件表面传播但是被探头壳盖住的 声程b之和。此时，为了得到工件缺陷的实际距离，探伤人员只能根据探头厂商提供的数 据，在进行探伤时需要人为校准计算缺陷位置，而且，因为探头为易耗品，所以在探头磨损 之后，探头的内部声程和探头前沿的值会产生变化，这样的情况发生之后，因为其它仪器不 能自动检测这两个值，所以工人还是只能按照生产厂家所给的数据进行计算，查找出来的 缺陷定位会出现误差。或者一些工厂在探头使用一段时间之后，为了确保探测精确，而只有 将探头报废，购买新的探头，大大增加了工厂的生产成本。

发明内容
针对上述现有技术存在的问题，本发明目的在于提供一种用于超声波探伤仪的表 面波及爬波校准方法，填补了现有超声波探伤仪对横波(表面波及爬波)探头前沿及超声 波在探头内部所走路径进行校准的空白。本发明的技术方案是一种超声波探伤仪表面波及爬波校准方法，包括一超声波 探伤仪，其通过探头发射超声波进行工件探伤，其探测得到的工件缺陷距离为实际距离和 校准距离之和，本方法依次包括以下步骤1)准备一用于探头校准的标准试块，以及一用于超声波探伤仪的表面波或爬波探 头；2)使用探头在试块上来回移动，直到超声波探伤仪上显示表面波或爬波在试块缺 陷处产生最高反射波，得到探头内超声波发出端至缺陷处的距离S ；3)测量探头最前端至缺陷处的距离L ；4) S减去L即得到用于校准超声波探伤仪的校准距离。本发明的有益效果是方法简单可靠，改变了以往探伤人员只能够依靠生产探头 厂家提供的数据进行大致的校准，而无法精确校准的现状；同时大大延长了探头的使用寿 命，降低了工厂的生产成本。


图1为本发明实施例的操作示意图。
具体实施例方式作为本发明的一种实施方式，如图1所示，一种超声波探伤仪表面波及爬波校准 方法，包括一超声波探伤仪，其通过探头发射超声波进行工件探伤，其探测得到的工件缺陷 距离为实际距离和校准距离之和，其中校准距离为超声波在探头内部所走的声程a，和超声 波在工件表面传播但是被探头壳盖住的声程b之和，本方法依次包括以下步骤1)准备一用于探头校准的标准试块2，如CSK-IA型等各种市 售标准试块，以及一 用于超声波探伤仪的表面波或爬波探头1 ；2)使用探头1在试块2上来回移动，直到超声波探伤仪上显示表面波或爬波在试 块缺陷处即本实施例试块2边沿A点产生最高反射波，得到探头1内超声波发出端至缺陷 处A点的距离S，此距离也可以通过表面波或爬波的声速(表面波为超声波在物体表面传播 的一种波形，其声速在金属表面传播的值大概2950m/s，是一个固定值；爬波也是一种在物 体表面传播的波形，其声速在金属表面传播的值大概为5940m/s，为一个固定值)和它到达 A点并返回的时间计算出；3)测量探头1最前端至缺陷处A点的距离L ；4) S减去L即得到用于校准超声波探伤仪的校准距离a+b。以上对本发明所提供的一种用于超声波探伤仪的表面波校准方法进行了详尽介 绍，本文中应用了具体个例对本发明的原理及实施方式进行了阐述，以上实施例的说明只 是用于帮助理解本发明的方法及其核心思想；同时，对于本领域的一般技术人员，依据本发 明的思想，在具体实施方式
及应用范围上均会有改变之处，综上所述，本说明书内容不应理 解为对本发明的限制。
权利要求
一种超声波探伤仪表面波及爬波校准方法，包括一超声波探伤仪，其通过探头发射超声波进行工件探伤，其探测得到的工件缺陷距离为实际距离和校准距离之和，其特征在于依次包括以下步骤1)准备一用于探头校准的标准试块，以及一用于超声波探伤仪的表面波或爬波探头；2)使用探头在试块上来回移动，直到超声波探伤仪上显示表面波或爬波在试块缺陷处产生最高反射波，得到探头内超声波发出端至缺陷处的距离S；3)测量探头最前端至缺陷处的距离L；4)S减去L即得到用于校准超声波探伤仪的校准距离。
全文摘要
本发明公开了一种超声波探伤仪表面波及爬波校准方法，涉及一种仪器校准方法，包括一超声波探伤仪，其通过探头发射超声波进行工件探伤，其探测得到的工件缺陷距离为实际距离和校准距离之和，本方法依次包括以下步骤准备一用于探头校准的标准试块，以及一用于超声波探伤仪的表面波或爬波探头；使用探头在试块上来回移动，直到超声波探伤仪上显示表面波或爬波在试块缺陷处产生最高反射波，得到探头内超声波发出端至缺陷处的距离S；测量探头最前端至缺陷处的距离L；S减去L即得到用于校准超声波探伤仪的校准距离。本发明填补了现有超声波探伤仪对横波(表面波及爬波)探头前沿及超声波在探头内部所走路径进行校准的空白。
文档编号G01N29/30GK101813671SQ20101016377
公开日2010年8月25日 申请日期2010年5月6日 优先权日2010年5月6日
发明者符丰 申请人:符丰