专利名称：一种rfid读写器性能测试平台的制作方法
技术领域：
本实用新型涉及RFID读写器测试技术领域，尤其是指一种RFID读写器性能测试
T D O
背景技术：
现有的制造过程智能监控生产线可以实现对工件加工的智能监控，在软件上显示工件到达的工位，并通过安装在生产线上的RFID读写器以及读写头读取装有电子标签的工件的信息。一般对RFID读写器的性能测试项目包括:运行稳定性，与上位机的通信情况，虚检漏检，读写距离以及速率等等。为测试RFID读写器的稳定性，计划使测试线循环一定时间，标签经过RFID读写器位置读取标签，根据在整个时间周期后测试的漏读率分析RFID读写器的性能。一次周期后RFID读写器的高度，记录高度，再次循环测试标签漏读率，以此测试RFID读写器读写距离。然而传统的RFID读写器测试平台为一固定平台，通常在调整另一个高度时，需要在RFID读写器下方设置垫置物，然而垫置物的高度一般是固定的，很多时候很难使RFID读写器调整到合适的测试高度，影响测试效果，另一方方面，还需设置垫置物，增加测试成本。

实用新型内容本实用新型在于针对目前RFID读写器测试平台而存在的不足，而提供一种RFID读写器性能测试平台。为达到上述目的，本实用新型采用如下技术方案:一种RFID读写器性能测试平台，所述升降测试平台包括设置在测试机架上的上固定架，上固定架向下穿设三根以上的螺栓，螺栓的底端穿设过一测试托盘，螺栓的末端设置调节螺母。优选的，所述调节螺母为蝶形调节螺母。优选的，所述固定架上设置一向下的刻度尺。本实用新型的有益效果在于:本实用新型的升降测试平台包括设置在测试机架上的上固定架，上固定架向下穿设三根以上的螺栓，螺栓的底端穿设过一测试托盘，螺栓的末端设置调节螺母；测试时，将RFID读写器放置在测试托盘上，需要调整RFID读写器的高度时，调节设置螺栓的末端设置的调节螺母，使测试托盘处于所需的高度使RFID读写器达到合适的位置，从而达到较佳的测试效果，另一方方面，无需设置垫置物，减少测试成本。

:图1、本实用新型RFID读写器性能测试平台的剖视图具体实施方式
:[0011]
以下结合附图1对本实用新型做进一步的阐述:一种RFID读写器性能测试平台，所述升降测试平台包括设置在测试机架(图中未示)上的上固定架1，上固定架I向下穿设三根以上的螺栓2，螺栓2的底端穿设过一测试托盘3，螺栓2的末端设置调节螺母4 ;三根以上的螺栓2可以达到稳定固定测试托盘3目的。为了方便操作，调节螺母4为蝶形调节螺母，无需工具通过操作者的双手即可达到直接调节测试托盘3高度。为了及时了解所调位置的高度，在固定架I上设置一向下的刻度尺5，无需进行再次测量高度，减轻工作量，提高效率。测试时，将RFID读写器放置在测试托盘3上，需要调整RFID读写器的高度时，调节设置螺栓2的末端设置的调节螺母4，使测试托盘3处于所需的高度使RFID读写器达到合适的位置，从而达到较佳的测试效果，另一方方面，无需设置垫置物，减少测试成本。当然，以上所述仅是本实用新型的较佳实施例，故凡依本实用新型专利申请范围所述的构造、特征及原理所做的等效变化或修饰，均包括于本实用新型专利申请范围内。
权利要求1.一种RFID读写器性能测试平台，其特征在于，所述升降测试平台包括设置在测试机架上的上固定架(I)，上固定架(I)向下穿设三根以上的螺栓(2)，螺栓(2)的底端穿设过一测试托盘(3)，螺栓(2)的末端设置调节螺母(4)。
2.根据权利要求1所述的一种RFID读写器性能测试平台，其特征在于，所述调节螺母(4)为蝶形调节螺母。
3.根据权利要求1所述的一种RFID读写器性能测试平台，其特征在于，所述固定架(I)上设置一向下的刻度尺(5)。
专利摘要本实用新型涉及RFID读写器测试技术领域，尤其是指一种RFID读写器性能测试平台；本实用新型的升降测试平台包括设置在测试机架上的上固定架，上固定架向下穿设三根以上的螺栓，螺栓的底端穿设过一测试托盘，螺栓的末端设置调节螺母；测试时，将RFlD读写器放置在测试托盘上，需要调整RFlD读写器的高度时，调节设置螺栓的末端设置的调节螺母，使测试托盘处于所需的高度使RFID读写器达到合适的位置，从而达到较佳的测试效果，另一方方面，无需设置垫置物，减少测试成本。
文档编号G01R31/00GK202994918SQ20122059739
公开日2013年6月12日 申请日期2012年11月13日 优先权日2012年11月13日
发明者尹周平, 王瑜辉, 单臣玉, 邵光远, 张超, 罗强 申请人:东莞华中科技大学制造工程研究院, 东莞思谷数字技术有限公司, 东莞市华科制造工程研究院有限公司