专利名称：电子产品的测试装置及方法
技术领域：
本发明涉及一种测试装置及方法，更特别有关于一种电子产品的测试装置及方法，用以测试一电子产品，并减少测试步骤及测试所需时间。
背景技术：
电子产品为一种将晶体管、电阻、电容、二极管等的电子元件组合于印刷电路板(Printed Circuit Board)上的产品，并装设有连接器，用于连接于另一外部印刷电路板或一主机，诸如电脑。举例而言，电脑的主机板设有复数个连接器，诸如通用序列汇流排(Universal Serial Bus；USB)、PS2滑鼠端口、PS2键盘端口、9-pin序列埠、音效卡接头等。
完成制造后的电子产品，必须在工厂进行完整的产品测试，用以避免产生不良的电子产品。特别地，电子产品的各种连接器的连接测试及电子产品的功能测试更是重要。于测试时，测试人员必须将该连接器电性连接于一测试装置，用以测试该连接器的连接及电子产品的功能。然而，在测试人员以手直接将该连接器与该测试装置反复插拔的情况下，由于测试人员施力的不平均，可能造成原本能够正常运作的连接器受到损伤。因此，现有技术已发展出一种测试装置，用以测试连接器的连接及电子产品的功能，而不需要测试人员以手直接将该连接器与该测试装置反复插拔。
参考图1，为公知电子产品的测试装置2，包含一基座10、一第一平台20、及一第二平台30。一滑轨12设于该基座10上，且该第一平台20包含一滑块22，用以相对于该滑轨12进行线性运动。公知电子产品的测试装置2另包含一夹持机具40，其具有一上机具42及一下机具44。该下机具44配置于该第一平台20上，且该上机具42连接于一气压驱动装置4的活塞连杆6上。该气压驱动装置4固定于该第一平台20上。一待测试的电子产品50配置于该下机具44上，该电子产品50包含一印刷电路板52、一连接器54位于该印刷电路板52的外侧、及其他电子元件56位于该印刷电路板52上。该第二平台30固定于该基座10上，且一转接板32配置于该第二平台30上。一测试连接部34电性连接于一外部主机(图中未示)，配置于该转接板32的外侧，并对应于该电子产品50的连接器54。
于测试前，将待测试的电子产品50放置于该下机具44上，如图1所示。参考图2，该气压驱动装置4的活塞连杆6驱动该上机具42向下运动，直到将该电子产品50完全压合该下机具44上，如此使该电子产品50暂时固定于该第一平台20上。参考图3，测试人员以手推动该第一平台20相对于该滑轨12进行线性运动，用以将该电子产品50的该连接器54接合于该转接板32上的该测试连接部34，进而测试该连接器54的连接及电子产品50的功能。
然而，公知电子产品的测试装置2利用一气压驱动装置4，将增加测试成本，并且公知测试步骤繁复，将增加测试时间。
另外，台湾专利公报公告编号第579916号，标题为“分离式测试平台”揭示一种分离式测试平台，用以测试PCB板的连接器的功能，包含一基座本体，包含复数个测试连接部，并与该PCB板的连接器相结合，用以测试该PCB板的连接器的功能；一测试板，包含一顶块，且以活动的方式装设于该基座本体，供该PCB板设置；一拉杆，枢设于该基座本体；及一轴体，其一端连接于该拉杆，另一端固接于该测试板的顶块，施力于该拉杆可带动该轴体推抵该顶块，使得该PCB板的连接器与该基座本体的测试连接部分离。然而，于测试时，公知测试平台无法将该PCB板的连接器与该基座本体的测试连接部结合，以及将该印刷电路板暂时固定于该测试板上。
因此，便有需要提供一种电子产品的测试装置，用以测试一电子产品，以解决前述的问题。

发明内容
本发明要解决的技术问题是提供一种电子产品的测试装置及方法，用以测试一电子产品，并减少测试步骤及测试所需时间。
