专利名称：用于内连线的故障测试的制作方法
用于内连线的故障测试发明所属的技术领域本发明的实施例大体上关于电子领域，特别是关于用于内连线的故障测试的方法
与装置。先前技术用于通讯的电子元件的输入/输出(input/output，10)连结可以各种不同形式实行，包含以并联及串联连结方式的实行。由于差分高速输入输出(High-Speed 10，HSI0) 串联连结技术具有成本优势，因此对于将串列HSIO用来替代传统的平行IO极具吸引力。常见的平行IO的缺点包含有高针脚数、绕线资源及平行资料位元的偏斜。一 HSIO串联连结提供高频宽的通讯频道可达到、甚至超越平行IO的资料传输率。 一平行资料可于被传送的前先串行化，并由接收器再将所接收到的此串行化的资料藉由反串行化来转换回平行资料。HSIO串联连结可藉由消除追踪匹配及线路拥塞等方法来减少针脚数并简化布局问题。由于资料依序地传送，也就不需要去维持介于个别的资料位元间的相位关系。一串连连结可提供于差分讯号。差分讯号可被用以抵抗一些常见的杂讯。此差分内连线可有效地移除于传输时所增加的杂讯。在使用上，HSIO内连线可传送时序讯号及所欲传输的资料，包含可将此时序讯号实施于所欲传输的资料中、或是分别提供时序讯号及所欲传输的资料。HSIO串联连结通常应用于一差分讯号设计。差分讯号使用一对导线其中一导线传送一讯号(以vp(t)来表示)，而另一导线传送此讯号的逆讯号(vn(t))。所述用以传送\(0及￥ (0的导线则分别表示正内连线及负内连线。接收器可基于此互补之内连线导线中传输的讯号间的差异来修复资料。所述讯号间的差异可表示为Vdiff (t)，并定义为 Vdiff(t) = vp(t)-vn(t)。如此，于传输中同时增加于Vp(t) ^P Vn(t)的杂讯就可以被减掉， 并从Vdiff(t)中移除。Vdiff(t)的标示可被解释为一预期的逻辑值，理论上，Vdiff (t)为正值或负值分别可被解释为逻辑中的「1」或「0」。举例而言，如果乂^丨)=250毫伏特(mV)= -250mV, 所以Vdiff(t) = 500!1^>0，就可以被解释为逻辑中的「1」。同样地，如果Vp(t) = -250mV 及Vn(t) = 250mV, Vdiff (t) = -500mV < 0，就可以被解释为逻辑中的「0」。实际上，用以表示逻辑式「1」及「0」的Vdiff(t)的最小值可分别小于Vp(t)及H这因此可允许串联连结具功能性，且即使其中一差分IO连结存在缺陷仍旧不需被判为错误。然而，这可能会产生一潜在的测试问题，即为于一测试过程中所出现的缺陷虽被掩盖住了，可是却仍会于系统运作中造成错误。因此，于一 HSIO内连线测试中对这些缺陷的侦测及适当地诊断为一项挑战。图式简单说明第一 A B图为应用于分析高速IO连结的故障测试的丨实施例的示意图。第二 A图为用于丨AC耦合高速IO内连线的分析故障测试的丨实施例的示意图。第二 B图为用于丨DC耦合高速IO内连线的分析故障测试的丨实施例的示意图。
第三图为用于侦测一故障分析系统的实施例中常见错误模式的示意图。第四图为一 IEEE标准测试程序的示意图。第五图为一内连线故障分析器的丨实施例的示意图。第六图为侦测固定型内连线故障及开路内连线故障的丨实施例的示意图。第七图为桥接故障侦测的丨实施例的示意图。第八图为用于包含一传输器的丨系统与一传统接收器通讯的开路故障侦测的丨实施例的示意图。第九图为用于包含一接收器的丨系统与一传统传输器通讯的开路故障侦测的丨实施例的示意图。第十图为短路开关及固定型侦测的丨实施例的示意图。第十一图为桥接侦测的丨实施例的示意图。第十二图为用于串音侦测的丨系统的丨实施例的示意图。第十三图是显示开路故障侦测的丨实施例。第十四图为桥接故障侦测的丨实施例的示意图。第十五图为互补桥接故障侦测的丨实施例的示意图。第十六图为用于具有相同极性导线的桥接故障侦测的丨实施例的示意图。第十七图为用于用于具有相同极性导线的桥接故障侦测的丨实施例的示意图。第十八图显示用以侦测桥接故障的测试结构。第十九图为解说内连线故障测试的丨实施例的流程图。第二十图为包含一实施例的故障测试的丨装置的丨实施例的示意图。

