专利名称：一种奇数齿或花键大径的测量设备的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种用于测量待测量的奇数齿轮或花键大径的测量方法的相应的测量设备。
背景技术：
三坐标即三坐标测量机，是指在三维可测的空间范围内，能够根据测头系统返回的点数据，通过三坐标的软件系统计算各类几何形状、尺寸等测量能力的仪器，又称为三坐标测量仪或三坐标量床。现在各行业中对奇数齿轮大径的测量，由于无法使用通用量具如游标卡尺、外径千分尺等进行测量，一般需采用三座标测量，而三座标需在专门的场所，且测量效率低、成本较高，从而直接影响了现场的生产。

实用新型内容鉴于上述现有技术存在的问题，提出了本实用新型。本实用新型要解决的技术问题是，如何利用奇数齿或花键大径的测量方法对现有测量工具进行改进的问题。为解决上述技术问题，本实用新型提供了如下技术方案:一种依照奇数齿或花键大径的测量方法的测量设备，包括主尺部件以及测量部件，所述测量部件包括外测量端和内测量端，所述外 测量端或内测量端设置为带有一定凹陷角度的测量端，所述一定凹陷角度为180° -360° /Z，其中，Z为奇数齿的齿数。作为本实用新型所述测量设备一种优选方案，其中:所述主尺部件的刻度根据
权利要求1.一种奇数齿或花键大径的测量设备，包括主尺部件以及测量部件，所述测量部件包括外测量端和内测量端，其特征在于:所述外测量端或内测量端设置为带有一定凹陷角度的测量端，所述一定凹陷角度为180° -360° /Z，其中，Z为奇数齿的齿数。
2.如权利要求1所述的测量设备，其特征在于:所述主尺部件的刻度根据
3.如权利要求1所述的测量设备，其特征在于:所述主尺部件为游标卡尺结构。
4.如权利要求3所述的测量设备，其特征在于:所述游标卡尺结构为数显卡尺结构。
5.如权利要求1所述的测量设备，其特征在于:所述主尺部件为外径千分尺结构。
6.如权利要求5所述的测量设备，其特征在于:所述外径千分尺结构为数显卡尺结构。
7.如权利要求5所述的测量设备，其特征在于:所述主尺部件的螺距根据
专利摘要本实用新型公开了一种奇数齿或花键大径的测量设备,该设备包括主尺部件以及测量部件，所述测量部件包括外测量端和内测量端，所述外测量端或内测量端设置为带有一定凹陷角度的测量端，所述一定凹陷角度为180°-360°/Z，其中，Z为奇数齿的齿数。本实用新型能够解决各种规格奇数齿轮、花键的大径在生产现场的快速测量的问题，具有生产成本低、方便快捷等优点，极其适于生产应用。
文档编号G01B5/08GK202994048SQ20122072473
公开日2013年6月12日 申请日期2012年12月25日 优先权日2012年12月25日
发明者吴海艳, 王英惠 申请人:江苏森威集团飞达股份有限公司