专利名称:电压电流测试系统的制作方法
技术领域:
本实用新型涉及电路测试领域,具体涉及一种电压电流测试系统。
背景技术:
当前,由于用电器件的大量普及,不仅在工业生产上,还是在各种实验 中,都涉及到了电压和电流的测试。于是,相关的测试设备也随之产生,例
如数字的、指针的、多功能的或手持的等,不仅能够满足使用者提出的各 种测试要求,也极大地方便了使用者的测试。不过,这些测试工具大都是单 路测试的,并且是单机测试设备,即只能在测试工具自身上显示测试结果, 而无法将测试结果输出以便做进一步处理。尤其当需要对电路进行批量测试 的时候,用这些测试设备的测试效率就会很低。如果采用多个设备一起测试 的话,又会增加整个测试的成本,加上数据无法保存输出,又进一步加大了 对测试结果进行统计处理的工作量,测试效率低下。
实用新型内容
本实用新型的目的之一是提供一种提高电路测试效率的电压电流测试系统。
本实用新型提供一种电压电流测试系统,所述电压电流测试系统与至少 一被测电路连接,所述电压电流测试系统包括测试控制单元及电压电流测 试单元;测试控制单元,发送电压和/或电流测试控制指令;电压电流测试单 元分别与测试控制单元、被测电路连接,接收电压和/或电流测试控制指令, 对被测电路进行电压和/或电流测试,获取电压和/或电流测试数据并传送至测 试控制单元进行处理。
所述电压电流测试系统还可包括调整控制单元和开关选通单元;所述 调整控制单元分别与测试控制单元、开关选通单元及电压电流测试单元连4矣, 接收测试控制单元发送的电压和/或电流测试控制指令,4艮据电压和/或电流测 试控制指令控制开关选通单元对电压电流测试单元与被测电路连接的测试通 路进行选择,4妄收电压电流测试单元测试的电压和/或电流数据并传送给测试 控制单元进行处理。
所述调整控制单元可包括指令存储模块和单片机控制模块;所述指令 存储模块与测试控制单元连接,接收测试控制单元发送的电压和/或电流测试控制指令并存储;所述单片机控制才莫块分别与开关选通单元、电压电流测试 单元及指令存储模块连接,读取电压和/或电流测试控制指令,对开关选通单 元与被测电路连接的测试通路进行选择,实现电压电流测试单元与被测电路 的接通。
所述电压电流测试单元可包括电压测试模块和电流测试模块;所述电 压测试模块分别与调整控制单元、开关选通单元连接,在调整控制单元、开 关选通单元的控制下与被测电路接通,对接通的被测电路进行电压测试,获 取电压测试数据并传送给调整控制单元;所述电流测试模块分别与调整控制 单元、开关选通单元连接,在调整控制单元、开关选通单元的控制下与被测 电路接通,对接通的被测电路进行电流测试,获取电流测试数据并传送给调 整控制单元。
所述测试控制单元可包括测试指令发送模块和测试数据处理模块;所 述测试指令发送模块与调整控制单元连接,向调整控制单元发送电压和/或电 流测试控制指令;所述测试数据处理才莫块与调整控制单元连接,接收调整控 制单元传送的电压和/或电流测试数据,并将电压和/或电流测试数据处理成电 压和/或电流值以显示。
本实用新型通过电压电流测试系统,对多个被测电路的电压和/或电流进 行测试,将所测试的值传送到测试控制单元进行处理,从而得出被测电路的 电压和/或电流值,极大提高了测试效率,降低了测试成本,且操作方便。
附困说明
图1是本实用新型一实施例电压电流测试系统的结构框图; 图2是本实用新型又一实施例电压电流测试系统的结构框图;图3是本实用新型一实施例中调整控制单元的结构框图4是本实用新型 一 实施例中电压电流测试单元的结构框图5是本实用新型一实施例中测试控制单元的结构框图6是本实用新型 一 实施例中电压测试模块的电路原理框图7是本实用新型 一 实施例中电流测试模块的电路原理框图。
本实用新型目的、功能及优点将结合实施例,参照附图做进一步说明。
具体实施方式
本实用新型实施例提供的电压电流测试系统,对多个被测电路的电压和/ 或电流进行测试,将所测试的值传送到测试控制单元进行处理,从而得出被 测电路的电压和/或电流值,极大提高了测试效率,降低了测试成本,且操作 方便。
图i示出了本实用新型一实施例提供的电压电流测试系统,包括测试控 制单元IO及电压电流测试单元20;所述测试控制单元10,发送电压和/或电 流测试控制指令;所述电压电流测试单元20分别与测试控制单元10、被测电 路30电连接,接收电压和/或电流测试控制指令,对被测电路30进行电压和/ 或电流测试,获取电压和/或电流测试数据并传送至测试控制单元10进行处 理。
图2示出了本实用新型又一实施例提供的电压电流测试系统,包括测试 控制单元10、电压电流测试单元20、调整控制单元40和开关选通单元50。
