一种介电超晶格材料周期测量仪及其使用方法
【专利摘要】本发明公开了一种介电超晶格材料周期测量仪，包括激光光源、屏幕和刻度装置，待测介电超晶格材料放置于激光光源和刻度装置之间，所述激光光源垂直于待测介电超晶格材料表面，所述屏幕平行于待测介电超晶格材料表面，所述刻度装置置于屏幕上。本发明采用光栅衍射原理，使用激光对介电体超晶格材料表面照射，通过检测透过的衍射点来判定材料周期。本发明装置简单，操作方便快捷，且准确度高。
【专利说明】一种介电超晶格材料周期测量仪及其使用方法
【技术领域】
[0001]本发明属于激光检测领域，涉及到一种介电体超晶格材料的内部光栅周期的测量装置。
【背景技术】
[0002]非线性极化率受到周期性调制的人工晶体被称为光学超晶格，其在激光变频技术方面有着重要作用。激光变频技术属于非线性光学效应。激光变频过程中的位相失配可以通过晶体非线性极化率的周期性调制来补偿，从而使光的非线性变化得以高效完成。
[0003]在激光变频过程中，要想得到一定频率的光，首先要根据为相匹配中的动量守恒
算出所需的倒格矢Δk = k2M-2kM = Gm，而晶体的周期与倒格矢关系是
【权利要求】
1.一种介电超晶格材料周期测量仪，其特征在于:包括激光光源(I)、屏幕(7)和刻度装置(3 )，待测介电超晶格材料放置于激光光源(I)和刻度装置(3 )之间，所述激光光源(I)垂直于待测介电超晶格材料表面，所述屏幕(7)平行于待测介电超晶格材料表面，所述刻度装置(3)置于屏幕(7)上。
2.根据权利要求1所述的一种介电超晶格材料周期测量仪，其特征在于:所述激光光源(I)的光束口径为0.1~I謹,波长λ为400~800nm。
3.根据权利要求1所述的一种介电超晶格材料周期测量仪，其特征在于:所述待测介电超晶格材料放置于载物台(2)内，所述载物台(2)上设置有位移微调装置。
4.根据权利要求1所述的一种介电超晶格材料周期测量仪，其特征在于:所述刻度装置(3 )包含标准标尺轴和对应级数标尺轴,所述标准标尺轴上刻有标准刻度,所述对应级数标尺轴按照如下方法标注:设定波长为λ、刻度装置(3)与待测介电超晶格材料之间的距 离为D时，基于公式
5.根据权利要求3所述的一种介电超晶格材料周期测量仪，其特征在于:所述待测介电超晶格材料放置于载物台(2 )内的平台(5 )上，所述平台(5 )透明。
6.根据权利要求 4所述的一种介电超晶格材料周期测量仪，其特征在于:所述刻度装置(3)具有中心转轴，且标准标尺轴和对应级数标尺轴的零点均重合于中心转轴处。
7.一种介电超晶格材料周期测量仪的使用方法，其特征在于:选择激光波长为设定的波长λ，打开激光光源(1)，发射出波长λ的激光垂直照射至待测介电超晶格材料表面,刻度装置(3 )的零点对准激光光源(I)，保持刻度装置(3 )与待测介电超晶格材料之间的距离为D不变，观察衍射条纹，在对应级数标尺轴上找出所对应级数的衍射条纹的位置，并读取对应级数标尺轴在该位置处标注的周期d。
【文档编号】G01N21/45GK103674895SQ201310680682
【公开日】2014年3月26日 申请日期:2013年12月12日 优先权日:2013年12月12日
【发明者】吕新杰, 刘奕辰, 蒋旭东, 居盼盼, 赵刚, 祝世宁 申请人:南京大学