专利名称：产品检测设备的制作方法
技术领域：
本实用新型为一种产品检测设备，尤其一种利用自然界的重力，使待测芯片滑入测试模块的作业区域和测完的芯片滑出测试模块的作业区域，另外并配合一组采用平移方式移动的测试模块，让检测设备的检测准确率及检测速率皆能获得提升。
背景技术：
产品检测设备主要用于芯片的测试作业。目前部份产品检测设备的机构，在入料行程、测试行程及出料行程皆采平移方式进行。所谓的平移方式是指芯片在移动过中，皆必须利用机械辅助将芯片做点至点之间的位移。该位移包括XY平面的位移，以及垂直方向的位移。此类检测设备的优点为测试质量稳定，缺点为速率慢、单价高。另外有些产品检测设备的机构采取另一种方式，即在入料行程、测试行程及出料行程中，芯片的移动大部份皆采重力辅助，仅少部份动作采用机器辅助移动。所谓重力辅助即点对点之间的移动过程中，是利用斜面或似垂直状的轨道使芯片采滑动方式自然移动。 此类设备的优点为测试速率较快，机器制造成本低，缺点则为测试准确性不可靠。

实用新型内容本实用新型是提供一种产品检测设备，保证产品的检测稳定可靠并提高产品检测的速度。一种产品检测设备，包括有一重力式轨道入料模块，至少具有入料轨道组机构， 该入料轨道组机构设有倾斜的入料轨道；一测试模块，包括水平设置的移载平台及测试机构，该移载平台的一端与入料轨道组机构的下端连接；一重力式轨道出料模块，至少具有倾斜的出料轨道组机构，该出料轨道组机构之上端与移载平台的另一端连接。优选地，该重力式轨道入料模块进一步包括一入料机构，该入料机构包括一机架；一料管移动组，该料管移动组设于机架上，料管移动组设有一滑轨，滑轨一端连接内含待测芯片之管材容器，滑轨另一端连接一进料压管转管组；一进料压管转管组，设有将待测芯片自管材容器内取出的构件；以及一进料转向机构，该进料转向机构与进料压管转管组衔接，进料转向机构还以一伺服马达驱动旋转并设于一芯片夹持机构，所述倾斜的轨道上端与进料转向机构衔接。优选地，该重力式轨道入料模块之入料轨道组机构包括有数个设置在入料轨道侧边的加热棒。优选地，所述水平设置的移载平台包括一取、放芯片的进料取料机构，该进料取料机构与入料轨道组机构的下端连接；一取、放芯片的出料取料机构，该出料取料机构与出料轨道组机构之上端连接；一承载芯片并在进料取料机构、测试机构、出料取料机构之间来回移动的水平往复移动梭机构。优选地，所述水平往复移动梭机构对称设于测试机构两侧，水平往复移动梭机构上设有滑槽，该滑槽临近于测试机构部分向上翘起。[0010]优选地，重力式轨道出料模块进一步包括一可作左右来回往复运动并依测试结果将完测芯片吹至相对应的出料轨道组机构内的移动分料梭组；以及一收料机构，该收料机构与出料轨道组机构下端衔接。
本实用新型主要是利用重力式轨道入料模块及重力式轨道出料模块，使待测芯片或完测芯片利用重力关系产生所需的移动，缩短移载过程的所需时间及移载成本，而测试模块则保留机械式的平移作业，确保测试稳定可靠，为一种既检测速度快又测试稳定可靠的检测设备。

图1为本实用新型之立体图；图2为本实用新型之入料机构的立体图；图3为本实用新型之轨道组机构的立体图；图4为本实用新型之进料取料机构的前视图；图5为本实用新型之测试机构的前视图；图6为本实用新型之往复移动梭机构之立体图；图7图为本实用新型往复移动梭机构未示出轨道板的承载平台初始位置的前视图；图8图为本实用新型之往复移动梭机构未示出轨道板的承载平台上升位置的前视图；图9图为本实用新型之重力式轨道出料模块的立体图。图中，100为产品检测设备，1为重力式轨道入料模块，11为入料机构，110为机架， 1101为倾斜平台，111为料管移动组，112为进料压管转管组，113为进料转向机构，12为入料轨道组机构，121为入料轨道，122为敲轨气缸头组，123为加热棒，2为测试模块，21为进料取料机构，22为往复移动梭机构，221为承载平台，222为承载平台，223为往复平台，224 为伺服马达，225为皮带，2251为导轨，226为连杆，2261为滚轮，227为固定块，23为测试机构，24为出料取料机构，3为重力式轨道出料模块，31为分料移动轨道机构，311为移动分料梭组，312为出料轨道组机构，32为收料机构，80为管材容器。
