专利名称：一种x光检测机的制作方法
技术领域：
—种X光检测机技术领域[0001]本实用新型涉及检测设备，尤其涉及一种X光检测机。
背景技术：
[0002]为了使产品具有较高的质量，许多产品在出厂之前都需要经过样品检测。例如，在PCB的生产过程中，常采用表面贴装技术(Surface Mount Technology, SMT)而将无引脚或短引线的元件安装在PCB的表面上，且通过回流焊或浸焊等方法加以焊接组装。在PCB生产线上，人们采用多种检测方式以保证制造出高品质的PCB产品。目前，应用较多的检测方式是在产线上设置X光检测机，这种X光检测机中，X光发射装置发出X射线而穿透PCB，再由X光探测器对X射线穿透PCB后而形成的影像进行采集，从而判断PCB是否存在瑕疵。实际操作中，操作者需要将PCB送至X光检测机的入口处，经X光检测机检测后从出口处取出，这种结构的X光检测机，难以避免X射线从入口和出口处泄露出来而对人体造成辐射，尽管有些X光检测机的入口和出口处安装了能够阻挡部分X射线的铅化橡胶，但是，当X光检测机的出口和入口打开时，X射线依然会向外泄露，对操作人员及环境造成很大的辐射和污染。实用新型内容[0003]本实用新型要解决的技术问题在于，提供一种能有效避免X射线泄露的X光检测机。[0004]—种X光检测机,其包括有一机箱,该机箱内固定有一控制器、一电连接于控制器的X光发射装置、一电连接于控制器且与X光发射装置相对设置的探测装置及一设于X光发射装置与探测装置之间的传送装置，该传送装置包括有传送导轨、分别电连接于控制器的一入口升降电机和一出口升降电机、一设于传送导轨入口处且由入口升降电机驱动的入口铅化玻璃及一设于传送导轨出口处且由出口升降电机驱动的出口铅化玻璃。[0005]优选地，所述传送装置还包括有一设于所述入口铅化玻璃之前的第一防护口及一设于所述出口铅化玻璃之后的第二防护口。[0006]优选地，所述第一防护口包括有一下矩形铅板、设于下矩形铅板左右两侧的两个梯形铅板及设于两个梯形铅板上端的一上矩形铅板，所述第二防护口包括有一下矩形铅板、设于下矩形铅板左右两侧的两个梯形铅板及设于两个梯形铅板上端的一上矩形铅板。[0007]优选地，所述入口铅化玻璃上固定有一由入口升降电机驱动的第一滑动件，机箱内固定有一第一轨道，第一滑动件与第一轨道滑动连接，所述出口铅化玻璃上固定有一由出口升降电机驱动的第二滑动件，机箱内固定有一第二轨道，该第二滑动件与第二轨道滑动连接。[0008]优选地，所述机箱上还固定有与入口铅化玻璃相对设置的至少一个入口感应器及与出口铅化玻璃相对设置的至少一个出口感应器，所述入口感应器及出口感应器均电连接至控制器。[0009]优选地，所述入口感应器及出口感应器均为光栅传感器。[0010]优选地，所述传送导轨由两条并行设置的轨道构成。[0011 ] 优选地，所述X光发射装置包括有一电连接于控制器的高压发生器及一受控于控制器且可升降的射线管，所述射线管通过一高压线缆而连接至高压发生器。[0012]优选地，所述探测装置包括有一旋转臂及一固定于旋转臂上的探测器。[0013]优选地，所述控制器还电连接至一电脑主机。[0014]本实用新型公开的一种X光检测机，其中的入口铅化玻璃受入口升降电机的驱动而上升或者下降，出口铅化玻璃受出口升降电机的驱动而上升或者下降。当待检测样品输送至X光检测机的入口处时，控制器控制入口升降电机而进一步驱动入口铅化玻璃升起，样品通过传送导轨而输送至X光检测机内，此时，入口铅化玻璃下降，X光发射装置发出X射线且由探测装置对样品的影像进行采集；采集完成后，X光发射装置停止发出X射线，控制器控制出口升降电机而进一步驱动出口铅化玻璃升起，样品通过传送导轨而输送出X光检测机，此时，出口铅化玻璃下降，样品检测完毕。上述结构中，当探测装置采集样品影像时，入口铅化玻璃及出口铅化玻璃将X射线屏蔽在X光检测机内；当入口铅化玻璃或出口铅化玻璃上升时，X光发射装置停止发出X射线。因此，这种结构的X光检测机，更加有效的避免了 X射线对操作人员的辐射及环境的污染。


[0015]图1为本实用新型的整体结构示意图。[0016]图2为本实用新型中传送装置的结构示意图。[0017]图3为本实用新型中X光发射装置及探测装置的结构示意图。
具体实施方式
[0018]