发明内容本发明的实施例大体上针对内连线的故障测试。于本发明的第一观点中，一故障分析装置的丨实施例包含一测试样式源用以提供一测试样式于一传输器与一接收器间的内连线，所述内连线具有一传输器端及一接收器端，此内连线包含一第一导线及一第二导线，且此传输器于所述第一导线中传送此测试样式至所述接收器。所述装置更包含一第一开关，用以开启和关闭于第一导线的第一连结；以及一第二开关，用以开启和关闭于第二导线的第二连结。所述第一开关及第二开关被对应设置于一架构中以侦测于此内连线中一或多个故障。于本发明的第二观点中，一方法包含供应一第一测试样式于一内连线的丨第一导线，其中此内连线包含所述的第一导线及一第二导线。一第一控制讯号被传送至一第一开关，所述第一开关基于此第一控制讯号用以开启或关闭于第一导线的一第一连结。一第二控制讯号被传送至一第二开关，所述第二开关基于此第二控制讯号用以开启或关闭于第二导线的一第二连结。此内连线被调整以接收讯号，并对于一故障是否存在于此被调整以接收讯号的内连线中作一判定。实施方式本发明的实施例大体上针对输入输出anput/Output，I/O)内连线的一测试结构。于本文中
「内连线」指介于用以传送输入讯号或输出讯号的装置间的任何讯号内连线。「高速I/O内连线」或「HSI0内连线」指任何可以相对高速来运作的I/O内连线。于一些实施例中，一测试结构被提供以测试装置间的差分内连线。举例而言，所述测试结构可被用以侦测并定位出介于一传输器与一接收器间的丨内连线的故障所在。在本文中所提及的一测试结构以测试内连线可为一内连线故障分析器。于一些实施例中，一高速输入输出(High-Speed Input-Output, HSI0)内连线的测试结构被提供以测试系统电路板上所设置的通讯装置间以交流(AC)和直流(DC)耦合的差分内连线。于一些实施例中， 一测试结构可用以侦测并定位一或多个故障，其中所述故障可包含固定型故障、开路故障及桥接故障。于一些实施例中，一测试结构可用以分析耦合杂讯或串音对讯号完整性所造成的影响。于一些实施例中，一测试结构可把一目标内连线测试整合至一传统的功能测试中。此测试结构可于一些实施例中使用现存的晶片功能及测试硬体，例如一讯号侦测器及一内建自我检测(Built-in Self-Test,BIST)电路系统，可被用于HSIO电路系统做功能测试。比照于高速介面测试的IEEE标准1149. 6 (IEEE STD 1149. 6，2003年三月的标准)的规定，一实施例可于一功能速率下运行HSIO内连线测试且无需提供额外的类比电路去观看测试回应的丨较简化的实施，即为无需IEEE标准的丨致性确认，只要符合标准1149. 6即可。于一些实施例中，一 HSIO差分内连线的测试结构可用以简化所述的HSIO内连线测试。于一测试结构的丨实施例中，一目标内连线测试可用与一功能测试的相同方式来实行。于一些实施例中，此测试结构可用以侦测并定位开路故障、固定型故障及桥接故障，并可延伸侦测并定位路由频道设置所导致的串音。所述测试亦可被用以定位所选择的测试结果的复数故障并将的重新布局。于一些实施例中，此测试结构上方的硬体可很小，这是因为可用现存的功能及BIST硬体来测试。再者，所述测试结构可用以改良电路板产品的品质、 并可于减少工程工作量的状况下，加速产品的量产。第一 A图及第一 B图显示用于分析高速IO连结的故障测试的实施例。如果所述 HSIO内连线连接此装置设置于相同的电路板上，如第一A图所示，第一晶片120及第二晶片 125设置于系统电路板105上，此内连线可使用一测试结构的丨实施例的一简单实行所测试。然而，如果两个装置设置于不同电路板上并透过一电缆线所连结，如第一 B图所示，第一晶片170设置于第一系统电路板150上，而第二晶片175设置于第二系统电路板155上， 并藉由电缆线180所连结，则更多种类测试可被直接应用于此电缆线或晶片的插座。所述电缆线可被移除，而电路板的介面可包含通过插座的高内连线导线，可藉由额外的测试设备直接对准。于任何情况下，一测试结构的一实施例及其所对应的方法可帮助故障的测试及诊断。测试系统及过程的实施例包含分别描绘于第一A图及第一B图中所示的实行。描述于此的实施例大体上以第一 A图所示的实行来说明，但并不应以此实行作为限制。于一些实施例中，差分内连线用于HSIO技术的实行可包含AC耦合内连线及DC耦合内连线。第二 A图为用于丨AC耦合高速IO内连线205的分析故障测试的丨实施例的示意图。第二B图为用于丨DC耦合高速IO内连线260的分析故障测试的丨实施例的示意图。 请参阅第二A图，此系统可包含一功能测试样式产生器(Test Pattern Generator, TPG) 230 用以提供测试波形讯号(或测试样式)至一传输器(TX) M5，且此讯号被一接收器(RX) 250所接收，并提供一错误检查器(Error Checker，EC) 2；35及一讯号侦测器(Signal Detector, SD) 240。所述AC耦合内连线205可包含电容225用以阻挡一讯号的DC分量，以达到仅有 AC讯号分量可通过。