具体实施方式
如图1所示，为本实用新型之立体图。本实用新型之产品检测设备100主要分为三大部份，包括一重力式轨道入料模块1、一测试模块2、以及一重力式轨道出料模块3。该重力式轨道入料模块1至少具有倾斜的入料轨道121，使得待测芯片能因重力关系沿着该入料轨道121滑行至该测试模块2的作业区域内。该测试模块2则能对芯片进行不同位置的移载作业，并进行相关的测试。该重力式轨道出料模块3至少具有倾斜的出料轨道组机构312，负责将测试完成后之芯片则依测试结果沿该出料轨道组机构312滑出而被收集。本实用新型就各模块之结构作一详细的解说。该重力式轨道入料模块1主要包括一入料机构11及一入料轨道组机构12。该入料机构11负责将芯片从承载的管材容器内移出，而入料轨道组机构12则负责将芯片利用重力滑行至前述测试模块2的作业区域内。如图2所示，为入料机构11的立体图。该入料机构11主要包括一机架110，以及设置在机架110上的料管移动组111、进料压管转管组112、以及进料转向机构113。该料管移动组111 负责将内含待测芯片之管材容器80移动至进料压管转管组处，该料管移动组111作业项目为将管材容器80进行堆迭、分管、移管及推管作业。该进料压管转管组112则负责使芯片自管材容器80内滑出。如图所示，该管材容器80已被夹持、倾斜一角度，使得内部芯片得滑出并进入该进料转向机构组113内部。该进料转向机构113则负责将芯片进行转向，并使芯片滑出至次级作业区域内。该入料轨道组机构12是被安置于机架110的倾斜平台1101 处。该进料转向机构113会由伺服马达1131驱动旋转，使进料转向机构113转向呈平行于该倾斜平台1101平面的方向，让进料转向机构113内芯片因重力关系滑出。如图3所示，为本实用新型之入料轨道组机构12的立体图。该入料轨道组机构12 包括入料轨道121及敲轨气缸头组122，该入料轨道121内部具有独立的数个空间，供待测芯片进入及滑行。该敲轨气缸头组122则具有复数组，分别位于入料轨道121不同位置处， 利用该敲轨气缸头组122作动时所产生的震动，配合入料轨道121的斜度，使得待测芯片能顺利滑行。本实用新型于入料轨道组机构12另外具加热棒123。该加热棒123位于入料轨道121下面的不同位置处，用以适当的加热。因为有些芯片须进行耐热测试，确保在高温下，该芯片仍能顺利运作。如图1所示，该测试模块2主要包括进料取料机构21、往复移动梭机构22、测试机构23、以及出料取料机构24。该进料取料机构21负责将待测芯片由前段该重力式轨道入料模块1的作业区域移载至该往复移动梭机构22处，再由该往复移动梭机构22将待测芯片移载至该测试机构23处，该测试机构23会将待测芯片再度移载至测试作业区域内，并在完成测试后，再将完测芯片移至该往复移动梭机构22处。此时完测芯片再由该往复移动梭机构22另一承载具移动至该出料取料机构24处，再由出料取料机构24取出放置于该重力式轨道出料模块3的工作区域处。如图4所示，为进料取料机构21的前视图，另外该出料取料机构24也为相同之型式。如图5所示为试测机构22的前视图。由于前述两机构为目前常用之结构，故不再详加描述。本实用新型之较特殊的设计为该往复移动梭机构22，如图6所示。该往复移动梭机构22的 特殊之处在于水平往复移动梭机构上设有滑槽，该滑槽临近于测试机构部分向上翘起，所具有之承载平台221及222在移动至接近测试机构23的工作区域内(即往复移动梭机构22的中间位置)，能沿着滑槽快速向上升起，方便芯片与测试机构23相接触。图6 中之中间位置以假想线呈现之承载平台222即为上升后的状态。在本实施例中往复移动梭机构22具有两个承载平台221及222，其中承载平台221负责将待测芯片由左侧位置移至中间位置，而承载平台222则负责将完测芯片由中间位置移至右侧位置。由于两者的原理与机构结构相同，本案仅就承载平台222的作动方式作说明。如图6、图7所示，该承载平台 222是设置于一往复平台223处，该承载平台222仅能作垂直方向的升降。该往复平台223 受伺服马达224及皮带225的牵引，使其能往复移动。一导引板225设置于该往平台223 移动路径的一侧方向，该导引板225具有一导轨2251。