专利名称：检测装置的制作方法
技术领域：
本发明涉及一种检测装置，特别涉及一种适用于检测工件的孔轴线垂直距离的检测装置。
背景技术：
工件通常会采用冲孔、铸造及注塑及机加等工艺生成许多通孔。有些工件上沿第一轴线设若干第一通孔及沿垂直第一轴线的第二轴线设若干第二通孔。第一与第二轴线之间的垂直距离需满足一定的尺寸要求。现有的测量方法一般使用三次元检测或在检测室中投影进行检测该距离。但此两种检测方法检测成本高、效率低，且不能满足大批量生产检测的需求。

发明内容
鉴于以上，有必要提供一种成本低且检测效率高的检测装置。一种检测装置，用于检测工件上的两相互垂直的第一轴线与第二轴线之间的垂直距离是否合格，该工件沿该第一轴线设两第一通孔，沿该第二轴线设一第二通孔，该检测装置包括一支撑架、沿该第一轴线方向相对地装设于该支撑架的一第一、第二定位件及一沿该第二轴线的方向活动地装设于该支撑架的测量件，该第一定位件可卡置于该工件的一第一通孔，该第二定位件可相对滑动地卡置于该工件的另一第一通孔，该第一、第二定位件的中心轴与该测量件的中心轴之间的距离等于该工件的第一、第二轴线之间的垂直距离，当该工件的第一、第二轴线之间的距离合格时，该测量件可穿过该工件的第二通孔内，当该工件上的第一、第二轴线之间的距离不合格时，该测量件无法穿过该工件的第二通孔。本发明检测装置通过判断测量件是否可插入该工件的第二通孔内来检测工件的两轴线的垂直距离是否合格，操作快速准确，且该检测装置制造成本及工件的检测成本都很低。


下面参照附图结合具体实施方式
对本发明作进一步的描述。图I是本发明检测装置的较佳实施方式与一工件的立体分解图。图2是图I的检测装置的立体组装图。图3是图I的检测装置与工件的立体组装图。图4至图6分别为图3在三种状态下的局部剖视图。主要元件符号说明
_支撑架 |20
支撑板 22_
'第一固定块54
第二固定块26_
容置槽 |2权利要求
1.一种检测装置，用于检测工件上的两相互垂直的第一轴线与第二轴线之间的垂直距离是否合格，该工件沿该第一轴线设两第一通孔，沿该第二轴线设一第二通孔，该检测装置包括一支撑架、沿该第一轴线方向相对地装设于该支撑架的一第一、第二定位件及一沿该第二轴线的方向活动地装设于该支撑架的测量件，该第一定位件可卡置于该工件的一第一通孔，该第二定位件可相对滑动地卡置于该工件的另一第一通孔，该第一、第二定位件的中心轴与该测量件的中心轴之间的距离等于该工件的第一、第二轴线之间的垂直距离，当该工件的第一、第二轴线之间的距离合格时，该测量件可穿过该工件的第二通孔内，当该工件上的第一、第二轴线之间的距离不合格时，该测量件无法穿过该工件的第二通孔。
2.如权利要求I所述的检测装置，其特征在于该支撑架包括一支撑板，该支撑板沿该第一轴线相间隔地突设一第一固定块及一第二固定块，该第一定位件可滑动地装设于该第一固定块，该第二定位件可滑动地装设于该第二固定块。
3.如权利要求2所述的检测装置，其特征在于该第一固定块及第二固定块相对地沿该第一轴线的方向各开设一纵截面呈长圆形的定位孔，该第一定位件及第二定位件可纵向滑动地装设于该两定位孔。
4.如权利要求3所述的检测装置，其特征在于该支撑板开设一可收容该测量件的第二定位孔，该测量件可滑动地装设于该第二定位孔。
5.如权利要求4所述的检测装置，其特征在于该第二定位孔呈阶梯状，包括一位于上部的大孔及一位于下部的小孔，该大孔与小孔之间形成一支撑面，该测量件包括一可纵向滑动地装设于该小孔内的本体及一突设在该本体的上端且可滑动地收容于该大孔内的测量部，该支撑面可支撑该测量部。
6.如权利要求4所述的检测装置，其特征在于该大孔及小孔的横截面为长圆形。
7.如权利要求5所述的检测装置，其特征在于所述测量部为一圆柱体，其直径等于该工件的第二通孔的直径的标准值减去公差值。
8.如权利要求3所述的检测装置，其特征在于该第一定位件包括一可插入该第一固定块的定位孔的连接杆，该连接杆的一端向外延伸一直径渐趋变小的圆锥形的定位部，该定位部可插入该工件的一第一通孔内，该连接杆于远离该定位部的端面开设一螺孔，一限位螺丝穿过一垫片螺接于该螺孔内从而将该第一定位件固定于该第一固定块。
9.如权利要求3所述的检测装置，其特征在于该第二定位件包括一可插入该第二固定块的定位孔的连接杆，该连接杆的一端向外延伸一直径渐趋变小的圆锥形的定位部，该定位部可插入该工件的另一第一通孔内，该连接杆于远离该定位部的端面开设一螺孔，该连接杆依次穿过一弹簧及该定位孔，一限位螺丝依次穿过一锁固螺母及一垫片螺接于该螺孔内从而将该第二定位件可滑动地装设于该第二固定块。
10.如权利要求2所述的检测装置，其特征在于所述测量部为一圆柱体，其直径等于该工件的第二通孔的直径的标准值减去公差值。
全文摘要
一种检测装置，用于检测工件上的两相互垂直的第一轴线与第二轴线之间的距离是否合格，该工件沿该第一轴线设两第一通孔，沿该第二轴线设一第二通孔，该检测装置包括一支撑架、沿该第一轴线方向相对地装设于该支撑架的一第一、第二定位件及一沿该第二轴线的方向活动地装设于该支撑架的测量件，该第一定位件可卡置于其中的一第一通孔，该第二定位件可滑动地卡置于该工件的另一第一通孔，该第一、第二定位件的中心轴与该测量件的中心轴之间的距离等于该工件的第一、第二轴线之间的垂直距离，当工件的第一、第二轴线之间的距离合格时，该测量件可穿过该第二通孔，当该工件上的第一、第二轴线之间的距离不合格时，该测量件无法穿过该第二通孔。
文档编号G01B5/02GK102735137SQ20111009088
公开日2012年10月17日 申请日期2011年4月12日 优先权日2011年4月12日
发明者张秉君 申请人:鸿富锦精密工业(深圳)有限公司, 鸿海精密工业股份有限公司