本发明要解决的另一技术问题是提供一种电子产品的测试装置及方法，用以测试不同种类的电子产品，如此可减少该测试装置的成本。
为此，本发明提供一种电子产品的测试装置，用以测试该电子产品，该测试装置包含一测试连接部；一下机具，用以承载该电子产品，且其中该下机具可与该测试连接部中之一者可沿一第一方向相对移动于另一者；一上机具，对应于该下机具，并可沿垂直于该第一方向的一第二方向向该下机具移动；以及一控制机构，用以连动该上机具，及连动该下机具或测试连接部的其一该者，以同时进行第一、二方向的移动，而同步使该上机具及该测试连接部与该电子产品触接。
本发明还提供一种电子产品的测试装置，用以测试该电子产品，该测试装置包含一测试连接部；一下机具，用以承载该电子产品，可沿一第一方向相对该测试连接部移动；一上机具，可沿一第二方向相对该下机具移动；以及一控制机构，用以连动该下机具进行第一方向的移动，进而使该上机具受该下机具的作用以进行第二方向的移动，使该上机具固定该电子产品且该测试连接部与该电子产品接合。
如上所述的电子产品的测试装置，其中该控制机构用以连动该上机具并同时连动该下机具与该测试连接部的其一者。
如上所述的电子产品的测试装置，其中该控制机构包含一连动单元，具有一与该上机具连接的第一连动件，及一与该测试连接部连接的第二连动件，该第一、二连动件可相对移动；一驱动连杆，与该测试连接部轴接，以连动该测试连接部，并用以驱动该连动单元的第一、二连动件。
如上所述的电子产品的测试装置，其中该连动单元更包含一传动件，接设于该第一连动件与该第二连动件间，以供第一、二连动件间传动用。
如上所述的电子产品的测试装置更包含一滑轨，设于该测试连接部与该下机具间，并延伸至该测试连接部下。
如上所述的电子产品的测试装置，其中该上机具包含多个定位针，用以抵压定位该电子产品。
如上所述的电子产品的测试装置，其中该上机具包含一信号清除件，用于抵接该电子产品上，以清除该电子产品的信号。
如上所述的电子产品的测试装置，更包含一挡板，设于该滑轨远离该下机具的末端上，用以挡止该测试连接部。
如上所述的电子产品的测试装置更包含 一第一连接件，设于该挡板上；及一第二连接件，与该第一连接件对应地设于该测试连接部上，并可分离地与该第一连接件连接。
如上所述的电子产品的测试装置，其中该上机具更包含有一与该等定位针连接的基板，及一连设于该第一连动件与该基板间可伸缩的缓冲件。
如上所述的电子产品的测试装置，其中该连动单元的传动件为一齿轮，且该第一及第二连动件均具有一与该齿轮啮合的齿部，及与该齿部连接的接合部，各该接合部分别与该上机具与测试连接部连接。
如上所述的电子产品的测试装置，其中该第一及第二连动件的齿部分别为一第一及第二长条状齿条。
如上所述的电子产品的测试装置，其中该驱动连杆具有一长槽孔，且该测试连接部具有一平台，及一突出于该平台并穿设于该长槽孔中的突出轴，且该突出轴可于该长槽孔中径向运动。
如上所述的电子产品的测试装置，其中该控制机构包含一驱动连杆，与该下机具轴接，以连动该下机具。
如上所述的电子产品的测试装置更包含一支架，固定于该下机具与测试连接部间，其中该上机具包含一抵压件及一连设于该支架与该抵压件间可伸缩的伸缩件，且该抵压件的最低位置低于该下机具的最高位置。
如上所述的电子产品的测试装置，其中该下机具包含一平台，具有一与该驱动连杆轴接的突出轴，且该平台用以承载该电子产品；及一盖板，用以覆盖于该电子产品上。
如上所述的电子产品的测试装置，其中该上机具的抵压件为一与该伸缩件抵触的轴，及一轴设于该轴上的滚轮。
如上所述的电子产品的测试装置，其中该电子产品为一微型硬碟。