所述测试控制单元10与调整控制单元40连接,向调整控制单元40发送 电压和/或电流测试控制指令。在一实施例中,测试控制单元IO是运行电压电 流测试软件的上位机。上位机包括计算机、单片机等。
所述调整控制单元40分别与所述测试控制单元10、电压电流测试单元 20及开关选通单元50连接,接收测试控制单元10发送的电压和/或电流测试 控制指令,根据电压和电流测试控制指令控制开关选通单元50对电压电流测 试单元20与被测电路30连接的测试通路进行选择。
调整控制单元40还接收电压电流测试单元20测试的电压和/或电流凄t据, 将测试的电压和/或电流测试数据通过USB接口传送到测试控制单元10。测 试控制单元10对接收的电压和/或电流测试数据进行处理,从而显示被测电^各 30的电压和/或电流-f直。
开关选通单元50主要是由多路通道选择模块(多选一电路芯片)构成。 开关选通单元50通过I2C数据线与调整控制单元40连接,调整控制单元40 根据接收到的电压和/或电流测试控制指令对多路通道选择模块与被测电路连接的测试通路进行选择,从而实现电压电流测试单元20与被测电路30的接 通。其中,多路通道选择模块的输入端与每一路被测电路30相连,输出端则 与电压电流测试单元20相连,实现了通路选择的功能,/人而将电压电流测试 单元20与被测电路30接通。多路通道选择模块可以设置多个,根据具体需 要测试的被测电路30的凄t量进行确定。
图3示出了本实用新型一实施例中的调整控制单元40,包括指令存储模 块401和单片机控制模块402。
所述指令存储模块401与测试控制单元10连接,接收测试控制单元10 发送的电压和/或电流测试控制指令并存储。
所述单片机控制模块402分别和开关选通单元50、电压电流测试单元20 及指令存储模块401连接,读取指令存储模块401存储的电压和/或电流测试 控制指令,根据所述电压测试控制指令对开关选通单元20与被测电路30连 接的测试通路进行选择,实现电压电流测试单元20与至少 一被测电路30的 接通。
在一实施例中,单片机控制模块402主要采用的是带USB接口的8位机。 单片机控制模块402上留有一组16位的总线接口 ,用于接收来自电压电流测 试单元20测试的电压和/或电流数据,将测试的电压和/或电流数据发送给测 试控制单元IO。另外,单片机控制模块402还留出了一个外部中断,只有当 电压电流测试单元20发出的中断信号触发后,才开始"l妻收电压电流测试单元 20输出的测试电压和/或电流tt据,以此保证接收到的电压和/或电流测试凄丈据 时序的正确性。
设置指令存储模块401的主要目的是由于单片机控制模块402在不上 电的时候,无法储存数据,所以必须有一个能够静态储存代码的器件,在断 电的时候能也能将电压和/或电流测试控制指令保存下来,使得单片机控制模 块402在每次上电的时候能够从指令存储模块401上读取控制指令。
图4示出了本实用新型一实施例中电压电流测试单元20,包括电压测试 模块201和电流测试4莫块202。
所述电压测试模块201分别与调整控制单元40、开关选通单元50连接, 在调整控制单元40、开关选通单元50的控制下与至少一被测电路30接通, 对接通的被测电路30进行电压测试,获取电压测试数据并传送给调整控制单 元40。
所述电流测试模块202分别与调整控制单元40、开关选通单元50连接, 在调整控制单元40、开关选通单元50的控制下与至少一被测电路30接通,对接通的被测电路30进行电流测试,获取电流测试数据并传送给调整控制单
元40。
图5示出了本实用新型一实施例中测试控制单元10,包括测试指令发送 模块101和测试数据处理模块102。
所述测试指令发送模块101与调整控制单元40连接,向调整控制单元40 发送电压和/或电流测试控制指令。
所述测试数据处理模块102与调整控制单元40连接,接收调整控制单元 40传送的电压和/或电流测试数据,并将电压和/或电流测试数据处理成电压和 /或电流值以显示。
图6示出了本实用新型一实施例中的电压测试模块,包括ADC (Analog-to-Digital Converter,模拟-数字-转换器)采样芯片、或非门电路及 负电压产生芯片(主要是向ADC釆样芯片提供负电源)。
在一实施例中,如果测试被测电路30的对地电压,可以将ADC采样芯 片负极输入端接地,正极输入端接至被测电路30,进行电压测试。如果需要 测试独立的电压,可以将正负极输入端分别接到被测电路30的两端,进行电 压测试。
电压测试模块对被测电路30进行测试的过程是ADC采样芯片采集被测 电路30两端的电压信号,将被测电路30的电压信号与一个基准值(基准值 是2.048V,由2.048V基准源提供)进行比较之后转换为数字信号,实现电压 信号的数字化。ADC采样芯片在或非门电路的协助下生成中断信号,在中断 信号有效的情况下通知单片机控制模块402进行电压值的接收。单片机控制 模块402在接收到有效的中断信号后,接收来自ADC采样芯片输出的电压值, 将电压值发送给测试控制单元10做进一步的处理。
