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用于原子荧光光谱仪的扣除光源漂移和脉动的装置的制作方法

时间:2025-05-07    作者: 管理员

专利名称:用于原子荧光光谱仪的扣除光源漂移和脉动的装置的制作方法
技术领域
本实用新型涉及一种用于原子荧光的检测器,具体地说,是一种专为用于带有氢化物发生的原子荧光光谱仪的扣除光源漂移和脉动的装置。
背景技术
原子荧光光谱仪是一种痕量元素分析仪器。氢化物发生原子荧光光谱仪是一种专用于检测一些容易形成氢化物的对人体有毒有害或有益的微量元素,如As、Sb、Bi、Hg、Se、Te、Ge、Sn、Pb、Zn、Cd等。目前已广泛应用于环保、饮用水、污水检测、食品卫生检测、卫生防疫、医药、陶瓷、冶金、地质等行业。光源是原子荧光光谱仪中的一个重要组成部分,其光强的稳定性直接影响着仪器测量结果的稳定性和准确性。目前在国内外生产的原子荧光光谱仪中,基本以空芯阴极灯作光源。空芯阴极灯稳定性优于无极放电灯,但其漂移和脉动始终是困扰分析界的一个令人头疼的问题,尤其是汞(Hg)灯,随环境温度的变化其光强变化很大,且为非线性变化。因此光源的不稳定成了进一步提高仪器性能指标的一个瓶颈。
国内外的双光束紫外分光光度计等采用双光束单检测器的方式克服光源的不稳定性,其测量原理框图见图3。其特点是(1)光源1在整个样品测量过程中其供电电流(或电压)恒定;(2)检测光线11与入射光线11、12、13处在同一方向上(即平行)。它的优点是共用一套检测电路和检测器;缺点是参比和样品分时交替测量(通过旋转反射镜14使入射光线11全透或全反)。这种方式虽可以有效的消除光源的漂移,但不能实时反映出样品测量过程中的光源脉动。
原子荧光光谱仪的测量原理框图见图4,其主要特点是(1)为了既能提高光源的发光强度又不影响其使用寿命,在整个样品测量过程中光源只有在信号采样时才供电,且为大电流窄脉冲供电,其余时间均为小直流电流(或小脉冲电流)预热;(2)检测光线与入射光线不在同一方向上(成一定角度);(3)无分光系统。由于这些测量原理上的区别,原子荧光无法用双光束单检测器的方式消除光源的漂移。
实用新型内容本实用新型的目的是提供一种用于原子荧光光谱仪中的扣除光源漂移和脉动的装置。
本实用新型所述的用于原子荧光光谱仪的扣除光源漂移和脉动的装置,包括光源、聚焦透镜、原子化器、聚焦透镜、样品检测器、放大器和数据处理器及光源检测器。所述光源检测器通过线路与放大器及数据处理器连接。
所述光源的一小部分光线是从光源直接照射到光源检测器上或者通过光导纤维导到光源检测器上。
本实用新型所述的装置既能有效地消除光源的漂移,又能实时反映出样品测量过程中的光源脉动,可以很好地克服原子荧光光谱仪中光源的不稳定性。


图1是本实用新型所述的扣除光源漂移和脉动的装置;图2是本实用新型所述的装置的原理框图;图3是双光束紫外分光光度计原理框图;图4是原子荧光的测量原理框图。
具体实施方式
参见图1,本实用新型所述的扣除光源漂移和脉动的装置依次包括光源1、透镜3、光源检测器10、原子化器4、透镜6、样品检测器7和放大及数据处理器8。所述光源检测器10通过线路11与放大器及数据处理器8连接。所述光源1可以是空芯阴极灯、无极放电灯等。
参见图2,所述光源1的光线9既可以直接从光源1照射到光源检测器10上,也可以通过光导纤维等其它手段导到光源检测器10上。
其工作过程是入射光线2从光源1发出,经透镜3聚焦在原子化器4上。被测样品经原子化器4原子化后被入射光线2激发而发出荧光5,荧光5经透镜6聚焦在样品检测器7上被光电转换后,通过放大器和数据处理器8进行数据处理,来来检测样品;与上述过程同步,光源1在发出光线2的同时,光源检测器10同步接受从光源1中发出的一小部分光线9,经放大和数据处理器8处理,同步监控并扣除光线2的漂移和波动。这样能有效地消除光源的漂移,又能实时反映出样品测量过程中的光源脉动,可以很好地克服原子荧光光谱仪中光源的不稳定性。
权利要求1.用于原子荧光光谱仪的扣除光源漂移和脉动的装置,包括光源(1)、聚焦透镜(3)、原子化器(4)、聚焦透镜(6)、样品检测器(7)、放大器和数据处理器(8)及光源检测器(10),其特征是所述光源检测器(10)通过线路与放大器及数据处理器(8)连接。
2.根据权利要求1,其特征是所述光源(1)的一小部分光线(9)是从光源(1)直接照射到光源检测器(10)上或者通过光导纤维导到光源检测器(10)上。
专利摘要本实用新型涉及一种用于原子荧光光谱仪的扣除光源漂移和脉动的装置,包括光源1、聚焦透镜3、原子化器4、聚焦透镜6、样品检测器7、放大器和数据处理器8及光源检测器10。所述光源检测器10通过线路与放大器及数据处理器8连接。该装置既能有效地消除光源的漂移,又能实时反映出样品测量过程中的光源脉动,可以很好地克服原子荧光光谱仪中光源的不稳定性。
文档编号G01N21/64GK2646699SQ200320100040
公开日2004年10月6日 申请日期2003年10月8日 优先权日2003年10月8日
发明者陈志新, 刘明钟, 裴晓华, 陈红军 申请人:北京吉天仪器有限公司

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