专利名称：一种电容式触摸屏的测试方法、系统及电子设备的制作方法
技术领域：
本发明属于触摸屏测试技术领域，尤其涉及一种电容式触摸屏的测试方法、系统及电子设备。
背景技术：
电容式触摸屏是ー种利用人体的电流感应进行工作的触摸屏，其广泛应用在各种移动终端、特别是智能手机中。由于エ厂生产触摸屏是存在良率问题和エ艺偏差，还有ー些触摸屏会因为后期因素造成损坏，例如触摸屏划伤、柔性电路板损伤，因此作为质量控制的必要环节，对于采用电容式触摸屏的电子设备，在其生产过程中除了需要对装配前的各个模块和部件进行测试夕卜，还需要对装配后的整机进行测试，该整机是指至少装配有电容式触摸屏和触摸屏驱动芯片，能够运行基本程序的电子设备。现有技术提供的电容式触摸屏的测试方法是通过测试员对整机的操作体验来完成的，该种测试方法耗时长，测试覆盖面有限，可能会忽略对一些电容节点的测试，且测试结果主要依赖于测试员的主观感受，测试结果可靠性较差。在本背景技木本部分所公开的上述信息仅仅用于增加对本发明背景技术的理解，因此其可能包括不构成对该国的本领域普通技术人员已知的现有技木。

发明内容
本发明的目的在于提供一种电容式触摸屏的测试方法，g在解决现有的通过测试员对整机的操作体验实现对电容式触摸屏测试的方法耗时长、测试覆盖面有限、且测试结果可靠性较差的问题。本发明是这样实现的，一种电容式触摸屏的测试方法，所述方法包括以下步骤获取电容式触摸屏上各节点电容分别对应的采样信号；将所述采样信号转换成可处理的触摸数据后，根据预存的标准值对所述触摸数据进行分析，输出分析結果。本发明的另一目的在于提供一种电容式触摸屏的测试系统，所述系统包括存储模块，用于预存标准值；获取模块，用于获取电容式触摸屏上各节点电容分别对应的采样信号；以及分析模块，用于将所述获取模块获取的所述采样信号转换成可处理的触摸数据后，根据所述存储模块预存的所述标准值对所述触摸数据进行分析，输出分析結果。本发明的另一目的在于提供ー种电子设备，包括电容式触摸屏，所述电子设备还包括一上所述的电容式触摸屏的测试系统。本发明提供的电容式触摸屏的测试方法及系统预存有电容节点采样数据的标准值，在测试过程中，自动获取各电容节点的采样信号，并根据标准值和采样信号对各电容节点的性能进行分析，输出分析结果，实现了对电容式触摸屏的自动测试功能，避免了测试员的操作体验式测试方式，缩短了测试时间、提高了测试结果的可靠性。另外，当该电容式触摸屏的测试系统内置于带有显示屏的整机测试时，显示屏可用于显示分析模块输出的分析结果，从而利用整机充当专业的测试治具，在不依赖于外接设备的情况下，独立完成电容式触摸屏的性能测试。


图1是本发明提供的电容式触摸屏的测试方法的流程图；图2是本发明提供的电容式触摸屏的测试系统的结构图；图3是图2中分析模块的结构图。
具体实施例方式为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。针对现有电容式触摸屏的测试方法存在的问题，本发明提供的电容式触摸屏的测试方法预存有电容节点采样数据的标准值，在测试过程中，自动获取各电容节点的采样信号，并根据标准值和采样信号对各电容节点的性能进行分析。图1示出了本发明提供的电容式触摸屏的测试方法的流程。在步骤Sll中，获取电容式触摸屏上各节点电容分别对应的采样信号。其中的采样信号可以是电容式触摸屏上的电容节点在受到外部触发后发出的相应电脉冲信号，和/或从电容式触摸屏的触摸屏驱动芯片中直接获取的、表征被触发电容节点所在位置的原始触摸位置数据，和/或从电容式触摸屏的触摸屏的驱动芯片中直接获取的、表征所有电容节点的所有原始数据。在步骤S12中，将采样信号转换成可处理的触摸数据后，根据预存的标准值对触摸数据进行分析，输出分析结果。本发明中，当采样信号是电脉冲信号时，将采样信号转换成可处理的触摸数据的数据具体为将电脉冲信号进行模/数转换处理，得到触摸数据；而当采样信号是从触摸屏驱动芯片中直接获取的原始触摸位置数据时，由于原始触摸数据在触摸屏驱动芯片中是以一定的数据存储格式存储的，因此需要将该种数据存储格式存储的原始触摸数据进行组合、裁剪和/或丢弃等处理，以转换成可处理的数据格式，例如，若原始触摸位置数据在触摸屏驱动芯片中的原始触摸位置数据是短整型，且在触摸屏驱动芯片中的低地址空间存放原始触摸位置数据的高字节数据、在触摸屏驱动芯片中的高地址空间存放原始触摸位置数据的低字节数据，则将采样信号转换成可处理的触摸数据的步骤即为将原始触摸位置数据进行组合处理，将低地址的原始触摸位置数据左移8位后，再加上高地址的原始触摸位置数据。