测试控制单元10对电压值处理过程是测试控制单元10将得到的电压 值乘上相应的倍数,得到被测电路的电压值。因为ADC采样芯片支持的最高 电压有限,所以采集的电压值是经过分压的,所以采集的电压值传至测试控 制单元10后,需要乘上相应的倍数(具体的倍数根据实际电路中放大缩小的 系数确定),才得到准确电压值。
图7示出了实用新型一实施例中的电流测试模块,包括ADC采样芯片、 或非门电路、运算放大器及采样电阻R。
在一实施例中,由于测量电流需要检测电阻,所以在被测电路中串入了 一个阻值很小(0.5欧姆 1欧姆)的采样电阻R。运算放大器对采样电阻R两端的电压信号进行采集,对采集的电压进行放大后输出给ADC采样芯片。 ADC采样芯片将采集的电压信号与一个基准值(基准值是2.048V,由2.048V 基准源提供)进行比较之后转换为数字信号,实现电压信号的数字化。ADC 采样芯片在或非门电路的协助下生成中断信号,在中断信号有效的情况下通 知单片机控制模块402进行电压值的接收。单片机控制模块402在接收到有 效的中断信号后,接收来自ADC采样芯片输出的电压值,将电压值发送给测 试控制单元IO做进一步的处理。测试控制单元10将得到的电压值除以运算 放大器的放大倍数和采样电阻R的阻值就得到被测电路30的电流值。
上述实施例为本实用新型较佳的实施方式,但本实用新型的实施方式并 不受上述实施例的限制,其他的任何未背离本实用新型的精神实质与原理下 所作的改变、修饰、替代、组合、简化,均应为等效的置换方式,都包含在 本实用新型的保护范围之内。
权利要求1.一种电压电流测试系统,所述电压电流测试系统与至少一被测电路连接,其特征在于,包括测试控制单元及电压电流测试单元;测试控制单元,发送电压和/或电流测试控制指令;电压电流测试单元分别与测试控制单元、被测电路连接,接收电压和/或电流测试控制指令,对被测电路进行电压和/或电流测试,获取电压和/或电流测试数据并传送至测试控制单元进行处理。
2. 根据权利要求1所述的电压电流测试系统,其特征在于,还包括 调整控制单元和开关选通单元;所述调整控制单元分别与测试控制单元、开关选通单元及电压电流测试 单元连接,接收测试控制单元发送的电压和/或电流测试控制指令,根据电压 和/或电流测试控制指令控制开关选通单元对电压电流测试单元与被测电路连 接的测试通路进行选择,接收电压电流测试单元测试的电压和/或电流数据并 传送给测试控制单元进行处理。
3. 根据权利要求2所述的电压测试系统,其特征在于,所述调整控制单元 包括指令存储模块和单片机控制模块;所述指令存储模块与测试控制单元连接,接收测试控制单元发送的电压 和/或电流测试控制指令并存4诸;所述单片机控制模块分别与开关选通单元、电压电流测试单元及指令存 储才莫块连接,读取电压和/或电流测试控制指令,对开关选通单元与被测电路 连接的测试通路进行选择,实现电压电流测试单元与被测电路的接通。
4. 根据权利要求2所述的电压测试系统,其特征在于,^W电压电流测试 单元包括电压测试模块和电流测试模块;所述电压测试模块分别与调整控制单元、开关选通单元连接,在调整控 制单元、开关选通单元的控制下与被测电路接通,对接通的被测电路进行电 压测试,获取电压测试数据并传送给调整控制单元;所述电流测试模块分别与调整控制单元、开关选通单元连接,在调整控 制单元、开关选通单元的控制下与^皮测电路接通,对接通的被测电路进行电流测试,获取电流测试数据并传送给调整控制单元。
5.根据权利要求2至4任一项所述的电压电流测试系统,其特征在于,所 述测试控制单元包括测试指令发送模块和测试数据处理模块;所述测试指令发送模块与调整控制单元连接,向调整控制单元发送电压 和/或电流测试控制指令;所述测试数据处理模块与调整控制单元连接,接收调整控制单元传送的 电压和/或电流测试数据,并将电压和/或电流测试数据处理成电压和/或电流值 以显示。
专利摘要本实用新型公开了一种电压电流测试系统,包括测试控制单元及电压电流测试单元;所述测试控制单元,发送电压和/或电流测试控制指令;所述电压电流测试单元分别与测试控制单元、被测电路连接,接收电压和/或电流测试控制指令,对被测电路进行电压和/或电流测试,获取电压和/或电流测试数据并传送至测试控制单元进行处理。本实用新型极大提高了被测电路电压和/或电流的测试效率,降低了测试成本,且操作方便。
文档编号G01R19/00GK201311447SQ200820132759
公开日2009年9月16日 申请日期2008年8月19日 优先权日2008年8月19日
发明者健 史, 峰 林 申请人:比亚迪股份有限公司