本发明另提供一种电子产品的测试方法，包含下列步骤提供一测试连接部；将该电子产品放置于一下机具上，其中该下机具沿一第一方向相对该测试连接部移动；提供一上机具，沿一第二方向向该下机具移动；以及驱动该下机具，进而连动该上机具，以进行第一、二方向的移动，而使该上机具固定该电子产品且该测试连接部接合于该电子产品。
本发明还提出一种电子产品的测试方法，包含下列步骤提供一测试连接部；将该电子产品放置于一下机具上，其中该测试连接部可沿一第一方向相对该下机具移动；提供一上机具，其对应于该下机具，并可沿一第二方向相对该下机具移动；以及连动测试连接部及该上机具，以进行第一、二方向的移动，而使该上机具固定该电子产品且该测试连接部接合于该电子产品。
如上所述的电子产品的测试方法，包含下列步骤提供复数个定位针，配置于该上机具上，用以定位该电子产品。
如上所述的电子产品的测试方法，包含下列步骤提供两信号清除针，配置于该上机具上，用以清除该电子产品的信号。
本发明的特点和优点如下本发明的电子产品的测试装置，用以将该电子产品连接于一测试连接部。该电子产品包含一连接器。该测试装置包含一上机具、一下机具，及一控制机构。该下机具对应于该上机具，并承载该电子产品，藉由控制机构的控制使该测试连接部沿一第一方向接合于该电子产品的该连接器，并且同时该上机具沿垂直于该第一方向的一第二方向压合该电子产品于该下机具上。
本发明的电子产品的测试方法，包含下列步骤提供一测试连接部；将该电子产品放置于一下机具上，其中该下机具与该测试连接部中之一者可沿一第一方向移动于另一者；提供一上机具，其对应于该下机具，并可沿垂直于该第一方向的一第二方向向该下机具移动；以及连动该上机具，及连动该下机具或测试连接部的该者，以同时进行第一、二方向的移动，而使上机具、测试连接部与该电子产品抵接。
相较于公知技术，根据本发明的测试装置和方法可减少测试步骤及测试所需时间。再者，本发明的测试装置可测试不同种类的电子产品，如此以减少该测试装置的成本。


图1为公知技术的电子产品的测试装置的侧视示意图。
图2、图3为公知技术的电子产品的测试方法的侧视示意图。
图4为根据本发明的一实施例的电子产品的测试装置的侧视示意图。
图5为根据本发明的一实施例的电子产品的测试方法的侧视示意图。
图6为根据本发明的另一实施例的电子产品的测试装置的侧视示意图。
图7为根据本发明的另一实施例的电子产品的测试装置的俯视示意图。
图8为根据本发明的另一实施例的电子产品的测试方法的侧视示意图。
附图标号说明2测试装置 4气压驱动装置 6活塞连杆 10基座12滑轨 20第一平台 22滑块 30第二平台32转接板34测试连接部40夹持机具42上机具44下机具50电子产品 52印刷电路板54连接器56电子元件 100测试装置110基座112滑轨 120第一平台 121下机具 122滑块124连杆 125控制机构 126贯穿槽孔127突出轴
128拉杆129驱动连杆 130第二平台 132转接板134连接器 135测试连接部 150电子产品 151盖板152印刷电路板 154连接器 156电子元件160支架161上机具 162弹簧 163抵压件164轴 166滚轮 200测试装置 210基座212滑轨220第一平台 221座体 223驱动连杆224连杆226贯穿槽孔 227突出轴 228拉杆232转接板 234连接器 235测试连接部236滑块241基板 242上机具 243下机具245定位针 246信号清除针 250电子产品 252印刷电路板253连动单元255第一连动件 254连接器 256电子元件257凹处258接地端点 259信号端点 260支架262弹簧261控制机构 263滑块 264齿条265第二连动件 266齿条 268连杆 270支撑柱272滑轨274齿轮 276惰轮 282挡板284第一连接件 286第二连接件具体实施方式