作为本发明的一个实施例，根据预存的标准值对触摸数据进行分析即是根据预存的标准值对触摸数据进行最大值测试分析，此时，预存的标准值包括一最大值，则根据预存的标准值对触摸数据进行分析，输出分析结果的步骤具体为判断触摸数据是否超过最大值，并将超过最大值的触摸数据对应的节点电容的位置坐标作为分析结果输出。
作为本发明的另一个实施例，根据预存的标准值对触摸数据进行分析即是根据预存的标准值对触摸数据进行最小值测试分析，此时，预存的标准值包括一最小值，则根据预存的标准值对触摸数据进行分析，输出分析结果的步骤具体为判断触摸数据是否达到最小值，并将未达到最小值的触摸数据对应的节点电容的位置坐标作为分析结果输出，当然， 在输出节点电容的位置坐标的同时，也可以将对应的触摸数据一同输出。
作为本发明的再一个实施例，根据预存的标准值对触摸数据进行分析即是根据预存的标准值对触摸数据进行相邻偏差测试分析，此时，预存的标准值包括一相邻偏差标准值，则根据预存的标准值对触摸数据进行分析，输出分析结果的步骤具体包括以下步骤计算当前节点电容的触摸数据与各个相邻节点电容的触摸数据之间差值的绝对值，并将每一差值的绝对值除以当前节点电容的触摸数据，得到与相邻节点电容数目相当的相邻偏差值；判断各个相邻偏差值是否超过相邻偏差标准值，并将超过相邻偏差标准值的相邻偏差值对应的当前节点电容的位置坐标作为分析结果输出，当然，在输出当前节点电容的位置坐标的同时，也可以将对应的触摸数据、相邻偏差值一同输出。
作为本发明的再一个实施例，根据预存的标准值对触摸数据进行分析即是根据预存的标准值对触摸数据进行整屏偏差测试分析，此时，预存的标准值包括一整屏偏差标准值，则根据预存的标准值对触摸数据进行分析，输出分析结果的步骤具体包括以下步骤计算全部节点电容的触摸数据的平均值，并将当前节点电容的触摸数据减去该平均值后，将得到的数据的绝对值除以当前节点电容的触摸数据，得到当前节点电容对应的整屏偏差值；判断各个整屏偏差值是否超过整屏偏差标准值，并将超过整屏偏差标准值的整屏偏差值对应的当前节点电容的位置坐标作为分析结果输出，当然，在输出当前节点电容的位置坐标的同时，也可以将对应的触摸数据、整屏偏差值一同输出。
而在实际应用过程中，根据预存的标准值对触摸数据进行分析的步骤也可同时包括上述对触摸数据进行最大值测试分析、对触摸数据进行最小值测试分析、对触摸数据进行相邻偏差测试分析、对触摸数据进行整屏偏差测试分析中的两种或多种分析的组合。下面举例说明每一种分析的具体过程
假设电容式触摸屏上一部分待测试区域的节点电容的触摸数据分布如下表一所示
表一
权利要求
1.一种电容式触摸屏的测试方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤获取电容式触摸屏上各节点电容分别对应的采样信号；将所述采样信号转换成可处理的触摸数据后，根据预存的标准值对所述触摸数据进行分析，输出分析结果。
2.如权利要求1所述的电容式触摸屏的测试方法，其特征在于，所述采样信号是所述电容式触摸屏上的所述电容节点在受到外部触发后发出的相应电脉冲信号，和/或从所述电容式触摸屏的触摸屏驱动芯片中直接获取的、表征被触发电容节点所在位置的原始触摸位置数据，和/或从所述电容式触摸屏的触摸屏的驱动芯片中直接获取的、表征所有电容节点的所有原始数据。
3.如权利要求1所述的电容式触摸屏的测试方法，其特征在于，所述标准值包括一最大值，所述根据预存的标准值对所述触摸数据进行分析，输出分析结果的步骤具体为判断所述触摸数据是否超过所述最大值，并将超过所述最大值的触摸数据对应的节点电容的位置坐标作为所述分析结果输出。
4.如权利要求1所述的电容式触摸屏的测试方法，其特征在于，所述标准值包括一最小值，所述根据预存的标准值对所述触摸数据进行分析，输出分析结果的步骤具体为判断所述触摸数据是否达到所述最小值，并将未达到所述最小值的触摸数据对应的节点电容的位置坐标作为所述分析结果输出。
