专利名称：测量治具的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及发射天线的相位中点及边缘位置的测量，尤其涉及进行这样测量 的测量治具。
背景技术：
在现行的天线产业中，各家从业者都会执行相关的国际标准，如ANSI、CISPER、EN 等，在电磁兼容(Electromagnetic Compatibility, EMC)实验室的辐射电波暗室中测量归 一化场地衰减(normalized site attenuation, NSA)值。在一般的归一化场地衰减值的测量作业中，都是先以人工操作重锤的方式来确定 出发射天线的相位中点及边缘位置，接着再动用最少四名量试人员来进行距离测量，以确 定出接收天线与发射天线的预定间隔距离，而当确定了接收天线与发射天线的预定间隔距 离后，即可据此设置接收天线。然而，通过人工操作重锤来确定发射天线的相位中点及边缘位置的确定方式，不 但容易产生误差，且容易对发射天线本身造成影响，进而使得后续测量出的归一化场地衰 减值的精准度不足。另外，最少需要动用四名量试人员始能够进行距离测量的方式，除了直 接对电磁兼容实验室造成过多的人力成本外，也间接地对电磁兼容实验室其他预定进行的 实验日程安排造成了影响。因此，确实需要提供一种测量治具来改善现行的归一化场地衰减值的测量作业。
实用新型内容鉴于现有技术的种种缺陷，本实用新型的主要目的在于提供一种可准确地测量出 发射天线的相位中点及边缘位置的测量治具。本实用新型的另一目的在于提供一种不需投入过多的人力成本即可测量出接收 天线与发射天线的预定间隔距离的测量治具。为了达到上述目的及其他目的，本实用新型提供一种测量治具，供使用者应用于 天线装置上，该测量治具包括第一支撑杆；第二支撑杆，与第一支撑杆彼此交错设置；以 及固定件，设置于该第一支撑杆的一端，用以将该测量治具固定配置于该天线装置上。于本实用新型的一实施形态中，该第一支撑杆的另一端上还设置有尺规件，该尺 规件可为卷尺。而该第一支撑杆及/或第二支撑杆具有能自如伸缩以调整长度的结构。换言之，本实用新型提供一种测量治具，应用于天线装置上，包括第一支撑杆；第二支撑杆，与该第一支撑杆彼此交错设置；以及固定件，设置于该第一支撑杆的一端，并将该测量治具固定配置于该天线装置上。在实用新型所述的测量治具中，优选地，还包括尺规件，设置于该第一支撑杆上与 设置该固定件的一端相对的另一端。在实用新型所述的测量治具中，优选地，该尺规件为卷尺。[0016]在实用新型所述的测量治具中，优选地，该第二支撑杆以其几何中心点与该第一 支撑杆交错设置。在实用新型所述的测量治具中，优选地，该第一支撑杆及第二支撑杆的交错角度 为 90°。在实用新型所述的测量治具中，优选地，该固定件包含套环单元及锁固单元，该套 环单元套设于该天线装置上，而该锁固单元将该套环单元固定配置于该天线装置上。在实用新型所述的测量治具中，优选地，该固定件为夹具。在实用新型所述的测量治具中，优选地，该天线装置为发射天线。在实用新型所述的测量治具中，优选地，该第一支撑杆及/或该第二支撑杆具有 能自如伸缩以调整长度的结构。因此，通过第一支撑杆、第二支撑杆、及固定件的交互搭配，本实用新型的测量治 具可供使用者准确地测量出发射天线的相位中点及边缘位置，而在测量出发射天线的相位 中点及边缘位置后，本实用新型更可通过尺规件轻易、快速地测量出接收天线与发射天线 的预定间隔距离，故相比于现有技术，本实用新型不但可供使用者准确地测量出归一化场 地衰减值，也不需投入过多的人力成本来进行操作。

图1为本实用新型的测量治具的结构示意图；以及图2为本实用新型的测量治具的结构及应用示意图。元件标号简单说明
1测量治具10第一支撑杆11第二支撑杆12固定件120套环单元121锁固单元13尺规件2发射天线20侧向天线架21天线波瓣22直立天线架。
具体实施方式
以下通过特定的具体实施形态说明本实用新型的实施方式，本领域的普通技术人 员可由本说明书所揭示的内容轻易地了解本实用新型的其他优点与功效。当然，本实用新 型也可通过其他不同的具体实施形态加以施行或应用。请一并参阅图1及图2，其中，图1为绘示本实用新型的测量治具的结构图，而图2 为绘示本实用新型的测量治具的结构及其应用示意图。如图1及图2所示，测量治具1为可应用于例如为发射天线2的天线装置上，且测 量治具1包括第一支撑杆10、第二支撑杆11、固定件12及尺规件13。第二支撑杆11与第一支撑杆10彼此交错设置。于本实施形态中，第二支撑杆11 可将其几何中心点与第一支撑杆10彼此交错设置，且第一支撑杆10及/或第二支撑杆11 还可具有能自如伸缩以调整长度的结构。