专利名称：铌酸锂光学调制器半波电压测试仪的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及集成光学器件的性能测试领域，具体指的是一种具有无需断电的 软启动功能的铌酸锂光学调制器半波电压测试仪。
背景技术：
铌酸锂光学调制器又称铌酸锂集成光波导，是利用电光晶体的Pockels效应，通 过外加电场改变波导的折射率来实现相位调制。半波电压表征调制器的相位调制能力，是 铌酸锂光学调制器最重要的性能指标之一，所以大多数公司为此制作了不同形式的测试仪 器。但是在整个测试过程中，不同形式的测试仪器都必须要用到一个共同的器件SLD光源。 在通常情况下，半波电压测试仪在一次上电后只能测试一支铌酸锂光学调制器，如果要测 试第另一支铌酸锂光学调制器则需要断电后重新上电使其再次稳定闭环后才能得到测试 结果，并且在这个过程中SLD光源作为一个精密部件多次点亮关闭后会出现一定的衰退， 而在测试多个铌酸锂光学调制器时可能需要连续多次开关电，这将大大折损整个测试系统 的寿命。
发明内容本实用新型的目的是根据上述现有技术的不足之处，提供一种铌酸锂光学调制器 半波电压测试仪，增设一外置软启动按钮，能快速让铌酸锂光学调制器的半波电压测试仪 实现多次测量而无需断电的软启动方式，提高工作效率的同时还能大大提高仪器的使用寿 命。本实用新型的实现由以下技术方案完成一种铌酸锂光学调制器半波电压测试仪，包括一 SLD光源，SLD光源把光信号通过 一耦合器送到被测铌酸锂光学调制器，耦合器同时把由铌酸锂光学调制器回来的光引向光 探测器，再经过前级放大滤波电路、A/D转换芯片，由FPGA芯片将信号进行解调，最后经过 A/D转换芯片、后放电路接入铌酸锂光学调制器输入端，构成闭环回路，该测试仪还包括一 外接的软启动按钮，所述软启动按钮连接FPGA芯片，对FPGA内核进行选通。上述软启动按钮为高、低电平选择开关，软启动开关打为低电平时，FPGA芯片内核 中整个程序进入重起顺序，所有软件模块的变量赋初值，并关闭整个闭环回路，可更换被测 铌酸锂光学调制器，软启动开关打为高电平时，FPGA内核将被选通，经过10ms的延时程序， 再驱动整个测试仪系统再次进入闭环工作状态。本实用新型的优点是，在不影响整个系统集成度的情况下，在外部接一个简洁的 选通按钮，通过手动选择软启动方式控制FPGA内核的复位与否，让铌酸锂光学调制器半波 电压测试仪能实现多次测量而无需物理断电，提高工作效率、延长仪器使用寿命。

图1是现有技术铌酸锂光学调制器半波电压测试仪原理图；[0009]图2是本实用新型铌酸锂光学调制器半波电压测试仪原理图。
具体实施方式

以下结合附图与具体实施方式
对本实用新型作进一步详细描述当铌酸锂光学调制器半波电压测试仪多次测量时，为避免仪器内部的光源在多次 物理上电中的冲击退化，本实用新型设计的铌酸锂光学调制器半波电压测试仪具有的软启 动功能，是一种基于FPGA核心的指令控制模式，实现程序控制内核复位代替硬件上电重启 的功能。当外部一组铌酸锂光学调制器的半波电压测试完毕后，通过外接的一个按钮对 内部FPGA内核进行选通，当按钮打为低电平时，整个程序进入重起顺序，把所有的软件模 块中的变量赋初值并在此时关闭整个闭环回路，此时更换被测波导，在铌酸锂光学调制器 的两个接线腿上将无电平输出，可以安全操作，当按钮打为高电平时，FPGA内核将被选通， FPGA开始工作新一轮的闭环测试工作。如图1、图2所示，本实施例中整个测试系统由光路和电路两部分组成，光路运用 光纤环形干涉仪的原理，首先由光源(1)通过2*2耦合器(2)把光送到被测的铌酸锂光学 调制器(3)，同时把由铌酸锂光学调制器(3)回来的光引向光探测器(5)。铌酸锂光学调制 器(3)的输出分支连接到光纤环中(4)，此时在铌酸锂光学调制器的两个输入端上加上一 个由后放电路(12)放大调制信号，探测器(5)输出的信号，通过前级放大同时对信号进行 滤波(6)，A/D(7)转换芯片高速地将模拟信号转换为数字量，FPGA(8)为整个数字系统的核 心，当FPGA(8)得到由A/D(7)转换芯片输出的数字量后把信号进行解调，整个系统进行闭 环工作完成一次铌酸锂光学调制器的半波电压测试，按下软启动开关(9)打为低电平，整 个程序进入重起顺序，把所有的软件模块中的变量赋初值并在此时关闭整个闭环回路，此 时就可以更换被测波导，当再次按下软启动开关(9)打为高电平后经过10ms的延时程序就 又把所有的寄存器放开，重新给出调制波形驱动整个系统再次进入闭环。
权利要求一种铌酸锂光学调制器半波电压测试仪，包括一SLD光源，SLD光源把光信号通过一耦合器送到被测铌酸锂光学调制器，铌酸锂光学调制器的输出分支连接到光纤环形干涉仪中，耦合器同时把由铌酸锂光学调制器回来的光引向光探测器，把光信号变成电信号，再经过前级放大滤波电路、A/D转换芯片，由FPGA芯片将信号进行解调，最后经过主D/A转换芯片、后放电路放大后形成调制信号接入铌酸锂光学调制器输入端，构成闭环回路，其特征在于还包括一外接的软启动按钮，所述软启动按钮连接所述FPGA芯片，对FPGA内核进行选通。
2.如权利要求1所述的一种铌酸锂光学调制器半波电压测试仪，其特征在于所述软启 动按钮为高、低电平选择开关，软启动开关打为低电平时，FPGA芯片内核中整个程序进入 重起顺序，所有软件模块的变量赋初值，并关闭整个闭环回路，可更换被测铌酸锂光学调制 器，软启动开关打为高电平时，FPGA内核将被选通，驱动整个测试仪系统再次进入闭环工作 状态。
3.如权利要求1所述的一种铌酸锂光学调制器半波电压测试仪，其特征在于所述软启 动开关打为高电平，系统再次进入闭环工作状态前，经过10ms的延时程序。
专利摘要本实用新型涉及集成光学器件的性能测试领域，具体指的是一种具有无需断电的软启动功能的铌酸锂光学调制器半波电压测试仪。该测试仪包括一外接的软启动按钮，所述软启动按钮连接FPGA芯片，对FPGA内核进行选通。软启动按钮为高、低电平选择开关，软启动开关打为低电平时，FPGA芯片内核中整个程序进入重起顺序，所有软件模块的变量赋初值，并关闭整个闭环回路，可更换被测铌酸锂光学调制器，软启动开关打为高电平时，FPGA内核将被选通。本实用新型的优点是，通过手动选择软启动方式控制FPGA内核的复位与否，让铌酸锂光学调制器半波电压测试仪能实现多次测量而无需物理断电，提高工作效率、延长仪器使用寿命。
文档编号G01R19/25GK201583588SQ20092021494
公开日2010年9月15日 申请日期2009年12月31日 优先权日2009年12月31日
发明者吴海林, 王浩, 虞翔 申请人:上海亨通光电科技有限公司