专利名称：自动芯片测试机测试座的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种芯片测试座，尤其是安装于自动芯片测试机上的自动芯片测试机测试座。
背景技术：
在芯片生产流程中，对芯片的检测是一个重要的步骤，在进行批量的芯片测试时，企业一般使用自动化的芯片测试机对芯片进行大批量的测试，现有的芯片测试时一般采用直线进给，即进料位、测试位设置于一条直线上，所以这样的芯片测试机一般具有一个较大的长度，需要占空较大的空间，对室内空间的要求较高，企业往往需要根据设置较大的车间来放置此类的芯片测试机，而且机器长度很长，不便于操作人员观察和操作。
发明内容本实用新型提供一种占用空间小、便于操作人员观察和操作的自动芯片测试机测试座。为了实现上述目的，本实用新型采用如下技术方案它安装于芯片测试机上，包括一圆形底盘，所述的圆形底板上设有沿圆周排列的测试座，所述的圆形底盘与测试座之间设有绝缘板，测试座上方设有感光灯箱。优选地，所述的测试座包括底部的电路板，在电路板上设有测试座外壳，所述的测试座外壳中设有一个或多个芯片测试位。优选地，所述的每个测试位包括一芯片安装座，芯片安装座内部下方设有测试针，测试针底部设有电路连接板，测试针连接底部电路板。优选地，所述的测试针安装于测试针固定座中。优选地，所述的圆形底盘上方设有感光灯箱，所述的感光灯箱包括一与芯片测试机连接的灯箱固定法兰，灯箱固定法兰底面上设有带有多个LED的电路基板，所述的电路基板的发光面上覆盖一层或多层滤光板，所述的电路基板和滤光板安装于滤光板固定法兰中，所述的滤光板固定法兰下面固定有一上压板，所述的滤光板固定法兰下面固定有一上压板，所述的上压板中设有对应每个测试位的通孔，所述的上压板下部对应每个测试位设有一下压板，每个下压板设有一螺纹孔，螺纹孔中安装一光学成像镜头。优选地，所述的每层滤光板为多段结构。优选地，所述的滤光板固定法兰中设有安装电路基板的安装槽，所述的安装槽中设有安装多段滤光板的滤光槽。优选地，所述的滤光槽为多级结构。优选地，所述的光学成像镜头和下压板为矩阵排列结构。优选地，所述的上压板上设有一进气孔，所述的下压板上设有出气槽。由于采用了上述结构，本实用新型中的自动芯片测试机测试座将测试座以圆周方式排列与圆形底盘上，在进行自动测试的时候，转动底部圆形底盘即可依次对圆周上的各个测试座上的芯片进行测试，实现了连续检测时，进料、出料和检测部分能够同步进行，这样可让测试机减少对进料、出料工序的等待时间；充分节约整个连续测试工作的时间。圆周式排布，还缩小了整体自动芯片测试机的体积，减少了机器占用的空间，更有利于设备的安排和摆放。

图I是本实 用新型实施例的整体结构示意图；图2是本实用新型实施例的测试座结构示意图；图3是本实用新型实施例的感光灯箱爆炸图。
具体实施方式
如图1、2和3所示，本实用新型的自动芯片测试机测试座安装于芯片测试机上，包括一圆形底盘1，所述的圆形底板I上设有沿圆周排列的测试座2，所述的圆形底盘I与测试座2之间设有绝缘板3，所述的测试座上方设有感光灯箱4。其中，所述的测试座2包括底部的电路板21，在电路板21上设有测试座外壳22，所述的测试座外壳22中设有一个或多个芯片测试位23。为了一次同时能进行多个芯片的测试，本实施例中每个测试座外壳22中包括四个芯片测试位23。 上述结构中，所述的每个测试位23包括一芯片安装座24，芯片安装座24内部下方设有双头测试针25，双头测试针25底部设有固定探针的下针模26，探针25连接底部电路板21。上述结构中，双头探针的上部弹性针头与芯片管脚连接，下部弹性针头与底部电路板连接，使芯片管脚与测试板电路实现物理连接，导通电信号；以便实现芯片的电性能测试。本实施例中，所述的上针模27，与下针模26装夹了探针，使测试针能稳定工作，在测试过程中不发生偏移。本实施例中，所述的感光灯箱4包括一灯箱固定法兰401，灯箱固定法兰401底面上设有带有多个LED的电路基板402，由于LED为点光源，为了获得柔和均匀的测试光线，本实施例在所述的电路基板402的发光面上覆盖一层或多层滤光板403，本实施例中包括两层滤光板，所述的电路基板402和滤光板403安装于滤光板固定法兰404中，所述的滤光板固定法兰404下面固定有一上压板405，所述的上压板405中设有对应测试位的光学成像镜头的通孔4051，所述的上压板405下部对应每个4051的位置，分别设有一下压板407，下压板上有螺纹孔4072以及出气口 4071，光学成像镜头406安装于螺纹孔4072中。