所述AC耦合连结可藉由设置于传输器TX的独立电源(AVCCtl 210)及接收器RX的独立电源(AVCC1 215)以及个别的终端电阻R[t，l]、R[t，0]、R[r，l]及R[r， 0]所驱动，如第二 A图所示。于所述DC耦合内连线中，即表示一直接连结可由传输器沈5 至接收器270来制造，其允许一讯号中的DC分量和AC分量皆可通过此内连线。于此DC耦合的内连线中，传输器可从接收器直接驱动，也就不须设置电容于传输器和接收器之间的连结中。终端电阻R[r，l]和R[r，0]通常可被实行于接收器中，如第二 B图所示。—般来说，AC耦合优于DC耦合之处即在于传输器与接收器间的去耦合。对照DC 耦合的实行，用于AC耦合结构的传输器和接收器可被设计成彼此之间更加独立。因为通常只有AC讯号分量负载着重要的信息，如此的分量可藉由于传输器及接收器中的不同独立 DC电压所抵消以允许独立的电源供应器被应用于每一侧。因此，只要AC讯号用一惯性的解释是可能的，AC耦合的内连线可被设计使传输器与这些接收器之间彼此独立。然而，AC耦合的内连线的故障侦测可能比DC耦合的内连线更加困难。于DC耦合实行的案例中，可基于如电流和(或)电压等电计量的测量的测试方法用以于DC耦合的内连线中侦测故障。以第二 B图作为范例来说明，如果电源电压(AVCC) 275藉由接收器270 来供应，于传输器中此AVCC电压的侦测可被用以侦测开路内连线故障。然而，同样的方法并无法应用于AC耦合的内连线测试，这是因为没有DC讯号分量可以通过电容。AC耦合的内连线测试需要由AC讯号构成的测试样式，所以，如此的测试会变得相对地复杂。于一些实施例中，一测试方法可被同时应用于AC耦合的内连线与DC耦合的内连线中。在这里的讨论中，所提出的方法大体上讨论用于较复杂的AC耦合的内连线。第三图为用于侦测一故障分析系统的实施例中常见错误模式的示意图。因为内连线线路可以非常精细且于多层间彼此设置地相当靠近，因此，此内连线导线于一些情况下可能会发生开路310、固定于电源总线320、或与其他内连线导线间的短路330(涉及如桥接)等故障。关于固定型案例320，「固定X型」指一固定于电压的状况(意指X= 1)以及固定型指一固定于接地的状况(意指X = 0)。第三图显示测试HSIO串联内连线的一难题。即使于一连结中两个内连线之一具有由开路310、固定型320或桥接330状况所造成的故障，一测试样式或测试波形可成功地于接收器将的修复。因此这些故障则可不被侦测到。 于AC耦合内连线中，固定型故障320可被辨识为一开路状况。于一些实施例中，固定型测试及诊断可将这些开路测试分离出来，用以增加诊断解析度。桥接故障330可产生于任何数目的内连线导线中。于一些实施例中，一侦测系统提供于多种桥接故障的侦测与诊断。为了减低高速差分IO内连线的测试问题，IEEE标准委员会提出标准结果，可参考如IEEE STD 1149. 6。然而，所述IEEE STD 1149. 6可能需要重大工程资源及额外的测试硬体以实行此HSIO内连线的测试。所述IEEE标准亦要求所提供的测试硬体为经过验证以顺应此标准。因为HSIO内连线测试于IEEE1149. 6环境中通常可用较低于一功能速率之一速率来运转，因此串音或其他关于频率等参数缺陷的实际测试问题，可能就无法于如此的环境下有效地被确认。第四图为一 IEEE标准测试程序的示意图。于此示意图中，一传输器TX450耦接一接收器RX 455。IEEE标准测试程序使用一独立的AC测试讯号产生器405与二 AC测试接收器410，415用以观察每一差分IO中的故障。于一些实施例中，AC测试讯号产生器405可用低于功能路径420的一速率于此系统中运作。AC测试接收器410，415可被要求以侦测于 Vp和Vn的小AC讯号(例如峰间值为250mV)。此AC测试接收器410，415通常为逻辑电路，且如此电路可于使用之前先进行测试。如果此测试欲以一功能速率来运转，可挑战高速 AC测试接收器的设计和测试，其中功能速率通常为几个GHz (IO9Hz)。依据所述IEEE标准， AC边界扫描设计也必须被以边界扫描描述语言(Boundary Scan Description Language, BSDL)425来描述，且此设计描述也必须于其被提供于板层次系统产品以产生此内连线测试之前被验证。IEEE标准的验证可藉由此验证软体的开发或购买。于一些实施例中，一测试系统或程序被提供于HSIO内连线测试，且无需增加重要硬体及验证软体的经费。于一些实施例中，故障侦测可藉由如一功能测试的相同方式利用内建自我测试(Built-in Self-Test, BIST)电路测试接线整体性来实现。