为了让本发明的技术方案、特征、和优点能更明显，下文特举本发明的实施例，并配合附图，作详细说明如下本发明的测试装置用以测试各种电子产品的功能。该电子产品的连接器可为通用串行总线(Universal Serial Bus；USB)、PS2滑鼠埠、PS2键盘埠、9-pin序列埠、音效卡接头或微型硬碟接头等。
参考图4，其显示根据本发明的一实施例的电子产品的测试装置100。该测试装置100包含一基座110，及设于基座上的一下机具121、一第二平台130，及一设于第二平台130上的测试连接部135，其中下机具121具有一用以承载待测试的电子产品150的第一平台120，及一连设于第一平台120下的滑块122。该电子产品150包含一印刷电路板152、一连接器154位于该印刷电路板152的外侧、及其他电子元件156位于该印刷电路板152上。举例而言，该电子产品150可为应用于一电脑内的一微型硬碟的驱动电路板(driver board)，该第一平台120为可与驱动电路板组合成一微型硬碟的微型硬碟座。
一滑轨112设于该基座110上，亦即该滑轨112设于测试连接部135与滑块122间，并延伸至滑块122下。滑块122用以相对于该滑轨112进行线性运动。该测试装置100另包含一控制机构125，其包含一驱动连杆129。该驱动连杆129包含一连杆124，其具有一长条状贯穿槽孔126，其底端枢接于该基座110上。该滑块122的侧面设有一突出轴127，其穿入该长条状贯穿槽孔126，并被限制于该长条状贯穿槽孔126内径向运动。一拉杆128固定该连杆124的顶端，以供操作者拉动，并可藉由连杆124将拉杆128的旋转运动转换成该下机具121的线性运动。该测试装置100另包含一上机具161，及一支架160固定于该基座110上，并位于下机具121与测试连接部135之间。该上机具161包含一抵压件163及一连设于该支架160与该抵压件161间可伸缩的伸缩件，诸如弹簧162。该上机具的抵压件163为一与该弹簧162抵触的轴164，及一轴设于该轴164上的滚轮166。该弹簧162的一端连接于该支架160的顶端，另一端连接于该轴164，且该滚轮166设于该轴164上。该滚轮166的最低点位置低于该电子装置150的最高点位置，如此可使该电子产品150通过该滚轮166时，该滚轮166将可压合该电子产品150。较佳地，该下机具121更包含一盖板151，用以覆盖于该电子产品150上，且滚轮166的最低点位置低于电子产品150上的盖板151的最高点位置，如此滚轮166可抵压于盖板151上以固定电子产品150，并避免滚轮166直接接触于该电子产品150。该第二平台130固定于该基座110上，且测试连接部135具有一配置于该第二平台130上的转接板132，及一配置于转接板132边缘的连接器134，对应于该电子产品150的连接器154，并用以电性连接于一外部主机(图中未示)。熟习此技艺者可知，该第一平台120及该转接板132皆可藉由复数个固定件(图中未示)，诸如螺栓，暂时固定于滑块122及第二平台130上，用以方便更换，如此只须更换该第一平台120及转接板132，则该测试装置100可测试不同种类的电子产品。再者，若该电子产品的连接器为通用序列汇流排(USB)时，则本发明不需要转接板，只须选用另一通用序列汇流排(USB)作为测试连接部，其配置于该第二平台上，且对应于该电子产品的连接器。若本实施例的测试装置所用于测试的电子产品是一微型硬碟则不需上述的第一平台120，直接将微型硬碟置于滑块122上。而本实施例的电子产品的测试方法如下列的图4至图5。
参考图4，将待测试的电子产品150放置于第一平台120上，其中第一平台120配置于滑块122上。