本实施例中，所述的每层滤光板403为多段结构，为了容纳电路基板402和多段结构的滤光板403，在所述的滤光板固定法兰404中设有安装电路基板的安装槽4041，所述的安装槽4041中设有安装多段滤光板的滤光槽4042。为了实现多层滤光板的安装，所述的滤光槽为多级结构，结合本实施例中的两层滤光板结构，滤光槽4042也相应的为两级结构。本实施例中，所述的光学成像镜头406和下压板407为如图所示的多行多列的矩阵结构。本实施例的芯片测试机的灯箱结构在工作时，载有感光芯片的托盘运行到指定位置，灯箱结构下压对并排放置的感光芯片进行检测，测试完毕后，灯箱结构上升，托盘向前进一步，在进行下压测试，循环上述工作过程，直至测试完毕，但是灯箱结构在上升的过程中，下压板容易带起被测的感光芯片，使其脱离托盘，当感光芯片粘到下压板底部时，当下一次下压，则会将粘连的芯片损坏，所述的上压板405上设有一进气孔4052，所述的下压板407上设有出气槽4071。 以上所述仅为本实用新型的优选实施例，并非因此限制本实用新型的专利范围，凡是利用本实用新型说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本实用新型的专利保护范围内。
权利要求1.一种自动芯片测试机测试座，其特征在于包括一圆形底盘，所述的圆形底板上设有沿圆周排列的测试座，所述的圆形底盘与测试座之间设有绝缘板。
2.如权利要求I所述的自动芯片测试机测试座，其特征在于所述的测试座包括底部的电路板，在电路板上设有测试座外壳，所述的测试座外壳中设有一个或多个芯片测试位。
3.如权利要求2所述的自动芯片测试机测试座，其特征在于所述的每个测试位包括一芯片安装座，芯片安装座内部下方设有测试针，测试针底部设有电路连接板，电路板转接电信号至测试机。
4.如权利要求3所述的自动芯片测试机测试座，其特征在于所述的测试针安装于测试针固定座中。
5.如权利要求I所述的自动芯片测试机测试座，其特征在于所述的圆形底盘上方设有感光灯箱，所述的感光灯箱包括一与芯片测试机连接的灯箱固定法兰，灯箱固定法兰底面上设有带有多个LED的电路基板，所述的电路基板的发光面上覆盖一层或多层滤光板，所述的电路基板和滤光板安装于滤光板固定法兰中，所述的滤光板固定法兰下面固定有一上压板，所述的滤光板固定法兰下面固定有一上压板，所述的上压板中设有对应每个测试位的通孔，所述的上压板下部对应每个测试位设有一下压板，每个下压板设有一螺纹孔，螺纹孔中安装一光学成像镜头。
6.如权利要求5所述的自动芯片测试机测试座，其特征在于所述的每层滤光板为多段结构。
7.如权利要求6所述的自动芯片测试机测试座，其特征在于所述的滤光板固定法兰中设有安装电路基板的安装槽，所述的安装槽中设有安装多段滤光板的滤光槽。
8.如权利要求7所述的自动芯片测试机测试座，其特征在于所述的滤光槽为多级结构。
9.如权利要求8所述的自动芯片测试机测试座，其特征在于所述的光学成像镜头和下压板为矩阵排列结构。
10.如权利要求9所述的自动芯片测试机测试座，其特征在于所述的上压板上设有一进气孔，所述的下压板上设有出气槽。
专利摘要本实用新型涉及一种芯片测试座，尤其是安装于自动芯片测试机上的自动芯片测试机测试座。包括一圆形底盘，所述的圆形底板上设有沿圆周排列的测试座，所述的圆形底盘与测试座之间设有绝缘板。本实用新型中的自动芯片测试机测试座将测试座以圆周方式排列与圆形底盘上，在进行自动测试的时候，转动底部圆形底盘即可依次对圆周上的各个测试座上的芯片进行测试，实现了连续检测时，进料、出料和检测部分能够同步进行，这样可让测试机减少对进料、出料工序的等待时间；充分节约整个连续测试工作的时间。圆周式排布，还缩小了整体自动芯片测试机的体积，减少了机器占用的空间，更有利于设备的安排和摆放。
文档编号G01R1/04GK202748383SQ20112049727
公开日2013年2月20日 申请日期2011年12月2日 优先权日2011年12月2日
发明者金英杰 申请人:金英杰