以下结合附图和实施例对本实用新型做更加详细的描述。[0019]本实用新型公开了一种X光检测机，如图1及图2所示，其包括有一机箱1，该机箱I内固定有一控制器2、一电连接于控制器2的X光发射装置3、一电连接于控制器2且与X光发射装置3相对设置的探测装置4及一设于X光发射装置3与探测装置4之间的传送装置5，该传送装置5包括有传送导轨500、分别电连接于控制器2的一入口升降电机505和一出口升降电机506、一设于传送导轨500入口处且由入口升降电机505驱动的入口铅化玻璃501及一设于传送导轨500出口处且由出口升降电机506驱动的出口铅化玻璃502。其工作过程中，当样品输送至X光检测机的入口处时，控制器2控制入口升降电机505而进一步驱动入口铅化玻璃501升起，样品通过传送导轨500而输送至X光检测机内，此时，入口铅化玻璃501下降，X光发射装置3发出X射线且由探测装置4对样品的影像进行采集；采集完成后，X光发射装置3停止发出X射线，控制器2控制出口升降电机506而进一步驱动出口铅化玻璃502升起，样品通过传送导轨500而输送出X光检测机，此时，出口铅化玻璃502下降，样品检测完毕。上述结构中，当探测装置4采集样品影像时，入口铅化玻璃501及出口铅化玻璃502将X射线屏蔽在X光检测机内；当入口铅化玻璃501或出口铅化玻璃502上升时，X光发射装置3停止发出X射线。因此，这种结构的X光检测机，更加有效的避免了 X射线对操作人员的辐射及环境的污染。[0020]如图2所示，传送装置5还包括有一设于入口铅化玻璃501之前的第一防护口 503及一设于出口铅化玻璃502之后的第二防护口 504。该第一防护口 503包括有一下矩形铅板、设于下矩形铅板左右两侧的两个梯形铅板及设于两个梯形铅板上端的一上矩形铅板。同样地，该第二防护口 504包括有一下矩形铅板、设于下矩形铅板左右两侧的两个梯形铅板及设于两个梯形铅板上端的一上矩形铅板。在第一防护口 503及第二防护口 504的作用下，更进一步地阻挡了泄漏出来的X射线。[0021]如图2所示，入口铅化玻璃501上固定有一由入口升降电机505驱动的第一滑动件512，机箱I内固定有一第一轨道507，第一滑动件512与第一轨道507滑动连接，使入口升降电机505能够驱动入口铅化玻璃501沿第一轨道507而上升或者下降。同样地，出口铅化玻璃502上固定有一由出口升降电机506驱动的第二滑动件513，机箱I内固定有一第二轨道508，该第二滑动件513与第二轨道508滑动连接，使出口升降电机506能够驱动出口铅化玻璃502沿第二轨道508而上升或者下降。[0022]如图2所示，机箱I上还固定有与入口铅化玻璃501相对设置的至少一个入口感应器509及与出口铅化玻璃502相对设置的至少一个出口感应器510，该入口感应器509及出口感应器510均电连接至控制器2。其中，入口感应器509及出口感应器510可以是光栅传感器，也可以是其他的开关型传感器。控制器2可以通过入口感应器509及出口感应器510的开关状态而判断入口铅化玻璃501及出口铅化玻璃502的位置，从而控制二者升降的行程。[0023]如图2所示，传送导轨500由两条并行设置且相互存在距离的轨道510构成，样品在两条轨道上传送。由于两条轨道510并行设置且存在距离，使X射线能够直接射向样品。[0024]如图3所示，X光发射装置3包括有一电连接于控制器2的高压发生器300及一受控于控制器2且可升降的射线管301，射线管301通过一高压线缆302而连接至高压发生器300。探测装置4包括有一旋转臂400及一固定于旋转臂400上的探测器401。通过射线管301的升降以及旋转臂400的旋转动作，使探测器401可以从多个角度采集样品的影像，从而避免了因样品上的阴影而导致的误判。[0025]如图1所示，控制器2还电连接至一电脑主机6，通过电脑主机6与控制器2的通讯，以实现人机交互及实时记录探测器401采集到的影像。机箱I上还固定有一报警灯7，该报警灯7电连接至控制器2，当探测器401检测到样品存在瑕疵时，报警灯7可发出报警。[0026]本实用新型公开的一种X光检测机，其中的入口铅化玻璃501受入口升降电机505的驱动而上升或者下降，出口铅化玻璃502受出口升降电机506的驱动而上升或者下降。当样品输送至X光检测机的入口处时，控制器2控制入口升降电机505而进一步驱动入口铅化玻璃501升起，样品通过传送导轨500而输送至X光检测机内，此时，入口铅化玻璃501下降，X光发射装置3发出X射线且由探测装置4开始对样品的影像进行采集；采集完成后，X光发射装置3停止发出X射线，控制器2控制出口升降电机506而进一步驱动出口铅化玻璃502升起，样品通过传送导轨500而输送出X光检测机，此时，出口铅化玻璃502下降，样品检测完毕。