参考图5，测试人员以手推动该拉杆128使该滑块122连动第一平台120于滑轨112上沿第一方向朝向测试连接部135移动。于上述第一平台120移动的同时，放置于电子产品150上的盖板151通过该滚轮166下方而与该滚轮166触接，并施予滚轮166一抵推的力，进而使滚轮166压缩该弹簧162。藉由该弹簧162的恢复力，该滚轮166可沿垂直于该第一方向的一第二方向压合该盖板151上，以将该电子产品150固定于下机具121上，并藉由该第一平台120的持续移动，带动该电子产品150的该连接器154准确稳固地朝向该测试连接部135移近，直至该连接器154与该测试连接部135的连接器134接合，即可对该电子产品150进行测试。
再参考图4，于测试完毕后，测试人员以手推动该拉杆128使该滑块122于滑轨112上向与第一方向相反的直线运动，同时带动电子产品150的该连接器154离开测试连接部135的连接器134，并由滚轮166下移出。
相较于公知技术，根据本发明的测试装置利用该弹簧、该滚轮及具有长条状贯穿槽孔的该连杆，用以将该电子产品的该连接器沿该直线运动方向接合于该转接板上的该测试连接部，并且同时该滚轮沿垂直于该直线运动方向压合该电子产品，如此以减少测试步骤及测试所需时间。再者，本发明的测试装置只须更换该第一平台及测试连接部，则该测试装置可测试不同种类的电子产品，如此以减少制作成本。
参考图6及7，其显示根据本发明的另一实施例的电子产品的测试装置200。该测试装置200包含一基座210，及设于基座210上的一下机具243与一测试连接部235。该下机具243具有供配置待测试的电子产品250的第一平台220，及一固定于基座210上用以承置第一平台220的座体221。该电子产品250包含一印刷电路板252、一连接器254位于该印刷电路板252的边缘、及其他电子元件256位于该印刷电路板252上。举例而言，该电子产品250可为应用于一电脑内的一微型硬碟的驱动电路板(driver board)，该第一平台220可为可与驱动电路板组合成一微型硬碟的微型硬碟座。若本实施例的测试装置所用于测试的电子产品是一微型硬碟则不需上述的第一平台220，直接将微型硬碟置于座体221上。
该测试装置200另包含一支撑柱270、一控制机构261，及一与下机具243对应的上机具242。
支撑柱270固定于该基座210上，并位于该基座210的一侧，一滑轨272设于该支撑柱270上。控制机构261，其包含一连动单元253，其具有一第一连动件255及一第二连动件265，该第一及第二连动件255、265可相对移动。该第一及第二连动件255、265均具有一齿部，及一与齿部连接的接合部，第一、二连动件255、265的齿部分别第一长条状齿条264及第二长条状齿条266。第一连动件255的接合部包含一用以相对于该滑轨272进行线性运动的滑块263及与滑块263连接的支架260。第二连动件265的接合部为一与第二长条状齿条266连接的连杆268，且连杆268的另一端连接于该测试连接部235。该连动单元253更包含一传动件，诸如齿轮274，其接设并啮合于该第一长条状齿条264与该第二长条状齿条266间，以供该第一长条状齿条264及第二长条状齿条266间传动用。该齿轮274枢接于该支撑柱270上，另外，支撑柱270上更设有一惰轮276用以支撑该第二长条状齿条266。
该上机具242包含一基板241及一缓冲件，诸如弹簧262。该弹簧262的一端连接于第一连动件的支架260的顶端，另一端连接于该上机具242的基板241。于压合时，该弹簧262可用以缓冲压合该上机具242压合该电子产品250。
该上机具242更包含复数个定位针245及两信号清除针246，其连接于该基板241，用以压合时同时定位该电子产品250及清除该电子产品250的信号。
