专利名称：电容式触摸屏测试装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种触摸屏测试装置，特别是涉及一种电容式触摸屏测试装置。
背景技术：
电容式触摸屏(CTP)是近几年才开发出来的创新技术，随着某些顶级品牌的热卖而受到吹捧。因为以往的触摸屏太多采用的是传统电阻式触摸屏技术，以硬物如笔尖等按触，通过改变触摸屏导电特性来确定触摸方位，只能支持单点识别而且随着笔尖等硬物的多次用力触摸，耐久性较差的电阻式触摸屏常常会磨损甚至失灵。而顶级手机品牌已率先采用了支持多点触摸技术的电容式触摸屏。这种屏不仅解决了传统电阻式屏容易破碎缺乏对灰尘，湿气和静电有效防护的弱点。用户通过手指就可以获得非常好的手机使用体验。比如放大缩小图片，更加轻松地进行界面的拖曳等等。然而，目前的测试夹具多用于电阻式触摸屏，还没有能方便、精确地针对电容式触摸屏进行诸如打点精度、划线精度等项目测试的装置。为此，需要开发出一种能满足电容式触摸屏的各项技术要求的电容式触摸屏测试装置。

实用新型内容本实用新型要解决的技术问题是为了克服现有技术的触摸屏测试工装仅能满足电阻式触摸屏的测试，而无法满足电容式触摸屏的测试技术要求所需的缺陷，提供一种电容式触摸屏测试装置。本实用新型是通过下述技术方案来解决上述技术问题的一种电容式触摸屏测试装置，其包括一第一基板，一第二基板及多根设于所述第一基板与所述第二基板之间用于形成一操作空间的支柱，其特点在于，所述电容式触摸屏测试装置还包括一第一滑板，所述第一滑板活动设于所述第二基板的上方，用于放置所述电容式触摸屏，并能使所述电容式触摸屏相对所述第二基板沿纵向线性移动；至少一用于对所述电容式触摸屏进行定点固定高度的触摸测试的第一测试组件，所述至少一第一测试组件穿设所述第一基板位于所述操作空间内。较佳地，所述第一测试组件包括若干第一测试棒，所述若干第一测试棒分别穿过所述第一基板并悬设于所述第一滑板的上方；若干通孔，所述若干通孔位于所述第一基板的对应所述第一滑板的区域内，所述若干第一测试棒通过所述若干通孔分别与所述第一基板穿设。较佳地，各所述第一测试棒的上部均形成有一第一圆台，所述第一圆台的直径大于所述通孔的直径。较佳地，至少一所述第一测试棒的下部还形成有一第二圆台，所述第二圆台的直径小于所述第一圆台的直径。较佳地，所述第一测试棒为一铜棒。[0013]较佳地，所述电容式触摸屏测试装置还包括一用于对所述电容式触摸屏进行定点调节高度的触摸测试的第二测试组件，所述第二测试组件与所述第一基板活动穿套。较佳地，所述第二测试组件包括一活动置于所述第一基板上的压板；若干用于将所述压板架设于所述第一基板上方的导柱；若干分别穿套在各所述导柱上的弹力件；及一第二测试棒，所述第二测试棒依次与所述压板、所述第一基板活动穿套，所述第二测试棒的底部悬置于所述第一滑板的上方。较佳地，所述第二测试棒的顶部设有一螺杆部，所述第二测试棒通过一螺母与所述压板固定。较佳地，所述第二测试组件还包括一与所述第一基板相嵌设的套筒，所述第二测试棒通过所述套筒与所述第一基板活动穿套。较佳地，所述第二测试棒的底部位于所述第一滑板的中央区域的上方。较佳地，所述第二测试棒为一铜棒。较佳地，所述弹力件为一压缩弹簧。较佳地，所述第二测试组件还包括一用于放置所述电容式触摸屏的第二滑板，所述第二滑板与所述第一滑板转动连接。较佳地，所述第二测试组件还包括一轴承件，所述轴承件嵌设于所述第一滑板内；—短轴，所述短轴的一端与所述压板固接，所述短轴的另一端置于所述轴承件的轴承孔内。较佳地，所述轴承件为一圆柱体轴承。较佳地，所述第二滑板为一黑色防静电电木板。较佳地，所述压板与所述第一滑板均为一黑色防静电电木板。