专利名称：一种重力冲击可靠性测试方法
技术领域：
本发明涉及电子产品的可靠性测试方法，特别涉及ー种重力冲击可靠性测试方法。
背景技术：
随着科学技术的发展和电子产品的广泛应用，可靠性已经成为衡量电子产品质量的主要指标之一，所谓可靠性是指产品在规定的条件和时间内，完成规定功能的能力。根据业界的分析，60%以上的生产故障是由于器件失效引起的，70%以上的市场返修也是因为器件失效引起的。大多数公司对此却没有采用相应的可靠性测试方法来进行异常检测，导致流入市场的产品质量可靠性不高。因此，在电子产品的研制阶段，电子产品的 生产企业需要非常重视电子产品的可靠性，在最短的时间内了解电子产品在不同条件下的性能缺陷，找出薄弱环节，以便采取相应措施以提高电子产品的可靠性水平。但是电子产品的性能缺陷在较短的时间不易呈现，通常需要较长时间的验证才能得出失效結果。现有技术中，虽然也有相关的可靠性测试的方法，如温度可靠性测试，但是温度测试的一个测试周期一般需要以天计，所以需要的测试时间太长，而且只能模拟在不同温度下的使用场景，因此具有局限性。因此，寻找一种在极短时间内验证产品可靠性的方法，便成了当务之急。

发明内容
为解决上述问题，本发明公开了ー种重力冲击可靠性测试方法，适用于电子产品的可靠性检测，该方法包括如下步骤
Al.设置冲击响应脉冲宽度和初始冲击加速度；
A2.将上述冲击响应脉冲宽度作为当前冲击响应脉冲宽度，初始冲击加速度作为当前冲击加速度对电子产品进行重力冲击测试；
A3.在完成所述重力冲击测试后，判断所述电子产品的功能是否出现异常；如果是，则进入步骤A5，如果否，则进入步骤A4 ；
A4.将当前冲击加速度增加ー加速度变量后的值作为下ー冲击加速度，将当前冲击响应脉冲宽度作为下ー冲击响应脉冲宽度对电子产品进行重力冲击测试，并执行步骤A3 ；
A5.记录当前重力冲击测试条件，将当前重力冲击测试条件作为所述电子产品的极限条件。进ー步地，该方法还包括如下步骤
A6.对功能出现异常的电子产品不进行重新启动的条件下判断所述电子产品的功能是否可以恢复正常，如果是，则进入步骤A7，如果否，则进入步骤AS ；
A7.将当前冲击加速度增加ー加速度变量后的值作为下ー冲击加速度，将当前冲击响应脉冲宽度作为下ー冲击响应脉冲宽度对电子产品进行重力冲击测试，并执行步骤A6 ；
AS.记录当前重力冲击测试条件，将当前重力冲击测试条件作为所述电子产品的可操作测试的极限。
进ー步地，该方法还包括如下步骤
A9.对功能出现异常的电子产品进行重新启动的条件下判断所述电子产品的功能是否可以恢复正常，如果是，则进入步骤A10，如果否，则进入步骤Al I ；
A10.将当前冲击加速度增加ー加速度变量后的值作为下ー冲击加速度，将当前冲击响应脉冲宽度作为下ー冲击响应脉冲宽度对电子产品进行重力冲击测试，并执行步骤A9 ；All.记录当前重力冲击测试条件，将当前重力冲击测试条件作为所述电子产品的操作测试的破坏界限。进ー步地，当所述电子产品为功能正常的已开机产品时，所述异常为瞬时功能丢失或性能降低时，则所述极限条件为实时操作极限。
进ー步地，当所述电子产品为功能正常的已关机产品时，所述异常为电子产品的外部固定结构配合处有破损和裂开；或电子产品各个关键器件功能验证异常，外设接ロ功能异常；或电子产品在施加固定时间的压カ验证时，出现稳定性和兼容性异常；或者以上三种异常的任意组合时，则所述极限条件为非包装破坏界限。进ー步地，当所述电子产品为完全按照出货包装且功能正常的电子产品时，所述异常为电子产品的外部固定结构配合处有破损和裂开；或电子产品各个关键器件功能验证异常，外设接ロ功能异常；或电子产品在施加固定时间的压カ验证时，出现稳定性和兼容性异常；或者以上三种异常的任意组合时，则所述极限条件为包装产品破坏界限。本发明通过重力冲击可靠性测试方法可以验证产品在不同的冲击加速条件下的可靠性，有利于研发人员在产品研发阶段就能提前明确电子产品的机构设计，系统稳定性设计和耐久性存在的缺陷，以便改进设计方案和制程生产，提高产品的可靠性。本发明提供的重力冲击可靠性测试方法，还具有测试周期短，测试效率高的优点。
具体实施例方式为了使本发明所解决的技术问题、技术方案及有益效果更加清楚明白，以下结合实施例，对本发明进行进一歩详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。本发明公开了ー种重力冲击可靠性测试方法，用于检测电子产品的可靠性。本方法包括设置ー个初始的冲击响应脉冲宽度和重力冲击加速度条件，然后在固定上述冲击响应脉冲宽度的基础上，逐次増大重力冲击加速度量，将被测电子产品固定在重力冲击测试装置的载物平台上展开重力冲击，每个重力冲击完成之后测试电子产品的功能是否出现异常，进而检测电子产品的可靠性。为对应模拟不同的产品使用环境，本发明提供的重力冲击可靠性测试方法将重力冲击可靠性测试项目分为实时操作测试、可操作测试、操作极限测试、非包装测试和包装产品测试5项，具体參考表I。表I中，竖行表示测试项目，横行表示测试详情，测试详情具体包括测试对象、测试极限、主要失效标准和模拟情形。具体參照表I所示