以该电子产品为一微型硬碟为例，该上机具242的定位针245对应于该微型硬盘的复数个凹处257。当该上机具242压合该微型硬盘时，该定位针245抵住该凹处257，用以定位该微型硬盘。该上机具242另包含两信号清除针246对应于该微型硬碟的一接地端点258及一信号端点259。当该上机具242压合该微型硬盘时，该两信号清除针246接触于该接地端点258及该信号端点259，用以清除该微型硬碟的信号。
一滑轨212设于该基座210上，亦即该滑轨212设于下机具243与测试连接部235间，并延伸至该测试连接部235下。该测试连接部235位于该基座210上，并包含一滑块236，用以相对于该滑轨212进行线性运动。该控制机构261另包含一驱动连杆223，用以连动该测试连接部235，并用以驱动该连动单元253的第一及第二连动件255、265。该驱动连杆223包含一连杆224及一拉杆228。该连杆224具有一长条状贯穿槽孔226，且其底端枢接于该基座210上。该滑块236设有一突出轴227，其穿入该长条状贯穿槽孔226，并被限制于该长条状贯穿槽孔226内径向运动。该拉杆228固定该连杆224的顶端，操作者拉动拉杆228时，连杆224可将该拉杆228的旋转运动转换成该测试连接部235的线性运动，并依序驱动该连杆268、第二长条状齿条266、齿轮274、第一长条状齿条264、支架260，及上机具242，进而该上机具242将可压合该电子产品250，同时让测试连接部235与电子产品250接合，此相关动作将于下方作一详细叙述的。熟习此技艺者可知，该第一及第二连动件255、265亦可分别包含一第一及第二皮带(图中未示)，用以替代类似于该第一及第二长条状齿条264、266的连动功能。
一挡板282固定于该基座210的另一侧，用以防止测试连接部235离开该基座210外，亦即挡板282设于该滑轨212远离该下机具243的末端上，用以挡止该测试连接部235。一第一连接件284，诸如磁铁，配置于该测试连接部235的侧面，且一第二连接件286，诸如磁铁，配置于该挡板282上，并对应于该第一连接件284。因此，当该第一连接件284暂时固定于该第二连接件286时，该上机具242不会因重力而向下运动。熟习此技艺者可知，该第一连接件284亦可配置于拉杆228的适当位置，并对应于该挡板282的该第二连接件286。
测试连接部235更具有一第二平台，第二平台为一转接板232配置于滑块236上，转接板232上具有与该电子产品250的连接器254对应的连接器234，并电性连接于一外部主机(图中未示)。该外部主机可包含一测试软件，用以测试电子产品的功能。熟习此技艺者可知，该第一平台220及该转接板232皆可藉由复数个固定件(图中未示)，诸如螺栓，暂时固定于座体221及滑块236上，用以方便更换，如此只须更换第一平台220及该转接板232，则该测试装置200可测试不同种类的电子产品。而本实施例的电子产品的测试方法如图6及图8。
参考图6，于测试前，将待测试的电子产品250放置于该下机具243上。
参考图8，测试人员以手推动该拉杆238使该滑块236相对于该滑轨212正向线性运动，测试连接部235沿一第一方向向下机具243移动，同时，该滑块236可依序连动该连杆268、第二长条状齿条266、齿轮274、第一长条状齿条264、支架260、及上机具242，进而该上机具242将可沿垂直于该第一方向的一第二方向压合该电子产品250于该下机具243上，同时藉由弹簧262的缓冲，缓和上机具242对电子产品250的压迫力，以将电子产品250固定于该下机具243上，而使该连接器254能稳固准确地与该测试连接部235的连接器234对应，同步完成该测试连接部235与该电子产品250的该连接器254的接合，以对该电子产品250进行测试。再者，该上机具242的该定位针245及两信号清除针246同时定位该电子产品250，并清除该电子产品250的信号。另外，同时该外部主机的测试软件可显示该电子产品250的功能是否正常。