较佳地，所述电容式触摸屏测试装置还包括两滑轨，所述两滑轨分别沿纵向固设于所述第二基板的上方；两滑块，所述两滑块分别固接在所述第一滑板的底部，所述滑块与所述滑轨相适配。较佳地，所述第一基板与所述第二基板均为一黑色防静电电木板。本实用新型中，上述附加技术特征或优选条件在符合本领域常识的基础上可任意组合，即得本实用新型各较佳实施例。本实用新型的积极进步效果在于1、本实用新型通过第一测试组件，当电容式触摸屏放置在第一滑板上时，可以通过第一测试棒模拟人手指按压各测试点，结构简单，操作方便，能满足电容式触摸屏定点固定高度的打点精度测试系列的测试要求，使电容式触摸屏的质量得到了保证。2、本实用新型通过第二测试组件，使得在进行划线精度测试时，可将第二测试棒向上提起，并距离电容式触摸屏一定高度，实现电容式触摸屏定点可调高度下的打点精度测试。而在进行划线精度的测试时，采用可调高度的第二测试棒，可以使得测试移动更加平滑，提高了划线测试时的精度。[0039]3、本实用新型通过在第二测试组件中增设可以转动的第二滑板，使得本装置可进行包括任意角度位置下全面模拟测试，提高了测试的精度及范围。4、此外，本实用新型的第一测试棒，第二测试棒均采用铜棒加工而成，由于铜棒更加接近人手指的电阻特性，因此进行触摸测试时，能更加真实地模拟人手指的触摸操作反应，使得模拟效果更逼真。

图1为本实用新型一较佳实施例的电容触摸屏测试装置结构图。图2为图1中未插入第一测试棒时的装置俯视图。
具体实施方式
以下结合附图给出本实用新型较佳实施例，以详细说明本实用新型的技术方案。实施例1如图1、图2所示，本实用新型提供的电容式触摸屏测试装置包括一第一基板1，一第二基板2，一第一滑板5，及一组或多组用于对电容式触摸屏进行定点固定高度的触摸测试的第一测试组件3。其中，第一滑板5活动设于第二基板2的上方，用于放置电容式触摸屏，并能使电容式触摸屏相对第二基板2沿纵向作线性移动。第一测试组件3设在第一基板1与第一滑板5之间。在第一基板1与第二基板2之间架设多根支柱7，用于在第一基板 1与第二基板2间形成一操作空间。参见图1所示，第一测试组件3可以由数根第一测试棒31组成，在第一基板1的对应第一滑板5的两侧区域内，设有数排通孔32。通过这些通孔32，数根第一测试棒31可以分别穿设在第一基板1上，并且数根第一测试棒31的底部悬设在第一滑板5的上方。进一步地，在每根第一测试棒31的上部均形成有一个第一圆台311，第一圆台311 的直径大于通孔32的直径。这样，通过第一圆台311，第一测试棒31的上部就可以稳定地固接在第一基板1上。而根据第一圆台311的位置高度选取的不同，可以用来选择不同定点固定高度下的第一测试棒与放在第一滑板上的电容式触摸屏之间的接触距离与触压力度。再请参见图1所示，在有些第一测试棒31的下部还可以形成一第二圆台312，第二圆台312的直径略小于第一圆台311的直径。这样，可以进行不同大小的定点的点触模拟。此外，为了对电容式触摸屏进行定点可调节高度的触摸测试，本实用新型的电容式触摸屏测试装置还可以设置一组活动穿套在第一基板1上的第二测试组件4。如图1、图2所示，第二测试组件4可以由一压板42及第二测试棒41组成。第二测试棒41穿设第一基板1并能沿纵向上下移动。根据需要的各种定点高度，可以通过一螺母45将第二测试棒41的顶部411固定在压板42的上端面上，使第二测试棒41的底部412 悬置在第一滑板5的上方。为了与螺母45螺接，在第二测试棒41的顶部411形成有一截相应的螺杆。压板42通过数根导柱43，比如四根不锈钢的导柱活动置设于第一基板1的上方。 每根导柱43上分别穿套一弹力件44，比如压缩弹簧。进一步地，第二测试组件4还包括一个与第一基板1嵌设的套筒46。通过该套筒 46，第二测试棒41能相对第一基板1作上下活动穿梭。