于一些实施例中，故障检测测试可涵盖于差分AC讯号(Vp&Vn)的形式中，测试样式的传输或测试样式波形。于如此程序中，在资料修复之后，错误则可被利用于接收器中现有的BIST电路所侦测出来。于此描述中，测试样式假设为一系统，可为包含转变的一最大数量的样式 ‘1010... 10，及‘0101...01，。然而，亦可使用任何可用的测试样式来实行。多数故障的诊断可由个别的内连线导线的测试所收集的测试结果获得。于一些实施例中，测试结果可被以此方式所收集，且故障的拓墣则可从这些所收集的测试结果来重建。测试结构于多种实施例中可被以很多不同形式来实行。用于晶片上实施，此测试结构的功能可被在电路中任何位置上实施，并依据测试以开启或关闭所述的内连线导线。 于一些实施例中，此结构亦可被以一开关用以开启及关闭一内连线导线每一侧的电源来实施。开关功能可被以多种方式来实施。因为一系统功能用以开启及关闭终端电阻通常是可行的，相同的系统功能可被再次用以实行一所提供的测试结构达到故障测试的目的。于此范例中，此测试结构可由一开关用以开启或关闭于一讯号源与一汇点间的内连线导线的电源来观测或实施。第五图为一内连线故障分析器的丨实施例的示意图。第五图提供HSIO内连线的测试结构的一功能视图，且所述测试结构的功能可实施于电路中的任何位置。此测试结构的基本概念用以提供一可挠性测试控制结构以配置可能被运行于此的测试所侦测故障的重要路径。于此描述中，重要的讯号路径被称为一测试路径。测试结构提供一控制机制来建立测试路径以侦测于IO内连线中的故障。因为HSIO内连线的主要功能为建立一点对点连结，此描述大致上假设有复数(N) 个传输器与相同数量(N)的接收器。每一实例的传输器可表示为TX[t]505以及每一实例的接收器可表示为RX[r]510。于此描述中，如果TX[t]和RX[r]由一频道接线所连接，则t = r，可表示为link[r]且0彡r彡N_l。当第五图所显示的测试波形藉由传输器505所提供， 于其他实施例中一测试结构可利用一测试器(例如包含自动测试设备(Automatic Test Equipment, ATE))作为此传输器505来实施，其中此测试器提供测试波形于接收器510的正内连线埠及负内连线埠中。如第五图所示，此测试结构可被视为开关功能。第五图显示具有四个简单开关、或开关功能(530，535，540，545)的一实施例。于一些实施例中，每一开关或开关功能可独立控制，且可用以建立各种测试路径。所述开关、或开关功能可被于此结构中的各个位置并以各种方式来实行。举例而言，于一些实施例中，此开关可透过图中所示的终端电阻R[t，0]， R[t，l]，R[r,0]及R[r，l]以开启或关闭电源(AVCC0或AVCC1)实行。如第五图中所示，每一开关、或开关功能(或在此简化称为「开关」)藉由传输器TX[r]中控制输入txc[t，i]， 其中0<i，j<l。控制或开关的个体指标[*，0]及[*，1]，可被结合为[*，1:0]。使用提供于此的专门术语，如果txc[t，i] (rxc[r, j]) = 1或0，于此测试结构中的开关tsw[t，i] (rsw[r,j])则分别被开启或关闭。在此使用此专门术语，任何讯号诊断可用于此专门术语描述所述的控制讯号。传输器驱动器接收自一测试样式产生器(TPG) 515输出的一输入。如果开关tsw[t，i]被开启，这可使传输器驱动器所对应此测试样式的输出透过所使用的内连线来传输。输出器驱动器所使用的输出被称为一测试样式源。于图示的系统中，每一 TX 包含二测试样式源，如此讯号源为一正测试样式源及一负(或反的或差分的)测试样式源。 虽然在此描述中提及二测试样式源，不过正样式和负样式亦可藉由单一讯号源或装置来产生。藉由差分讯号，正测试样式源可携带一组所产生的测试样式，即使此负测试样式源携带此组所产生的测试样式的一位元补数。于此说明中，TX[t]的正测试样式源和负测试样式源可分别由开关控制输入tsw[t，0]及tsw[t，l]达到。同样地，开关rsw[r，j]能够(或连接)对应于正测试样式汇点或负测试样式汇点，于此汇点上错误可被检查、或一讯号的出现可被侦测。举例而言，接收器RX[r]包含一错误检查器(Error Checker, EC) 520及一讯号侦测器(Signal Detector，SD) 525。于此图示中，因为 TX[t]505 与 RX[r]510 从 link[r] 被连接，所以t = r。于一些实施例中，一测试路径可藉由提供控制输入txc[t，l:0]及rxc[r，l:0]至所对应的开关被建立。