实际实施时，第一支撑杆10及第二支撑杆11两 者还可彼此垂直设置，亦即，第一支撑杆10及第二支撑杆11的交错角度可为90°。固定件12设置于第一支撑杆10的一端，用以将测量治具1固定配置于发射天线 2。于本实施形态中，固定件12可包含套环单元120及锁固单元121，其中，套环单元120供 套设于发射天线2的直立天线架22，而锁固单元121则供使用者将套环单元120锁固于发 射天线2的直立天线架22。具体来说，使用者可依据发射天线2的直立天线架22的粗细来 调整锁固单元121，以稳固地将套环单元120固定配置于发射天线2的直立天线架22，进而 令测量治具1能固定配置于发射天线2。尺规件13设置于第一支撑杆10设置固定件12的相对另一端，在本实施形态中， 尺规件13为可伸缩自如调整长度且具有弹性复原功能的卷尺，而其长度可弹性地调整为 三米、十米或三十米，这要视测量的距离而定。实际实施时，使用者可先将套环单元120套设于发射天线2的直立天线架22上， 接着调整第一支撑杆10及第二支撑杆11的长度，并调整测量治具1离地的高度，以令第一 支撑杆10及第二支撑杆11可对应于发射天线2的侧向天线架20及天线波瓣21的投影范 围。而在调整完成后，使用者即可通过锁固单元121对套环单元120进行锁固，进而令测量 治具1能够固定于发射天线2。此时，使用者即可通过第一支撑杆10及第二支撑杆11准确 地测量出发射天线2的相位中点及边缘位置，以取代传统的重锤。而于测量出发射天线2 的相位中点及边缘位置后，使用者还可直接以一人之力来操作尺规件13，进而快速、方便地 测量出接收天线(未图示)与发射天线2的预定间隔距离，例如通过尺规件13测量出三十 米的预定间隔点，并以此预定间隔点作为接收天线的设置点，从而进行后续的归一化场地 衰减值的测量程序，进而精确地测量出归一化场地衰减值。值得一提的是，依据不同的实际需求，本实用新型可选择性地不设置有前述的尺 规件13。为了应对不同的成本考量，固定件12也可设计为相关的夹具。综上所述，由于本实用新型的测量治具包括可交互搭配的第一支撑杆、第二支撑 杆及固定件，所以可供使用者准确地测量出发射天线的相位中点及边缘位置，而在测量出 发射天线的相位中点及边缘位置后，本实用新型的测量治具还可通过尺规件供使用者轻 易、快速地测量出接收天线与发射天线的预定间隔距离，故相比于现有技术，本实用新型不 但可供使用者精确地测量归一化场地衰减值，而且不需过投入过多的人力成本来进行操作。 但是，上述实施形态仅用以例示性说明本实用新型的原理及其功效，而非用于限 制本实用新型。任何本领域的普通技术人员均可在不违背本实用新型的精神及范畴的前提 下，对上述实施形态进行修饰与改变。因此，本实用新型的权利保护范围，应如权利要求书 所限定。
权利要求1.一种测量治具，应用于天线装置上，其特征在于，包括 第一支撑杆；第二支撑杆，与该第一支撑杆彼此交错设置；以及固定件，设置于该第一支撑杆的一端，并将该测量治具固定配置于该天线装置上。
2.根据权利要求1所述的测量治具，其特征在于，还包括尺规件，设置于该第一支撑杆 上与设置该固定件的一端相对的另一端。
3.根据权利要求2所述的测量治具，其特征在于，该尺规件为卷尺。
4.根据权利要求1所述的测量治具，其特征在于，该第二支撑杆以其几何中心点与该 第一支撑杆交错设置。
5.根据权利要求1所述的测量治具，其特征在于，该第一支撑杆及第二支撑杆的交错 角度为90°。
6.根据权利要求1所述的测量治具，其特征在于，该固定件包含套环单元及锁固单元， 该套环单元套设于该天线装置上，而该锁固单元将该套环单元固定配置于该天线装置上。
7.根据权利要求1所述的测量治具，其特征在于，该固定件为夹具。
8.根据权利要求1所述的测量治具，其特征在于，该天线装置为发射天线。
9.根据权利要求1所述的测量治具，其特征在于，该第一支撑杆及/或该第二支撑杆具 有能自如伸缩以调整长度的结构。
专利摘要一种测量治具，应用于天线装置上，该测量治具包括第一支撑杆、第二支撑杆、及固定件，第二支撑杆与第一支撑杆彼此交错设置，而该固定件设置于该第一支撑杆的一端，用以将该测量治具固定配置于该天线装置上。由此，本实用新型可供使用者方便、快速地确定出发射天线的相位中点及边缘位置，进而精准地测量出归一化场地衰减值。
文档编号G01B5/02GK201892708SQ20102063949
公开日2011年7月6日 申请日期2010年11月29日 优先权日2010年11月29日
发明者余家英, 刘宏徹, 彭赛, 朱研 申请人:英业达股份有限公司