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三相变压器绕组漏抗简化测量方法

时间:2025-05-11    作者: 管理员

专利名称:三相变压器绕组漏抗简化测量方法
技术领域
本发明涉及一种三相变压器一、二次绕组漏抗测量方法,尤其是三相变压器一、二次绕组漏抗简化测量方法。
背景技术
目前,公知的三相变压器一、二次绕组漏抗短路测量方法一般是将一相的低压绕组短路,在该相高压绕组两端加电压使该相低压绕组电流达到额定值,测量该相高压绕组电压、电流、有功功率,计算出该相绕组漏抗X, X=XjX2'估计Xp X2’或X2近似值。这种方法测量仪器较多,需要两个电流表、一个功率表、一个电压表,只能得到Xl、X2’或X2近似值
发明内容
为了克服现有三相变压器绕组漏抗短路测量方法所存在测量仪器较多、只能得到Xl、X2’或X2近似值的不足,本发明提出一种将三相变压器两边相一次绕组首尾相连组成闭合电路,或将三相变压器两边相二次绕组首尾相连组成闭合电路,分别测量三相变压器三相一次绕组或三相二次绕组漏抗的方法。本发明解决其技术问题所采用的技术方案三相变压器各一次绕组电阻F1和漏抗X1基本相等,各二次绕组电阻r2和漏抗X2基本相等,r:和r2可直接用万用表欧姆档测出。测量一次绕组漏抗X1时将三相变压器三相二次绕组开路,将三相变压器A、C两边相一次绕组NA1、Nci首尾相连组成闭合电路,对中间B相一次绕组Nbi加电压V1后B相铁心柱内产生磁通量O1, O1通过A、C两边相铁心柱闭合,A、C两边相铁心柱内磁通量都为0/2 ;因Nai=Nbi=Nci, Nai^Nci的感应电动势都为V1A ;因Nai, Nci首尾相连,Nai, Nci的感应电动势之和为V1 ;NA1、Nci首尾相连组成闭合电路相当于总匝数为NA1+Na、感应电动势为V1的单相变压器二次绕组短路,等效单相变压器一次绕组为Nbi。根据变压器T型等效电路,等效单相变压器一、二次绕组变比为1,等效单相变压器二次绕组电阻为2 A、漏抗为2Xl。测得I1、sin ¥ I后可得(V1Zl1) sin ¥ 1=x1+2x1=3x1(I)测得I1J1B,可得[ (V1Zl1)2- (r1+2ri)2]1/2= [ (V1Zl1)2- (Sr1)2] 1/2=3Xl(2)式⑴、式(I)中都只有一个未知量X1,可从式(I)或式(I)直接算出Xl。测量二次绕组漏抗X2时将三相变压器三相一次绕组开路,将三相变压器A、C两边相二次绕组NA2、Nc2首尾相连组成闭合电路,对中间B相二次绕组Nb2加电压V2后B相铁心柱内产生磁通量。2,O2通过A、C两边相铁心柱闭合,A、C两边相铁心柱内磁通量都为02/2 ;因Na2=Nb2=Nc2, Na2, Nc2的感应电动势都为V2/2 ;因NA2, Nc2首尾相连,NA2, Nc2的感应电动势之和为V2 ;NA2、Nc2首尾相连组成闭合电路相当于总匝数为Na2+Nc2、感应电动势为V2的单相变压器二次绕组短路,等效单相变压器一次绕组为NB2。根据变压器T型等效电路,等效单相变压器一、二次绕组变比为1,等效单相变压器二次绕组电阻为2 r2、漏抗为2x2。测得I2、sin V2后可得(V2/I2) sin ¥2=x2+2x2=3x2(3)测得12、1~2后,可得[ (Y2ZI2)2- (r2+2r2)2]1/2= [ (Y2Zl2)2- (3r2)2] 1/2=3x2(4)式(3)、式⑷中都只有一个未知量X2,可从式(3)或式⑷直接算出x2。显然,将加电压相换为A相或者C相,将其余两相绕组首尾相接,结果也相同。本发明的有益效果 测量方法简单,只需一个电流表、一个欧姆表、一个电压表,也就是只需一块万用表;可基本准确测出三相变压器一、二次绕组漏抗。