再参考图6，于测试完毕后，测试人员以手推动该拉杆228使滑块236相对于该滑轨212反向线性运动，测试连接部235沿与该第一方向相反的方向离开下机具243，同时，滑块236依序驱动连杆268、第二长条状齿条266、齿轮274、第一长条状齿条264、支架260，上机具242，使上机具242沿与第二方向相反的方向离开该电子产品250，同时使测试连接部235的连接器与电子产品250的连接器254平顺地分离。
再参考图6，将测试连接部235的第一连接件284暂时固定于挡板282的第二连接件286，用以避免该上机具242因重力而向下运动。
相较于公知技术，根据本发明的测试装置利用该连杆、该第二长条状齿条、该齿轮、第一长条状齿条、支架，及上机具，用以将上机具沿第二方向压合该电子产品，同时使测试连接部沿垂直于第二方向的第一方向移动而与该电子产品的连接器接合，如此以减少测试步骤及测试所需时间。再者，本发明的测试装置只须更换第一平台及转接板，则该测试装置可测试不同种类的电子产品，如此以减少该测试装置的成本。另外，本发明的测试装置只须约2秒，则可完成测试该电子产品。
虽然本发明已以具体实施例揭示，但其并非用以限定本发明，任何本领域的技术人员，在不脱离本发明的构思和范围的前提下所作出的等同组件的置换，或依本发明专利保护范围所作的等同变化与修饰，皆应仍属本专利涵盖之范畴。
权利要求
1.一种电子产品的测试装置，用以测试该电子产品，其特征在于，该测试装置包含一测试连接部；一下机具，用以承载该电子产品，与该测试连接部中之一者可沿一第一方向相对另一者移动；一上机具，可沿一第二方向向该下机具移动；以及一控制机构，用以连动该上机具，及连动下机具与测试连接部的该者，以进行第一、二方向的移动，而使该上机具与该测试连接部抵接于该电子产品。
2.如权利要求1的电子产品的测试装置，其特征在于，该控制机构用以连动该上机具并同时连动该下机具与该测试连接部的其一者。
3.如权利要求1的电子产品的测试装置，其特征在于，该控制机构包含一连动单元，具有一与该上机具连接的第一连动件，及一与该测试连接部连接的第二连动件，该第一、二连动件可相对移动；一驱动连杆，与该测试连接部轴接，以连动该测试连接部，并用以驱动该连动单元的第一、二连动件。
4.如权利要求3的电子产品的测试装置，其特征在于，该连动单元更包含一传动件，接设于该第一连动件与该第二连动件间，以供第一、二连动件间传动用。
5.如权利要求3的电子产品的测试装置，其特征在于，更包含一滑轨，设于该测试连接部与该下机具间，并延伸至该测试连接部下。
6.如权利要求1的电子产品的测试装置，其特征在于，该上机具包含多个定位针，用以抵压定位该电子产品。
7.如权利要求1的电子产品的测试装置，其特征在于，该上机具包含一信号清除件，用于抵接该电子产品上，以清除该电子产品的信号。
8.如权利要求5的电子产品的测试装置，其特征在于，更包含一挡板，设于该滑轨远离该下机具的末端上，用以挡止该测试连接部。
9.如权利要求8的电子产品的测试装置，其特征在于，更包含一第一连接件，设于该挡板上；及一第二连接件，与该第一连接件对应地设于该测试连接部上，并可分离地与该第一连接件连接。
10.如权利要求6的电子产品的测试装置，其特征在于，该上机具更包含有一与该等定位针连接的基板，及一连设于该第一连动件与该基板间可伸缩的缓冲件。
11.如权利要求10的电子产品的测试装置，其特征在于，该连动单元的传动件为一齿轮，且该第一及第二连动件均具有一与该齿轮啮合的齿部，及与该齿部连接的接合部，各该接合部分别与该上机具与测试连接部连接。