举例而言，如果一测试路径被建立用以侦测一接线的正内连线导线中开路故障，控制输入txc[t，l:0] =01及rXC[r，l:0] =01可被提供以关闭此开关tsw[t， 0]及 rsw[r，0]，并开启开关 tsw[t，l]及 rsw[r，l]。控制输入 txc[t，1 0]及 rxc[r，l:0] 可表示为这些开关为关闭的。例如，控制输入tXC[t，l:0rrXC[r，l:0] = ‘0101，，‘1101， 及 ‘0100，可藉由(tsw[t,0], rsw[r,0], tsw[t, *]，rsw[r，0])及(tsw[t, 0], rsw[r,丄]) 来表示，其中~代表串联且符号*及丄分别代表所有开关和没有开关。因此，tsw[t, *]及 rsw[r，丄]分别代表于所有开关在TX[t]中都被关闭，且没有开关在RX[r]中被关闭。值得注意的是，因为测试路径可藉由控制输入txc[t，l:0]及rXC[r，l:0]所建立，测试路径可藉由于路径中开启开关来表示。于此描述中，用于每一内连线测试运行的所有接线的开关控制可表示为「测试配置」。此测试配置包含于测试中建立于所有接线的测试路径。测试配置的一些数量可被要求以完成一所需的内连线测试。举例而言，测试配置‘1010’及‘0101’可被要求完成开路故障的侦测。一种开路测试的实施例将描述于下文中。于一些实施例中，测试结构可根据特定的应用中而实施于晶片上或晶片外(指此测试结构包含或不包含于一晶片于测试的标的物中)。如果此测试结构被提供于晶片上， txc[t，l:0]及rxc[r，l:0]可透过如众所皆知的10(例如IEEE 1149. 1边缘扫描标准介面) 连续地注册与登入。为了使装置可部分地安装一测试结构的实施例或完全没有此测试结构的实施例，测试结构可使用外加硬体来实行。举例而言，如果一电路板被用于测试装置(被称为DUT或待测元件、电路板)中或元件特性中，测试结构可使用外加硬体来实行。
于一些实施例中，如绘制于第五图中的一测试结构可使用现有的讯号侦测器及 (或)内建自我检测(BIST)硬体用以确认实体层(Physical Layer, PHY)硬体的完整性。 整体而言，讯号侦测器为系统功能的一部分，用以侦测于此差分接线中所出现的讯号。此 BIST硬体可包含一测试样式产生器及一错误检查器。于一些实施例中，所欲得到的测试样式可被产生并透过传输器PHY硬体以功能速率传送此差分内连线。所传输的讯号可于接收器中被修复并检查错误。如果一错误被侦测到，一或多个错误检测器标记指示出所侦测出错误的存在。同时，讯号检测器可以检查AC讯号的存在并指示相对应的检测结果。第六图为侦测固定型内连线故障及开路内连线故障的丨实施例的示意图。于一些实施例中，开路故障侦测亦可用以侦测固定型故障，请参见第六图。于此图中，于测试中的路径可藉由关闭功能路径中的开关所建立(传输器605的开关630及接收器610的开关 640)，且令所有其他的开关都开起(传输器605的开关635及接收器610的开关645)。虽然于第六图中的开关功能以特定开关(于第六图中的开关630，635，640及645)来绘制，但于一系统中的此些开关功能亦可以其他形式或位置来实行。如果所传输的测试样式650成功地于接收器610中被修复，或如果所传输的讯号650被讯号侦测器625所侦测，则此系统判定没有开路或固定型故障曾被检测出来。然而，如果此传输测试样式没有被接收且此讯号样式未被侦测，这是因为开路655的故，则一故障会被错误侦测器620所侦测出来。举例而言，如果将于此正内连线导线中的开路/固定型故障视为目标，将于此正内连线导线中的所有开关关闭，并提供开关控制输入txc[t，l:0rrxc[r，l:0] = ‘0101’于测试中的所有接线以将其他的开关都开启。于此范例中，故障的出现会阻止此输入测试样式被传输，也因此测试样式将不会于接收器中被修复。根据一互补开关设定(例如txc[t， l:0]"rxc[r,l:0] = ‘0101’)，相同的测式可被重复以侦测于测试中的所有接线的负内连线导线的开路/固定型故障。于此图中，用于开路测试的测试组态为‘0101’及‘1010’。于一些实施例中，桥接测试可藉由如第七图中的一传输器705及一接收器710所实现，其中接收器710可被耦接于一测试检查器(EC) 720及一讯号侦测器(SD)725。于此图中，于测试中用于所有接线的测试路径可就由开关控制输入txc[t，l:0rrxc[r，l:0]= ‘0110，或‘1001，以激活目标的桥接故障。举例而言，传输器705的开关730及接收器710 的开关745可被关闭，且传输器705的开关735及接收器710的开关740可被开启。