专利名称：一种集成电路机械冲击试验夹具的制作方法
技术领域：
本发明涉及集成电路测试技术，特别涉及一种集成电路机械冲击试验夹具。
背景技术：
采用加速度试验是考查集成电路内部结构强度、内部引线强度、内部元器件粘接强度、封装强度等的有效手段之一，随着集成电路应用范围的不断扩大，对集成电路的加速度试验越来越高(峰值超过十万g)。目前加速度试验夹具主要有下列两种
I、专利号201020208344，专利名称PCB板振动与冲击试验的固定夹具；该专利主要涉及的是PCB板的机械冲击试验固定，如果用于固定微电路进行机械冲击试验，由于其使 用压条通过螺丝孔以及支撑柱等对样品进行固定，在进行微电路的机械冲击试验时，由于压条的附加作用力全部由微电路等样品承担，造成样品受到的机械冲击应力比实际承受的机械冲击应力大了很多，同时不容易对微电路的引脚进行保护，尤其当进行高加速度的机械冲击试验时，微电路的引脚以及玻璃绝缘子容易损坏。2、专利号200920186374，专利名称一种用于金属外壳封装混合集成器件冲击试验的夹具，该专利主要解决的金属外壳封装的混合集成器件的小加速度冲击试验的固定问题，当进行高加速度(峰值加速度> 5000g以至于达到几万g)后，固定的压条所产生的应力就可以损坏金属外壳封装混合集成器件，如果是靠立板和压条固定进行冲击，当进行高加速度冲击试验时，混合集成器件在强大的应力下往下滑动，而并不能真实反映该器件的真实机械冲击应力水平，同时该专利不适用于复杂封装的单片集成器件，以及许多种复杂封装的模块电路，因为有许多的单片集成器件和模块电路，并不是某一方向有外引脚，这样使用夹条固定非常的有局限性。

发明内容
本发明的目的就是为了解决现有技术中的集成器件冲击试验的夹具不能适用于高加速度冲击试验的缺点，提供的一种集成电路机械冲击试验夹具。本发明采用的技术方案如下
一种集成电路机械冲击试验夹具，其特征在于包括
a、底座，底座中部设有盛放集成电路的定位槽,底座上设有至少两个螺栓孔；
b、盖板，盖板中部设有一组与底座中的定位槽配合的引线孔，盖板上设有至少两个与底座相配合的螺栓孔；
c、底座、盖板上的螺栓孔中设有配合的螺栓,将底座及盖板连为一体。在上述技术方案的基础上，可以有以下优化的技术方案
底座的侧面分别设有X向连接螺孔和Y向连接螺孔，将夹具X向连接螺孔或Y向连接螺孔与冲击试验机相连时，可以对夹具中的集成电路进行X向或Y向的高加速度冲击试验。本发明的有点在于本发明把电路样品完全嵌套在金属夹具中，由于样品与金属夹具完全匹配，样品在金属夹具中紧密配合而受到的额外应力几乎可以忽略，在进行极高加速度(峰值超过十万g)的冲击的情况下，样品也不会承受外界的应力，同时也不会出现滑动，而反映出样品的完全真实的抗冲击水平。我们只需要改变模具的连接方向就可以方便的实现六个方向的冲击试验，更换方向也非常简单。


图I是本发明的主视 图2是图I的A-A剖视图。
具体实施例方式 如图I、图2所示，本发明提供的集成电路机械冲击试验夹具，其组成包括 a、底座1，底座I中部设有盛放集成电路的定位槽2，底座I上设有两个螺栓孔3，底座I的侧面分别设有X向连接螺孔8和Y向连接螺孔9 ；
b、盖板5，盖板5中部设有一组与底座I中的定位槽2配合的引线孔6，盖板5上设有两个与底座I相配合的螺栓孔4 ；
C、底座I、盖板5上的螺栓孔中设有配合的螺栓7，将底座I及盖板5连为一体。本发明的工作过程
如图I所示，将集成电路放置在底座I的定位槽2中，合上盖板5，使集成电路的各引线位于盖板5的引线孔6中，拧上螺栓7将底座I、上盖板5连为一体，电路完全嵌套在定位槽2中，使电路与金属模具完全匹配。将夹具固定在冲击试验机即可进行Z向加速度试验。
当将夹具X向连接螺孔或Y向连接螺孔与冲击试验机相连时，可以对夹具中的集成电路进行X向或Y向的高加速度冲击试验。
权利要求
1.一种集成电路机械冲击试验夹具，其特征在于包括 a、底座(I)，底座(I)中部设有盛放集成电路的定位槽(2)，底座(I)上设有至少两个螺栓孔(3)；b、盖板(5)，盖板(5 )中部设有一组与底座(I)中的定位槽(2配合的引线孔(6 )，盖板(5)上设有至少两个与底座(I)相配合的螺栓孔(4)； C、底座(I)、盖板(5)上的螺栓孔中设有配合的螺栓，将底座(I)及盖板(5)连为一体。
2.根据权利要求I所述的一种集成电路机械冲击试验夹具，其特征在于底座(I)的侧面分别设有X向连接螺孔(8)和Y向连接螺孔(9)。
全文摘要
本发明涉及一种集成电路机械冲击试验夹具，包括a、底座(1)中部设有盛放集成电路的定位槽(2)，底座(1)上设有至少两个螺栓孔(3)；b、盖板(5)中部设有一组与底座中的定位槽(2)配合的引线孔(6)，盖板(5)上设有至少两个与底座相配合的螺栓孔(4)；c、底座、盖板上的螺栓孔中设有配合的螺栓(7)，将底座及盖板连为一体。本发明的有点在于把电路样品完全嵌套在夹具中使之完全匹配，在进行及高加速度(峰值超过十万g)的情况下，样品也不会承受外界的应力，同时也不会出现滑动，而反映出样品的完全真实的抗冲击水平。只需要改变模具的连接方向就可以方便的实现六个方向的冲击试验，更换方向也非常简单。
文档编号G01M7/08GK102909667SQ201210377128
公开日2013年2月6日 申请日期2012年10月8日 优先权日2012年10月8日
发明者肖勇兵, 明灵 申请人:华东光电集成器件研究所