专利名称：用于测试网络信号变压器参数的测试套件的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及通信网络，更具体地说，涉及一种用于测试网络信号变压器参数 的测试套件。
背景技术：
在网络系统中，需要使用网络信号变压器，它包含隔离变压器 (Isolationtransformers)和共模抑制(common mode chokes)。网络信号变压器能提供阻 抗匹配、信号整形和训练(signal shaping and conditioning)、高电压隔离、隔离异常以 及降低共模噪声。网络信号变压器作为模拟信号接口，其中包含变压(transformer)、共模 扼流圈(Common Mode Choke)和自耦合变压器(Autotransformer)三大部分，共模扼流圈 被设计用于降低共模抑制级别，用以降低电磁干扰(EMI)的影响。目前由于生产工艺可控性、自动化程度不高，关键的绕线、焊接工艺需要依靠人工 操作，使得制造出的网络信号变压器的性能一致性差，从而造成网络信号变压器各端口的 电性能参数有一定的离散性。这些参数包括回程损耗(return loss)、插入损耗(insertion loss)、串绕(crosstalk)、电感值、漏电感值和杂散电容值(CW/W)。因此，在生产或使用过 程中通常需要对网络信号变压器中各个线对的性能参数进行测试，例如，对网络信号变压 器的每组线对进行回程损耗(return loss)测试、插入损耗(insertion loss)测试、串绕 (crosstalk)测试等。图1所示是一个典型的网络信号变压器原理图，其包括8个独立的变压器，每个变 压器包括一组线对，例如第一变压器包括编号为1、2、3和46、47、48的线对、第二变压器包 括编号为4、5、6和43、44、45的线对，……第8变压器包括编号为22、23、24和25、26、27 的线对。在测试过程中，需要对每组线对进行测试。现以对第一变压器和第二变压器TX2的测试为例来说明现有技术中如何测试 网络信号变压器的性能参数。(1)信号变压器插入损耗测试图2是测试网络信号变压器插入损耗的测试连线图。如图2所示，其中DUT 为网络信号变压器的待测线对，此处是指(2、3)和(46、47)线对。BALUN 为平衡-非平衡转换器，500hm(非平衡)_1000hm(平衡)的转换器，工作 频段为 0. 1MHz 100MHz。测试之前需对网络分析仪进行校准。校准之后，现有技术的做法是在2、3两个连 接点处使用飞线焊接连接至网络分析仪(Network Analyzer)的射频输出端口(RF/Out)， 46、47两个连接点处使用飞线焊接连接至网络分析仪的射频输入端口(RF/In)，然后读取 网络分析仪上的测试数据。(2)信号变压器回程损耗测试图3是测试网络信号变压器回程损耗的测试连线图。[0014]测试之前需对网络分析仪进行校准。校准之后，现有技术的做法是在2、3两个连 接点处使用飞线焊接连接至网络分析仪的射频输出端口(RF/Out)，46、47两个连接点使用 飞线连接100欧姆(Ohm)负载。然后读取网络分析仪上的测试数据。(3)信号变压器串扰测试图4是测试网络信号变压器串扰的测试连线图。其测试的是第一变压器与第 二变压器TX2之间的串扰。测试之前需对网络分析仪进行校准。校准之后，现有技术的做法是第一变压器 的2、3两个连接点处使用飞线焊接连接至网络分析仪的射频输出端口(RF/Out)，46、
47两个连接点使用飞线连接lOOOhm负载。第二变压器TX2的5，6两个连接点使用飞线连 接lOOOhm负载，44、43两个连接点处使用飞线焊接连接至网络分析仪的射频输入端口(RF/ In)。此时再读取网络分析仪上的测试数据。上述测试方式中存在较大的问题是采用飞线方式连接，由于飞线无法固定，测试 出来的测量数值离散度较大，且网络信号变压器引脚较多，使用飞线焊接方式，效率极低。因此需要开发一种准确、可靠及高效的测试网络信号变压器性能参数的方法及系 统。