上述结构中，当探测装置4采集样品影像时，入口铅化玻璃501及出口铅化玻璃502将X射线屏蔽在X光检测机内；当入口铅化玻璃501或出口铅化玻璃502上升时，X光发射装置3停止发出X射线。此外，该X光检测机还可以通过第一防护口 503及第二防护口 504而进一步阻挡泄露出来的X射线。因此，本实用新型公开的X光检测机，更加有效的避免了 X射线对操作人员的辐射及环境的污染。[0027]以上所述只是本实用新型较佳的实施例，并不用于限制本实用新型，凡在本实用新型的技术范围内所做的修改、等同替换或者改进等，均应包含在本实用新型所保护的范围内。
权利要求1.一种X光检测机,其特征在于:所述X光检测机包括有一机箱(1)，该机箱(I)内固定有一控制器(2)、一电连接于控制器(2)的X光发射装置(3)、一电连接于控制器(2)且与X光发射装置(3)相对设置的探测装置(4)及一设于X光发射装置(3)与探测装置(4)之间的传送装置(5 )，该传送装置(5 )包括有传送导轨(500 )、分别电连接于控制器(2 )的一入口升降电机(505)和一出口升降电机(506)、一设于传送导轨(500)入口处且由入口升降电机(505 )驱动的入口铅化玻璃(501)及一设于传送导轨(500 )出口处且由出口升降电机(506 )驱动的出口铅化玻璃(502 )。
2.如权利要求1所述的X光检测机，其特征在于:所述传送装置(5)还包括有一设于所述入口铅化玻璃(501)之前的第一防护口(503)及一设于所述出口铅化玻璃(502)之后的第二防护口(504)。
3.如权利要求2所述的X光检测机，其特征在于:所述第一防护口(503)包括有一下矩形铅板、设于下矩形铅板左右两侧的两个梯形铅板及设于两个梯形铅板上端的一上矩形铅板，所述第二防护口(504)包括有一下矩形铅板、设于下矩形铅板左右两侧的两个梯形铅板及设于两个梯形铅板上端的一上矩形铅板。
4.如权利要求1所述的X光检测机，其特征在于:所述入口铅化玻璃(501)上固定有一由入口升降电机(505 )驱动的第一滑动件(512)，机箱(I)内固定有一第一轨道(507 )，第一滑动件(512)与第一轨道(507 )滑动连接，所述出口铅化玻璃(502 )上固定有一由出口升降电机(506)驱动的第二滑动件(513),机箱(I)内固定有一第二轨道(508),该第二滑动件(513)与第二轨道(508)滑动连接。
5.如权利要求1所述的X光检测机，其特征在于:所述机箱(I)上还固定有与入口铅化玻璃(501)相对设置的至少一个入口感应器(509)及与出口铅化玻璃(502)相对设置的至少一个出口感应器(510)，所述入口感应器(509)及出口感应器(510)均电连接至控制器(2)。
6.如权利要求5所述的X光检测机，其特征在于:所述入口感应器(509)及出口感应器(510)均为光栅传感器。
7.如权利要求1所述的X光检测机，其特征在于:所述传送导轨(500)由两条并行设置的轨道(510)构成。
8.如权利要求1所述的X光检测机，其特征在于:所述X光发射装置(3)包括有一电连接于控制器(2)的高压发生器(300)及一受控于控制器(2)且可升降的射线管(301)，所述射线管(301)通过一高压线缆(302)而连接至高压发生器(300)。
9.如权利要求1所述的X光检测机，其特征在于:所述探测装置(4)包括有一旋转臂(400 )及一固定于旋转臂(400 )上的探测器(401)。
10.如权利要求1所述的X光检测机，其特征在于:所述控制器(2)还电连接至一电脑主机(6)。
专利摘要本实用新型公开一种X光检测机，其包括有一机箱，该机箱内固定有一控制器、一电连接于控制器的X光发射装置、一电连接于控制器且与X光发射装置相对设置的探测装置及一设于X光发射装置与探测装置之间的传送装置，该传送装置包括有传送导轨、分别电连接于控制器的一入口升降电机和一出口升降电机、一设于传送导轨入口处且由入口升降电机驱动的入口铅化玻璃及一设于传送导轨出口处且由出口升降电机驱动的出口铅化玻璃。本实用新型公开的X光检测机，能够有效避免X射线对操作人员的辐射及环境的污染。
文档编号G01N23/04GK202974894SQ20122063148
公开日2013年6月5日 申请日期2012年11月26日 优先权日2012年11月26日
发明者艾伦·布什内尔 申请人:麦捷科控股集团有限公司