5.如权利要求1所述的电容式触摸屏的测试方法，其特征在于，所述标准值包括一相邻偏差标准值，所述根据预存的标准值对所述触摸数据进行分析，输出分析结果的步骤包括以下步骤计算当前节点电容的触摸数据与各个相邻节点电容的触摸数据之间差值的绝对值，并将每一差值的绝对值除以所述当前节点电容的触摸数据，得到与所述相邻节点电容的数目相当的相邻偏差值；判断各个相邻偏差值是否超过所述相邻偏差标准值，并将超过所述相邻偏差标准值的相邻偏差值对应的当前节点电容的位置坐标作为所述分析结果输出。
6.如权利要求1所述的电容式触摸屏的测试方法，其特征在于，所述标准值包括一整屏偏差标准值，所述根据预存的标准值对所述触摸数据进行分析，输出分析结果的步骤包括以下步骤计算全部节点电容的触摸数据的平均值，并将当前节点电容的触摸数据减去所述平均值后，将得到的数据的绝对值除以所述当前节点电容的触摸数据，得到所述当前节点电容对应的整屏偏差值；判断各个整屏偏差值是否超过所述整屏偏差标准值，并将超过所述整屏偏差标准值的整屏偏差值对应的当前节点电容的位置坐标作为所述分析结果输出。
7.一种电容式触摸屏的测试系统，其特征在于，所述系统包括存储模块，用于预存标准值；获取模块，用于获取电容式触摸屏上各节点电容分别对应的采样信号；以及分析模块，用于将所述获取模块获取的所述采样信号转换成可处理的触摸数据后，根据所述存储模块预存的所述标准值对所述触摸数据进行分析，输出分析结果。
8.如权利要求7所述的电容式触摸屏的测试系统，其特征在于，所述存储模块预存的所述标准值包括最大值、最小值、相邻偏差标准值、整屏偏差标准值，所述分析模块包括预处理模块，用于将所述获取模块获取的所述采样信号转换成可处理的触摸数据； 最大值分析模块，用于判断所述预处理模块转换得到的所述触摸数据是否超过所述最大值，并将超过所述最大值的触摸数据对应的节点电容的位置坐标作为所述分析结果输出； 最小值分析模块，用于判断所述预处理模块转换得到的所述触摸数据是否达到所述最小值，并将未达到所述最小值的触摸数据对应的节点电容的位置坐标作为所述分析结果输出； 相邻偏差分析模块，用于计算所述预处理模块转换得到的、当前节点电容的触摸数据与各个相邻节点电容的触摸数据之间差值的绝对值，并将每一差值的绝对值除以当前节点电容的触摸数据，得到与相邻节点电容数目相当的相邻偏差值，之后判断各个相邻偏差值是否超过所述相邻偏差标准值，并将超过所述相邻偏差标准值的相邻偏差值对应的当前节点电容的位置坐标作为所述分析结果输出；以及 整屏偏差分析模块，用于计算所述预处理模块转换得到的、全部节点电容的触摸数据的平均值，并将当前节点电容的触摸数据减去所述平均值后，将得到的数据的绝对值除以当前节点电容的触摸数据，得到当前节点电容对应的整屏偏差值，之后判断各个整屏偏差值是否超过所述整屏偏差标准值，并将超过所述整屏偏差标准值的整屏偏差值对应的当前节点电容的位置坐标作为所述分析结果输出。
9.一种电子设备，包括电容式触摸屏，其特征在于，所述电子设备还包括一如权利要求7或8任一项所述的电容式触摸屏的测试系统。
10.如权利要求9所述的电子设备，其特征在于，所述电子设备是电容式触控设备，所述电子设备还包括 所述电容式触摸屏的触摸屏驱动芯片；以及 显示屏，用于显示所述分析模块输出的所述分析结果。
全文摘要
本发明属于触摸屏测试技术领域，提供了一种电容式触摸屏的测试方法、系统及电子设备。其中的方法包括获取电容式触摸屏上各节点电容分别对应的采样信号；将采样信号转换成可处理的触摸数据后，根据预存的标准值对触摸数据进行分析，输出分析结果。本发明提供的方法及系统实现了对电容式触摸屏的自动测试功能，避免了测试员的操作体验式测试方式，缩短了测试时间、提高了测试结果的可靠性。另外，当该电容式触摸屏的测试系统内置于带有显示屏的整机测试时，显示屏可用于显示分析模块输出的分析结果，从而利用整机充当专业的测试治具，在不依赖于外接设备的情况下，独立完成电容式触摸屏的性能测试。
文档编号G01R31/00GK103018594SQ20121050133
公开日2013年4月3日 申请日期2012年11月30日 优先权日2012年11月30日
发明者申聪, 乔胜强 申请人:深圳市汇顶科技股份有限公司