专利名称：量块检定专用检具的制作方法
技术领域：
量块检定专用检具技术领域本发明创造是用于检定量块的专用检具。
背景技术：
量块准确度高，允许误差小，原检定方法是先清洗标准量块；带上隔温 手套将标准量块放在立式光学计工作台上；将被测量块也放在立式光学计工作台上；手动 标准量块到立式光学计测头下，调整量块中心位置对零；再手动被测量块到立式光学计测 头下调整量块中心位置测量偏差值；记算并记录测量结果；更换下一组同等尺寸量块测 量。整盒量块有上百块，全部测量一次最少需要120分钟，为了保证测量准确，测量时要保 证量块被测位置相同，需要反复调整，测量工作效率低。同时温度对其影响，测量数据可靠 性差。发明内容本发明创造的目的是提供一种能提高测量工作效率和使测量更准确 的量块检定专用检具；本发明创造的目的是通过下述的技术方案实现的量块检定专用检 具，其特征在于在外框上制出下横槽，在下横槽上面制出上横槽，制出与上横槽相交并与下 横槽相通的垂直槽，垂直槽上口制成开口状。本发明创造的优点测量时将被测及标准量块放在横槽槽内，不用反复调整被测 量块的被测位置，节省测量时间，提高了测量工作效率；避免了手温对测量的影响，使测量 数据更准确。

图1是量块检定专用检具结构示意图；图2是图1的俯视示意图。图中的1、垂直槽2、上横槽3、下横槽4、外框具体实施方式
量块检定专用检具，其特征在于在外框上制出下横槽，在下横槽上 面制出上横槽，制出与上横槽相交并与下横槽相通的垂直槽，垂直槽上口制成开口状。为了避免温度的影响，外框可采用导热性能较差的材料制作；垂直槽及垂直槽上 口制成开口状为便于立式光学计探头通过，上横槽用来放置标准量块，下横槽用来放置被 测量块；使用本检具测量块程序是①清洗量块②带上隔温手套③将量块检定专用检具放在立式光学计工作台上④将标准量块、被测量块分别放置在量块检定专用检具内⑤通过移动量块专用检具带动标准量块到立式光学计测头下⑥通过移动量块专用检具带动被测量块到立式光学计测头下⑦记算并记录测量结果⑧更换下一组同等尺寸量块测量。单块量块测量过程能够控制在1分钟之内，该方法提高了测量工作效率，避免了 手温的影响，保证了检测数据的准确可靠。
权利要求量块检定专用检具，其特征在于在外框上制出下横槽，在下横槽上面制出上横槽，制出与上横槽相交并与下横槽相通的垂直槽，垂直槽上口制成开口状。
专利摘要量块检定专用检具，是用于检定量块的专用检具；是在外框上制出下横槽，在下横槽上面制出上横槽，制出与上横槽相交并与下横槽相通的垂直槽，垂直槽上口制成开口状；优点测量时将量块放在横槽内，不用反复调整被测量块的被测位置，节省测量时间，提高了测量工作效率；避免了手温对测量的影响，使测量数据更准确。
文档编号G01B11/00GK201583252SQ201020010099
公开日2010年9月15日 申请日期2010年1月7日 优先权日2010年1月7日
发明者刘洪霞, 孙广顺, 孙永峰, 王守坤, 郝志华, 顾天尕 申请人:沈阳飞机工业(集团)有限公司