一连杆226两端分别枢接于该承载平台222与一固定块227处。该固定块227也固定于皮带225处，与往复平台223同步移动。另外该连杆226两端的枢接位置各延伸出一滚轮2261。该两滚轮2261是位于该轨道 2251内。由于该轨道2251末段具有似90度的圆弧曲线，如图8图所示，当该往复平台223 移动于此时，该承载平台222将因连杆226的牵引作用，使该承载平台222向上升起。此部份即为本实用新型之往复移动梭机构22的特殊之处，该结构能缩短移载过程的时间。如图9所示，为本实用新型重力式轨道出料模块之立体图。该重力式轨道出料模块3主要是由分料移动轨道机构31、以及收料机构32所构成。当芯片测试作业完成后，出料取料机构24会将完测芯片移载至该出料轨道机构31处。该出料轨道机构31包括移动分料梭组311及倾斜的出料轨道组机构312。该移动分料梭组311是负责将完测芯片依测试结果吹至出料轨道组机构312内。该出料轨组312内部具有复数个独立的轨道，并倾斜一角度状，使完测芯片会受重力影响自然地向下滑行。该收料机构32位置位于该出料轨道组机构312的后段，负责将芯片容置于管材容器80内，并进行收集的作业。该收料机构32 负责的作业包括管材容器的堆迭、分管、移管、推管、压管、满料后的掉管等。该收料机构32 也是是利用重力使芯片滑行而被分类 收集。以上已将本实用新型做一详细说明，以上所述，仅为本实用新型之较佳实施例而已，当不能限定本实用新型实施范围，即凡依本申请范围所作均等变化与修饰，皆应仍属本实用新型涵盖范围内。
权利要求1.一种产品检测设备，其特征在于，包括有一重力式轨道入料模块1，至少具有入料轨道组机构(12)，该入料轨道组机构设有倾斜的入料轨道(121);一测试模块(2)，包括水平设置的移载平台及测试机构(23)，该移载平台的一端与入料轨道组机构(12)的下端连接；一重力式轨道出料模块(3)，至少具有倾斜的出料轨道组机构(312)，该出料轨道组机构之上端与移载平台的另一端连接。
2.根据权利要求1所述之产品检测设备，其特征在于，该重力式轨道入料模块进一步包括一入料机构，该入料机构包括 一机架；一料管移动组，该料管移动组设于机架上，料管移动组设有一滑轨，滑轨一端连接内含待测芯片之管材容器，滑轨另一端连接一进料压管转管组；一进料压管转管组，设有将待测芯片自管材容器内取出的构件；以及一进料转向机构，该进料转向机构与进料压管转管组衔接，进料转向机构还以一伺服马达驱动旋转并设于一芯片夹持机构，所述倾斜的轨道上端与进料转向机构衔接。
3.根据权利要求2所述之产品检测设备，其特征在于，该重力式轨道入料模块之入料轨道组机构包括有数个设置在入料轨道侧边的加热棒。
4.根据权利要求3所述之产品检测设备，其特征在于，所述水平设置的移载平台包括一取、放芯片的进料取料机构，该进料取料机构与入料轨道组机构的下端连接； 一取、放芯片的出料取料机构，该出料取料机构与出料轨道组机构之上端连接； 一承载芯片并在进料取料机构、测试机构、出料取料机构之间来回移动的水平往复移动梭机构。
5.根据权利要求4所述之产品检测设备，其特征在于，所述水平往复移动梭机构对称设于测试机构两侧，水平往复移动梭机构上设有滑槽，该滑槽临近于测试机构部分向上翘起。
6.根据权利要求5所述之产品检测设备，其特征在于，重力式轨道出料模块进一步包括一可作左右来回往复运动并依测试结果将完测芯片吹至相对应的出料轨道组机构内的移动分料梭组；以及一收料机构，该收料机构与出料轨道组机构下端衔接。
专利摘要本实用新型涉及一种产品检测设备，包括有一重力式轨道入料模块，至少具有入料轨道组机构，该入料轨道组机构设有倾斜的入料轨道；一测试模块，包括水平设置的移载平台及测试机构，该移载平台的一端与入料轨道组机构的下端连接；一重力式轨道出料模块，至少具有倾斜的出料轨道组机构，该出料轨道组机构之上端与移载平台的另一端连接。本实用新型具有测试速度快和测试稳定可靠的优点。
文档编号G01D11/00GK202083403SQ201120051260
公开日2011年12月21日 申请日期2011年3月1日 优先权日2011年3月1日
发明者陈志明 申请人:东莞矽德半导体有限公司