于一无故障的状况下，所有路径可被开启并且没有讯号会从传输器705传输至接收器710，也因此测试样式750应该不会被讯号侦测器725所侦测。然而，如果一桥接故障(例如故障760) 发生在任何内连线导线之间，此互补的测试样式或波形可藉由此桥接故障所设定的路径被接收。如果此互补的测试样式于接收器710中被接收，一桥接故障可被侦测。复杂的多种桥接故障的侦测及诊断可于下文中叙述。于一些实施例中，一测试结构或系统可被应用以测试HSIO内连线，此HSIO内连线涵盖任一的传统传输器或接收器，其并未设置此测试系统中的元件。不需设置测试结构元件的此项能力对测试装置而言可加强其优势。举例而言，测试结构可仅一传输的传输器和接收器设置此测试结构来使用。第八图为用于包含一传输器的丨系统与一传统接收器通讯的开路故障侦测的一实施例的示意图，以及第九图为用于包含一接收器的丨系统与一传统传输器通讯的开路故障侦测的丨实施例的示意图。于绘制于第八图及第九图中的范例，一传输器或接收器被设置一测试结构可与一常见的对应体所合并以形成一 HSIO接线。于这些架构中，内连线测试可类似开路及固定型故障的方式来实现。于一些实施例中，多数桥接故障于内连线导线之间亦可被侦测。举例而言，如果一测试样式源被桥接至很多测试样式汇点，多数桥接故障可如开路故障般被侦测，因为测试样式波形的振幅可被数个样式汇点所分割，也因此测试样是可能不会被修复或侦测。第八图显示开路故障侦测的一实施例，其中一传输器805能用以故障侦测，其包含开关830及835，同时接收器中包含错误检查器820与讯号侦测器825使能进行故障侦测。举例而言，对所述开路故障855的侦测可包含关闭开关830及开启开关835。当测试样式850被供应于此架构中的传输器805，没有讯号将于接收器810中被讯号侦测器825所侦测出来，则表示一种故障状况。(描述于第八图中的传统RX可被考虑为第五图中的RX的特殊案例，即于RX中的所有开关都被永久关闭。)第九图显示开路故障侦测的一实施例，其中一接收器910，其包含错误检查器920 及讯号侦测器925使能进行故障侦测，并包含开关940及945，同时传输器905持续地提供测试样式波形于负内连线导线与正内连线导线两者用以故障侦测。举例而言，开路故障955 的侦测可包含关闭开关940与开启开关945。当测试样式950被应用于此架构中的传输器 905，没有讯号将于接收器910被侦测，则表示一种故障状况。(描述于第九图中的传统TX 可被考虑为第五图中的TX的特殊案例，即为TX中的所有开关都被永久关闭。)当复数个传输器与接收器被连接于同一电路板上，故障侦测与诊断就可能不是一个不重要的工作。所连接的传输器和接收器可潜在的彼此接合。所述故障，特别是多种故障包含于内连线导线中，可能是故障行为的复杂分析及对诊断造成更多的挑战。应用一测试样式于故障侦测中，举例来说，一些桥接故障可被隐藏或改变一输入讯号波形的振幅。于一些实施例中，一测试程序被应用以侦测并定位多个故障，其不仅可以帮助增加产量亦可解决故障。于一些实施例中，一测试系统或方法被实施以侦测及定位复数个内连线故障。于一些实施例中，测试系统或方法藉由于每一测试的运行中一次使用一测试样式源及一测试样式汇点以减少不需要的复杂性。于此一实施中，一目标用以独立或分离复数个故障的一潜在地复杂样式变成一较简化的故障样式用于样式讯号源及汇点的测试。于一些实施例中，一较简化的故障样式的侦测从每一测试运行可被收集用以重建复数个故障的原始样式。于一讯号沟通中，时序讯号可被实施于资料串流中，或可被独立地提供。于一讯号源同步HSIO的案例中，其中差分时序接线独立地被提供，一可获得的讯号侦测器可被用于此时序接线。如果此讯号侦测器不可获得，则一计数器可被应用以侦测于此时序接线中的故障。于此实施例中，如果时序被修复则此计数器会被增加。于一些用于故障诊断的实施例中，此时序接线可从资料接线中独立地被测试。举例而言，时序接线可被先测试而资料接线则可接着被测试。于此实施中，用于时序的测试程序可与资料接线相同，除了计数器可被应用以取代功能BIST来侦测于时序中的故障。因为测试程序的实施例可被应用于同时测试时序接线与资料接线，在此的讨论可表示一系统以资料接线的观点来表示两种测试。一测试程序的实施例被提供于下列表一中。一测试的实施例可从一开路和桥接测试中分离出一固定型测试用以改良诊断解析度。于一些实施例中，一短路开关和固定型测试可被用以定位故障开关及固定型故障，其可于接收器中被观察到，且一开路及桥接测试可侦测及定位开路故障及桥接故障。
权利要求
