专利名称：高副式双用滑动测量仪的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种高副式双用滑动测量仪。
背景技术：
双燕尾类尺寸检测专用测量仪，见图1-3，包括移动芯棒2'、测量芯棒1'、底板 4'和面板3'，所述面板3'和底板4'均是长方体结构，所述面板3'固定在所述底板4' 上，所述面板3'上开有长条状的滑移槽5'，所述滑移槽5'的两端是圆弧结构；所述底板 4'在滑移槽5'的一端下方的位置开有一与光孔6'，所述光孔6'与底板4'上面积大的一面垂直，所述测量芯棒1'穿过滑移槽5'过度配合安装在光孔6'内；所述移动芯棒2' 可移动的安装在滑移槽5'内。该种双燕尾类尺寸检测专用测量仪在检测双燕尾类型状零件的尺寸过程中应用较广，检测精度也较高，但由于移动芯棒2'与底板4'接触面呈面接触，使两者之间的摩擦力较大，在用量具移动芯棒2'时，所用的测量力较大，而导致检测过程中检测精度有所降低。
发明内容为解决用双燕尾类尺寸检测专用测量仪在测量过程中的精度降低的问题，本实用新型提供了一种测量精度高的高副式双用滑动测量仪。本实用新型的技术方案高副式双用滑动测量仪，包括移动芯棒、测量芯棒、底板和面板，所述面板和底板均是长方体结构，所述面板固定在所述底板上，其特征在于所述面板上开有长条状的滑移槽，所述滑移槽的一端是开口结构，其另一端是圆弧结构；所述底板在滑移槽的圆弧端下方的位置开有一光孔，所述光孔与底板上面积大的一面垂直，所述测量芯棒穿过滑移槽过度配合安装在光孔内；所述移动芯棒可移动的安装在滑移槽内，所述移动芯棒与底板接触端是球形状。进一步，所述光孔是铰孔。进一步，所述面板和底板通过圆柱销固定连接。本实用新型的面板和底板的各面有一定的平面度和粗糙度要求，并且各对应面有一定的平行度要求。底板上的光孔与底板上面积大的一面有一定的垂直度要求，并且为铰孔，有一定的粗糙度和圆度误差；与相应规格要求的测量芯棒为其过度配合，这样，测量芯棒的测量圆面与底板能达到相应规格的垂直要求。移动芯棒与底面的上表面也有一定的垂直度要求，移动芯棒与底板接触端是球形状，使得其底板接触面的接触形式是点接触的高副接触，从而能降低在检测过程中的滑移移动芯棒时的测量力，能进一步提高检测精度。 同时，滑移槽设置为开式，其移动芯棒与测量芯棒的距离增加了，为此其检测范围规格也随之扩大；并且，当移动芯棒从滑移槽中拿下以后，可以作单芯棒尺寸测量仪使用，可检测V 型状之类零件的尺寸。其检测结果更加便捷、真实、可靠，尺寸的重复性一致，并且也增加了气量仪的检测范围。[0009]检测过程使用说明[0010]1、在检测带有V型状之类零件的尺寸时，把移动芯棒从滑移槽中移出，把收检件放在该检测仪的面板上，用量具检测收检件的尺寸和行位公差。[0011]2、在检测带有双燕尾之类型状零件的尺寸时以及尺寸规格较大时，可以把移动芯棒从滑移槽的开口端移入，把收检件放在该检测仪的面板上，用量具检测收检件的尺寸和行位公差。本实用新型的有益效果测量尺寸精度高，且结构简单合理，使用方便；并且增加了检测范围。


[0012]图1是双燕尾类尺寸检测专用测量仪的俯视图。[0013]图2是双燕尾类尺寸检测专用测量仪沿图1中A-A向的剖视图。[0014]图3是双燕尾类尺寸检测专用测量仪沿图1中B-B向的剖视图。[0015]图4是本实用新型的俯视图。[0016]图5是本实用新型沿图4中C-C向的剖视图。[0017]图6是本实用新型沿图4中D-D向的剖视图。
具体实施方式