权利要求
1.ー种重力冲击可靠性测试方法，其特征在于，该方法包括如下步骤 Al.设置冲击响应脉冲宽度和初始冲击加速度； A2.将上述冲击响应脉冲宽度作为当前冲击响应脉冲宽度，初始冲击加速度作为当前冲击加速度对电子产品进行重力冲击测试； A3.在完成所述重力冲击测试后，判断所述电子产品的功能是否出现异常；如果是，则进入步骤A5，如果否，则进入步骤A4 ； A4.将当前冲击加速度增加ー加速度变量后的值作为下ー冲击加速度，将当前冲击响应脉冲宽度作为下ー冲击响应脉冲宽度对电子产品进行重力冲击测试，并执行步骤A3 ； A5.记录当前重力冲击测试条件，将当前重力冲击测试条件作为所述电子产品的极限条件。
2.如权利要求I所述的ー种重力冲击可靠性测试方法，其特征在于，当所述电子产品为已开机产品时，进一歩包括如下步骤 A6.对功能出现异常的电子产品不进行重新启动的条件下判断所述电子产品的功能是否可以恢复正常，如果是，则进入步骤A7，如果否，则进入步骤AS ； A7.将当前冲击加速度增加ー加速度变量后的值作为下ー冲击加速度，将当前冲击响应脉冲宽度作为下ー冲击响应脉冲宽度对电子产品进行重力冲击测试，并执行步骤A6 ； AS.记录当前重力冲击测试条件，将当前重力冲击测试条件作为所述电子产品的可操作测试的极限。
3.如权利要求2所述的ー种重力冲击可靠性测试方法，其特征在干，进ー步包括如下步骤 A9.对功能出现异常的电子产品进行重新启动的条件下判断所述电子产品的功能是否可以恢复正常，如果是，则进入步骤A10，如果否，则进入步骤Al I ； AlO.将当前冲击加速度增加ー加速度变量后的值作为下ー冲击加速度，将当前冲击响应脉冲宽度作为下ー冲击响应脉冲宽度对电子产品进行重力冲击测试，并执行步骤A9 ；All.记录当前重力冲击测试条件，将当前重力冲击测试条件作为所述电子产品的操作测试的破坏界限。
4.如权利要求I所述的ー种重力冲击可靠性测试方法，其特征在于，当所述电子产品为测试前功能正常的已开机产品时，所述异常为瞬时功能丢失或性能降低时，则所述极限条件为实时操作极限。
5.如权利要求I所述的ー种重力冲击可靠性测试方法，其特征在于，当所述电子产品为已关机产品时，所述异常包括电子产品的外部固定结构配合处有破损和裂开；或电子产品各个关键器件功能验证异常，外设接ロ功能异常；或电子产品在施加固定时间的压カ验证时，出现稳定性和兼容性异常；或者以上三种异常的任意组合时，则所述极限条件为非包装破坏界限。
6.如权利要求I所述的ー种重力冲击可靠性测试方法，其特征在于，当所述电子产品为完全按照出货包装的产品时，所述异常包括电子产品的外部固定结构配合处有破损和裂开；或电子产品各个关键器件功能验证异常，外设接ロ功能异常；或电子产品在施加固定时间的压カ验证时，出现稳定性和兼容性异常；或者以上三种异常的任意组合时，则所述极限条件为包装产品破坏界限。
7.如权利要求2或3所述的ー种重力冲击可靠性测试方法，其特征在于，所述异常包括电子产品的外部固定结构配合处有破损和裂开；或电子产品各个关键器件功能验证异常，外设接ロ功能异常；或电子产品在施加固定时间的压カ验证时，出现稳定性和兼容性异常；或者以上三种异常的任意組合。
全文摘要
本发明提供了一种适用于电子产品的重力冲击可靠性测试方法，该方法包括首先对被测产品设置一个初始冲击响应脉冲宽度和初始冲击加速度，然后逐次增大加速度量并进行重力冲击测试，每次测试结束后判断当前被测产品的功能是否出现异常，通过测试结果来获得被测产品的实时操作极限、可操作极限、操作破坏界限、非包装破坏界限和包装产品破坏界限。本发明提供的重力冲击可靠性测试方法，可以使设计人员在各种重力冲击测试条件下获得电子产品在各种重力冲击条件下被测产品可靠性的缺陷，从而可以进行优化设计，提高电子产品的可靠性。本发明提供的重力冲击可靠性测试方法，还具有测试周期短，测试效率高的优点。
文档编号G01M7/08GK102680196SQ20111005322
公开日2012年9月19日 申请日期2011年3月7日 优先权日2011年3月7日
发明者刘超锋, 彭俊华, 邢小兵 申请人:比亚迪股份有限公司