专利名称：一种水分仪被测材料加热方法
技术领域：
本发明属于分析仪器技术领域，特别涉及一种针对水分仪的被测材料加热方法。
背景技术：
在水分仪对物质材料的检测过程中，对被测物进行加热时必须的环节。对于某些 物品，如阿司匹林，其内的水分需要一定的时间来慢慢加热，以达到准确测量的目的，目前 的水分仪的加热方式在这方面还不能做到这一点。

发明内容
本发明的目的是针对水分仪温度控制的难点，即难以到达精确的控制，以及在到 达较高的目标温度时，容易发生较多的过冲现象，很难控制其稳定的问题，提供一种水分仪 被测材料加热方法，已解决上述两种问题，方便用户对不同的物质材料进行水分测定。本发明的技术方案是，一种水分仪被测材料加热方法，包括步骤获得加热初始温度Tc，设定被测材料的加热目标温度Th和被测材料的 单位为分钟的升温时长t，以i表示温度调节次数，得到每个调节周期的平均升温
^ ^ψ^λ ，其中调节周期ti = t/i ； λβο以PID算法控制加热过程，在第i个调节周期，令PID调节的设定值 Tsp Tc J Φ^λ/直至 iTs μ Th 为止；保持目标温度Th恒定，直至测试加热结束。本发明的技术方案，较为精确的加热控制目标温度，误差仅为几秒钟的时间，基本 可忽略不计。不会出现较大的温度过冲，基本保持在2°C以内，并且很快就可以稳定下来，温 度误差为rc。


图1是本发明加热方法的一实施例的程序流程示意图 图2是本发明实施例中一样品的加热过程曲线图
图3是本发明实施例中一样品的加热过程曲线图 图4是本发明实施例中一样品的加热过程曲线图 图5是本发明实施例中一样品的加热过程曲线图 图6是本发明实施例中一样品的加热过程曲线图
具体实施例方式本发明的一种水分仪被测材料加热方法，首先获得加热初始温度Tc，设定被测材 料的加热目标温度Th和被测材料的单位为分钟的升温时长t，以i表示温度调节次数，得到每个调节周期的平均升温
权利要求
1. 一种水分仪被测材料加热方法，其特征在于，包括以下步骤获得加热初始温度Tc，设定被测材料的加热目标温度Th和被测材料的单位为分钟的升温时长t，以i表示温度调节次数，得到每个调节周期的平均升温^ψ^λ ，其 λβο中调节周期ti = t/i ；以PID算法控制加热过程，在第i个调节周期，令PID调节的设定值Γψ Tc] ^λ/直 至Tsp μ Th为止；保持目标温度Th恒定，直至测试加热结束。
全文摘要
一种水分仪被测材料加热方法，包括步骤获得加热初始温度Tc，设定被测材料的加热目标温度Th和被测材料的单位为分钟的升温时长t，以i表示温度调节次数，得到每个调节周期的平均升温其中调节周期ti＝t/i；以PID算法控制加热过程，在第i个调节周期，令PID调节的设定值直至TspμTh为止；保持目标温度Th恒定，直至测试加热结束。本发明解决了水分仪温度控制的难点，即难以到达精确的控制，以及在到达较高的目标温度时，容易发生较多的过冲现象，很难控制其稳定的问题，方便用户对不同的物质材料进行水分测定。
文档编号G01N1/44GK102129263SQ20101059135
公开日2011年7月20日 申请日期2010年12月16日 优先权日2010年12月16日
发明者张翠翠, 陈公伦 申请人:上海精密科学仪器有限公司, 上海精科天美科学仪器有限公司