一种高精密度的摆动二分的制造方法
【专利摘要】本实用新型公开了一种高精密度的摆动二分机，包括入料斗、振动给料装置、机架、连杆机构、偏心机构、减速电机、摆动斗、接料斗、试样瓶。减速电机带动偏心机构旋转，偏心机构带动连杆机构使摆动斗往复摆动，在入料斗内加入样料，振动给料装置将样料均匀输送进入摆动斗，摆动斗将样料摆动落入接料斗内，接料斗设有两个下料口，将样料二分，每份各落入一个试样瓶内，取得二分的两份样料，由于摆动的行程小，使得单位时间缩分的次数多，从而实现了二分过程均匀入料，样料二分自动收集，所制样品精密度高，减轻操作者劳动强度的目的。
【专利说明】一种高精密度的摆动二分机
【技术领域】
[0001]本实用新型涉及制样领域的一种粉碎设备，尤其涉及一种高精密度的摆动二分机。
【背景技术】
[0002]二分机是制样领域常用的设备，使用二分机可将物料分成两份。但普通往复式二分机存在下述问题:下料口下料下方设置二分装置，二分装置直线往复运动将物料二分，但由于二分装置直线往复运动行程长，造成收集物料的盛样器的长度长，造成体积很大，且直线运动行程长影响往复切割的频率，影响二分精密度，而且操作人员还要将盛样器的样料加入试样瓶，增加了工作环节，操作者劳动强度高。

【发明内容】

[0003]本实用新型的目的在于提供一种高精密度的摆动二分机，它具有往复切割频率快，将来料均匀二分，样料直接进入试样瓶，所制样品精密度高。
[0004]本实用新型是这样来实现的，它包括入料斗、振动给料装置、机架、连杆机构、偏心机构、减速电机、摆动斗、接料斗、试样瓶，其特征在于振动给料装置上设有入料斗，振动给料装置架设在机架上，振动给料装置对应摆动斗；摆动斗设在接料斗上，接料斗下设置试样瓶，摆动斗连接连杆机构，连杆机构连接偏心机构，偏心机构连接减速电机。
[0005]所述减速电机带动偏心机构旋转，偏心机构带动连杆机构，使得摆动斗往复摆动。
[0006]所述接料斗对称设置两个锥形下料口，当摆动斗往复摆动下料时，相对将样料进行了二分。
[0007]所述摆动斗摆动的轴心在摆动斗的上部，样料落入摆动斗后，不会被甩出。
[0008]本实用新型具有如下优点:1、驱动部件偏心小，使得往复切割频率快，切割次数多；2、所制样品精密度高；3、物料损失少，4、自动收集；5、操作者劳动强度低。
【专利附图】

【附图说明】
[0009]图1为本实用新型的主视图。
[0010]图2为本实用新型的俯视图。
[0011]图3为本实用新型的剖视图。
[0012]在图中，1、入料斗 2、振动给料装置 3、机架 4、连杆机构 5、偏心机构
6、减速电机7、摆动斗8、接料斗 9、试样瓶。
【具体实施方式】
[0013]如图1、2、3所示，一种高精密度的摆动二分机，它包括入料斗1、振动给料装置2、机架3、连杆机构4、偏心机构5、减速电机6、摆动斗7、接料斗8、试样瓶9。其特征在于振动给料装置2上设有入料斗I，振动给料装置2架设在机架3上，振动给料装置2对应摆动斗7 ;摆动斗7设在接料斗8上，接料斗8下设置试样瓶9，摆动斗7连接连杆机构4，连杆机构4连接偏心机构5，偏心机构5连接减速电机6。
[0014]所述减速电机6带动偏心机构5旋转,偏心机构5带动连杆机构4,使得摆动斗7
往复摆动。
[0015]所述接料斗8对称设置两个锥形下料口，当摆动斗7往复摆动下料时，相对将样料进行了 二分。
[0016]所述摆动斗7摆动的轴心在摆动斗7的上部，样料落入摆动斗7后，不会被甩出。
[0017]在使用时,减速电机6带动偏心机构5旋转,偏心机构5带动连杆机构4使摆动斗7往复摆动，在入料斗I内加入样料，振动给料装置2将样料均匀输送进入摆动斗7，摆动斗7将样料摆动落入接料斗8内，接料斗8设有两个下料口，将样料二分，每份各落入一个试样瓶9内，取得二分的两份样料，由于摆动的行程小，使得单位时间缩分的次数多。
[0018]从而实现了二分过程均匀入料，样料二分自动收集，所制样品精密度高，减轻操作者劳动强度的目的。
【权利要求】
1.一种高精密度的摆动二分机，包括入料斗、振动给料装置、机架、连杆机构、偏心机构、减速电机、摆动斗、接料斗、试样瓶，其特征在于振动给料装置上设有入料斗，振动给料装置架设在机架上，振动给料装置对应摆动斗；摆动斗设在接料斗上，接料斗下设置试样瓶，摆动斗连接连杆机构，连杆机构连接偏心机构，偏心机构连接减速电机。
2.根据权利要求1所述的高精密度的摆动二分机，其特征是所述摆动斗可往复摆动。
3.根据权利要求1或2所述的高精密度的摆动二分机，其特征是所述摆动斗摆动的轴心在摆动斗的上部。
4.根据权利要求1或2所述的高精密度的摆动二分机，其特征是所述接料斗对称设置两个锥形下料口。
【文档编号】G01N1/28GK203658122SQ201320847341
【公开日】2014年6月18日 申请日期:2013年12月21日 优先权日:2013年12月21日
【发明者】何文莉, 张志强 申请人:南昌光明化验设备有限公司