[0053]为了测试操作方便，在设置第二测试棒41的位置时，可以使其底部412正对第一滑板5的中央区域。本实用新型的第一测试棒，第二测试棒均可以采用不同尺寸的铜棒加工制得。之所以采用铜棒，是因为铜棒更接近人手指的电阻特性，测试时，能更加真实地模拟人手指的操作反应。此外，本实用新型的支柱可以采用不锈钢材料，这样不仅美观而且稳固耐用。而上、第二基板、第一滑板及压板则可以采用黑色防静电电木板，这样可以在测试中避免静电干扰，精确地进行电容式触摸屏的报点速度和精度的测试。如图1所示，电容式触摸屏测试装置还包括两个滑轨6和与两滑轨6相适配的两个滑块(图中未示出)。两个滑轨6分别沿纵向固设在第二基板2的上方。两滑块分别固接在第一滑板5底部的两侧，其作用是用来使第一滑板5安装在第二基板2上时能相对第二基板2纵向线性滑移。本实用新型通过以上组成部分，再配合现有技术中已有的电容式触摸屏的打点精度和划线精度等系列的测试软件，即可以完成电容式触摸屏的报点速度测试、打点精度测试、划线精度测试等系列的技术要求。其中，该电容式触摸屏的开发的用于打点精度和划线精度等项目的测试软件部分为现有技术，在此不作赘述。在测试过程中，首先根据电容式触摸屏的尺寸大小挑选合适的第一测试棒，将第一测试棒插入第一基板上的不同位置的通孔中，将第二测试棒调节到合适的高度后与第一基板固定即可进行定点固定高度和定点可调高度下的触摸测试。再通过第一滑板的前后移动，结合可调高度的第二组件，可以完成划线精度等的CTP测试要求。实施例2本实施例与实施例1的不同之处在于本实施例的第二测试组件还包括一块用于放置电容式触摸屏的第二滑板。安装时，第二滑板通过一轴承件及一短轴活动设置在第一滑板的上方，并能绕轴承件相对第一滑板任意角度旋转。进一步地，轴承件可以是嵌设在第一滑板内的一圆柱体轴承。短轴的一端与压板固接，另一端置于轴承件的轴承孔内，短轴的轴径与轴承件的轴承孔径相适应。另外，本实施例中的第二滑板也可以采用黑色防静电电木板制作，原因同上。本实施例的其它部分与实施例1基本相同。本实施例通过上述的第二滑板结构，可以使CTP在360度的任意角度内进行任意位置的打点精度和划线精度测试，使得CTP测试精度更高，测试范围更广。当然，除上述实施例之外，本实用新型还可以根据实际测试要求，设计不同的电容式触摸屏工装夹具，也包括设置的通孔的个数及在第一基板上布排的方式等等，都可以根据实际测试要求进行调整。此外，第一基板、第二基板、第一滑板、第二滑板及压板的材料， 除了采用黑色防静电电木板之外，也可以采用其它更好的类似能防静电的材料。虽然以上描述了本实用新型的具体实施方式
，但是本领域的技术人员应当理解， 这些仅是举例说明，本实用新型的保护范围是由所附权利要求书限定的。本领域的技术人员在不背离本实用新型的原理和实质的前提下，可以对这些实施方式做出多种变更或修改，但这些变更和修改均落入本实用新型的保护范围。
权利要求1.一种电容式触摸屏测试装置，其包括一第一基板，一第二基板及多根设于所述第一基板与所述第二基板之间用于形成一操作空间的支柱，其特征在于，所述电容式触摸屏测试装置还包括一第一滑板，所述第一滑板活动设于所述第二基板的上方，用于放置所述电容式触摸屏，并能使所述电容式触摸屏相对所述第二基板沿纵向线性移动；至少一用于对所述电容式触摸屏进行定点固定高度的触摸测试的第一测试组件，所述至少一第一测试组件穿设所述第一基板位于所述操作空间内。
2.如权利要求1所述的电容式触摸屏测试装置，其特征在于，所述第一测试组件包括 若干第一测试棒，所述若干第一测试棒分别穿过所述第一基板并悬设于所述第一滑板的上方；若干通孔，所述若干通孔位于所述第一基板的对应所述第一滑板的区域内，所述若干第一测试棒通过所述若干通孔分别与所述第一基板穿设。