下面结合附图和实施例对本发明进一步说明。图I是本发明的测量三相变压器一次绕组漏抗电路、磁路图;图2是本发明的测量三相变压器一次绕组漏抗等效单相变压器T型等效电路图;图3是本发明的测量三相变压器二次绕组漏抗电路、磁路图;图4是本发明的测量三相变压器二次绕组漏抗等效单相变压器T型等效电路图。在图I中,I. a相磁柱,2. b相磁柱,3. c相磁柱,4. a相一次绕组,5. b相一次绕组,6. c相一次绕组,7. a相二次绕组,8. b相二次绕组,9. c相二次绕组,10. a相磁通,11. b相磁通,12. c相磁通。在图2中,I. a相磁柱,2. b相磁柱,3. c相磁柱,4. a相一次绕组,5. b相一次绕组,6. c相一次绕组,7. a相二次绕组,8. b相二次绕组,9. c相二次绕组,10. a相磁通,11. b相磁通,12. c相磁通。
具体实施例方式在图I中,测量一次绕组电阻F1 ;将a相一次绕组(4)与c相一次绕组(6)首尾相接组成闭合电路;a相二次绕组(7)、b相二次绕组⑶、c相二次绕组(9)开路;在b相一次绕组(5)两端加交流电压V1,测出b相一次绕组交流电压I1,根据式⑵计算Xl。在图2中,测量二次绕组电阻r2 ;将a相二次绕组(7)与c相二次绕组(9)首尾相接组成闭合电路;a相一次绕组⑷、b相一次绕组(5)、c相一次绕组(6)开路;在b相二次绕组(7)两端加交流电压V2,测出b相二次绕组交流电压i2,根据式⑷计算x2。
权利要求
1.一种三相变压器绕组漏抗简化测量方法,其特征是测量一次绕组漏抗X1时将三相变压器三相二次绕组开路;将三相变压器A、c两边相一次绕组NA1、Na首尾相连组成闭合电路,所述闭合电路相当于总匝数为NA1+NC1的单相变压器二次绕组短路;对等效单相变压器一次绕组中间B相一次绕组Nbi加交流电压Vl,Nbi交流电流I1在B相铁心柱内产生交流磁通量O1, O1通过A、C两边相铁心柱闭合,A、C两边相一次绕组NA1、Na的感应电动势之和为V1 ;根据变压器T型等效电路,等效单相变压器一、二次绕组变比为1,等效单相变压器二次绕组电阻为 2 n、漏抗为 2Xl,根据公式(V1A1)Sin Vl=Xl+2Xl=3Xl* [(V1A1)2-(ri+2ri)2]1/2=[(VI1)2^r1)2] 1/2=3Xl 计算 Xl。
2.根据权力要求I所述的一种三相变压器绕组漏抗简化测量方法,其特征是测量二次绕组漏抗X2时将三相变压器三相一次绕组开路;将三相变压器A、C两边相二次绕组NA2、Nc2首尾相连组成闭合电路,所述闭合电路相当于总匝数为NA2+NC2的单相变压器二次绕组短路;对等效单相变压器一次绕组中间B相二次绕组Nb2加交流电压v2,Nb2交流电流i2在B相铁心柱内产生交流磁通量O2, O2通过A、C两边相铁心柱闭合,A、C两边相二次绕组NA2、Nc2的感应电动势之和为V2 ;根据变压器T型等效电路,等效单相变压器一、二次绕组变比为1,等效单相变压器二次绕组电阻为2 r2、漏抗为2x2,根据公式(V2/I2)sinv2=x2+2x2=3x2*[(VI2)2- (r2+2r2)2]1/2= [ (VI2)2- (3r2)2] 1/2=3x2 计算 X2。
3.根据权力要求I所述的一种三相变压器绕组漏抗简化测量方法,其特征是将A、C两边相一次绕组NA1、Nci之一与中间B相一次绕组Nbi首尾相接组成单相变压器二次绕组,将未串联相一次绕组作为单相变压器一次绕组,按照单相变压器短路试验方法测量三相变压器一次绕组漏抗。
4.根据权力要求2所述的一种三相变压器绕组漏抗简化测量方法,其特征是将A、C两边相二次绕组NA2、Nc2之一与中间B相一次绕组Nb2首尾相接组成单相变压器二次绕组,将未串联相二次绕组作为单相变压器一次绕组,按照单相变压器短路试验方法测量三相变压器二次绕组漏抗。
全文摘要
一种三相变压器绕组漏抗简化测量方法,测量一次绕组漏抗x1时将三相变压器三相二次绕组开路;将三相变压器A、C两边相一次绕组NA1、NC1首尾相连组成闭合电路,所述闭合电路相当于总匝数为NA1+NC1的单相变压器二次绕组短路;对等效单相变压器一次绕组中间B相一次绕组NB1加交流电压v1,NB1交流电流i1在B相铁心柱内产生交流磁通量Φ1,Φ1通过A、C两边相铁心柱闭合,A、C两边相一次绕组NA1、NC1的感应电动势之和为v1;根据变压器T型等效电路短路试验原理计算x1。
文档编号G01R31/02GK102735940SQ201210186628
公开日2012年10月17日 申请日期2012年6月8日 优先权日2012年6月8日
发明者魏明 申请人:魏明

  • 专利名称:用于监控颗粒的设备和方法技术领域:本发明涉及一种用于监控颗粒的设备,具体而言涉及一种如独立权利要求I的前序部分所限定的设备。本发明还涉及一种用于监控颗粒的方法,更具体而言涉及一种如独立权利要求6的前序部分所限定的方法。背景技术:在
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