实用新型内容本实用新型要解决的技术问题在于，针对现有技术的上述采用飞线连接方式来测 试网络信号变压器性能参数使得测试出来的测量数值离散度大且测试产效率低的缺陷，提 供一种用于测试网络信号变压器参数的测试套件。本实用新型解决其技术问题所采用的技术方案是构造一种用于测试网络信号变 压器参数的测试套件，包括基座，其上安装有第一平衡_非平衡转换器、与所述第一平衡_非平衡转换器的平 衡输出端相连的第一对连接件，第二平衡_非平衡转换器、与所述第二平衡_非平衡转换器 的平衡输出端相连的第二对连接件；校准电路板，其上设置有至少一个校准模块，所述至少一个校准模块中至少设置 有一对彼此间通过信号线相连的校准排针，且每一对校准排针中，至少有一个校准排针可 选择地通过跳线与一只匹配电阻相连；测试电路板，其上设置有用于接纳待测网络信号变压器的IC插座以及与所述待 测网络信号变压器端口数量相对应的多对测试排针，其中每对测试排针分别通过信号线连 接至所述IC插座中与待测网络信号变压器的对应端口相连的引线对，且每一个所述测试 排针可选择地通过跳线与一只匹配电阻相连；转接电路板，其上设置有至少一个转接模块，用于在校准操作时，将所述基座上的 第一对连接件和第二对连接件电连接至所述校准电路板上的所述校准排针；或用于在测试 操作时，将所述基座上的第一对连接件和第二对连接件电连接至所述测试排针。在本实用新型所述的测试套件中，所述转接模块包括插入损耗测试转接模块、回 程损耗测试转接模块、串扰测试转接模块。在本实用新型所述的测试套件中，所述测试电路板包括千兆单口网络信号变压器 测试电路板、千兆双口网络信号变压器测试电路板和千兆四口网络信号变压器测试电路板。在本实用新型所述的测试套件中，所述校准模块包括千兆单口网络信号变压器校 准模块、千兆双口网络信号变压器校准模块和千兆四口网络信号变压器校准模块，其中各 个校准模块中的信号线长度分别等于对应的测试电路板上信号线长度。在本实用新型所述的测试套件中，所述第一平衡_非平衡转换器和第二平衡_非 平衡转换器分别设置在所述基座的两侧面，且其非平衡端口向外伸出；所述第一对连接件 和所述第二对连接件设置在所述基座的上表面。在本实用新型所述的测试套件中，所述基座的上表面和所述转接电路板上设置有 用于将所述转接电路板固定在所述基座上的定位机构。 在本实用新型所述的测试套件中，所述电路板为印刷电路板，所述信号线由印刷 在PCB板上的导电材料构成。在本实用新型所述的测试套件中，所述校准排针为H型排列。在本实用新型所述的测试套件中，所述测试排针为H型排列。在本实用新型所述的测试套件中，所述至少一个转接模块包括两个转接排母，所 述转接排母为单列10位插槽的排母。实施本实用新型的用于测试网络信号变压器参数的测试套件，具有以下有益效 果本实用新型的测试套件改进了目前网络信号变压器采用焊线方式进行测试的落后手 段，且成本低廉，测试效率较高，利用跳线可以完成网络信号变压器所有线对的高频性能测 试，因测试线路连接较为固定，提高了高频参数测试精确度的稳定性。

下面将结合附图及实施例对本实用新型作进一步说明，附图中图1所示是一个典型的网络信号变压器原理图；图2是测试网络信号变压器插入损耗的测试原理图；图3是测试网络信号变压器回程损耗的测试原理图；图4是测试网络信号变压器串扰的测试原理图；图5是本实用新型测试套件中的基座的示意图；图6是本实用新型测试套件中的转接电路板的示意图；图7是本实用新型测试套件中的校准电路板的示意图；图8A是本实用新型测试套件中的测试电路板第一实施例的示意图；图8B是本实用新型测试套件中的测试电路板第二实施例的示意图；图8C是本实用新型测试套件中的测试电路板第三实施例的示意图；图9A是根据本实用新型的实施例，进行插入损耗(IL)测试校准操作时的等效电 