专利名称：电容式触控芯片的测试方法
技术领域：
本发明涉及一种触控芯片的方法，尤其是指电容式触控芯片的测试方法。
背景技术：
目前电容式触控芯片的测试方法，一般均会利用到比较器，即将比较器的正负两个电极分别和两个电容相连接，经比较器输出后的数值和预设理论数值作比较就可以判断出芯片是否合格。请参考图1所示，该种触控芯片的测试方法中，若电容Cl的数值等于电容C2的数值，则经比较器输出后的数值应该为零，即C1-C2 = 0 ；若电容Cl的数值大于电容C2的数值，则经比较器输出的数值就是负值，即C1-C2 < 0 ；若电容Cl的数值小于电容 C2的数值，则经比较器输出的数值就是正，即C1-C2 > 0，所以通过调整电容Cl和C2的大小就可以调整经比较器输出后的数值。理论上当电容Cl = C2时，经比较器输出的数值就应该相同，但是在实际应用中， 由于误差的存在，两者不可能完全相同，即或者输出的结果是正值或者输出的结果是负值， 先假设芯片理论设计的电压值是正数U。伏，那么经比较器测试输出的结果中，若大于U。 伏，我们会认为是高电平，用数字一表示；若小于U。伏，我们会认为是低电平，用数字零表示。同时设一个测试周期为N次，经过连续N次判断输出的电压值与理论电压数值U。伏比较后，就可以形成一个由二进制组成的N位新数值，将此新数值和预设参数作比较，若相同，则认为是合格芯片；若不相同，则认为是不合格芯片。如果采用上述传统方法直接测试芯片的合格与否，由于经测试周期检测后的新数值与预设理论数值完全一样才会被认为合格，而实际中用于误差的影响不可能完全相同，这样就容易造成误判，尤其在出现最高位为符号位的情况下，直接将输出值与预设参数做完全的匹配是无法实现测试芯片的目的。因此，我们希望可以提供一种新的测试方法，可以有效的消除误差的影响，准确而快速的判断出芯片的合格。

发明内容
本发明实际所要解决的技术问题是如何提供一种即准确又快速测试电容式触控芯片的方法。为了实现本发明的上述目的，本发明提供了一种电容式触控芯片的测试方法，其包括比较器，其步骤如下测试在一个周期内比较器输出的电压值；比较上述电压值与设定理论电压值的大小并输出相应的参数值；由上述参数组成的新数值与预设参数值逐位作比较从而形成一新的二进制数值，检测其是否在预设电压范围值内，从而判断触控芯片是否合格。本发明所述的电容式触控芯片的测试方法，有效的利用芯片设计时的理论电压值和预设参数值，通过多次比较，克服了误差的影响，并且也克服了针对在一个测试周期内出现的二进制数值中首位为符号位时，直接输出值与预设参数无法匹配导致不能实现测试芯片的缺点，最终实现准确而快速的判断出芯片的合格。


图1是现有电容触控芯片测试的连接示意图；图2是本发明电容式触控芯片的测试方法流程图。
具体实施例方式下面结合附图和实施例对本发明作进一步的说明。本发明所述的电容式触控芯片的测试方法需要利用比较器，即将比较器一端的正负两个电极分别和两个电容连接后再连接到电源上，而比较器的另一端用于输出电压值。当需要检测电容式触控芯片时，首先我们需要测试芯片在一个测试周期No内经
比较器输出后的电压值，设其理论电压值为Uo伏，预设参数值为Si、S2、S3.....Sn (其中
Sn = 0或1)。请参考图2所示为本发明的方法步骤流程图，首先测试比较器1在一个测试周期内输出的电压值U，设其分别为Ul、U2、U3、…· Un ；比较电压Ul、U2、U3、.... Un和理论电压值Uo的大小；若上述输出电压值U大于Uo则认为是高电压，用参数1表示，若上述输出电压值U小于Uo则认为是低电压，用另一参数O表示。故此我们假设Ul > Uo, U2 >
Uo, U3 < Uo,......Un > Uo，那么此时得出的数值就是(110......1)；这时再和预设参数
Sn逐位比较，也设此时预设参数值为(101......0)，若第N位相同，则输出0，若不相同，则
输出1，那么经过上述逐位比较后就又形成了一个新的二进制数值(011......0)；将上述
新二进制数值再转换成对应的十进制数值，与芯片预设合格电压范围值作比较从而就可以确认芯片是否合格。上述设定理论电压值和预设参数值以及预设电压范围值在芯片设计时就可确定， 且得到的新二进制数值转换成对应的十进制数值后，若其数值在芯片预设电压范围内，则认为是合格芯片；若不在所述预设电压范围内，则认为是不合格芯片。本发明所述的电容式芯片测试的方法，由于借助差值，不但简单，很好的克服了误差的影响，所以可以准确的判断出芯片的合格与否；而且，在本方法中即使二进制数值中出现最高位为符号位的情况下，由于不存在匹配性问题，所以可以达到测试芯片的目的。
权利要求
1.一种电容式触控芯片的测试方法，其包括比较器，其步骤如下测试在一个周期内比较器输出的电压值；比较上述电压值与设定理论电压值的大小并输出相应的参数值；由上述参数组成的新数值与预设参数值逐位作比较从而形成一新的二进制数值，检测其是否在预设电压范围值内，从而判断触控芯片是否合格。
2.如权利要求1所述的方法，其特征在于所述比较上述电压值与设定理论电压值的大小，若输出电压值大于理论电压值，则输出一个参数，若输出电压值小于理论电压值，则输出另一个参数。
3.如权利要求2所述的方法，其特征在于所述一个参数是指零，另一个参数是指一。
4.如权利要求1所述的方法，其特征在于所述新数值与预设参数逐位比较时，如某一位两者相同，则输出一个参数；若不相同，则输出另一个参数。
5.如权利要求4所述的方法，其特征在于若新数值与预设参数的某一位两者相同，则输出参数零；若不相同，则输出参数一。
6.如权利要求1所述的方法，其特征在于所述形成的新二进制数值需转换成十进制数值才能与预设电压范围值作比较。
7.如权利要求1至6中任意一项所述的方法，其特征在于若所述新的二进制数值在预设电压数值范围内，则认为触控芯片是合格的。
8.如权利要求1至6中任意一项所述的方法，其特征在于若所述新的二进制数值不在预设电压数值范围内，则认为触控芯片是不合格的。
9.如权利要求1所述的方法，其特征在于所述设定理论电压值和预设参数值以及预设电压范围值在芯片设计时就可确定。
10.如权利要求1所述的方法，其特征在于所述比较器的正负电极分别和两个电容连接后再连接到电源上。
全文摘要
本发明涉及一种电容式触控芯片的测试方法，其通过比较器输出的数值与理论电压值比较后所形成的参数，再和预设参数作比较的方法，不但克服了误差的影响，并且也克服了针对在一个测试周期内出现的二进制数值中首位为符号位时，直接输出值与预设参数无法匹配导致不能实现测试芯片的缺点，最终实现准确而快速的判断出芯片的合格。
文档编号G01R31/28GK102169161SQ20101055044
公开日2011年8月31日 申请日期2010年11月19日 优先权日2010年11月19日
发明者章国平 申请人:苏州瀚瑞微电子有限公司