3.如权利要求2所述的电容式触摸屏测试装置，其特征在于，各所述第一测试棒的上部均形成有一第一圆台，所述第一圆台的直径大于所述通孔的直径。
4.如权利要求3所述的电容式触摸屏测试装置，其特征在于，至少一所述第一测试棒的下部还形成有一第二圆台，所述第二圆台的直径小于所述第一圆台的直径。
5.如权利要求2所述的电容式触摸屏测试装置，其特征在于，所述第一测试棒为一铜棒。
6.如权利要求1或2所述的电容式触摸屏测试装置，其特征在于，所述电容式触摸屏测试装置还包括一用于对所述电容式触摸屏进行定点调节高度的触摸测试的第二测试组件， 所述第二测试组件与所述第一基板活动穿套。
7.如权利要求6所述的电容式触摸屏测试装置，其特征在于，所述第二测试组件包括 一活动置于所述第一基板上的压板；若干用于将所述压板架设于所述第一基板上方的导柱； 若干分别穿套在各所述导柱上的弹力件；及一第二测试棒，所述第二测试棒依次与所述压板、所述第一基板活动穿套，所述第二测试棒的底部悬置于所述第一滑板的上方。
8.如权利要求7所述的电容式触摸屏测试装置，其特征在于，所述第二测试棒的顶部设有一螺杆部，所述第二测试棒通过一螺母与所述压板固定。
9.如权利要求7所述的电容式触摸屏测试装置，其特征在于，所述第二测试组件还包括一与所述第一基板相嵌设的套筒，所述第二测试棒通过所述套筒与所述第一基板活动穿套。
10.如权利要求7所述的电容式触摸屏测试装置，其特征在于，所述第二测试棒的底部位于所述第一滑板的中央区域的上方。
11.如权利要求7所述的电容式触摸屏测试装置，其特征在于，所述第二测试棒为一铜棒。
12.如权利要求7所述的电容式触摸屏测试装置，其特征在于，所述弹力件为一压缩弹ο
13.如权利要求7所述的电容式触摸屏测试装置，其特征在于，所述第二测试组件还包括一用于放置所述电容式触摸屏的第二滑板，所述第二滑板与所述第一滑板转动连接。
14.如权利要求13所述的电容式触摸屏测试装置，其特征在于，所述第二测试组件还包括一轴承件，所述轴承件嵌设于所述第一滑板内；一短轴，所述短轴的一端与所述压板固接，所述短轴的另一端置于所述轴承件的轴承孔内。
15.如权利要求14所述的电容式触摸屏测试装置，其特征在于，所述轴承件为一圆柱体轴承。
16.如权利要求13所述的电容式触摸屏测试装置，其特征在于，所述第二滑板为一黑色防静电电木板。
17.如权利要求7所述的电容式触摸屏测试装置，其特征在于，所述压板与所述第一滑板均为一黑色防静电电木板。
18.如权利要求1所述的电容式触摸屏测试装置，其特征在于，所述电容式触摸屏测试装置还包括两滑轨，所述两滑轨分别沿纵向固设于所述第二基板的上方；两滑块，所述两滑块分别固接在所述第一滑板的底部，所述滑块与所述滑轨相适配。
19.如权利要求1所述的电容式触摸屏测试装置，其特征在于，所述第一基板与所述第二基板均为一黑色防静电电木板。
专利摘要本实用新型公开了一种电容式触摸屏测试装置，其包括一第一基板，一第二基板及多根设于所述第一基板与所述第二基板之间用于形成一操作空间的支柱，一第一滑板，所述第一滑板活动设于所述第二基板的上方，用于放置所述电容式触摸屏，并能使所述电容式触摸屏相对所述第二基板沿纵向线性移动；至少一第一测试组件，所述至少一第一测试组件穿设所述第一基板位于所述操作空间内，用于对所述电容式触摸屏进行定点固定高度的触摸测试。采用本实用新型，可以在同一测试装置中满足打点精度和划线精度的测试要求，准确高效地测试出电容触摸屏的各项技术指标。
文档编号G01R31/00GK202093112SQ20112021145
公开日2011年12月28日 申请日期2011年6月21日 优先权日2011年6月21日
发明者戎裕平, 陈爱平 申请人:上海晨兴希姆通电子科技有限公司