路图；图9B是根据本实用新型的实施例，进行IL测试操作时的测试电路板上的排针跳 线连接示意图；图9C是根据本实用新型的实施例，进行IL测试操作时的等效电路图；图10A是回程损耗(RL)的测试的原理示意图；图10B是根据本实用新型的实施例，进行RL测试校准操作时的等效电路图；[0052]图10C是根据本实用新型的实施例，进行RL测试操作时的测试电路板上的排针跳 线连接示意图；图10D是根据本实用新型的实施例，进行IL测试操作时的等效电路图；图11A是根据本实用新型的实施例，进行串扰(CT)测试操作时的测试电路板上的 排针跳线连接示意图；图11B是根据本实用新型的实施例，进行CT测试操作时的等效电路图。
具体实施方式
为了解决现有技术中存在的问题，本实用新型提供一套测试套件，包括基座、转接 电路板、校准电路板和测试电路板，以及连接线(例如同轴线缆)和转换头(例如N头、N头 转BNC头)。使用该套件配合网络分析仪对网络信号变压器参数进行测试，能够将测量数 值离散度控制在较小范围，并且可以提高测试效率。测试参数包括插入损耗(Insertion loss,简称 IL)，回程损耗(Return loss,简称 RL)，串扰(Crosstalk,简称 CT)。以下分别对测试套件中的各个部件及其测试方法进行说明。一、基座图5是本实用新型测试套件中基座的一个实施例的示意图(俯视图)。如图5所 示，基座100上安装有两个平衡-非平衡转换器(BALUN)，即第一平衡-非平衡转换器110 和第二平衡_非平衡转换器120。与所述第一平衡_非平衡转换器110的平衡输出端电连 接的第一对连接件121、122，与所述第二平衡-非平衡转换器120的平衡输出端电连接的 第二对连接件123、124。在测试和校准操作中，使用同轴线缆、N头、N头转BNC头将第一 平衡_非平衡转换器110的非平衡端连接至网络分析仪的射频输入端或输出端，将第二平 衡_非平衡转换器120的非平衡端连接至网络分析仪的射频输出端或输入端。在本实施例 中，第一对连接件121、122和第二对连接件123、124为导电柱，其固定在基座的上表面，排 列在矩形的四个顶角上。另外，基座和转接电路板上还可以设置定位机构，用于将转接电路板固定在基座 上，以保持其稳定度。该定位机构可以是带有内螺纹的台柱，分别设置在基座上表面的四个 角处。类似地，可在转接电路板的相应位置处设置定位孔，使用螺帽穿过定位孔并拧入台 柱，就可将转接电路板固定在基座上。二、转接电路板图6是本实用新型测试套件中的转接电路板200的示意图。在本实施例中，如图 6所示，转接电路板上设置有三个转接模块。每个转接模块中，设置有四个通孔，其位置和尺寸与前述基座上的第一对连接件 121,122和第二对连接件123、124的位置和尺寸相配合。如第一转接模块中有第一组通孔 T1-T4、第二转接模块中有第二组通孔T5-T8、第三转接模块中有第三组通孔T9-T12。另外， 每个转接模块中，设置有四个排母。如第一转接模块中有第一组排母W1、W2、W7和W8、第二 转接模块中有第二组排母W3、W4、W9和W10、第三转接模块中有第三组排母W5、W6、W11和 W12。且在第一转接模块中，通孔T1和T2分别通过信号线连接至第一排母W1的第一和 第二位插槽；通孔T3和T4分别通过信号线连接至第七排母W7的第一和第二位插槽。在第二转接模块中，通孔T5和T6分别通过信号线连接至第三排母W3的第一和第二位插槽；通 孔T7和T8分别通过信号线连接至第十排母W10的第一和第二位插槽。在第三转接模块中， 通孔T9和T10分别通过信号线连接至第六排母W6的第一和第二位插槽；通孔T11和T12 分别通过信号线连接至第十二排母W12的第一和第二位插槽。从图6中可以看出，第一转接模块中，仅使用了左边的排母，即第一排母W1和第七 排母W7 ；第三转接模块中，仅使用了右边的排母，即第六排母W6和第十二排母W12 ；而在第 二转接模块中，上排使用了左边的排母，即第三排母W3，下排使用了右边的排母，即第十排 母W10。