专利名称：集成电路管脚接触状态检测装置的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及一种测试技术，尤其涉及一种集成电路管脚接触状态的检测技术。
背景技术：
现有的烧录器在进行脱机烧录时，通过烧录器上的触发按钮启动烧录，烧录器完成一颗集成电路烧录校验后，通过LED灯或LCD液晶体显示屏等显示装置来显示烧录校验结果，在下一颗集成电路进行烧录校验之前，显示装置所显示的状态会保持不变，由于启动烧录的触发按钮在长时间使用后有所老化、或是按钮力度不够等种种原因，烧录器没有接受到触发信号，而操作人员误认为烧录器已经进行了烧录，这样很容易造成把未烧录过的集成电路放入合格品中，引起混料。为了避免该现象的发生，烧录器需要检测待烧录集成电路管脚与烧录器的连接情况，从而避免混料的现象发生。

实用新型内容本实用新型针对现有技术的不足，提出一种集成电路管脚接触状态检测装置，该装置所需电路器件规模少、结构简单、性能可靠。集成电路管脚接触状态检测装置，包括锁紧座和分压电阻电路；所述锁紧座包括支架和接触垫，所述接触垫固定在支架上，所述接触垫上的各接触点连接待烧录集成电路的管脚；所述分压电阻电路包括第一电阻和第二电阻，第一电阻与第二电阻串联，第一电阻的另一端连接电源VDD1、第二电阻的另一端接地；所述第二电阻的两端分别连接接触垫的两个接触点；\[0008]第一电阻和第二电阻的连接点为待烧录集成电路与锁紧座的接触状态检测点，所述检测点的电平变化用于指示所述待烧录集成电路和所述锁紧座的接触状态。进一步，所述接触垫的第一接触点连接待烧录集成电路的接地脚，所述的第一接触点连接第二电阻的接地端，所述接触垫的第二接触点连接待烧录集成电路的输入输出脚，第二接触点为所述的检测点。进一步，所述接触垫的第二接触点可以为多个。进一步，所述检测点连接显示装置，所述显示装置显示检测点的电平或者集成电路管脚接触状态。本实用新型实现了一种集成电路管脚接触状态检测装置，通过检测集成电路与锁紧座的接触情况，能够有效避免混料现象的发生。整个检测过程简单、快捷，且检测结果直观可见。

图1为本实用新型提出的集成电路管脚接触状态检测装置示意图。体实施方式
以下结合附图对本实用新型作进一步详细说明。如图1所示为本实用新型提出的集成电路管脚接触状态检测装置示意图，其中， 集成电路管脚接触状态检测装置包括锁紧座1、分压电阻电路2和显示装置4。所述锁紧座1包括支架11和接触垫12，所述接触垫12固定在支架11上，所述接触垫12上的各接触点连接待烧录集成电路3的管脚31。待烧录集成电路3本身至少应具备电源脚VDD、输入输出脚I/O以及接地脚GND三种管脚，并且该待烧录集成电路3内部的输入输出脚I/O和电源脚VDD之间连接有二极管32，电源脚VDD和接地脚GND之间连接有等效电阻33 (采用等效电阻33来表示电源脚VDD对接地脚GND的漏电通路)。所述分压电阻电路2包括第一电阻21和第二电阻22，第一电阻21与第二电阻22 串联，其中第一电阻21的另一端连接电源VDD1、第二电阻22的另一端接地；所述第二电阻 22的两端分别连接所述接触垫12的两个接触点；第一电阻21和第二电阻22的连接点C为待烧录集成电路3与锁紧座1的接触状态检测点，所述检测点的电平变化用于指示所述待烧录集成电路3和所述锁紧座1的接触状态。所述接触垫12的第一接触点A连接待烧录集成电路3的接地脚GND，所述的第一接触点A连接第二电阻22的接地端，所述接触垫12的第二接触点B连接待烧录集成电路 3的输入输出脚1/0，第二接触点B为所述的检测点。