专利名称：一种瓦形磁体的磁性能测试夹具的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种瓦形磁体的磁性能无损测试夹具。
背景技术：
瓦形磁体是永磁直流电机的磁极，磁性能是瓦形磁体的最重要的技术参数，传统 的检测瓦形磁体磁性能的方法是先从瓦形磁体中切割、磨削出方形磁块样品，再用磁性材 料测试仪测试出方形磁块样品的磁性能，以此测试值作为瓦形磁体的磁性能。上述测试方 法是一种破坏性测试，因而取样数量不可能很多，取样数量太少将无法可靠地判断整批磁 体的质量；另外，磁体的切割位置、样品的尺寸大小也会给测量带来较大误差。德国ECKEL 公司与博世公司合作设计出一种名为Robograph的瓦形磁体测试系统，配备瓦形极头，将 瓦形磁体插入极头的拱形间隙区后可以直接无损测试瓦形磁体的磁性能，但该系统存在以 下不足用于磁场测量的传感器置于瓦形极头的拱形间隙区，由于拱形间隙区内的磁场为 不均勻磁场，传感器位置稍有偏移，测试结果相差很大；另外用于磁通测量的线圈比瓦形磁 体大，测量过程中测到了整个瓦形磁体的磁通，并根据该磁通值对瓦形磁体的品质进行判 别，而实际上，瓦形磁体装配到永磁直流电机中后，磁体轴长及弦宽边缘部份产生的磁通成 为无效的漏磁通，而该系统将无效的漏磁通和有效的磁通同等看待，因而不能准确判别磁 体的装电机后的磁性能品质。

实用新型内容本实用新型的目的在于提供一种瓦形磁体的磁性能测试夹具，以实现测试准确、 结果重复性好、可方便快捷地对瓦形磁体的磁性能进行无损测试。本实用新型的技术方案是，包括导磁钢基体、开在基体上的通孔、缠绕线圈，其特 征在于，所述基体的外形为长方体，所述通孔是由中部的拱形通孔和其两侧的两个长方形 通孔连通而成，所述拱形通孔的上端面和下端面是同轴度为Φ0. 15的两个同心圆弧面，所 述长方形通孔的上、下垂直距离和拱形二个同心圆弧面之间的径向距离相等或差距小于 2%，在拱形下端的圆弧左右末端处开有绕线槽，线圈缠绕在绕线槽中。所述长方形通孔的横向边长为长方形通孔的上、下垂直距离的2. 5到15倍。这样 能扩大测试时两侧的长方形通孔中的磁场均勻区，减少测试误差。所述长方形通孔的横向边长与长方形通孔二侧的基体横向壁厚之比为1 :0. 05 0. 25。这样能进一步扩大测试时通孔两侧的方形部位中的磁场均勻区，减少测试误差。所述通孔深度小于待测瓦形磁体轴长。这样测试时线圈中探测到的磁通量主要为 瓦形磁体装机后的有效磁通量。用本实用新型测试瓦形磁体磁性能时，将夹具上的线圈与永磁材料磁性能测试系 统的磁通探测接口相连，将永磁材料磁性能测试系统的磁场探测器插入两侧的长方形通孔 的中部，待测试的瓦形磁体插在中部拱形通孔中。往测试系统中输入线圈参数，就能方便快 捷地对瓦形磁体的磁性能进行无损测试，测试结果重复性好，能较准确地体现瓦形磁体的实际装机效果。
图1为本实用新型一实施例的结构示意图。
具体实施方式

以下结合附图对本实用新型作进一步说明。实施例1:参照附图用于测量外弧为R16. 9mm、内弧为R12mm、外弧弦宽为30mm、轴长为37mm 的瓦形磁体的磁性能测试夹具，采用10#钢制作的基体5为长方体，在长方体基体5中开有 通孔，所述通孔是由中部的拱形通孔1和其两侧的两个长方形通孔2连通而成，拱形通孔 的上端面和下端面是两个同心圆弧面，圆弧尺寸分别为R17和R12，两圆弧面的径向距离为 5mm，长方体基体的长度即通孔深度为34mm，比待测瓦形磁体轴长小3mm。所述长方形通孔的上、下垂直距离和拱形二个同心圆弧面之间的径向距离相等， 为 5mm0拱形下端的圆弧弦宽为22mm，圆弧的左右末端处开有绕线槽3，线圈4绕在绕线槽 3中。其长方形通孔的横向边长为长方形通孔的上、下垂直距离的6倍，即30mm。长方形通孔的横向边长与长方形通孔二侧的基体横向壁厚之比为1 :0. 1，长方形 通孔的横向边长为30mm，故长方形通孔二侧的基体横向壁厚为3mm。本实用新型的使用方法如下将本夹具置于常规的永磁材料磁性能测试系统的电 磁铁极头中央，摇动电磁铁极头夹紧本夹具，然后将夹具上的线圈与测试系统的磁通探测 接口相连，将测试系统的磁场探测器插入通孔的两侧的长方形孔2的中部，最后将待测试 的瓦形磁体插入夹具通孔的中部拱形孔1中，往测试系统中输入线圈参数，即可开始该瓦 形磁体磁性能无损测试。
权利要求一种瓦形磁体的磁性能测试夹具，包括导磁钢基体、开在基体上的通孔、缠绕线圈，其特征在于，所述基体的外形为长方体，所述通孔是由中部的拱形通孔和其两侧的两个长方形通孔连通而成，所述拱形通孔的上端面和下端面是同轴度为φ0.15的两个同心圆弧面，所述长方形通孔的上、下垂直距离和拱形二个同心圆弧面之间的径向距离相等或差距小于2%，在拱形下端的圆弧左右末端处开有绕线槽，线圈缠绕在绕线槽中。
2.根据权利要求1所述的瓦形磁体的磁性能测试夹具，其特征在于，所述长方形通孔 的横向边长为长方形通孔的上、下垂直距离的2. 5到15倍。
3.根据权利要求1或2所述的瓦形磁体的磁性能测试夹具，其特征在于，所述长方形通 孔的横向边长与长方形通孔二侧的基体横向壁厚之比为ι :0. 05 0. 25。
4.根据权利要求1所述的瓦形磁体的磁性能测试夹具，其特征在于，所述通孔深度小 于待测瓦形磁体轴长。
专利摘要本实用新型公开了一种瓦形磁体的磁性能测试夹具。包括导磁钢基体、开在基体上的通孔、缠绕线圈，其特征在于，所述基体的外形为长方体，所述通孔是由中部的拱形通孔和其两侧的两个长方形通孔连通而成，所述拱形通孔的上端面和下端面是同轴度为φ0.15的两个同心圆弧面，所述长方形通孔的上、下垂直距离和拱形二个同心圆弧面之间的径向距离相等或差距小于2％，在拱形下端的圆弧左右末端处开有绕线槽，线圈缠绕在绕线槽中。将本夹具与常规的永磁材料磁性能测试系统相接，可以快捷、准确地对瓦形磁体的磁性能进行无损测试。
文档编号G01R33/12GK201654211SQ20092031512
公开日2010年11月24日 申请日期2009年11月19日 优先权日2009年11月19日
发明者孟建平, 张铁军, 邱捧祥 申请人:湖南航天磁电有限责任公司