第二转接模块的设计是为了与后面将描述的测试电路板的布线设计相配合，专门用 于测试相邻线对间的串扰。本实用新型不限于上述实施例。作为替代实施方式，可以去除转接电路板上没有 用到的排母(例如排母拟、18、14、19、15和111)。另外，在本实施例中，采用的是单列10 位(1x10位)排母，由于所用排母只利用了其前两位插槽，所以还可以选用只有两位插槽的 排母。当然也还可以选择其它排列形式(如双列、三列)但至少带有两位插槽的排母。另 外，转接电路板上的三个转接模块可以集成在一块电路板上，也可以分别做成三个单独的 转接电路板。需要说明的是，本实施例中，选择多个1x10位排母的好处还在于可以用其作为支 撑件，在校准或测试操作起支撑上层电路板的作用。三、校准电路板图7是本实用新型测试套件中的校准电路板300的示意图。如图7所示，在本实 施例中，校准电路板上设置有三个校准模块千兆单口网络信号变压器校准模块、千兆双口 网络信号变压器校准模块和千兆四口网络信号变压器校准模块。其间的区别仅在于其中的 信号线长度不同，分别与以下将描述的千兆单口网络信号变压器测试电路板、千兆双口网 络信号变压器测试电路板和千兆四口网络信号变压器测试电路板上的信号线的长度相对 应(等同)。在本实施例中，每一个校准模块中设置有两对彼此间通过信号线相连的校准排 针，作为替代实施方式，每一个校准模块中也可以只设置一对校准排针。如图7所示，本实施例采用的是4-2-4排列的排针(V1-V12)，即左、右两列分别为 4个插针，中间一列为2个插针的排列方式，在本文中将这种排列方式称为“H型”排列。第一校准模块(即千兆单口网络信号变压器校准模块)中，第一排针VI通过信号 线与第二排针V2相连。具体地说，第一排针VI中的2#和3#插针分别通过信号线连接至 第二排针V2的23#和22#插针；第一排针VI中的6#和5#插针分别通过信号线连接至第 二排针V2的19#和20#插针。第三排针V3中的8#和9#插针分别通过信号线连接至第四 排针V4的17#和16#插针；第三排针V3中的12#和11#插针分别通过信号线连接至第四 排针V4的13#和14#插针。另外，第一排针VI下方还设置有两个并列的2位排针H1、H2， 排针HI中有一个插针与第一排针VI中间两位插针之一通过信号线相连，排针H2中的一个 插针与第一排针VI中间两位中的另一个插针通过信号线相连，排针HI和H2中未与第一排 针VI相连的那两个插针之间连接一个100欧姆的匹配电阻R1。同样，第三排针V3下方也 设置有两个并列的2位排针H3、H4，其中插针与第三排针V3中的插针连接方式及匹配电阻 R2的连接方式与第一排针VI、排针HI和H2的连接方式相同。[0073]第二校准模块(即千兆双口网络信号变压器校准模块)和第三校准模块(即 千兆四口网络信号变压器校准模块)中各个排针之间的连接方式与第一校准模块的相同， 只是第五排针V5与第六排针V6之间信号线的长度、第七排针V7与第八排针V8之间信号 线的长度、第九排针V9与第十排针V10之间信号线的长度、以及第十一排针VII与第十二 排针V12之间信号线的长度与第一校准模块上的不同。因此，此处不再对其重复描述。再有，每一对校准排针(例如VI和V2、V3和V4……或VII和V12)中，两个排针 之间的距离与转接模块同一列中两个排母(例如W1和W7、W2和W8……W6和W12)之间的 距离相等。相邻两个校准排针(例如V2和V4、V6和V8、……或V10和V12)之间的距离， 与转接模块同一排中两个相邻排母(例如W1和W2、W3和W4……W11和W12)之间的距离相 等。使得校准电路板上每对校准排针中间一列的两根插针可以插入转接电路板排母的相应 插槽中。作为选择，校准电路板上的三个校准模块可以集成在一块电路板上，也可以分别 做成三个单独的校准电路板。