专利名称：Av端口专用测试探针的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及电子检测器具，尤其涉及一种专门用来检测AV(音频Audio和视 频Video的简称)端口质量性能的测试探针。
背景技术：
当前在电子产品生产中的测试环节，对于传统AV信号的测试，通常是通过直接在 PCB板(印刷电路板)上的AV焊接点上获取信号的方式来进行测试；以这样的方式完成测 试，往往无法测试出AV端口实际上的好坏，因而所测试的AV端口，其产品质量将会埋下一 定的隐患。由于AV端口的正常使用过程是AV信号经过连接线与AV连接器件端口插件连 接，端口插件经引线与PCB板焊盘焊接；而前述传统AV信号的测试环节中，传统AV端口的 测试探针会直接下在PCB板焊盘上，也就是在测试过程中跳过了 AV连接器，因而不会测试 到AV连接器的好与坏。

实用新型内容本实用新型所要解决的技术问题在于提供一种AV端口专用测试探针，它通过对 测试探针的结构改进，改变了测试过程中探针与AV连接器的相关触及位置，进而实现了对 AV连接器的电学质量性能的测试，彻底解决了传统AV端口在PCB板上测试时，遗留的质量 隐患问题。其所要解决的技术问题可以通过以下技术方案来实施。一种AV端口专用测试探针，包括具有共同轴心的内测试针和外测试针，所述内测 试针和外测试针沿所述轴心的轴线方向分别经一弹性部件沿各自针头方向所抵持，并且， 所述内测试针和所述外测试针经定位件插接定位；所述内测试针外部设有一内测试针套， 所述外测试针外部设有一外测试针套，所述内测试针套和所述外测试针间还设有绝缘套。作为本技术方案的进一步改进，所述弹性部件分别为抵持内测试针的内测试针压 簧和抵持外测试针的外测试针压簧。作为本实用新型的优选实施例之一，所述定位件为设于该专用测试探针尾部的一 定位板。也作为本技术方案的进一步改进，所述内测试针的基材为铍铜，表面为镀金、镀银 或镀镍层。还作为本技术方案的进一步改进，所述内测试针套和/或所述外测试针的基材为 磷青铜，表面为镀金、镀银或镀镍层。又作为本技术方案的进一步改进，所述外测试针套为磷青铜针套。作为本实用新型的另一优选实施例，所述内测试针压簧和/或外测试针压簧的压 缩行程为8——10mm。另外，所述内测试针的端部最好为球形。[0014]作为本技术方案的更进一步改进，所述外测试针的端部为60度内锥边。同样，所述内测试针和外测试针的同心度最好不大于0. 1mm。采用该技术方案的AV端口专用测试探针用来进行AV端口测试时，通过将测试探 针直接下在了 AV连接器的插件端口上，从而把AV连接器、AV连接器与PCB板的焊接质量 全部检测进去，消除现有检测方式无法检测AV连接器的质量隐患，提高了产品质量的稳定 性。是一种非常有效的测试方案。
以下结合附图对本实用新型的具体实施方式
作一详细说明。

图1为本实用新型的结构示意图；图2为本实用新型的零件分解图。图中11——内测试针 111——内测试针头 12——内测试针套13——内测试针压簧 21——外测试针 22——外测试针套221——定位耳 23——外测试针压簧 3——绝缘套4——定位板
具体实施方式
如图1和图2所示的AV端口专用测试探针，主要基于电子测试领域测试探针的改 进，该AV专用测试探针结构上主要由内测试针11和内测试针套12、外测试针21和外测试 枕套22及绝缘套3所组成；各部件的结构特点及组成和相互关系具体如下1.内测试针和测试针套1. 1内测试针内测试针11采用铍铜材料，表面镀金、银或镍等，以保证测试接触的可靠性；内测 试针11的端部为球形的内测试针头。1. 2内测试针套内测试针套12采用磷青铜材料，表面镀金、银或镍等，以保证测试接触可靠性。1. 3测试弹簧内测试针压簧13压力适中，内测试针11在弹簧的作用下行程为8-10mm。2.外测试针和外测试针套2. 1外测试针外测试针21采用磷青铜材料，表面镀金、银或镍等，以保证测试接触可靠性。外测 试针21的端部形状为60度内锥边。2. 2外测试针套外测试针套22采用磷青铜材料。2. 3测试弹簧外测试针压簧23压力适中，外测试针21在弹簧的作用下行程为8-10mm。3.内、外测试针套的组装3. 1将内测试针11及内测试针套12安装在绝缘套3的内孔中，有定位台阶控制安