所述接触垫12的第二接触点可以为多个。所述第一接触点、第二接触点的位置不局限于如图所示，可以随待烧录集成电路3的输入输出脚I/O和接地脚GND变化而改变。所述检测点连接显示装置4，所述显示装置4显示所述检测点的电平或者集成电路管脚接触状态。所述集成电路管脚接触状态检测装置是通过所述检测点的电平变化来判断待烧录集成电路3与锁紧座1的接触情况将锁紧座1打开，这时待烧录集成电路3的管脚31未与接触垫12上的各接触点接触，A、B两点没有待烧录集成电路3接入，则所述检测点的电平为V。= (R22/ (R21+R22))*VDD1 ；将待烧录集成电路3放入锁紧座1，这时待烧录集成电路3的管脚31与接触垫12 上的各接触点接触，A、B两点接入了待烧录集成电路3，A、B两点并入了二极管32和等效电阻33，则所述检测点的电平为Vci = (R22/(R21+R22+R22R21/R33))*VDD1, Vci电平比Vc电平小；通过所述检测点的电平变化可以判断待烧录集成电路3与锁紧座1是否有接触， 高电平表示未接触，低电平表示有接触，整个判断过程简单快捷且直观。上面结合附图对本实用新型的实施方式作了详细说明，但是本实用新型并不限于上述实施方式，在所属技术领域普通技术人员所具备的知识范围内，还可以在不脱离本发明宗旨的前提下作出各种变化。
权利要求1.集成电路管脚接触状态检测装置，其特征在于包括锁紧座和分压电阻电路；所述锁紧座包括支架和接触垫，所述接触垫固定在支架上，所述接触垫上的各接触点连接待烧录集成电路的管脚；所述分压电阻电路包括第一电阻和第二电阻，第一电阻与第二电阻串联，第一电阻的另一端连接电源VDD1、第二电阻的另一端接地；所述第二电阻的两端分别连接接触垫的两个接触点；第一电阻和第二电阻的连接点为待烧录集成电路与锁紧座的接触状态检测点，所述检测点的电平变化用于指示所述待烧录集成电路和所述锁紧座的接触状态。
2.如权利要求1所述集成电路管脚接触状态检测装置，其特征在于所述接触垫的第一接触点连接待烧录集成电路的接地脚，所述的第一接触点连接第二电阻的接地端，所述接触垫的第二接触点连接待烧录集成电路的输入输出脚，第二接触点为所述的检测点。
3.如权利要求1所述集成电路管脚接触状态检测装置，其特征在于所述接触垫的第二接触点可以为多个。
4.如权利要求1所述集成电路管脚接触状态检测装置，其特征在于所述检测点连接显示装置，所述显示装置显示检测点的电平或者集成电路管脚接触状态。
专利摘要本实用新型提供了一种集成电路管脚接触状态检测装置，包括锁紧座和分压电阻电路；所述锁紧座包括支架和接触垫，所述接触垫固定在支架上，所述接触垫上的各接触点连接待烧录集成电路的管脚；所述分压电阻电路包括第一电阻和第二电阻，第一电阻与第二电阻串联，第一电阻的另一端连接电源VDD1、第二电阻的另一端接地；所述第二电阻的两端分别连接接触垫的两个接触点；第一电阻和第二电阻的连接点为待烧录集成电路与锁紧座的接触状态检测点，所述检测点的电平变化用于指示所述待烧录集成电路和所述锁紧座的接触状态。本实用新型通过检测集成电路与锁紧座的接触情况，能够有效避免混料现象的发生，整个检测过程简单、快捷，且检测结果直观可见。
文档编号G01R31/02GK202217026SQ201120352828
公开日2012年5月9日 申请日期2011年9月20日 优先权日2011年9月20日
发明者楼俊伟, 魏建中 申请人:杭州士兰微电子股份有限公司