四、测试电路板图8A是本实用新型测试套件中的测试电路板第一实施例，即千兆双口网络信号 变压器测试电路板410的示意图。如图8A所示，测试电路板410上设置有用于接纳待测网 络信号变压器的IC插座411以及与所述待测网络信号变压器端口数量相对应的4对测试 排针U1-U5、U2-U6、U3-U7、U4-U8。本实施例采用的是4_2_4排列的排针，即左、右两列分 别为4个插针，中间一列为2个插针的排列方式(在本文中将这种排列方式称为“H型”排 列)。其中每个排针左、右两列中间两位插针分别通过信号线与IC插座的相应的引出线相 连。当将网络信号变压器插入IC插座中，其各个待测线对的端点分别连接至这4对排针的 相同编号的插针上。例如，网络信号变压器的(2、3)和(46、47)线对连接至第一和第五排 针U1和TO的2#、3#、46#、47#插针、网络信号变压器的(5、6)和(43、44)线对连接至第一 和第五排针U1和U5的5#、6#、43#、44#插针、……网络信号变压器的(23,24)和(25,26) 线对连接至第四和第八排针U4和U8的23#、24#、25#、26#插针。另外，每一个排针中，左边 一列排针的第一位和第四位插针之间连接有一个100欧姆的匹配电阻R ；同样地，右边一列 排针的第一位和第四位插针之间连接有一个100欧姆的匹配电阻R。在本实施例中，左、右 两列排针的第一位和第四位插针之间连接的是同一只电阻。作为替代方案，也可以设置两 只电阻，即左列一个、石列一个。再有，每一对测试排针(例如U1和U5、U3和U4……或U11和U12)中，两个排针 之间的距离与转接模块同一列中两个排母(例如W1和W7、W2和W8……W6和W12)之间的 距离相等。相邻两个测试排针(例如U1和U2、U2和U3、……或U7和U8)之间的距离，与 转接模块同一排中两个相邻排母(例如W1和W2、W3和W4……W11和W12)之间的距离相 等。使得测试电路板上每对测试排针中间一列的两根插针可以插入转接电路板排母的相应 插槽中。图8A中，右边的3个方框分别为测试插入损耗(IL)、回程损耗(RL)和串扰(CT) 时的跳线指示图。图8B是本实用新型测试套件中的测试电路板第二实施例，即千兆单口网络信号 变压器测试电路板420的示意图。除了端口数目比千兆双口网络信号变压器端口少、信号线更短、每一个待测网络信号变压器只配置两对排针外，其它连接方式与千兆双口网络信 号变压器测试电路板相同，此处不再赘述。图8C是本实用新型测试套件中的测试电路板第三实施例，即千兆四口网络信号 变压器测试电路板430的示意图。除了端口数据比千兆双口网络信号变压器端口多、信号 线更长、每一个待测网络信号变压器配置八对排针外，其它连接方式与千兆双口网络信号 变压器测试电路板相同，此处不再赘述。五、测试方式以下均以48脚(pin)千兆双口贴片信号变压器测试举例进行说明。(1)插入损耗(Insertion Loss，简称 IL)测试IL测试原理如图2所示。测试原理简单概括通过网络分析仪引入一定电压幅值 E1的信号源(输出的是正弦信号)，流经DUT (在此即为48pin千兆双口贴片信号变压器的 2、3引脚，46、47引脚)，能量有一定损耗，后流入网络分析仪，统计此时电压幅值为E2，而插 入损耗即指输入与输出信号的振幅电压比db = 201og(El/E2)，以db值来表示度量单位， 以“-”来表示衰减。此项测试数据即反映了流经DUT的第一对线路后，损失的能量，DUT内部结构如图 1所示。使用本实用新型的测试套件进行测试时，首先将转接电路板固定在基座之上，螺 帽穿过定位孔并拧入台柱的内螺纹中拧紧。如前所述，测试电路板上设置有三个转接模块。 IL测试使用第一个模块，其包括第一组通孔T1-T4和第一组排母Wl、W2、W7和W8。