[0018]参照图4-6，高副式双用滑动测量仪，包括移动芯棒2、测量芯棒1、底板4和面板 3，所述面板3和底板4均是长方体结构，所述面板3固定在所述底板4上，所述面板3上开有长条状的滑移槽5，所述滑移槽5的一端是开口结构，其另一端是圆弧结构；所述底板4 在滑移槽5的圆弧端下方的位置开有一光孔6，所述光孔6与底板4上面积大的一面垂直， 所述测量芯棒1穿过滑移槽5过度配合安装在光孔6内；所述移动芯棒2可移动的安装在滑移槽5内，所述移动芯棒2与底板4接触端是球形状。[0019]所述光孔6是铰孔。[0020]所述面板3和底板4通过圆柱销7固定连接。[0021]本实用新型的面板3和底板4的各面有一定的平面度和粗糙度要求，并且各对应面有一定的平行度要求。底板4上的光孔6与底板4上面积大的一面有一定的垂直度要求，并且为铰孔，有一定的粗糙度和圆度误差；与相应规格要求的测量芯棒1为其过度配合，这样，测量芯棒1的测量圆面与底板4能达到相应规格的垂直要求。移动芯棒2与底面 4的上表面也有一定的垂直度要求，移动芯棒2与底板4接触端是球形状，使得其底板4接触面的接触形式是点接触的高副接触，从而能降低在检测过程中的滑移移动芯棒2时的测量力，能进一步提高检测精度。同时，滑移槽5设置为开式，其移动芯棒2与测量芯棒1的距离增加了，为此其检测范围规格也随之扩大；并且，当移动芯棒2从滑移槽1中拿下以后，可以作单芯棒尺寸测量仪使用，可检测V型状之类零件的尺寸。其检测结果更加便捷、真实、 可靠，尺寸的重复性一致，并且也增加了气量仪的检测范围。[0022]检测过程使用说明[0023]1、在检测带有V型状之类零件8的尺寸时，把移动芯棒2从滑移槽5中移出，把收检件放在该检测仪的面板3上，用量具检测收检件的尺寸和行位公差。[0024]2、在检测带有双燕尾之类型状零件9的尺寸时以及尺寸规格较大时，可以把移动芯棒2从滑移槽5的开口端移入，把收检件放在该检测仪的面板3上，用量具检测收检件的尺寸和行位公差。 本说明书实施例所述的内容仅仅是对实用新型构思的实现形式的列举，本实用新型的保护范围的不应当被视为仅限于实施例所陈述的具体形式，本实用新型的保护范围也及于本领域技术人员根据本实用新型构思所能够想到的等同技术手段。
权利要求1.高副式双用滑动测量仪，包括移动芯棒、测量芯棒、底板和面板，所述面板和底板均是长方体结构，所述面板固定在所述底板上，其特征在于所述面板上开有长条状的滑移槽，所述滑移槽的一端是开口结构，其另一端是圆弧结构；所述底板在滑移槽的圆弧端下方的位置开有一光孔，所述光孔与底板上面积大的一面垂直，所述测量芯棒穿过滑移槽过度配合安装在光孔内；所述移动芯棒可移动的安装在滑移槽内，所述移动芯棒与底板接触端是球形状。
2.根据权利要求1所述的高副式双用滑动测量仪，其特征在于所述光孔是铰孔。
3.根据权利要求1或2所述的高副式双用滑动测量仪，其特征在于所述面板和底板通过圆柱销固定连接。
专利摘要高副式双用滑动测量仪，包括移动芯棒、测量芯棒、底板和面板，所述面板和底板均是长方体结构，所述面板固定在所述底板上，所述面板上开有长条状的滑移槽，所述滑移槽的一端是开口结构，其另一端是圆弧结构；所述底板在滑移槽的圆弧端下方的位置开有一光孔，所述光孔与底板上面积大的一面垂直，所述测量芯棒穿过滑移槽过度配合安装在光孔内；所述移动芯棒可移动的安装在滑移槽内，所述移动芯棒与底板接触端是球形状。本实用新型的有益效果测量尺寸精度高，且结构简单合理，使用方便；并且增加了检测范围。
文档编号G01B5/00GK202274833SQ20112022461
公开日2012年6月13日 申请日期2011年6月29日 优先权日2011年6月29日
发明者董乃涵 申请人:浙江工业职业技术学院