1.一种故障分析装置，包含一测试样式源，用以提供一测试样式于介于一传输器及一接收器间的一内连线，该内连线具有一传输器端及一接收器端，该内连线包含一第一导线及一第二导线，该传输器传送该第一导线上的该测试样式至该接收器；一第一开关，用以开启及关闭于该第一导线的一第一连结；以及一第二开关，用以开启及关闭于该第二导线的一第二连结；其中该第一开关及该第二开关依据一架构设置于一测试路径的至少一部分用以于该内连线中进行一或多个故障的侦测。
2.如权利要求第1项所述的故障分析装置，其中该第一开关及该第二开关被包含于该传输器之中，或耦接于该内连线的该传输器端。
3.如权利要求第1项所述的故障分析装置，其中该第一开关及该第二开关被包含于该接收器之中，或耦接于该内连线的该接收器端。
4.如权利要求第1项所述的故障分析装置，更包含一第三开关用以开启及关闭于该第一导线中的一第三连结，以及一第四开关用以开启及关闭于该第二导线中的一第四连结。
5.如权利要求第4项所述的故障分析装置，其中该第一开关及该第二开关被包含于该传输器之中，或耦接于该内连线的该传输器端；以及该第三开关及该第四开关被包含于该接收器之中，或耦接于该内连线的该接收器端。
6.如权利要求第1项所述的故障分析装置，其中每一该一或多个故障为一开路故障、 一桥接故障、一固定型故障、或一串音故障之一。
7.如权利要求第1项所述的故障分析装置，其中该内连线为一高速输入输出内连线。
8.如权利要求第1项所述的故障分析装置，其中该内连线为直流耦合。
9.如权利要求第1项所述的故障分析装置，其中该内连线为交流耦合。
10.如权利要求第1项所述的故障分析装置，其中该第一开关可运作以开启或关闭该第一导线的电源，以及该第二开关可运作以开启或关闭该第二导线的电源。
11.如权利要求第10项所述的故障分析装置，更包含一第一终端电阻耦接于该第一导线及一电源之间，以及一第二终端电阻耦接于该第二导线及该电源之间；其中该第一开关透过该第一终端电阻来开启及关闭电源，以及该第二开关透过该第二终端电阻来开启及关闭电源。
12.如权利要求第1项所述的故障分析装置，其中该传输器为一测试器用以供应讯号至该接收器。
13.一种故障分析的方法，包含供应一第一测试样式至一内连线的一第一导线，该内连线包含该第一导线及一第二导线 ，传送一第一控制讯号至一第一开关，该第一开关基于该第一控制讯号用以开启并关闭该第一导线的一第一连结；传送一第二控制讯号至一第二开关，该第二开关基于该第二控制讯号用以开启并关闭该第二导线的一第二连结，该第一控制讯号及该第二控制讯号设置用于一测试路径的至少一部分的该测试样式；调整该内连线用以接收讯号；以及基于该内连线的调整判定于该内连线中是否存在一故障。
14.如权利要求第13项所述的故障分析方法，更包含供应一第二测试样式至该第二导线。
15.如权利要求第14项所述的故障分析方法，其中该第一控制讯号为该第二控制讯号的丨补数，以及该第一测试样式为该第二测试样式的一补数。
16.如权利要求第13项所述的故障分析方法，更包含传送一第三控制讯号至该第三开关，该第三开关基于该第三控制讯号用以开启及关闭该第一导线的丨第三连结；以及传送一第四控制讯号至该第四开关，该第四开关基于该第四控制讯号用以开启及关闭该第二导线的一第四连结。
17.如权利要求第13项所述的故障分析方法，其中每一该一或多个故障为一开路故障、一桥接故障、一固定型故障、或一串音故障之一。
18.如权利要求第13项所述的故障分析方法，其中该内连线为一高速输入输出内连线。
19.如权利要求第13项所述的故障分析方法，更包含判定于该内连线中的一所侦测的 故障的一位置。
20.如权利要求第13项所述的故障分析方法，其中该第一测试样式供应于该第一导线以用于一测试机器。
21.如权利要求第13项所述的故障分析方法，更包含判定用于一或多个内连线中的复数个控制讯号，该复数个控制讯号包含该第一控制讯号及该第二控制讯号，于一测试中，该复数个控制讯号用以侦测至少一或多类型的故障。
22.如权利要求第21项所述的故障分析方法，其中该复数个控制讯号的判定包含设定一或多个内连线的所有导线的控制讯号，并以相同数值去侦测每一内连线中的桥接故障。
23.如权利要求第21项所述的故障分析方法，其中该复数个控制讯号的判定包含设定用于每一内连线的一正导线的一控制讯号为一第一数值，以及设定用于每一内连线的一负导线的一控制讯号为一第二数值，并用以侦测介于该内连线间的桥接故障。
24.如权利要求第21项所述的故障分析方法，其中该复数个控制讯号的判定包含建立一第一组控制讯号以及该第一组控制讯号的一位元补数以侦测耦合于桥接故障的开路故障。