使用连 接线及转换头分别将基座上的第一平衡_非平衡转换器110和第二平衡_非平衡转换器 120的非平衡端连接至网络分析仪的射频输出和输入接口，差分信号源将从T1、T2输出，流 入1X10排母W1的AP部分，这样信号可流入上一层板(校准电路板或千兆变压器测试电 路板)，信号在上一层板流经DUT后，最后回到该测试电路板1 X 10排母W7的AP部分，通过 T3、T4流回至网络分析仪。在IL测试校准时，将校准电路板的第二校准模块(即千兆双口网络信号变压器校 准模块)的第五排针V5与第六排针V6的中间两根插针分别插入排母W7和W1的相应插槽 (在本实施例中分别为W7和W1的第一、第二插槽)中，并用跳帽将第六排针V6中左边的 23#、22#插针分别与中间的上、下两根插针连接，将第五排针V5中左边的2#、3#插针分别与 中间的上、下两根插针连接。或者，用跳帽将第六排针V6中右边的19#、20#插针分别与中 间的上、下两根插针连接，将第五排针V5中右边的5#、6#插针分别与中间的上、下两根插针 连接。这样，差分信号通过转接电路板第一排母W1上的AP从转接电路板流入上一层(校 准电路板)，经过跳线连接后通过信号线流入转接电路板第七排母W7上的AP(参见图7)， 进入转接电路板后流回网络分析仪。最终达到的效果如图9A所示。IL校准完成后开始进行IL测试。取下校准电路板，换上千兆双口网络信号变压 器测试电路板。如图9B所示，以测试网络信号变压器(2、3)和(46、47)线对的IL为例，将 第一对测试排针U1、TO的中间一列的两根插针分别插入转接电路板上排母W7和Wl的相应 插槽中，并用跳帽将第五测试排针TO中左边的47#、46#插针分别与中间一列的上、下两根 插针连接，将第一测试排针U1中左边的3#、2#插针分别与中间一列的上、下两根插针连接。差分信号通过API从转接电路板流入，信号流经信号变压器后从AP2流出，最后流入网络分 析仪。最终实现的效果如图9C所示。(2)回程损耗(Return Loss，简称RL)测试RL测试原理回程损耗是指待测物的阻抗与标准阻抗的差距比，或者是对输入信 号的反射比。回程损耗是用来定义源(source)和负载(load)阻抗之间的匹配等级。回程 损耗也反映出在反射过程中所损失能量的总量。由于阻抗不匹配而导致反射能量消耗会降 低系统的工作效率以及产生有干扰的噪声。图10A所示为回程损耗(RL)的测试的原理示意图。其中，al代表输入信号，bl代 表反射后输出信号。计算公式S11= bl/al端口1 的 RL(dB) = _201og(|Sll|)。测试时要实现的要点是(1)变压器2，3线对接入网络分析仪。(2)另一侧对应的 46，47线对接入100欧姆负载。转接电路板分成了三个转接模块，RL测试可使用第一个转接模块或第三个转接模 块。例如，当使用第一个转接模块测试时，使用螺帽固定好转接电路板后，差分信号源将从 T1、T2输出，流入第一排母W1的AP部分，这样信号可流入上一层板(校准电路板或千兆变 压器测试电路板)，信号在上一层板流经DUT负载后，反射信号最后回到该测试电路板第一 排母W1的AP部分，通过Tl、T2流回至网络分析仪。在RL测试校准时，将校准电路板的第二校准模块(即千兆双口网络信号变压器校 准模块)的第五排针V5与第六排针V6的中间两根插针分别插入转接电路板第七和第一排 母W7和W1的相应插槽中，并用跳帽将第六排针V6左边的23#、22#插针分别与中间一列的 上、下两根插针连接，用跳帽将排针H5的两根插针跳接、并用跳帽将排针H6的两根插针跳接。RL校准使用的是V5部分，连接方式按照跳线指示使用跳帽实现校准方式 Open (开路)、Short (短路)、Load (负载)。如图10B所示。RL校准完成后开始进行RL测试。取下校准电路板，换上千兆双口网络信号变压 器测试电路板。