专利名称：用于检测陶瓷基板孔偏移的装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种检测装置，尤其涉及一种用于对陶瓷基板上定位圆孔洞的进行一个是否偏移的检测装置。
背景技术：
陶瓷基板是指铜箔在高温下直接键合到氧化铝或氮化铝陶瓷基板表面(单面或双面)上的特殊工艺板。陶瓷基板已成为了大功率电力电子电路结构技术和互连技术的基础材料。陶瓷基板应用于不同场合时，通常需要对其进行不同的加工。通常将陶瓷基板夹装在夹装台上通过激光在陶瓷基板同一侧的端脚分别加工一同直径的定位圆，然后再同一圆心处加工出一同心圆。但是，由于加工时夹装台受到振动等外界因素的影响容易造成需要同心的定位圆实际并不同心。激光加工产生的定位圆实则由一系列间距相等的一定深度的激光加工微孔组成，在检测是否真正同心时很难靠肉眼或显微镜进行判断。

实用新型内容本实用新型的目的在于解决上述的技术问题，提出一种用于检测陶瓷基板孔偏移的装置。本实用新型的目的，将通过以下技术方案得以实现用于检测陶瓷基板孔偏移的装置，包括一用于定位的支架，所述支架上设置有一夹具，所述夹具上夹装有一摄像机组件，所述摄像机组件，所述摄像机组件通过数据线连接与计算机连接，所述计算机上连接有一显示器。优选地，所述摄像机组件的下方固定有一显微镜组件。优选地，所述摄像机组件为CXD摄像机组件。优选地，所述的装置设置有至少2台支架。本实用新型的有益效果主要体现在通过显微镜与摄像组件的结合对陶瓷基板上的定位圆进行很好的同心偏移检测，检测效率及判断的准确度得到大大的提高。

图1是本实用新型的结构示意图。
具体实施方式
本实用新型提供了用于检测陶瓷基板孔偏移的装置，如图1所示，包括一放置在台面1上、用于定位的支架21，所述支架21上设置有一夹具2，所述夹具2上夹装有一 CXD 摄像机组件22，所述CXD摄像机组件22通过数据线连接与计算机(图中未示意)连接，所述计算机上连接有一显示器4。为了更清楚的检测到陶瓷基板上的定位圆11，所述C⑶摄像机组件22的下方固定有一显微镜组件23，通过显微镜组件23和C⑶摄像组件22的结合反应到显示器4上，以便更好的观察检测。为了使得检测的效率提高，所述的装置设置有有四台支架21，同时对四个陶瓷基板上的定位圆11进行检测。下面具体阐述下本实用新型的使用方法将待检测陶瓷基板放置于工作台面1上，将定位圆11移动至显微镜组件23的正下方，停留设定的时间，保证图像经CXD摄像机组件22能拍摄并将其图像传送至计算机，然后再移动至另一定位圆11处进行拍摄检测。待检测陶瓷基板是已经通过激光加工管路加工有定位圆11的陶瓷基板，激光划线由一系列间距相等的一定深度的激光加工微孔组成，因此，定位圆在显示器上显示为等间距的微孔组成圆形。如何加工孔技术已经是现有技术，在此不在赘述。具体的检测方法是，检测软件对图像进行黑白二次化处理，对每组中两个定位圆 (直径不同的两个需要为同心圆的定位圆)分别单独分析求出其圆轮廓上每个微孔的各自圆心，再以每个圆心坐标拟合出定位圆轮廓，从而求得定位圆圆心，进而计算两个圆心间距，再与允许误差对比，判定是否超差。四组定位圆同时显示于显示器4上，任一个超差即发出相应提示警报。合格则继续下一轮检测。本实用新型尚有多种实施方式，凡采用等同变换或者等效变换而形成的所有技术方案，均落在本实用新型的保护范围之内。
权利要求1.用于检测陶瓷基板孔偏移的装置，其特征在于包括一用于定位的支架，所述支架上设置有一夹具，所述夹具上夹装有一摄像机组件，所述摄像机组件，所述摄像机组件通过数据线连接与计算机连接，所述计算机上连接有一显示器。
2.根据权利要求1所述的用于检测陶瓷基板孔偏移的装置，其特征在于所述摄像机组件的下方固定有一显微镜组件。
3.根据权利要求2所述的用于检测陶瓷基板孔偏移的装置，其特征在于所述摄像机组件为CXD摄像机组件。
4.根据权利要求3所述的用于检测陶瓷基板孔偏移的装置，其特征在于所述的装置设置有至少2台支架。
专利摘要本实用新型揭示了一种用于检测陶瓷基板孔偏移的装置，其特征在于包括一用于定位的支架，所述支架上设置有一夹具，所述夹具上夹装有一摄像机组件，所述摄像机组件，所述摄像机组件通过数据线连接与计算机连接，所述计算机上连接有一显示器，本实用新型通过显微镜与摄像组件的结合对陶瓷基板上的定位圆进行很好的同心偏移检测，检测效率及判断的准确度得到大大的提高。
文档编号G01B11/27GK202284950SQ201120409909
公开日2012年6月27日 申请日期2011年10月25日 优先权日2011年10月25日
发明者卫建国, 姜清莲, 李江锋, 杨丰, 秦乐宁, 谢怀婷, 邓磊, 黄明臻 申请人:苏州赛琅泰克高技术陶瓷有限公司