25.如权利要求第21项所述的故障分析方法，其中该复数个控制讯号的判定包含判定用于测试具有相同极性的一或多个内连线的导线间的桥接故障的复数组控制讯号。
26.一种故障分析系统，包含一第一组开关用以开启及关闭一第一内连线的连结，该第一内连线包含一第一导线及一第二导线，该第一组开关包含二开关于该第一内连线的一传输器侧及二开关于该第一内连线的一接收器侧；一第二组开关用以开启及关闭一第二内连线的连结，该第二内连线包含一第三导线及一第四导线，该第二组开关包含二开关于该第二内连线的一传输器侧及二开关于该第二内连线的一接收器侧，该第一组开关及该第二组开关用以操作去设定一测试路径的至少一部分；一或多个样式讯号源用以供应讯号至该第一内连线及该第二内连线的一或多个导线中；以及基于从一或多个样式讯号源传输的讯号的接收以逻辑方式确认于该第一内连线及该第二内连线中一或多个故障。
27.如权利要求第沈项所述的故障分析系统，其中该以逻辑方式确认故障包含一讯号侦测器以判定该讯号是否被接收。
28.如权利要求第沈项所述的故障分析系统，其中该以逻辑方式确认故障包含一错误检查器以判定被接收的讯号是否包含一错误。
29.如权利要求第沈项所述的故障分析系统，其中每一开关为独立可操作的。
30.如权利要求第沈项所述的故障分析系统，其中该以逻辑方式确认故障包含以逻辑方式判定一被侦测的故障的一位置。
31.如权利要求第沈项所述的故障分析系统，其中每一该一或多个故障为一开路故障、一桥接故障、一固定型故障、或一串音故障的丨种。
32.如权利要求第31项所述的故障分析系统，其中该第一组开关用以接收一第一组控制讯号及该第二组开关用以接收该第一组控制讯号的一补数，以及该一或多个样式讯号源用以供应一第一测试样式于该第一导线及该第三导线，及供应该第一测试样式的一补数于该第二导线及该第四导线；其中该逻辑方式用以侦测介于相同极性的导线间的桥接故障。
33.如权利要求第沈项所述的故障分析系统，其中该内连线为一高速输入输出内连线。
34.一种用于故障分析的电脑可读取媒体，其中储存有可重现指令序列的资料，当藉由一处理器的执行可使该处理器实行的操作包含供应一第一测试样式至一内连线的丨第一导线，该内连线包含该第一导线及一第二导线.一入 ，传送一第一控制讯号至一第一开关，该第一开关基于该第一控制讯号用以开启或关闭于该第一导线的一第一连结；传送一第二控制讯号至一第二开关，该第二开关基于该第二控制讯号用以开启或关闭于该第二导线的一第二连结，该第一开关与该第二开关对该第二测试样式设定一测试路径的至少一部分；接收该内连线中的一或多个讯号；以及基于该所接收的讯号判定于该内连线中是否存在一故障。
35.如权利要求第34项所述的用于故障分析的电脑可读取媒体，其中该指令序列更包含指令可使该处理器实行的操作包含供应一第二测试样式至该第二导线。
36.如权利要求第34项所述的用于故障分析的电脑可读取媒体，其中该指令序列更包含指令可使该处理器实行的操作包含传送一第三控制讯号至一第三开关，该第三开关基于该第三控制讯号用以开启或关闭于该第一导线的一第三连结；以及传送一第四控制讯号至一第四开关，该第四开关基于该第四控制讯号用以开启或关闭于该第二导线的一第四连结。4
37.如权利要求第34项所述的用于故障分析的电脑可读取媒体，其中每一该一或多个故障为一开路故障、一桥接故障、一固定型故障、或一串音故障的一种。
38.如权利要求第34项所述的用于故障分析的电脑可读取媒体，其中该指令序列更包含指令可使该处理器实行的操作包含判定于该内连线中的一所侦测到的故障的丨位置。
39.如权利要求第34项所述的用于故障分析的电脑可读取媒体，其中该指令序列更包含指令可使该处理器实行的操作包含判定于一或多个内连线的复数个控制讯号，该复数个控制讯号包含该第一控制讯号及该第二控制讯号，于一测试中该复数个控制讯号用以侦测一或多种类型的故障的至少一部分。
全文摘要
本发明的实施例大体上针对内连线的故障测试。一故障分析装置的实施例包含一测试样式源以提供一测试样式于一传输器与一接收器间之内连线，所述内连线具有一传输器端及一接收器端，此内连线包含一第一导线及一第二导线，且此传输器于所述第一导线中传送此测试样式至所述接收器。所述装置更包含一第一开关，用以开启和关闭于第一导线的第一连结；以及一第二开关，用以开启和关闭于第二导线的第二连结。所述第一开关及第二开关对应于一架构所设置，并设置一测试路径的至少一部分以对内连线中的一或多个故障的侦测。
文档编号G01R31/317GK102292647SQ201080005560
公开日2011年12月21日 申请日期2010年1月22日 优先权日2009年1月23日
发明者C·苏, 安基仲 申请人:晶像股份有限公司