如图10C所示，以测试网络信号变压器(2、3)和(46、47)线对的RL为例， 将第一对测试排针U1、U5的中间两根插针分别插入转接电路板上第七和第一排母W7和W1 的相应插槽中，并用跳帽将第五测试排针U5中左边的47#、46#插针分别与中间一列的上、 下两根插针连接，用跳帽将第一测试排针U1中左边的3#插针与左边第一位插针跳接，并用 跳帽将第一测试排针U1中左边的2#插针与左边第四位插针跳接，以接入100欧姆的匹配 电阻。差分信号通过API从转接电路板流入，按照Return loss (RL)跳线指示使用跳帽 连接，信号流经信号变压器后，反射信号从API流回，最后流入网络分析仪。最终实现的效 果如图10D所示。(3)串扰(Crosstalk，简称 CT)测试转接电路板分成了三个转接模块，在测试第一变压器的2、3和46、47线对与第二 变压器的5、6和43、44线对之间的串扰时，使用第一或第三转接模块，而测试第二变压器的 5、6和43、44线对与第三变压器的8、9和40、41线对之间的串扰时，使用第二个转接模块，以此类推。也就是说，如果相邻两组线对是连接在同一对测试排针上，则使用第一或第三转 接模块来测试其间的串扰；如果相邻两组线对分别连接在相邻的两对测试排针上，则使用 第二转接模块来测试其间的串扰。现以测试第二变压器的5、6和43、44线对与第三变压器的8、9和40、41线对之 间的串扰为例来说明。第二个转接模块包括第二组通孔T5-T8和第二组排母W3、W4、W9和 W10。在CT测试校准时，将校准电路板的第二校准模块(即千兆双口网络信号变压器校准模 块)的第七排针V7与第六排针V6中间一列的两根插针分别插入转接电路板上的排母W10 和W3的相应插槽中。使用螺帽固定好转接电路板后，差分信号源将从T5、T6输出，流入第 三排母W3 部分，这样信号可流入上一层板(校准电路板或千兆变压器测试电路板)， 信号在上一层板流经信号变压器后，耦合信号通过相邻信号通道最后回到该测试电路板第 十排母W10的AP部分，通过T7、T8流回至网络分析仪。校准方式跟插入损耗测试校准方式一样，此处不再赘述。CT校准完成后开始进行CT测试。取下校准电路板，换上千兆双口网络信号变压器 测试电路板。以测试网络信号变压器(5、6)、(43,44)线对与(8、9)、(40,41)线对之间的串扰为 例，如图11A所示，将第一对测试排针中的第五排针U5的中间两根插针插入转接电路板上 排母W3的相应插槽中，将第二对测试排针中的第二排针U2的中间两根插针插入转接电路 板上排母W10的相应插槽中。并用跳帽将第五测试排针U5中右边的43#、44#插针分别与 中间一列的两根插针跳接，将第二测试排针U2中左边的8#、9#插针分别与中间一列的两根 插针跳接。用跳帽将第一测试排针U1中右边的5#插针与右边第一位插针跳接，并用跳帽 将第一测试排针U1中右边的6#插针与右边第四位插针跳接，以接入100欧姆的匹配电阻。 用跳帽将第六测试排针U6中左边的41#插针与左边第一位插针跳接，并用跳帽将第六测试 排针U6中左边的40#插针与左边第四位插针跳接，以接入100欧姆的匹配电阻。差分信号通过API从测试电路板流入，按照Crosstalk跳线指示使用跳帽连接，信 号流经信号变压器后，耦合信号从AP2流回，最后流入网络分析仪。最终实现的效果如图 11B所示。需要说明的是，除了之前提及的转接电路板上的排母可以用其它替代方案外，对 于校准电路板和测试电路板，还可选择其它布线方案和/或选择其它排列方式的排针，只 要满足能够通过转接电路板将校准电路板上相应的插针与基座上的平衡_非平衡转换器 的平衡端电连接、通过转接电路板分别将测试电路板上的各个待测线对或相邻线对与基座 上的平衡_非平衡转换器的平衡端电连接。例如，可用两个单列6位或更多位的排针来替 代校准电路板和或测试电路板上的一个H型排列的排针。当然，在这种情况下，转接电路板 上排母的位置也需要做相应调整，尤其是串扰测试转接模块这部分的排母位置。再有，还要 注意的是校准电路板上各个校准模块中信号线的长度应与对应的测试电路板上的信号线 长度相同。另外，基座上第一对连接件和第二对连接件也可以用排母来实现，这种情况下，转 接电路板上的通孔可用排针来替代，并使其位置应与基座上的排母位置相对应。在本实用新型的实施例中，测试套件中的电路板选择印刷电路板(PCB板)，其中 信号线由印刷在PCB板上的导电材料构成，因而性能稳定、传输性能优越、一致性好。[0112] 本实用新型提供了一种用于测试网络信号变压器高频参数的测试套件，解决了现 有测试方式效率、精度较低，测试可靠性、稳定性不高的问题。