12.如权利要求11的电子产品的测试装置，其特征在于，该第一及第二连动件的齿部分别为一第一及第二长条状齿条。
13.如权利要求3的电子产品的测试装置，其特征在于，该驱动连杆具有一长槽孔，且该测试连接部具有一平台，及一突出于该平台并穿设于该长槽孔中的突出轴，且该突出轴可于该长槽孔中径向运动。
14.一种电子产品的测试装置，用以测试该电子产品，其特征在于，该测试装置包含一测试连接部；一下机具，用以承载该电子产品，可沿一第一方向相对该测试连接部移动；一上机具，可沿一第二方向相对该下机具移动；以及一控制机构，用以连动该下机具进行第一方向的移动，进而使该上机具受该下机具的作用以进行第二方向的移动，使该上机具固定该电子产品且该测试连接部与该电子产品接合。
15.如权利要求14的电子产品的测试装置，其特征在于，该控制机构包含一驱动连杆，与该下机具轴接，以连动该下机具。
16.如权利要求14的电子产品的测试装置，其特征在于，更包含一滑轨，设于该测试连接部与该下机具间，并延伸至该下机具下。
17.如权利要求15的电子产品的测试装置，其特征在于，更包含一支架，固定于该下机具与测试连接部间，其中该上机具包含一抵压件及一连设于该支架与该抵压件间可伸缩的伸缩件，且该抵压件的最低位置低于该下机具的最高位置。
18.如权利要求15的电子产品的测试装置，其特征在于，该下机具包含一平台，具有一与该驱动连杆轴接的突出轴，且该平台用以承载该电子产品；及一盖板，用以覆盖于该电子产品上。
19.如权利要求18的电子产品的测试装置，其特征在于，该驱动连杆具有一长槽孔，该突出轴穿设于该长槽孔中，且该突出轴可于该长槽孔中径向运动。
20.如权利要求17的电子产品的测试装置，其特征在于，该上机具的抵压件为一与该伸缩件抵触的轴，及一轴设于该轴上的滚轮。
21.如权利要求1或14的电子产品的测试装置，其特征在于，该电子产品为一微型硬碟。
22.一种电子产品的测试方法，包含下列步骤提供一测试连接部；将该电子产品放置于一下机具上，其中该下机具沿一第一方向相对该测试连接部移动；提供一上机具，沿一第二方向向该下机具移动；以及驱动该下机具，进而连动该上机具，以进行第一、二方向的移动，而使该上机具固定该电子产品且该测试连接部接合于该电子产品。
23.一种电子产品的测试方法，包含下列步骤提供一测试连接部；将该电子产品放置于一下机具上，其中该测试连接部可沿一第一方向相对该下机具移动；提供一上机具，其对应于该下机具，并可沿一第二方向相对该下机具移动；以及连动测试连接部及该上机具，以进行第一、二方向的移动，而使该上机具固定该电子产品且该测试连接部接合于该电子产品。
24.如权利要求23的电子产品的测试方法，包含下列步骤提供多个定位针，配置于该上机具上，用以定位该电子产品。
25.如权利要求23的电子产品的测试方法，包含下列步骤提供两信号清除针，配置于该上机具上，用以清除该电子产品的信号。
全文摘要
一种电子产品的测试装置及方法，用以将该电子产品连接于一测试连接部。该电子产品包含一连接器。该测试装置包含一上机具、一下机具，及一控制机构。该下机具对应于该上机具，并承载该电子产品，藉由控制机构的控制使该测试连接部沿一第一方向接合于该电子产品的该连接器，并且同时该上机具沿垂直于该第一方向的一第二方向压合该电子产品于该下机具上，从而克服了现有技术的缺陷，减少测试步骤及测试所需时间。
文档编号G01R31/28GK1715942SQ200410062638
公开日2006年1月4日 申请日期2004年6月30日 优先权日2004年6月30日
发明者梁景有, 陈顺料 申请人:华泰电子股份有限公司