装位置。[0041]3. 2将内、外测试针11和21分别以插接的形式安装在AV专用测试针的定位板4 上(其中外测试针21是通过其外部的外测试针套22上的定位耳221实现与定位板4的连 接的)；同时要保证内、外测试针11和12的同心度在0. Imm之内。内、外测试针11和12分 别在内测试针压簧13和外测试针压簧23的作用下能够实现上下移动自如的状态。本实用新型提供的AV端口专用测试针具有如下工作特点1. AV专用测试探针可以以普通探针的安装形式安装在测试针床上，也可以以功能 测试形式安装在功能测试仪上。2. AV专用测试探针与AV连接器的连接时，首先内测试针11进入AV连接器内孔， 并与信号点接触，同时也起到为外测试针12定位作用。当外测试针12与AV连接器的外接 触点接触时，整个连接过程结束。3. AV专用测试探针在测试状态下，在弹簧力的作用下，与被侧器件紧密接触，由于 接触面镀金，使得接触电阻很小，测试性能可靠。4.当测试治具与AV专用测试针定位误差在允许范围内时，由于AV专用测试针内 测试针11的内测试针头111是球形，它可以自动导向进入被测试孔；当定位误差过大时，它 将被顶起。这时内测试针11的尾部导向杆伸出AV专用测试针的定位板4外，能及时报警 提醒操作者调整误差。5.该AV专用测试探针使用寿命较长，这主要是由于它的加工要求很高。各滑动面 要尽量减少摩擦，弹簧的作用力不能因为加工的粗糙而受影响。以确保AV专用测试探针在 额定弹力下它的导电性能是合格的。6.该AV专用测试探针经过测试，其可通过的电压及电流强度远远大于AV连接器 的测试要求，以确保产品在客户的使用环境下能够正常工作。7.该AV专用测试探针在特殊的侧放状态下也能正常工作。由于该AV专用测试探针的接触表面都涂有镀金，因此在日常维护时要避免用手 和其他硬质器件碰击，防止降低使用周期。同样该AV专用测试探针要定期进行维护保养， 保养周期可以与传统探针相同。AV专用测试探针的更换是整体更换，这有别于传统测试探 针的更换。本实用新型提供的AV端口专用探针，由内芯探针和外部探针复合组成，通过两组 探测弹簧的压力，使内、外探针分别作用于AV连接器的内部和外部接触点上，分别同时测 试AV连接器本体和AV连接器与PCB板焊接的质量。彻底解决了传统AV端口在PCB板上 测试时，遗留的质量隐患问题。
权利要求一种AV端口专用测试探针，其特征在于，包括具有共同轴心的内测试针和外测试针，所述内测试针和外测试针沿所述轴心的轴线方向分别经一弹性部件沿各自针头方向所抵持，并且，所述内测试针和所述外测试针经定位件插接定位；所述内测试针外部设有一内测试针套，所述外测试针外部设有一外测试针套，所述内测试针套和所述外测试针间还设有绝缘套。
2.根据权利要求1所述的AV端口专用测试探针，其特征在于，所述弹性部件分别为抵 持内测试针的内测试针压簧和抵持外测试针的外测试针压簧。
3.根据权利要求1所述的AV端口专用测试探针，其特征在于，所述定位件为设于该专 用测试探针尾部的一定位板。
4.根据权利要求1所述的AV端口专用测试探针，其特征在于，所述内测试针的基材为 铍铜，表面为镀金、镀银或镀镍层。
5.根据权利要求1所述的AV端口专用测试探针，其特征在于，所述内测试针套和/或 所述外测试针的基材为磷青铜，表面为镀金、镀银或镀镍层。
6.根据权利要求1所述的AV端口专用测试探针，其特征在于，所述外测试针套为磷青 铜针套。
7.根据权利要求2所述的AV端口专用测试探针，其特征在于，所述内测试针压簧和/ 或外测试针压簧的压缩行程为8 10mm。
8.根据权利要求1或4所述的AV端口专用测试探针，其特征在于，所述内测试针的端 部为球形。
9.根据权利要求1或5所述的AV端口专用测试探针，其特征在于，所述外测试针的端 部为60度内锥边。
10.根据权利要求1所述的AV端口专用测试探针，其特征在于，所述内测试针和外测试 针的同心度不大于0. 1mm。
专利摘要本实用新型涉及一种AV端口专用测试探针，包括具有共同轴心的内测试针和外测试针，所述内测试针和外测试针沿所述轴心的轴线方向分别经一弹性部件沿各自针头方向所抵持，并且，所述内测试针和所述外测试针经定位件插接定位；所述内测试针外部设有一内测试针套，所述外测试针外部设有一外测试针套，所述内测试针套和所述外测试针间还设有绝缘套。它将测试探针直接下在了AV连接器的插件端口上，从而把AV连接器、AV连接器与PCB板的焊接质量全部检测进去，消除现有检测方式无法检测AV连接器的质量隐患，提高了产品质量的稳定性。
文档编号G01R1/067GK201673179SQ20102012722
公开日2010年12月15日 申请日期2010年3月10日 优先权日2010年3月10日
发明者魏秦 申请人:上海凯恒电子科技有限公司