权利要求一种用于测试网络信号变压器参数的测试套件，其特征在于，包括基座，其上安装有第一平衡-非平衡转换器、与所述第一平衡-非平衡转换器的平衡输出端相连的第一对连接件，第二平衡-非平衡转换器、与所述第二平衡-非平衡转换器的平衡输出端相连的第二对连接件；校准电路板，其上设置有至少一个校准模块，所述至少一个校准模块中至少设置有一对彼此间通过信号线相连的校准排针，且每一对校准排针中，至少有一个校准排针可选择地通过跳线与一只匹配电阻相连；测试电路板，其上设置有用于接纳待测网络信号变压器的IC插座以及与所述待测网络信号变压器端口数量相对应的多对测试排针，其中每对测试排针分别通过信号线连接至所述IC插座中与待测网络信号变压器的对应端口相连的引线对，且每一个所述测试排针可选择地通过跳线与一只匹配电阻相连；转接电路板，其上设置有至少一个转接模块，用于在校准操作时，将所述基座上的第一对连接件和第二对连接件电连接至所述校准电路板上的所述校准排针；或用于在测试操作时，将所述基座上的第一对连接件和第二对连接件电连接至所述测试排针。
2.根据权利要求1所述的测试套件，其特征在于，所述转接模块包括插入损耗测试转 接模块、回程损耗测试转接模块、串扰测试转接模块。
3.根据权利要求1所述的测试套件，其特征在于，所述测试电路板包括千兆单口网络 信号变压器测试电路板、千兆双口网络信号变压器测试电路板和千兆四口网络信号变压器 测试电路板。
4.根据权利要求3所述的测试套件，其特征在于，所述校准模块包括千兆单口网络信 号变压器校准模块、千兆双口网络信号变压器校准模块和千兆四口网络信号变压器校准模 块，其中各个校准模块中的信号线长度分别等于对应的测试电路板上信号线长度。
5.根据权利要求1所述的测试套件，其特征在于，所述第一平衡-非平衡转换器和第二 平衡_非平衡转换器分别设置在所述基座的两侧面，且其非平衡端口向外伸出；所述第一 对连接件和所述第二对连接件设置在所述基座的上表面。
6.根据权利要求5所述的测试套件，其特征在于，所述基座的上表面和所述转接电路 板上设置有用于将所述转接电路板固定在所述基座上的定位机构。
7.根据权利要求1所述的测试套件，其特征在于，所述电路板为印刷电路板，所述信号 线由印刷在PCB板上的导电材料构成。
8.根据权利要求1所述的测试套件，其特征在于，所述校准排针为H型排列。
9.根据权利要求1所述的测试套件，其特征在于，所述测试排针为H型排列。
10.根据权利要求1所述的测试套件，其特征在于，所述至少一个转接模块包括两个转 接排母，所述转接排母为单列10位插槽的排母。
专利摘要本实用新型涉及一种用于测试网络信号变压器参数的测试套件，包括基座、校准电路板、测试电路板和转接电路板。转接电路板上设置有至少一个转接模块，用于在校准操作时，将基座上的第一对连接件和第二对连接件电连接至校准电路板上的校准排针；或用于在测试操作时，将基座上的第一对连接件和第二对连接件电连接至测试排针。本实用新型的测试套件改进了目前网络信号变压器采用焊线方式进行测试的落后手段，且成本低廉，测试效率较高，利用跳线可以完成网络信号变压器所有线对的高频性能测试，因测试线路连接较为固定，提高了高频参数测试精确度的稳定性。
文档编号G01R1/073GK201607505SQ20102012089
公开日2010年10月13日 申请日期2010年2月25日 优先权日2010年2月25日
发明者米培燃 申请人:深圳市普联技术有限公司